JPH0548124A - 光電変換素子 - Google Patents

光電変換素子

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JPH0548124A
JPH0548124A JP3203159A JP20315991A JPH0548124A JP H0548124 A JPH0548124 A JP H0548124A JP 3203159 A JP3203159 A JP 3203159A JP 20315991 A JP20315991 A JP 20315991A JP H0548124 A JPH0548124 A JP H0548124A
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JP
Japan
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electrodes
photoelectric conversion
conversion element
layer
impurity diffusion
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Withdrawn
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JP3203159A
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English (en)
Inventor
Sota Moriuchi
荘太 森内
Koji Okamoto
浩二 岡本
Yuji Yokozawa
雄二 横沢
Tetsuhiro Okuno
哲啓 奥野
Kazutaka Nakajima
一孝 中嶋
Toru Nunoi
徹 布居
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells

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  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 この発明は、光電変換素子において、直列抵
抗損失の増大を抑え、かつ、実効的に表面不純物濃度を
低減することを可能とした光電変換素子の提供を目的と
する。 【構成】 第1導電型半導体基板の表面に形成された第
2導電型の不純物拡散領域の不純物濃度が、この不純物
拡散領域表面に平行に配置された受光面電極間の中央部
で低く、この受光面電極に近付くに従い高くなるように
拡散されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光電変換素子に関
し、特に、光電変換効率の高効率化を図ることを可能と
した光電変換素子の構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光電変換素子の一例として、図6を参照
して、シリコン太陽電池の例について以下説明する。
【0003】従来のシリコン太陽電池は、p型半導体基
板1の表面すなわち受光面側に、POCl3 などの熱拡
散を行なって、n型半導体層2を形成し、これらの半導
体層の界面にpn接合を形成する。
【0004】裏面側には、全面にわたりBSF(バック
サーフェイスフィールド)層5を形成し、さらに裏面電
極6を形成する。この場合、Alペーストを裏面に印刷
し焼成することにより裏面電極6が形成され、その内部
ではp/p+ のハイ・ロー障壁が形成されることによ
り、BSF層5を形成することができる。
【0005】また、受光面側には、全面にわたりパッシ
ベーションのためのSiO2 膜3および反射低減のため
の反射防止膜4が形成される。
【0006】最後に、反射防止膜4の表面からn型半導
体層2の表面に達する所望のパターンの電極7を設けて
いる。
【0007】上記の場合、反射防止膜4およびSiO2
膜3に穴を開けて、電極7を蒸着する方法もあるが、近
年は量産化のため、反射防止膜4の表面にAgを主成分
とする金属ペーストを印刷し、焼成により前記反射防止
膜4およびSiO2 膜3を貫通して、n型半導体層2と
接する焼成貫通型の電極が用いられている。
