JPH0543371Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0543371Y2 JPH0543371Y2 JP5632188U JP5632188U JPH0543371Y2 JP H0543371 Y2 JPH0543371 Y2 JP H0543371Y2 JP 5632188 U JP5632188 U JP 5632188U JP 5632188 U JP5632188 U JP 5632188U JP H0543371 Y2 JPH0543371 Y2 JP H0543371Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical disk
- characteristic
- displacement
- lens
- lens actuator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 48
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 27
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 25
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、光デイスクにおける偏心や振れおよ
びその瞬時加速度などを測定する光デイスク検査
装置の改良に関するものである。
びその瞬時加速度などを測定する光デイスク検査
装置の改良に関するものである。
更に詳しくは、このような光デイスク検査装置
において、偏心や振れの瞬時加速度を測定する手
段の改良に関するものである。
において、偏心や振れの瞬時加速度を測定する手
段の改良に関するものである。
従来、この種の光デイスク検査装置において
は、光デイスクの案内溝にトラツキングサーボお
よびフオーカスサーボをかけ、光ヘツド（集光レ
ンズ）を光デイスクの動きに追従させて、光デイ
スクの読取り状態を維持するとともに、このとき
の集光レンズの動きを変位センサにより検出し
て、偏心量および振れ量に対応した出力信号を得
ている。また、変位センサの出力信号を加速度フ
レルタを介して読み取り、偏心加速度および振れ
加速度を求めている。
は、光デイスクの案内溝にトラツキングサーボお
よびフオーカスサーボをかけ、光ヘツド（集光レ
ンズ）を光デイスクの動きに追従させて、光デイ
スクの読取り状態を維持するとともに、このとき
の集光レンズの動きを変位センサにより検出し
て、偏心量および振れ量に対応した出力信号を得
ている。また、変位センサの出力信号を加速度フ
レルタを介して読み取り、偏心加速度および振れ
加速度を求めている。
第４図は従来の光デイスク検査装置の一例を示
す構成図である。図において、１は光デイスク、
２はこの光デイスク１を一定速度で回転させるス
ピンドルモータ、３は光デイスク１の記録面をト
レースする光ヘツド、４は光ヘツド３を光デイス
ク１の半径方向に移動させる送り機構、５はトラ
ツキングサーボ回路やフオーカスサーボ回路を含
む制御演算回路である。また、３１はレーザダイ
オード、３２はレーザダイオード３１から出射さ
れたレーザ光を収束させ、光デイスク１の表面に
照射する集光レンズ、３３はサーボ回路の働きに
応じて集光レンズ３２をトラツキング方向および
フオーカス方向に移動させるレンズアクチユエー
タ、３４はトラツキングエラーを検出するトラツ
キングセンサ、３５はフオーカスエラーを検出す
るフオーカスセンサ、３６は集光レンズ３２にお
けるトラツキング方向およびフオーカス方向の変
位量を検出する変位センサである。
す構成図である。図において、１は光デイスク、
２はこの光デイスク１を一定速度で回転させるス
ピンドルモータ、３は光デイスク１の記録面をト
レースする光ヘツド、４は光ヘツド３を光デイス
ク１の半径方向に移動させる送り機構、５はトラ
ツキングサーボ回路やフオーカスサーボ回路を含
む制御演算回路である。また、３１はレーザダイ
オード、３２はレーザダイオード３１から出射さ
れたレーザ光を収束させ、光デイスク１の表面に
照射する集光レンズ、３３はサーボ回路の働きに
応じて集光レンズ３２をトラツキング方向および
フオーカス方向に移動させるレンズアクチユエー
タ、３４はトラツキングエラーを検出するトラツ
キングセンサ、３５はフオーカスエラーを検出す
るフオーカスセンサ、３６は集光レンズ３２にお
けるトラツキング方向およびフオーカス方向の変
位量を検出する変位センサである。
このように構成された光デイスク検査装置にお
いては、光デイスク１の案内溝にトラツキングお
よびフオーカスサーボをかけ、集光レンズ３２を
光デイスク１の動きに追従させているので、集光
レンズ３２の動きは案内溝の偏心量および光デイ
スク１の振れ量に対応したものとなつている。し
たがつて、このときの集光レンズ３２の動きを変
位センサ３６により検出するとともに、スピンド
ルモータ２の回転角に同期させて信号処理すれ
