JPH0543370Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、光デイスクにおける偏心や振れおよ
びその加速度などを測定する光デイスク検査装置
の改良に関するものである。

〔従来の技術〕

従来、この種の光デイスク検査装置において
は、光デイスクの案内溝にトラツキングサーボお
よびフオーカスサーボをかけ、光ヘツド（集光レ
ンズ）を光デイスクの動きに追従させて、光デイ
スクの読取り状態を維持するとともに、この時の
集光レンズの動きを変位センサにより検出して、
偏心量および振れ量に対応した出力信号を得てい
る。また、変位センサの出力信号をＡ／Ｄ変換器
を介して読み取り、データ処理を行なうことによ
り、偏心加速度および振れ加速度を求めている。

第３図は従来の光デイスク検査装置の一例を示
す構成図である。図において、１は光デイスク、
２はこの光デイスク１を一定速度で回転させるス
ピンドルモータ、３は光デイスク１の記録面をト
レースする光ヘツド、４は光ヘツド３を光デイス
ク１の半径方向に移動させる送り機構、５はトラ
ツキングサーボ回路やフオーカスサーボ回路を含
む制御演算回路である。また、３１はレーザダイ
オード、３２はレーザダイオード３１から出射さ
れたレーザ光を収束させ、光デイスク１の表面に
照射する集光レンズ、３３はサーボ回路の働きに
応じて集光レンズ３２をトラツキング方向および
フオーカス方向に移動させるレンズアクチユエー
タ、３４はトラツキングエラーを検出するトラツ
キングセンサ、３５はフオーカスエラーを検出す
るフオーカスセンサ、３６は集光レンズ３２にお
けるトラツキング方向およびフオーカス方向の変
位量を検出する変位センサである。なお、この変
位センサ３６としては、一般に差動トランスや容
量式の変位センサなどが使用されている。

このように構成された光デイスク検査装置にお
いては、前記したように、光デイスク１の案内溝
にトラツキングサーボおよびフオーカスサーボを
かけ、集光レンズ３２を光デイスク１の動きに追
従させている。したがつて、この時の集光レンズ
３２の動きは案内溝の偏心量および光デイスク１
の振れ量に対応しているので、この集光レンズ３
２の動きを変位センサ３６により検出するととも
に、スピンドルモータ２の回転角に同期させて信
号処理すれば、光デイスク１の偏心量および振れ
量を測定することができる。また、この偏心量お
よび振れ量をもとにして、偏心加速度および振れ
加速度を算出することができる。

〔考案が解決しようとする問題点〕

しかしながら、このような光デイスク検査装置
において、プリフオーマツト付の光デイスクを測
定した場合には、プリフオーマツト部においてフ
オーカスエラー信号が変化して、振れなどの測定
に悪影響を与えてしまう。すなわち、プリフオー
マツト部においてフオーカスエラー信号が変化す
ると、サーボ回路が応答して集光レンズ３２を変
位させてしまい、光デイスク１の表面形状を誤つ
て測定してしまう。特に、フオーカスエラー信号
の立上りは急であるので、大きな振れ加速度を生
じてしまう。

第４図はプリフオーマツト付光デイスクの一例
を示す斜視図であり、斜線を施した部分１１がプ
リフオーマツト領域である。このプリフオーマツ
ト領域１１は、一般に一定回転角毎に設けられて
いる。また、プリフオーマツト部の形状はメーカ
により同一ではないが、案内溝が途切れたりし
て、他の記録部分とは異なつているものが多い。
このため、プリフオーマツト部においては、反射
率が変化するとともに、フオーカスエラー信号も
変化してしまう。

本考案は、上記のような従来装置の欠点をなく
し、プリフオーマツト付光デイスクを測定した場
合にも、プリフオーマツト部の影響を受けること
なく、振れなどの測定を行なうことのできる光デ
イスク検査装置を簡単な構成により実現すること
を目的としたものである。

〔問題点を解決するための手段〕

本考案の光デイスク検査装置は、サーボ機構を
使用して集光レンズをトラツキング方向およびフ
オーカス方向に変位させ光デイスクの読取り状態
を維持するとともにこの時の集光レンズの変位量
から光デイスクにおける偏心および振れなどの大
きさを測定するようにした光デイスク検査装置に
おいて、光デイスクの反射率に比例した信号を一
定の基準レベルと比較する比較回路と、この比較
回路の出力に応じてフオーカスエラー信号をサン
プルホールドするサンプルホールド回路と、この
サンプルホールド回路の前段に挿入されフオーカ
スエラー信号の立上りを緩和するローパスフイル
タと、前記比較回路の出力に応じてフオーカスエ
ラー信号と前記サンプルホールド回路の出力信号
とを切り換えフオーカスサーボ回路に供給する切
換えスイツチとを具備するようにしたものであ
る。

〔作用〕

このように、光デイスクにおける反射率の変化
を観察すると、そのプリフオーマツト部の通過を
検出することができ、また、この検出結果に応じ
てフオーカスエラー信号をホールドすると、プリ
フオーマツト部によるフオーカスエラー信号の変
化分をサンプルホールド回路により除去すること
ができ、プリフオーマツト付光デイスクを測定し
た場合にも、プリフオーマツト部の影響を受ける
ことなく、振れなどの測定を行なうことができ
る。

〔実施例〕

第１図は本考案の光デイスク検査装置の一実施
例を示す構成図である。図は、プリフオーマツト
部に応じてフオーカスエラー信号をホールドする
回路部分のみを抽出して示したもので、この回路
は前記第３図の如き光デイスク検査装置におい
て、フオーカスセンサ３５と演算制御回路５内の
フオーカスサーボ回路との間に挿入されるもので
ある。図において、６１，６２はそれぞれ光デイ
スクにおける反射率に比例した信号V_R（以下、反
射率信号V_Rという）を一定の基準レベルVth₁、
Vth₂と比較する比較回路である。なお、反射率
信号V_Rは光デイスクの反射率やレーザダイオー
ドの光強度などにより変動するため、比較回路６
１，６２は反射率信号V_Rの直流成分を除去した
後、基準レベルVth₁、Vth₂と比較する。また、
光デイスクの種類によつては、プリフオーマツト
部に応じて反射率信号V_Rが増加するものと減少
するものとがあるので、比較回路６１，６２にお
いてはプリフオーマツト部を確実に検出するため
に、２つの基準レベルVth₁、Vth₂を設け、この
基準レベルVth₁、Vth₂の値をそれぞれ正、負の
値に設定している。７は制御信号Scにより動作
するゲート回路、８はローパスフイルタ、９はロ
ーパスフイルタ８を介して印加されるフオーカス
エラー信号Sfeをサンプルホールドするサンプル
ホールド回路、１０はフオーカスエラー信号Sfe
とサンプルホールド回路９の出力Shとを切り換
えて、フオーカスサーボ回路５に供給する切換え
スイツチである。サンプルホールド回路９および
切換えスイツチ１０はゲート回路７を介して印加
される比較回路６１，６２の出力Spにより動作
するもので、サンプルホールド回路９はこの比較
出力Spが発生された際に、その立上り時のフオ
ーカスエラー信号Sfeの値をサンプルホールドす
る。また、切換えスイツチ１０は比較出力Spが
発生されている間だけ、接点をサンプルホールド
回路９側Ａに切り換える。

ここで、反射率信号V_Rは、例えばフオーカス
センサ３５における受光出力の総和として得られ
るもので、特別な検出器を設けなくとも、従来の
フオーカスサーボ機構の中から容易に得ることが
できる。また、制御信号Scは測定開始時などに、
トラツキングなどのサーボ動作が引き込みを完了
した後に本回路を動作させるために用いられるも
ので、演算制御回路５から適当なタイミングで発
生される。

このように構成された光デイスク検査装置にお
いて、光ヘツドが案内溝上をトレースしている時
には、反射率信号V_Rは大きく変化せず、比較出
力Spは発生されない。このため、切換えスイツ
チ１０の接点はＢ側に接続されており、フオーカ
スエラー信号Sfeがそのままフオーカスサーボ回
路５に供給される。したがつて、フオーカスサー
ボ回路５は光デイスクの形状に合わせて集光レン
ズを変位させ、この集光レンズの変位量から光デ
イスクの振れなどが正確に測定される。

さて、光ヘツドのトレース位置がプリフオーマ
ツト部に達すると、反射率信号V_Rが大きく変化
するために、いずれかの基準レベルVth₁、Vth₂
を越え、比較出力Spが発生される。この比較出
力Spはゲート回路７を介してサンプルホールド
回路９および切換えスイツチ１０に印加される。
このため、サンプルホールド回路９はその時のフ
オーカスエラー信号Sfeの値をサンプルホールド
するとともに、切換えスイツチ１０の接点がサン
プルホールド回路９側Ａに切り換えられる。

ここで、反射率信号V_Rが変化してからサンプ
ルホールド回路９がフオーカスエラー信号Sfeの
値をサンプルホールドするまでには、ある程度の
時間遅れが発生する。サンプルホールド回路９の
動作にこのような遅れがあると、反射率信号V_R
とフオーカスエラー信号Sfeとはほとんど同時に
変化するものであるので、フオーカスエラー信号
Sfeが大きく変化した後の値がサンプルホールド
されてしまう可能性がある。ローパスフイルタ８
はこのような問題を解決するために挿入されたも
ので、サンプルホールド回路９に印加されるフオ
ーカスエラー信号Sfeの立上りを緩和させ、前記
したような遅れ時間の間にフオーカスエラー信号
Sfeが変化してしまうのを防止している。

したがつて、サンプルホールド回路９にはプリ
フオーマツト部に達する前のフオーカスエラー信
号Sfeの値がサンプルホールドされ、この値がフ
オーカスエラー信号Sfe′としてフオーカスサーボ
回路５に供給される。言い換えれば、フオーカス
サーボ回路５に供給されるフオーカスエラー信号
Sfe′がプリフオーマツト部に達する前の値にホー
ルドされたことになる。このため、プリフオーマ
ツト部に応じて変化したフオーカスエラー信号
Sfeがフオーカスサーボ回路５に供給されること
がなく、プリフオーマツト部にサーボが応答して
しまうことがない。

次に、光ヘツドのトレース位置がプリフオーマ
ツト部を通過し、反射率信号V_Rが通常の値に戻
ると、比較出力Spが発生されなくなる。したが
つて、切換えスイツチ１０は接点Ｂ側に切り換わ
り、フオーカスサーボ回路５にはフオーカスエラ
ー信号Sfeがそのまま供給されるようになる。こ
のため、フオーカスサーボ回路５は追従動作を再
開し、光デイスクの形状測定が続けられる。

このように、反射率の変化からプリフオーマツ
ト部の通過を検出し、これに同期させてフオーカ
スエラー信号Sfe′をホールドすると、プリフオー
マツト部の通過によるフオーカスエラー信号Sfe
の変動がフオーカスサーボ回路に印加されるのを
防止することができる。

第２図は本考案の光デイスク検査装置の作用効
果を示す波形図である。図はプリフオーマツト部
に応じて変化する反射率信号V_Rとフオーカスサ
ーボ回路５に供給されるフオーカスエラー信号
Sfe′との対応を示したもので、第２図ａはゲート
回路７を閉じ、サンプルホールド回路９および切
換えスイツチ１０の動作を禁止した場合を示し、
第２図ｂはゲート回路７を開け、サンプルホール
ド回路９および切換えスイツチ１０を動作させた
場合を示している。すなわち、第２図ａは従来の
光デイスク検査装置の動作波形に等しい。図に示
されるように、サンプルホールド回路９および切
換えスイツチ１０の動作を禁止した場合には、プ
リフオーマツト部の通過に応じて大きなフオーカ
スエラー信号Sfe′が発生されるとともに、サーボ
回路がこのフオーカスエラー信号Sfe′に応答して
集光レンズを変位させてしまい、プリフオーマツ
ト部が通過した後にもサーボ回路の動揺が残つて
しまう。これに対して、サンプルホールド回路９
および切換えスイツチ１０を動作させた場合に
は、プリフオーマツト部の通過時にフオーカスエ
ラー信号Sfe′がホールドされるので、サーボ回路
がプリフオーマツト部に応答してしまうことがな
く、この間に集光レンズが変位していないので、
プリフオーマツト部が通過し後は速やかに追従状
態に入ることができる。

なお、上記の説明においては、反射率信号V_R
を２つの基準レベルVth₁、Vth₂とそれぞれ比較
する場合を例示したが、プリフオーマツト部に応
じた反射率信号V_Rの変化の方向が一定であれば、
基準レベルは片方でよい。また、比較回路６１，
６２はプリフオーマツト部のみではなく、光デイ
スク表面の傷による反射率信号V_Rの変化にも応
答してしまうが、本回路の動作が振れなどの測定
に悪影響を与えてしまうことはなく、サーボ回路
の余分な変動を抑えることになり、かえつて好都
合である。

〔考案の効果〕

以上説明したように、本考案の光デイスク検査
装置では、サーボ機構を使用して集光レンズをト
ラツキング方向およびフオーカス方向に変位させ
光デイスクの読取り状態を維持するとともにこの
時の集光レンズの変位量から光デイスクにおける
偏心および振れなどの大きさを測定するようにし
た光デイスク検査装置において、光デイスクの反
射率に比例した信号を一定の基準レベルと比較す
る比較回路と、この比較回路の出力に応じてフオ
ーカスエラー信号をサンプルホールドするサンプ
ルホールド回路と、このサンプルホールド回路の
前段に挿入されフオーカスエラー信号の立上りを
緩和するローパスフイルタと、前記比較回路の出
力に応じてフオーカスエラー信号と前記サンプル
ホールド回路の出力信号とを切り換えフオーカス
サーボ回路に供給する切換えスイツチとを具備す
るようにしているので、プリフオーマツト部によ
るフオーカスエラー信号の変化分をサンプルホー
ルド回路により除去することができ、プリフオー
マツト付光デイスクを測定した場合にも、プリフ
オーマツト部の影響を受けることなく、振れなど
の測定を行なうことのできる光デイスク検査装置
を簡単な構成により実現することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の光デイスク検査装置の一実施
例を示す構成図、第２図はその作用効果を示す波
形図、第３図は従来の光デイスク検査装置の一例
を示す構成図、第４図は一般的なプリフオーマツ
ト付光デイスクの形態を示す斜視図である。 １……光デイスク、１１……プリフオーマツト
領域、２……スピンドルモータ、３……光ヘツ
ド、３１……レーザダイオード、３２……集光レ
ンズ、３３……レンズアクチユエータ、３４……
トラツキングセンサ、３５……フオーカスセン
サ、３６……変位センサ、４……送り機構、５…
…演算制御回路、６１，６２……比較回路、７…
…ゲート回路、８……ローパスフイルタ、９……
サンプルホールド回路、１０……切換えスイツ
チ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. サーボ機構を使用して集光レンズをトラツキン
   グ方向およびフオーカス方向に変位させ光デイス
   クの読取り状態を維持するとともにこの時の集光
   レンズの変位量から光デイスクにおける偏心およ
   び振れなどの大きさを測定するようにした光デイ
   スク検査装置において、光デイスクの反射率に比
   例した信号を一定の基準レベルと比較する比較回
   路と、この比較回路の出力に応じてフオーカスエ
   ラー信号をサンプルホールドするサンプルホール
   ド回路と、このサンプルホールド回路の前段に挿
   入されフオーカスエラー信号の立上りを緩和する
   ローパスフイルタと、前記比較回路の出力に応じ
   てフオーカスエラー信号と前記サンプルホールド
   回路の出力信号とを切り換えフオーカスサーボ回
   路に供給する切換えスイツチとを具備してなる光
   デイスク検査装置。