【0008】上記構成よりなるシリコン太陽電池の動作
原理は、図7ないし図9を参照して、平衡状態にあるp
n接合のp型層とn型層に、それぞれ1個の光子が入射
して、電子を帯電体に上げた場合を考えてみる。
【0009】電子については、図7を参照して、上方向
に電子のエネルギをとる。図7より、p層で発生した電
子は、エネルギの段差(下り坂)を右側のn層に向かっ
て転げ落ちるが、n層で発生した電子は左側に動こうと
しても、上り坂に妨げられて移動できず、n層に止まる
ことが容易に説明できる。
【0010】一方、正孔の動きについては、正孔のエネ
ルギを上方向にとると、図8を参照して、EF (フェル
ミレベル)を軸にして、図7と上下対称の形に表わすこ
とができ、正孔の動きとしては電子とは逆に、n層で発
生した正孔がp層へ移動し、p層の正孔はそのまま止ま
ることがわかる。
【0011】次に、光の量が増えて、起電力(電圧)が
発生している状態を、通常の電子エネルギを上方へとっ
た図9を参照して説明する。
【0012】この図9においては、図7および図8で示
した光子により発生した電子と正孔の移動の結果、電子
がn層に、正孔がp層に分離して進められている状態を
示す。電気的には、p層が+に、n層が−に帯電したこ
とになり、両層内のフェルミレベル間には帯電した電荷
量に対応した段差(ΔEF )が発生する。このΔEF
光照射によって発生した起電力で、両端に電圧計をつな
ぐと、フェルミレベルが高くなっているn層側が−で、
p層側が+の電極の電圧が観測され、その値は、 V=ΔEF /q となる。
【0013】上記により、結論的には、この起電力によ
って負荷に電流を供給する働きが、太陽電池の動作原理
となるものである。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】上記構成よりなるシリ
コン太陽電池において、光電変換効率の高効率化を図る
ための要素技術としては、表面不純物拡散層の不純物濃
度の低減が検討されている。この不純物濃度の低減に
は、以下の2つの目的が挙げられる。
【0015】第1に、小数キャリアの不純物拡散層表面
における表面再結合の低減による開放電圧の向上であ
る。これは、小数キャリアが、n型拡散層表面でシリコ
ン表面の未結合手などを介して表面再結合するのを、シ
リコン表面に薄いシリコン酸化膜を形成するパッシベー
ション技術によって防止しようというものである。この
表面パッシベーション技術の効果を高めるためには、不
純物拡散濃度を下げることが望ましい。
【0016】第2に、上記不純物拡散層中での再結合の
低減による、短波長感度の向上である。これは、短波長
感度の向上を目的とした接合深さの低減にも合致するも
のである。
【0017】しかしながら、上記2つの目的を達成させ
るためには、以下に述べる問題点が生じている。つま
り、パッシベーション技術の効果を高めるには表面の不
純物濃度が低い方がよいが、不純物濃度の低減は、拡散
層の抵抗を上げるため、発生電流が該拡散層を流れる際
の直列抵抗損失が大きくなり、曲線因子の低下を招いて
いた。この直列抵抗損失を低減するには、表面電極間隔
を狭くすることが有効ではあるが、これには、電極占有
率が大きくなることや、微細電極が必要であるなど問題
点が多い。
【0018】以上のような理由により、従来、n型不純
物拡散層は、熱拡散法によって拡散され、その濃度は、
直列抵抗を考慮して、接合深さ、電極間隔、電極幅も勘
案して設計されているが、上記目的を実現するに十分な
濃度にまで低減できていないのが実情であった。
【0019】この発明は、上記問題点を解決するために
なされたもので、実効的に表面不純物濃度を低減し、短
波長感度、および、表面パッシベーション効果が高く、
さらに直列抵抗損失の少ない光電変換素子を提供するこ
とを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、この発明による光電変換素子は、第1導電型の半導
体基板と、この第1導電型半導体基板の表面に形成され
た第2導電型の不純物拡散領域と、この第2導電型の不
純物拡散領域の表面に複数本平行に配置され、光起電力
効果により得られる起電力を取出すための受光面電極と
を有する光電変換素子であって、上記第2導電型の不純
物拡散領域の不純物濃度が、上記平行に配置された受光
面電極間の中央部で低く、上記受光面電極に近付くに従
い高くなるように拡散されている。
【0021】
【作用】第1導電型の半導体基板の表面に形成された第
2導電型の不純物拡散領域の濃度が、受光面電極間の中
央部で低く、この受光面電極に近付くに従い高くなるよ
うに拡散されていることにより、実効的に表面不純物濃
度が低減し、これにより表面パッシベーション効果が高
くなる。また、短波長感度も向上しさらに直列抵抗損失
をも少なくすることができる。
【0022】
【実施例】以下、この発明に基づいた一実施例について
図面を用いて説明する。
【0023】この発明の一実施例による結晶シリコン系
太陽電池の構造は、図1を参照して、第1の導電型たと
えばp型半導体基板1の表面すなわち受光面側に、PO
Cl 3 などの熱拡散を行なって、第2の導電型たとえば
n型半導体層2を形成し、これらの半導体層の界面にp
n接合を形成している。
【0024】裏面側には、全面にわたりBSF(バック
サーフェイスフィールド)層5を形成し、さらに裏面電
極6が形成されている。この場合Alペーストを裏面に
印刷し焼成することにより裏面電極6が形成され、その
内部ではp/p+ のハイ・ロー障壁が形成されることに
より、BSF層を形成することができる。
【0025】また、受光面側には、全面にわたりパッシ
ベーションのためのSiO2 膜3および反射低減のため
の反射防止膜4が形成されている。
【0026】最後に、反射防止膜4の表面からn型半導
体層2の表面に達する所望のパターンの電極5などを設
けている。この場合、反射防止膜4およびSiO2 膜3
に穴を開けて、電極5を蒸着する方法もあるが、近年は
量産化のため、反射防止膜3の表面にAgを主成分とす
る金属ペーストを印刷し、焼成により前記反射膜4およ
びSiO2 膜3を貫通して、n型半導体層2と接する焼
成貫通型の電極が用いられている。
【0027】上記に示すように、本発明における構造
は、図6に示す従来技術のシリコン系太陽電池の構造と
同一であり、従来の構造と異なるところは、n型半導体
層2の不純物拡散領域の濃度分布が異なるところであ
る。
【0028】なお、図6と同一の部分については同一の
符号を付してある。まず、シリコンよりなるp型半導体
基板1は、図1を参照して、その表面が洗浄された後、
表面の破壊層除去のため化学エッチングを施す。続い
て、p型半導体基板1に対してn型ドーパント(たとえ
ばPH3 、PCl3 、As 3 など)を含む気相中で、
レーザたとえば、308mmの波長を持つXeClエキ
シマレーザを、そのショット数を変化させながら、各電
極の間でn型半導体層2の濃度分布が変化するように照
射してドーピングを行なった。
【0029】上記エキシマレーザによるドーピングの機
構は、高エネルギ密度の短波長レーザ照射によるシリコ
ン基板表面の溶融拡散であり、固体シリコンよりも溶融
シリコン中の方が拡散係数が大幅に大きいことを利用す
るとともに、エキシマレーザに対するシリコンの吸収係
数が約108 cm-1と極めて高いことを利用して、基板
の表面のみを加熱溶融する浅い接合形成に最適である。
【0030】この実施例においては、PCl3 ガス雰囲
気中で同一照射エネルギで、レーザの同一箇所における
ショット回数を変化させ、電極7,7の予定領域間で不
純物濃度を徐々に変化させている。
【0031】図2に示すグラフは、横軸にレーザショッ
ト回数を示し、縦軸に基板表面の面抵抗(Ω/単位面
積)を示し、両者の関係を表わしたものである。このグ
ラフにおいて、レーザショット回数を増やすに従って、
面抵抗が低下していることがわかる。よって、この実施
例においては、電極7、7直下の領域でのショット回数
を多く、電極7.7から離れるに従いショット回数を少
なくしている。
【0032】また、図3に示すグラフは、横軸に不純物
拡散層深さを示し、縦軸にリン原子密度を示し、両者の
関係を表したものである。
【0033】これは、不純物拡散層中のリン原子の密度
を、SIMS(Secondaryion mass
spectrometry)によって分析したものであ
り、図中において曲線1は2ショット、曲線2は10シ
ョットの場合を示している。図3から明らかなように、
ショット数を増やすことによってリン原子の分布がより
ボックス型に近くなっているが、接合の深さは約0.2