ば、光デイスク１の偏心量および振れ量を測定す
ることができる。
いては、光デイスク１の案内溝にトラツキングお
よびフオーカスサーボをかけ、集光レンズ３２を
光デイスク１の動きに追従させているので、集光
レンズ３２の動きは案内溝の偏心量および光デイ
スク１の振れ量に対応したものとなつている。し
たがつて、このときの集光レンズ３２の動きを変
位センサ３６により検出するとともに、スピンド
ルモータ２の回転角に同期させて信号処理すれ
ば、光デイスク１の偏心量および振れ量を測定す
ることができる。
また、第５図に示すごとく、変位センサ３６の
出力を、２回微分およびローパスの特性を有する
加速度フイルタ５１を介して変換すれば、偏心お
よび振れの瞬時加速度を求めることができる。
出力を、２回微分およびローパスの特性を有する
加速度フイルタ５１を介して変換すれば、偏心お
よび振れの瞬時加速度を求めることができる。
しかしながら、このような構成の光デイスク検
査装置では、集光レンズ３２の変位を変位センサ
３６を使用して測定しているので、高精度の測定
が可能ではあるが、専用の変位センサ３６を必要
とし、高価なものとなつてしまう。
査装置では、集光レンズ３２の変位を変位センサ
３６を使用して測定しているので、高精度の測定
が可能ではあるが、専用の変位センサ３６を必要
とし、高価なものとなつてしまう。
また、これに対して、レンズアクチユエータ３
３の駆動電流は高周波側で−40dB／decの傾きを
持つているので、従来、この駆動電流を利用して
簡易的に瞬時加速度を求める方法もあるが、特性
上、低周波側での精度が悪く、正確な測定を行な
うことはできない。
３の駆動電流は高周波側で−40dB／decの傾きを
持つているので、従来、この駆動電流を利用して
簡易的に瞬時加速度を求める方法もあるが、特性
上、低周波側での精度が悪く、正確な測定を行な
うことはできない。
本考案は、上記のような従来装置の欠点をなく
し、高価な変位センサを使用することなく、レン
ズアクチユエータの駆動電流から直接瞬時加速度
出力を得ることのできる光デイスク検査装置を簡
単な構成により実現することを目的としたもので
ある。
し、高価な変位センサを使用することなく、レン
ズアクチユエータの駆動電流から直接瞬時加速度
出力を得ることのできる光デイスク検査装置を簡
単な構成により実現することを目的としたもので
ある。
本考案の光デイスク検査装置は、サーボ機構を
使用して集光レンズをトラツキング方向およびフ
オーカス方向に変位させ光デイスクの読取り状態
を維持するとともにこのときの集光レンズの変位
量から光デイスクにおける偏心および振れの瞬時
加速度を測定するようにした光デイスク検査装置
において、レンズアクチユエータの電流−変位特
性と等しい周波数特性と２回微分特性との積の形
の特性を有するフイルタ回路を具備し、このフイ
ルタ回路を介してレンズアクチユエータの駆動電
流から光デイスクにおける偏心および振れの瞬時
加速度を求めるようにしたものである。
使用して集光レンズをトラツキング方向およびフ
オーカス方向に変位させ光デイスクの読取り状態
を維持するとともにこのときの集光レンズの変位
量から光デイスクにおける偏心および振れの瞬時
加速度を測定するようにした光デイスク検査装置
において、レンズアクチユエータの電流−変位特
性と等しい周波数特性と２回微分特性との積の形
の特性を有するフイルタ回路を具備し、このフイ
ルタ回路を介してレンズアクチユエータの駆動電
流から光デイスクにおける偏心および振れの瞬時
加速度を求めるようにしたものである。
このように、レンズアクチユエータの電流−変
位特性と等しい周波数特性と２回微分特性との積
の形の特性を有するフイルタ回路を介して、レン
ズアクチユエータの駆動電流を変換すると、等価
的に、レンズアクチユエータによる集光レンズの
変位量を求め、これを２回微分したことになり、
高価な変位センサを使用することなく、比較的高
い制度でレンズアクチユエータの駆動電流から直
接瞬時加速度を測定することができる。
位特性と等しい周波数特性と２回微分特性との積
の形の特性を有するフイルタ回路を介して、レン
ズアクチユエータの駆動電流を変換すると、等価
的に、レンズアクチユエータによる集光レンズの
変位量を求め、これを２回微分したことになり、
高価な変位センサを使用することなく、比較的高
い制度でレンズアクチユエータの駆動電流から直
接瞬時加速度を測定することができる。
第１図は本考案の光デイスク検査装置の一実施
例を示す構成図である。図は、光デイスク１の振
れ加速度を測定するためのフオーカスサーボ機構
および測定回路部分を示したものである。図にお
いて、前記第４図と同様のものは、同一符号を付
して示す。６はレンズアクチユエータ３３の駆動
電流Idから光デイスク１における振れの瞬時加速
度を求めるフイルタ回路である。
例を示す構成図である。図は、光デイスク１の振
れ加速度を測定するためのフオーカスサーボ機構
および測定回路部分を示したものである。図にお
