JPH0545258B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0545258B2 JPH0545258B2 JP59112012A JP11201284A JPH0545258B2 JP H0545258 B2 JPH0545258 B2 JP H0545258B2 JP 59112012 A JP59112012 A JP 59112012A JP 11201284 A JP11201284 A JP 11201284A JP H0545258 B2 JPH0545258 B2 JP H0545258B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pin
- rotation
- center
- sinogram
- detector
- Prior art date
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- Expired - Fee Related
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 208000003464 asthenopia Diseases 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この発明は、X線CT装置等において回転中心
を求めるための位置調整装置に関する。
を求めるための位置調整装置に関する。
(ロ) 従来技術
X線CT装置等では、回転機構の中心を基準に
して各部の位置調整を行なうので、回転中心を正
確に求めることが重要である。すなわち、X線
CT装置では、X線管球および検出器の位置を回
転ふれの回転中心からこれらまでの距離が設計通
りになるように調整し且つX線管球と回転中心と
検出器中心とが1直線上にのるよう調整すること
が大切であり、これが画像の良・不良を決定する
重要な原因となつている。
して各部の位置調整を行なうので、回転中心を正
確に求めることが重要である。すなわち、X線
CT装置では、X線管球および検出器の位置を回
転ふれの回転中心からこれらまでの距離が設計通
りになるように調整し且つX線管球と回転中心と
検出器中心とが1直線上にのるよう調整すること
が大切であり、これが画像の良・不良を決定する
重要な原因となつている。
そして、この位置調整が正しく行なえるかどう
かは、正しく回転中心が求められるか否かに基礎
づけられている。ところで、従来では、第4図に
示すようにガントリ1において、X線管球2と検
出器3とを保持して回転させる回転フレームに渡
し板4を固定し、この渡し板4の中心にピン5を
取り付け、この状態で回転させてみてピン5を目
視で監視し、回転中ピン5が円を描かないように
ピン5の位置を調整し、ピン5が動かなくなるポ
イントが求められたそのポイントが回転中心であ
ると判別していた。そのため、肉眼でピン5の軌
跡を追うことから、目が疲れたり、求めた中心が
不正確であるという欠点がある。
かは、正しく回転中心が求められるか否かに基礎
づけられている。ところで、従来では、第4図に
示すようにガントリ1において、X線管球2と検
出器3とを保持して回転させる回転フレームに渡
し板4を固定し、この渡し板4の中心にピン5を
取り付け、この状態で回転させてみてピン5を目
視で監視し、回転中ピン5が円を描かないように
ピン5の位置を調整し、ピン5が動かなくなるポ
イントが求められたそのポイントが回転中心であ
ると判別していた。そのため、肉眼でピン5の軌
跡を追うことから、目が疲れたり、求めた中心が
不正確であるという欠点がある。
(ハ) 目的
この発明は、肉眼に頼ることなしに正確に回転
中心を求めることのできるCT装置の位置調整装
置を提供することを目的とする。
中心を求めることのできるCT装置の位置調整装
置を提供することを目的とする。
(ニ) 構成
この発明によれば、ピンを回転機構の回転中心
付近に保持しておいて、放射線を発射しながら回
転機構を回転させ、このときに放射線検出器より
得られるピンに関する投影データからサイノグラ
ムを作成し、このサイノグラムが直線になるよう
上記ピン位置を調整することによつて回転中心を
求めるようにしている。
付近に保持しておいて、放射線を発射しながら回
転機構を回転させ、このときに放射線検出器より
得られるピンに関する投影データからサイノグラ
ムを作成し、このサイノグラムが直線になるよう
上記ピン位置を調整することによつて回転中心を
求めるようにしている。
(ホ) 実施例
第1図において、ベツド天板6の端部にスライ
ドレール7が取り付けられており、このスライド
レール7には、そのスライド溝81が嵌合するこ
とによつてスライドブロツク8がスライド自在に
取り付けられている。このスライドブロツク8に
は別のスライド溝83が設けられ、このスライド
溝83にスライド板84がスライド自在に嵌合し
ている。スライド板84にはピン86が設けられ
ている。回転つまみ82を回転すると、ボルトが
回転することによつてスライドブロツク8がスラ
イドレール7に沿つて上下に移動し、回転つまみ
85を回転すると、ボルトが回転することによつ
てスライド板84がスライド溝83に沿つて左右
に移動する。こうして回転つまみ82,85によ