0μmで変わっていないことがわかる。また、曲線3
は、レーザのエネルギ密度を1.5J/cm2 として、
レーザ光を10ショット照射した場合を示している。こ
の場合は、接合の深さは0.40μmとなっており、レ
ーザの出力を変えれば接合の深さが変わることがわか
る。
【0034】上記データより、実際の太陽電池セルのp
n接合形成を行なう。現状では、一般的に電極ピッチが
4mmで、電極幅が100μmであるため、これに合わ
せて、図4に示すように、電極間の中央部のEの領域で
はレーザのショット数を2ショットとし、Dの領域では
4ショット、Cの領域では6ショット、Bの領域では8
ショット、Aの領域では12ショットとした。このとき
の基板表面における面抵抗は、図4に示すように、Aの
領域においては約1.3×10(Ω/単位面積)であ
り、Bの領域においては約3.5×10(Ω/単位面
積)、Cの領域においては約5×10(Ω/単位面
積)、Dの領域においては約8×10(Ω/単位面
積)、Eの領域においては約2×102 (Ω/単位面
積)となることがわかる。ここで、各領域は、この実施
例においては、電極7.7に対して平行に形成されてお
り、レーザスポット(口数mm×10mm)をスキャン
させることにより形成されている。
【0035】上記によりn型拡散層が形成された後、表
面パッシベーション膜となるSiO 2 膜3をn型半導体
層2上に熱酸化法により800℃前後で約100〜15
0Å形成する。続いて、その表面に熱CVD法により、
TiO2 よりなる反射防止膜4を形成した後、p型半導
体基板1の裏面側に、バルク側で吸収される長波調光の
収集効率を改善するためのBSF層5を形成する。この
BSF層5は、Alペーストよりなる裏面電極6の印刷
後、酸化性雰囲気中において700℃で焼成して形成し
た。
【0036】続いて、受光面電極7は、Agを主成分と
するペーストを所望のパターンで印刷した後、600℃
で焼成して形成する。このペーストは、反射防止膜4お
よびSiO2 膜3を焼成により貫通して、n型半導体層
2の表面と強硬な接触をする。
【0037】上記工程により、本願発明に基づいた太陽
電池セルが完成する。下記に示す表1は、本発明による
太陽電池セルにおける光電変換特性を示したものであ
り、従来構造における従来例1および従来列2との数値
を比較して表記されている。
【0038】
【表1】
【0039】上記、表に示す従来例1、2の断面構造
は、図1と同様ではあるが、不純物拡散領域の拡散は、
POCl3 を用いた熱拡散によって行なわれ、その面抵
抗の分布は、図4中に示した均一の分布を持つ太陽電池
セルである。
【0040】本発明による太陽電池セルは、従来例1と
比べると、短絡電流(Jsc)、開放電圧(Voc)ともに
向上しており、表面再結合や不純物拡散層中の再結合が
低減されていることがわかる。また、従来例2と比べた
場合は、曲線因子(FF)が大幅に向上している。
【0041】また、図5に示すグラフは、本発明による
太陽電池と、従来構造1および2の太陽電池との分光感
度特性を示すグラフであって、横軸に波長、縦軸に分光
感度を示している。実線Aは本発明による太陽電池の特
性、一点鎖線Bは従来例1による特性、二点鎖線Cは従
来例2による特性を示すものであって、短長両波長領域
において感度が改善されていることがわかる。
【0042】上記のように、拡散層の不純物濃度が中央
部から電極に向かって次第に高くなるよう分布させるこ
とにより、受光面電極間の中央部では、不純物拡散層中
を流れる電流は、中央部で発生した電流だけであるため
にその電流密度は低く、該拡散層の不純物濃度を低くし
て面抵抗を高めても直列抵抗損失は小さく、特性には重
大な影響を及ぼさない。また、受光面電極から距離が近
い部分では、その部分で発生した電流だけでなく、拡散
層中を流れてきた電流が加わるために拡散層中の電流密
度が高い。そこで、この部分では上記のように拡散層の
不純物濃度を高くして面抵抗を下げれば、直列抵抗損失
を抑えることが可能となっている。
【0043】また、エキシマレーザを用いた拡散法を用
いることによっても、半導体基板表面の溶融化プロセス
であるために、バルクに対する熱の影響が小さくすみ、
少数キャリアのライフタイムを損なうことがない。これ
により、長波長感度も向上させることが可能となってい
る。
