JPH0548563A - Dcme装置のチヤンネルチエツクテスト方式および回路 - Google Patents

Dcme装置のチヤンネルチエツクテスト方式および回路

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JPH0548563A
JPH0548563A JP3204277A JP20427791A JPH0548563A JP H0548563 A JPH0548563 A JP H0548563A JP 3204277 A JP3204277 A JP 3204277A JP 20427791 A JP20427791 A JP 20427791A JP H0548563 A JPH0548563 A JP H0548563A
Authority
JP
Japan
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circuit
sine wave
signal
synchronization
channel check
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP3204277A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadaharu Kato
忠晴 加藤
Tooru Sudama
徹 須玉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
NEC Miyagi Ltd
Original Assignee
NEC Corp
NEC Miyagi Ltd
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Publication date
Application filed by NEC Corp, NEC Miyagi Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0548563A publication Critical patent/JPH0548563A/ja
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  • Time-Division Multiplex Systems (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 INTELSAT標準化案の送信テストパタ
ーンを用いたDCME装置のチャンネルチェックテスト
方式を具体化する回路を提供する。 【構成】 予め決められた送信テストパターンのPCM
信号を入力して所定の受信期待値と比較することでチャ
ンネルチェックテストを行う回路において、受信期待値
を各々同期パターンおよび判定基準パターンとして格納
する第一および第二のメモリ6,8と、同期回路6、正
弦波検出回路2,4、ハングオーバー付加回路3の各出
力に基づいて同期制御および時間制御を行う制御回路9
と、入力したPCM信号と第二のメモリに格納された判
定基準パターンとをビット単位で比較して両者の不一致
ビット数を出力する不一致検出回路7と、このビット数
を所定時間積分し、この積分値を閾値と比較することで
テストの良否を判定する判定回路10とを少なくとも有
して構成したものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高能率伝送技術と高能
率符号化技術とを組み合わせることで伝送路の回線効率
を向上させるDCME(Digital Circuit Multiplex Eq
uipment )装置のチャンネルチェックテスト受信回路に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種DCME装置のチャンネル
チェックテスト方式として、INTELSAT(Intern
ational Telecommunications Satellite Organization
)から提案されているDCME装置の標準化案(IE
SS−501 Rev.2)のチャンネルチェックテス
トが一般化されている。
【0003】図3は上記チャンネルチェックテスト方式
を実現するためのブロック図であり、送信側のテストパ
ターン発生部21からPCM信号の送信テストパターン
が出力される。この送信テストパターンは上記標準化案
で規定されているもので、例えば図4に示すような構成
を有している。
【0004】即ち、フレーム開始から100[mse
c]の間に834のサンプルを含む2400[HZ ]Si
nusoidal Tone (第一の正弦波トーン)と、第一の正弦
波トーン停止後437[msec]間に3496のサン
プルを含む A Law InitiazingSequence(無正弦波シー
ケンス)と、無正弦波シーケンス停止後768[mse
c]間に6144のサンプルを含む1254[HZ ] T
est Tone Sequence (第二の正弦波トーン)とを少なく
とも有している。
【0005】この送信テストパターンは変調器22で別
途決められるビット数のADPCM(Adaptive Differe
ntial PCM )信号に変換し、これを送信部23のタイム
スロットに挿入して伝送路に送り出す。
【0006】一方、受信側では、前記送信テストパター
ンとは異なる別の受信パターンを複数のサンプル値から
なる受信期待値として用意しておき、受信部24で別途