いて、前記第４図と同様のものは、同一符号を付
して示す。６はレンズアクチユエータ３３の駆動
電流Idから光デイスク１における振れの瞬時加速
度を求めるフイルタ回路である。
また、第２図はフイルタ回路６の特性（伝達関
数）Ｇをモデル化したブロツク図である。図のよ
うに、フイルタ回路６の特性Ｇはレンズアクチユ
エータ３３の電流−変位特性に等しい周波数特性
Ｇ１（フイルタブロツク６１）と２回微分特性Ｇ
２（フイルタブロツク６２）とを従属接続したも
のとして表すことができる。なお、レンズアクチ
ユエータ３３の周波数特性Ｇ１は第３図のように
表される。
数）Ｇをモデル化したブロツク図である。図のよ
うに、フイルタ回路６の特性Ｇはレンズアクチユ
エータ３３の電流−変位特性に等しい周波数特性
Ｇ１（フイルタブロツク６１）と２回微分特性Ｇ
２（フイルタブロツク６２）とを従属接続したも
のとして表すことができる。なお、レンズアクチ
ユエータ３３の周波数特性Ｇ１は第３図のように
表される。
この特性Ｇ１を式で示せば、
Ｇ１＝ａ／１＋Ｓ／QW0＋S2／W0
ω0＝2π0
ａ：直流感度
0：レンズアクチユエータの共振周波数
Ｑ：共振点の感度
のように表される。このような特性は、アナログ
回路により容易に実現できるものである。なお、
直流感度ａは、実際には１Hz程度の電流をレンズ
アクチユエータ３３に与えたときの電流と変位の
係数〔μm／mA〕である。また、共振点の感度
Ｑは、直流と共振点のゲイン差をＰ〔dB〕とすれ
ば、 20logQ＝Ｐ で表される。
回路により容易に実現できるものである。なお、
直流感度ａは、実際には１Hz程度の電流をレンズ
アクチユエータ３３に与えたときの電流と変位の
係数〔μm／mA〕である。また、共振点の感度
Ｑは、直流と共振点のゲイン差をＰ〔dB〕とすれ
ば、 20logQ＝Ｐ で表される。
また、２回微分特性Ｇ２は、
Ｇ２＝S2
のように表される。
したがつて、これらの特性の積の形となるフイ
ルタ回路６の特性Ｇは、 Ｇ＝G1×G2＝ａ／１＋Ｓ／QW0＋S2／W0×S2 のように表される。すなわち、フイルタブロツク
６１（Ｇ１）の出力は集光レンズ３２の変位を表
すものであり、これをフイルタブロツク６２（Ｇ
２）により２回微分すると、光デイスク１におけ
る振れの瞬時加速度を求めることができる。ま
た、レンズアクチユエータ３３の電流−変位特性
に等しい特性Ｇ１を有するフイルタブロツク６１
を介して集光レンズ３２の変位を求めているの
で、比較的高い精度で瞬時加速度出力を得ること
ができる。
ルタ回路６の特性Ｇは、 Ｇ＝G1×G2＝ａ／１＋Ｓ／QW0＋S2／W0×S2 のように表される。すなわち、フイルタブロツク
６１（Ｇ１）の出力は集光レンズ３２の変位を表
すものであり、これをフイルタブロツク６２（Ｇ
２）により２回微分すると、光デイスク１におけ
る振れの瞬時加速度を求めることができる。ま
た、レンズアクチユエータ３３の電流−変位特性
に等しい特性Ｇ１を有するフイルタブロツク６１
を介して集光レンズ３２の変位を求めているの
で、比較的高い精度で瞬時加速度出力を得ること
ができる。
このように、レンズアクチユエータ３３の駆動
電流Idから直接瞬時加速度を求めることができる
ので、従来のごとき変位センサは不要となり、装
置を安価に製作することができる。
電流Idから直接瞬時加速度を求めることができる
ので、従来のごとき変位センサは不要となり、装
置を安価に製作することができる。
なお、上記の説明においては、フイルタ回路６
をアナログ回路により実現する場合を例示した
が、これに限らず、フイルタ回路６をデイジタル
フイルタにより構成することもできる。この場
合、フイルタ回路６の前段にはアナログ、デイジ
タル変換器が挿入される。フイルタ回路６をデイ
ジタル化すると、フイルタ特性の変更が容易であ
り、レンズアクチユエータ３３における特性のバ
ラツキなどに対する対応が容易である。また、第
１図では光デイスク１における振れの瞬時加速度
を測定する場合を例示したが、偏心の瞬時加速度
についても同様の構成が実施される。さらに、ノ
イズを除去するために、フイルタ回路６の後にロ
ーパスフイルタを挿入することもある。
をアナログ回路により実現する場合を例示した
が、これに限らず、フイルタ回路６をデイジタル
フイルタにより構成することもできる。この場
合、フイルタ回路６の前段にはアナログ、デイジ
タル変換器が挿入される。フイルタ回路６をデイ
ジタル化すると、フイルタ特性の変更が容易であ
り、レンズアクチユエータ３３における特性のバ
ラツキなどに対する対応が容易である。また、第
１図では光デイスク１における振れの瞬時加速度
を測定する場合を例示したが、偏心の瞬時加速度
についても同様の構成が実施される。さらに、ノ
イズを除去するために、フイルタ回路６の後にロ
ーパスフイルタを挿入することもある。
以上説明したように、本考案の光デイスク検査
装置では、サーボ機構を使用して集光レンズをト
ラツキング方向およびフオーカス方向に変位させ
光デイスクの読取り状態を維持するとともにこの
ときの集光レンズの変位量から光デイスクにおけ
る偏心および振れの瞬時加速度を測定するように
した光デイスク検査装置において、レンズアクチ
ユエータの電流−変位特性と等しい周波数特性と
２回微分特性との積の形の特性を有するフイルタ
回路を具備し、このフイルタ回路を介してレンズ
アクチユエータの駆動電流から光デイスクにおけ
る偏心および振れの瞬時加速度を求めるようにし
ているので、高価な変位センサを使用することな
く、レンズアクチユエータの駆動電流から直接瞬
時加速度出力を得ることのできる光デイスク検査
装置を簡単な構成により実現することができる。
装置では、サーボ機構を使用して集光レンズをト
ラツキング方向およびフオーカス方向に変位させ
光デイスクの読取り状態を維持するとともにこの
ときの集光レンズの変位量から光デイスクにおけ
る偏心および振れの瞬時加速度を測定するように
した光デイスク検査装置において、レンズアクチ
ユエータの電流−変位特性と等しい周波数特性と
２回微分特性との積の形の特性を有するフイルタ
回路を具備し、このフイルタ回路を介してレンズ
アクチユエータの駆動電流から光デイスクにおけ
る偏心および振れの瞬時加速度を求めるようにし
ているので、高価な変位センサを使用することな
く、レンズアクチユエータの駆動電流から直接瞬
時加速度出力を得ることのできる光デイスク検査
装置を簡単な構成により実現することができる。
第１図〜第３図は本考案の光デイスク検査装置
の一実施例を示す構成図、第４図および第５図は
従来の光デイスク検査装置の一例を示す構成図で
ある。 １……光デイスク、２……スピンドルモータ、
３……光ヘツド、４……送り機構、５……演算制
御回路、６……フイルタ回路、３１……レーザダ
イオード、３２……集光レンズ、３３……レンズ
アクチユエータ、３４……トラツキングセンサ、
３５……フオーカスセンサ、３６……変位セン
サ、５１……加速度フイルタ、６１，６２……フ
イルタブロツク。
の一実施例を示す構成図、第４図および第５図は
従来の光デイスク検査装置の一例を示す構成図で
ある。 １……光デイスク、２……スピンドルモータ、
３……光ヘツド、４……送り機構、５……演算制
御回路、６……フイルタ回路、３１……レーザダ
イオード、３２……集光レンズ、３３……レンズ
アクチユエータ、３４……トラツキングセンサ、
３５……フオーカスセンサ、３６……変位セン
サ、５１……加速度フイルタ、６１，６２……フ
イルタブロツク。
Claims (1)
- サーボ機構を使用して集光レンズをトラツキン
グ方向およびフオーカス方向に変位させ光デイス
クの読取り状態を維持するとともにこのときの集
光レンズの変位量から光デイスクにおける偏心お
よび振れの瞬時加速度を測定するようにした光デ
イスク検査装置において、レンズアクチユエータ
の電流−変位特性と等しい周波数特性と２回微分
特性との積の形の特性を有するフイルタ回路を具
備し、このフイルタ回路を介してレンズアクチユ
エータの駆動電流から光デイスクにおける偏心お
よび振れの瞬時加速度を求めるようにしてなる光
デイスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5632188U JPH0543371Y2 (ja) | 1988-04-26 | 1988-04-26 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5632188U JPH0543371Y2 (ja) | 1988-04-26 | 1988-04-26 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01160309U JPH01160309U (ja) | 1989-11-07 |
| JPH0543371Y2 true JPH0543371Y2 (ja) | 1993-11-01 |
Family
ID=31282200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5632188U Expired - Lifetime JPH0543371Y2 (ja) | 1988-04-26 | 1988-04-26 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0543371Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2580813B2 (ja) * | 1989-12-27 | 1997-02-12 | 日立電線株式会社 | 送電線下離間距離測定方法 |
-
1988
- 1988-04-26 JP JP5632188U patent/JPH0543371Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01160309U (ja) | 1989-11-07 |
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