り位置の調整ができるようにされながらピン86
が保持される。
ドレール7が取り付けられており、このスライド
レール7には、そのスライド溝81が嵌合するこ
とによつてスライドブロツク8がスライド自在に
取り付けられている。このスライドブロツク8に
は別のスライド溝83が設けられ、このスライド
溝83にスライド板84がスライド自在に嵌合し
ている。スライド板84にはピン86が設けられ
ている。回転つまみ82を回転すると、ボルトが
回転することによつてスライドブロツク8がスラ
イドレール7に沿つて上下に移動し、回転つまみ
85を回転すると、ボルトが回転することによつ
てスライド板84がスライド溝83に沿つて左右
に移動する。こうして回転つまみ82,85によ
り位置の調整ができるようにされながらピン86
が保持される。
このようにして、第2図に示すようにガントリ
1の回転中心付近にピン86が保持される。そし
て、この第2図のような状態で、X線管球2から
X線を発射しピン86付近を透過したX線を検出
器3で検出しながら、これらX線管球2および検
出器3を保持して回転する回転フレームを回転さ
せる。すると、回転の各角度毎に、検出器3の多
数のチヤンネルの各々からピン86に関する投影
データが得られる。
1の回転中心付近にピン86が保持される。そし
て、この第2図のような状態で、X線管球2から
X線を発射しピン86付近を透過したX線を検出
器3で検出しながら、これらX線管球2および検
出器3を保持して回転する回転フレームを回転さ
せる。すると、回転の各角度毎に、検出器3の多
数のチヤンネルの各々からピン86に関する投影
データが得られる。
この投影データを角度毎に並べてCRT画面な
どに表示すれば、第3図に示すようなサイノグラ
ムが得られる。このサイノグラムにおけるピン8
6の軌跡9は、ピン86が中心からずれていると
き第3図に示すようにサインカーブを描く。この
サインカーブのピークPがあらわれる角度はずれ
量が最大になるときのX線管球2の位置を示し、
その振幅Aは最大ずれ量に対応する。
どに表示すれば、第3図に示すようなサイノグラ
ムが得られる。このサイノグラムにおけるピン8
6の軌跡9は、ピン86が中心からずれていると
き第3図に示すようにサインカーブを描く。この
サインカーブのピークPがあらわれる角度はずれ
量が最大になるときのX線管球2の位置を示し、
その振幅Aは最大ずれ量に対応する。
第3図の場合はX線管球2が90°、270°でずれ
量が最大になるので、基準角度(0°)を上方とし
左回転させるものとすると、X線管球2がちよう
ど真横にあるときにずれ量が最大になり、下方向
にピン86の位置がずれていることが分る。そこ
でこの場合はピン86の位置を調整し、ピン86
を上方に移動させればよいわけである。その移動
距離は振幅Aに対応させればよいが、振幅Aは検
出器3のチヤンネル数Nで表わされるので、検出
器3の1チヤンネル分の角度をΔθとすると、ピ
ン86を移動させるべき距離rは、 r=R・sin(N・Δθ) で表わされる。なお、ここでRはX線管球2と回
転中心との距離である。
量が最大になるので、基準角度(0°)を上方とし
左回転させるものとすると、X線管球2がちよう
ど真横にあるときにずれ量が最大になり、下方向
にピン86の位置がずれていることが分る。そこ
でこの場合はピン86の位置を調整し、ピン86
を上方に移動させればよいわけである。その移動
距離は振幅Aに対応させればよいが、振幅Aは検
出器3のチヤンネル数Nで表わされるので、検出
器3の1チヤンネル分の角度をΔθとすると、ピ
ン86を移動させるべき距離rは、 r=R・sin(N・Δθ) で表わされる。なお、ここでRはX線管球2と回
転中心との距離である。
こうしてピン86を移動させ、再び投影データ
を得てサイノグラムを作成してみる。ピン86の
位置ずれ量が少なくなればサインカーブの振幅が
小さくなるのでこれを確認する。ピン86を回転
中心に位置決めできると、サイノグラムにおける
ピン86の軌跡は直線を描くので、ピン86の軌
跡が直線を描くようになるまで上記の作業を繰り
返す。これによりピン86の軌跡が直線になつた
ことを確認できれば、そのときピン86の位置が
回転中心と正確に一致した状態になつていること
になる。このようにしてピン86の位置により回
転中心を正確に求めることができる。
を得てサイノグラムを作成してみる。ピン86の
位置ずれ量が少なくなればサインカーブの振幅が
小さくなるのでこれを確認する。ピン86を回転
中心に位置決めできると、サイノグラムにおける
ピン86の軌跡は直線を描くので、ピン86の軌
跡が直線を描くようになるまで上記の作業を繰り
返す。これによりピン86の軌跡が直線になつた
ことを確認できれば、そのときピン86の位置が
回転中心と正確に一致した状態になつていること
になる。このようにしてピン86の位置により回
転中心を正確に求めることができる。
(ヘ) 効果
この発明によれば、肉眼に頼らずピン投影デー
タのサイノグラムのパターンによつて回転中心か
らのピンの位置ずれ方向および位置ずれ量を知る
ことができ、これによりピンを回転中心に正確に
位置決めすることができるので、作業が簡単であ
りしかもきわめて正確に回転中心を求めることが
できるとともに、目視検査による目の疲労なども