決められるビット数で受信されたADPCM信号を復調
器25で復号化して得られるPCM信号とこの受信期待
値とをデコーダ26で比較することでチャンネルチェッ
クを実施する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来の
チャンネルチェック方式では、図3に示すような概略の
実施方法と、図4に示すような送信テストパターンだけ
を規定しているにすぎない。そのため、具体的にこの方
式を実現することができなかった。
【0008】本発明は、かかる背景のもとに創案された
もので、その目的とするところは、上記チャンネルチェ
ックテストを汎用のデジタル信号処理用のシグナルプロ
セッサを用いて行うための方式およびこの方式を実現す
るための具体的回路を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明のDCME装置の
チャンネルチェックテスト方式は、予め定められたサン
プル数およびフレーム構成にしたがって送信側から伝送
される第一の正弦波トーンと、無正弦波シーケンスと、
第二の正弦波トーンとを含む送信テストパターンを受信
してPCM信号に復号し、この復号PCM信号を別途用
意された複数サンプル値の受信期待値と比較することに
よりチャンネルチェックテストを行うようにした方式に
おいて、前記復号PCM信号から前記第一の正弦波トー
ンの送信開始時点および送信停止時点と前記第二の正弦
波トーンの開始時点とを検出するとともに、前記サンプ
ル数をカウントすることでテスト同期を確立し、一方、
メモリ手段に前記受信期待値を格納してこれと前記復号
PCM信号とをビット単位で比較してその差分のビット
を所定時間積分し、積分値を予め決められた閾値を超え
たときはテスト異常を判定するようにしたことを特徴と
する。
【0010】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。
【0011】図1は本発明の一実施例に係るDCME装
置のチャンネルチェックテスト回路の構成図であり、1
は復号PCM信号入力端子、2は第一の正弦波検出回
路、3はハングオーバー付加回路、4は第二の正弦波検
出回路、5は同期回路、6は第一のメモリ、7は不一致
検出回路、8は第二のメモリ、9は制御回路、10は判
定回路を示す。
【0012】また、図2は上記構成の回路による処理タ
イミング説明図である。
【0013】第一の正弦波検出回路2では、復号PCM
信号入力端子1から入力したPCM信号の中に、240
0[HZ ]の正弦波トーンが存在するかどうかを例えば
離散的フーリエ変換等により判定し、その結果を後述す
るハングオーバー付加回路3に出力する。
【0014】ハングオーバー付加回路3では、第一の正
弦波検出回路2の検出結果が2400[HZ ]正弦波信
号の有から無に変化した時点でチャンネルチェックテス
トの判定を行うに十分なハングオーバー時間を該検出回
路2の出力に付加し、後述する制御回路9に出力する。
例えば、INTELSAT仕様のテストパターンを用い
た場合には1500[msec]程度の時間が付加され
る。
【0015】例えば図2を参照すると、t1 は2400
[HZ ]の正弦波信号を検出した時刻、t2 はこの正弦
波信号を検出できなくなった時刻であり、この時刻t2
からハングオーバー時間が付加される。
【0016】第二の正弦波検出回路4では、復号PCM
信号入力端子1から入力するPCM信号の中に、125
4[HZ ]の正弦波信号が存在するかどうかを、例えば
離散的フーリエ変換等により判定し、その結果を後述す
る制御回路9に出力する。
【0017】第一のメモリ6には前記受信期待値の複数
サンプル値が同期パターンとして格納されており、第二
のメモリ8には前記受信期待値の複数サンプル値が判定
基準パターンとして格納されている。
【0018】同期回路5では、復号PCM信号入力端子
1から入力するPCM信号と第一のメモリに格納された
同期パターンとをビット単位で比較することによりチャ
ンネルチェックテストの同期過程を確立するための同期
制御信号を生成し、これを後述する制御回路9に出力す
る。例えば、図2において、時刻t3 から時刻t4 まで
が同期引き込み時間となる。
【0019】制御回路9では、前述のハングオーバー付
加回路3、第二の正弦波検出回路4、同期回路5の各出
力に基づいて同期タイミング信号と制御信号とを生成す
る。同期タイミング信号は、復号PCM信号入力端子1
から入力するPCM信号と第二のメモリ8の判定パター
ンとの比較タイミングを決定するための信号で、後述す
る不一致検出回路7および第二のメモリ8に出力され
る。
【0020】制御回路9はまた、後述する判定回路10
での積分時間、即ち入力された復号PCM信号の観測時
間を決定する制御信号を生成し、これを判定回路10に
出力する。
【0021】不一致検出回路7では、復号PCM信号入
力端子1から入力するPCM信号と第二のメモリ8の判
定パターンとをビット単位で比較し、両者不一致のとき
は差分のビット数を後述する判定回路10に出力する。
【0022】判定回路10では、不一致検出回路7の出
力を、前述の積分時間(復号PCM信号観測時間)の間
順次積分し、該時間が終了した時点で積分値が予め決め
られた閾(しきい)値以内に入っているかどうかによっ
てチャンネルチェックの良否の判定を行い、その結果を
図示を省略した表示装置に出力する。例えば、図2にお
いて、時刻t5 から時刻t6 までの時間が積分時間(復
号PCM信号観測時間)であり、時刻t7 で判定結果を
出力する。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のチャンネ
ルチェック方式によれば、INTELSATから提案さ
れている標準化案(IESS−501 Rev.2)に
記述されている送信テストパターンを用いたDCME装
置のチャンネルチェックテストを汎用のデジタル処理用
シグナルプロセッサで構成した回路にて容易に実現する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係るDCME装置のチャン
ネルチェックテスト回路の構成図である。
【図2】本実施例に係るチャンネルチェックテスト回路
の処理タイミング説明図である。
【図3】従来のDCME装置のチャンネルチェックテス
ト方式の概要を示した図である。
【図4】INTELSATから提案されているDCME
装置の標準化案に記述されている送信テストパターンを
示す図である。
【符号の説明】
1 復号PCM信号入力端子 2 第一の正弦波検出回路 3 ハングオーバー付加回路 4 第二の正弦波検出回路 5 同期回路 6 第一のメモリ 7 不一致検出回路 8 第二のメモリ 9 制御回路 10 判定回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 予め定められたサンプル数およびフレー
    ム構成にしたがって送信側から伝送される第一の正弦波
    トーンと、無正弦波シーケンスと、第二の正弦波トーン
    とを含む送信テストパターンを受信してPCM信号に復
    号し、この復号PCM信号を別途用意された複数サンプ
    ル値の受信期待値と比較することによりチャンネルチェ
    ックテストを行うようにしたDCME装置のチャンネル
    チェックテスト方式において、 前記復号PCM信号から前記第一の正弦波トーンの送信
    開始時点および送信停止時点と前記第二の正弦波トーン
    の開始時点とを検出するとともに、前記サンプル数をカ
    ウントすることでテスト同期を確立し、一方、メモリ手
    段に前記受信期待値を格納してこれと前記復号PCM信
    号とをビット単位で比較してその差分のビットを所定時
    間積分し、積分値を予め決められた閾値を超えたときは
    テスト異常を判定するようにしたことを特徴とするDC
    ME装置のチャンネルチェックテスト方式。
  2. 【請求項2】 予め定められたサンプル数とフレーム構
    成にしたがって伝送される第一の正弦波トーンと、無正
    弦波シーケンスと、第二の正弦波トーンとを含む送信テ
    ストパターンを受信してPCM信号に復号し、この復号
    PCM信号を別途用意された複数サンプル値の受信期待
    値と比較することによりチャンネルチェックテストを行
    うようにしたDCME装置のチャンネルチェックテスト
    回路において、 前記復号PCM信号から前記第一の正弦波トーンの有無
    を検出する第一の正弦波検出回路と、 該第一の正弦波検出回路の検出結果が有から無に変化し
    た時点でチャンネルチェックテストの判定を行うための
    ハングオーバー時間を第一の正弦波検出回路の出力に付
    加するハングオーバー付加回路と、 前記復号PCM信号から前記第二の正弦波トーンを検出
    する第二の正弦波検出回路と、 前記受信期待値の複数サンプル値が同期パターンとして
    格納された第一のメモリと、 前記復号PCM信号を入力してこれを前記第一のメモリ
    に格納された同期パターンと比較することによりチャン
    ネルチェックテストの同期過程を確立するための同期制
    御信号を生成する同期回路と、 前記ハングオーバー付加回路の出力と前記第二の正弦波
    検出回路の出力と前記同期回路の出力とに基づいて同期
    タイミング信号と前記復号PCM信号観測時間を決定す
    る制御信号とを生成する制御回路と、 前記受信期待値の複数サンプル値が判定基準パターンと
    して格納された第二のメモリと、 前記復号PCM信号を前記第二のメモリに格納された判
    定基準パターンとサンプル単位で比較し、不一致の場合
    はその差分のビット数を出力する不一致検出回路と、 前記制御回路で生成された制御信号に基づいて前記不一
    致検出回路の出力ビットを前記入力信号観測時間にわた
    って積分し、これを予め定められた閾値と比較すること
    でチャンネルチェックテストの良否を判定する判定回路
    とを少なくとも有することを特徴とするDCME装置の
    チャンネルチェックテスト回路。
JP3204277A 1991-08-14 1991-08-14 Dcme装置のチヤンネルチエツクテスト方式および回路 Withdrawn JPH0548563A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000035161A1 (fr) * 1998-12-07 2000-06-15 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Système d'essai de contrôle de canal

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Effective date: 19981112