【0044】上記により、従来に比べ直列抵抗損失を抑
え、かつ実効的な不純物濃度を下げることができ太陽電
池セルの高効率化を図ることが可能となる。
【0045】なお、上記実施例は最適な効果を得るため
にp型半導体基板を用いその表面にn型不純物拡散領域
を形成した太陽電池セルであるが、n型半導体基板を用
いてその表面にp型不純物拡散領域を形成した太陽電池
セルを用いて、上記と同様の構成にすることによって
も、太陽電池セルとしての機能を果たせることは可能で
ある。
【0046】
【発明の効果】この発明に基づいた光電変換素子の一例
である太陽電池セルにおいて、その第2導電型の不純物
拡散領域の不純物濃度が、この不純物拡散領域平面に平
行に配置された受光面電極間の中央部で低く、この受光
面電極に近付くに従い高くなるように拡散することによ
り、実効的に表面不純物濃度を低減し、短波長感度、お
よび、表面パッシベーション効果を向上させることを可
能とし、さらに、直列抵抗損失の少ない高効率の太陽電
池セルを提供することを可能とした。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に基づいた実施例における太陽電池セ
ルの断面図である。
【図2】XeClエキシマレーザのショット回数と照射
されたシリコン基板表面の面抵抗の関係を示す図であ
る。
【図3】XeClエキシマレーザのショット回数におけ
るシリコン基板表面のリン拡散深さとリン原子密度を示
す図である。
【図4】不純物拡散層におけるXeClエキシマレーザ
のショット回数と基板表面の面抵抗の分布の関係を示す
図である。
【図5】この発明に基づいて実施した太陽電池セルと従
来構造の太陽電池セルとの分光感度特性の比較を示す図
である。
【図6】従来技術における太陽電池セルの断面図であ
る。
【図7】太陽電池における光起電力効果の原理を示すエ
ネルギ帯図である。
【図8】太陽電池における光起電力効果の原理を示すエ
ネルギ帯図である。
【図9】太陽電池における光起電力効果の原理を示すエ
ネルギ帯図である。
【符号の説明】
1 第1導電型半導体基板 2 第2導電型不純物拡散領域 3 パッシベーション膜 4 反射防止膜 5 BSF層 6 裏面電極 7 受光面電極 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 奥野 哲啓 大阪市阿倍野区長池町22番22号 シヤープ 株式会社内 (72)発明者 中嶋 一孝 大阪市阿倍野区長池町22番22号 シヤープ 株式会社内 (72)発明者 布居 徹 大阪市阿倍野区長池町22番22号 シヤープ 株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1導電型の半導体基板と、 この第1導電型半導体基板の表面に形成された第2導電
    型の不純物拡散領域と、 この第2導電型の不純物拡散領域の表面に複数本平行に
    配置され、光起電力効果により得られる起電力を取出す
    ための受光面電極と、 を有する光電変換素子であって、 前記第2導電型の不純物拡散領域の不純物濃度が、前記
    平行に配置された受光面電極間の中央部で低く、前記受
    光面電極に近付くに従い高くなるように拡散されたこと
    を特徴とする光電変換素子。
JP3203159A 1991-08-14 1991-08-14 光電変換素子 Withdrawn JPH0548124A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009078672A2 (en) * 2007-12-18 2009-06-25 Lg Electronics Inc. Hetero-junction silicon solar cell and fabrication method thereof
JP2015515747A (ja) * 2012-03-14 2015-05-28 アイメック・ヴェーゼットウェーImec Vzw めっきされたコンタクトを有する太陽電池の製造方法
JP5826380B2 (ja) * 2012-04-25 2015-12-02 三菱電機株式会社 太陽電池および太陽電池の製造方法、太陽電池モジュール

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