生じない。また、位置調整のために特別な治具を
必要とすることもない。
タのサイノグラムのパターンによつて回転中心か
らのピンの位置ずれ方向および位置ずれ量を知る
ことができ、これによりピンを回転中心に正確に
位置決めすることができるので、作業が簡単であ
りしかもきわめて正確に回転中心を求めることが
できるとともに、目視検査による目の疲労なども
生じない。また、位置調整のために特別な治具を
必要とすることもない。
第1図、第2図および第3図はこの発明の一実
施例にかかるもので、第1図はピンの保持装置を
示す概略斜視図、第2図は全体の概略斜視図、第
3図はサイノグラムを表わす図、第4図は従来例
の模式図である。 1……ガントリ、2……X線管球、3……検出
器、4……渡し板、5,86……ピン、6……ベ
ツド天板、7……スライドレール、8……スライ
ドブロツク、81,83……スライド溝、82,
85……回転つまみ、84……スライド板。
施例にかかるもので、第1図はピンの保持装置を
示す概略斜視図、第2図は全体の概略斜視図、第
3図はサイノグラムを表わす図、第4図は従来例
の模式図である。 1……ガントリ、2……X線管球、3……検出
器、4……渡し板、5,86……ピン、6……ベ
ツド天板、7……スライドレール、8……スライ
ドブロツク、81,83……スライド溝、82,
85……回転つまみ、84……スライド板。
Claims (1)
- 1 放射線発射装置と、放射線検出器と、これら
放射線発射装置および放射線検出器を支持して回
転させる回転機構とを有するCT装置において、
ピンを上記回転機構の回転中心付近に保持し且つ
その位置が調整できる保持装置と、放射線を発射
しながら上記回転機構を回転させたときに上記放
射線検出器より得られる上記ピンに関する投影デ
ータからサイノグラムを作成する装置とを備え、
このサイノグラムが直線になるよう上記ピン位置
を調整することによつて回転中心を求めることを
特徴とするCT装置の位置調整装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59112012A JPS60256436A (ja) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | Ct装置の位置調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59112012A JPS60256436A (ja) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | Ct装置の位置調整装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60256436A JPS60256436A (ja) | 1985-12-18 |
JPH0545258B2 true JPH0545258B2 (ja) | 1993-07-08 |
Family
ID=14575756
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59112012A Granted JPS60256436A (ja) | 1984-05-31 | 1984-05-31 | Ct装置の位置調整装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60256436A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005195494A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5710332B2 (ja) * | 2011-03-26 | 2015-04-30 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | アライメント調整方法、アライメント測定方法およびアライメント用治具 |
US8824627B2 (en) | 2011-06-15 | 2014-09-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray CT scanner and image processing apparatus |
JP5901897B2 (ja) * | 2011-06-15 | 2016-04-13 | 株式会社東芝 | X線ct装置及び画像処理装置 |
-
1984
- 1984-05-31 JP JP59112012A patent/JPS60256436A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005195494A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Toshiba It & Control Systems Corp | コンピュータ断層撮影装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60256436A (ja) | 1985-12-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |