JPH054048U - ガス絶縁開閉装置用試験電圧印加装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 テスト用ケーブルを用いずにガス絶縁開閉装
置に試験電圧を印加できるようにする。 【構成】 ガス絶縁開閉装置の容器１に取付けられた３
相のブッシング２ｕ〜２ｗをそれぞれ覆う絶縁筒７ｕ〜
７ｗを設ける。ブッシング２ｕ〜２ｗの端子にシールド
５ｕ〜５ｗを接続し、シールド５ｕ〜５ｗに導電性パイ
プ６ｕ〜６ｗの一端を接続する。導電性パイプ６ｕ〜６
ｗの他端は絶縁筒７ｕ〜７ｗの端部を気密に貫通させて
外部に導出する。導電性パイプ６ｕ〜６ｗの他端にガス
の注入口と排気口とを兼ねるバルブ１２ｕ〜１２ｗを取
付け、これらのバルブと導電性パイプとを通して絶縁筒
７ｕ〜７ｗ内に絶縁ガスを注入する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案はガス絶縁開閉装置の耐電圧試験時に試験電圧を印加する試験電圧印加 装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

ガス絶縁開閉装置は、絶縁ガスが封入された外殻容器内に遮断器や断路器等の 必要機器を収納することにより構成される。ガス絶縁開閉装置にケーブルを引き 込む場合には、外殻容器にスリップオン形のブッシング（ケーブルヘッド）が取 付けられ、該ブッシングの端子にケーブルの端末部に設けられたコネクタがスリ ップオン接続（差し込み接続）される。

【０００３】 この種のガス絶縁開閉装置の耐電圧試験を行う際には、外殻容器に取付けられ た３相のブッシングの端子を通して試験電圧を印加している。

【０００４】 図２（Ａ），（Ｂ）は、従来この種のガス絶縁開閉装置に試験電圧を印加する ために用いられていた装置を示したもので、同図において１はガス絶縁開閉装置 の外殻容器、２ｕ〜２ｗは外殻容器１に取付けられた３相のスリップオン形のブ ッシングであり、ブッシング２ｕ〜２ｗの中心導体２au〜２awには雌形の接触子 からなる端子２bu〜２bwが設けられている。定常運転時には、これらのブッシン グに、受電ケーブルの端末部に設けられたコネクタがスリップオン接続される。 耐電圧試験時には、３相のブッシング２ｕ〜２ｗにそれぞれテスト用ケーブル ３ｕ〜３ｗの端末部に設けられたキャップ状のコネクタ４ｕ〜４ｗが嵌合され、 コネクタ４ｕ〜４ｗにそれぞれ設けられた雄形の接触子４au〜４awがそれぞれブ ッシング２ｕ〜２ｗの中心導体２au〜２awの端部に設けられた端子２bu〜２bwに 差し込み接続される。テストケーブル３ｕ〜３ｗは図示しない試験電圧印加用電 源に接続され、該電源からそれぞれのテストケーブルを通してガス絶縁開閉装置 の各相に試験電圧が印加される。

【０００５】

【考案が解決しようとする課題】

最近のガス絶縁開閉装置は、ぎりぎりまで縮小化が進められているため、３相 のブッシングの気中露出部は、対地間寸法、相間寸法とも必要最小限の大きさに 設定されている。そのため、耐電圧試験時には専用のテスト用ケーブルを使用し ないと規定の試験電圧に耐えることができない。

【０００６】 専用のテスト用ケーブルは、接続時にその端末部のコネクタの内面に所定の処 置を講じる必要がある上に、コネクタをブッシングに着脱する際には特殊な治具 を必要とするため、その接続作業の作業性が悪いという問題があった。

【０００７】 またコネクタを接続した後相当に長い時間（６時間以上）が経過しないと試験 電圧の印加を行うことができないため、耐電圧試験を能率よく行うことができな いという問題があった。

【０００８】 更にテスト用ケーブルは非常に高価であるため、全てのブッシングにテスト用 ケーブルを予め接続しておいて能率よく試験を行おうとすると、テスト用ケーブ ルの数が多くなって（３相の２回線を受電するガス絶縁開閉装置では、６本のテ スト用ケーブルが必要になる。）試験設備のコストが高くなるという問題があっ た。

【０００９】 本考案の目的は、テスト用ケーブルを用いずに能率良く耐電圧試験を行うこと ができるようにしたガス絶縁開閉装置用試験電圧印加装置を提供することにある 。

【００１０】

【課題を解決するための手段】

本考案は、３相のスリップオン形のブッシングを備えたガス絶縁開閉装置に試 験電圧を印加する試験電圧印加装置に係わるものである。

【００１１】 本考案においては、３相のブッシングに対してそれぞれ設けられて対応する相 のブッシングの端子に接続された３相のシールドと、３相のブッシングをそれぞ れ気密に覆う３相の絶縁筒と、３相の絶縁筒内でそれぞれの相のシールドに一端 が接続され、他端がそれぞれの相の絶縁筒の端部を気密に貫通して外部に導出さ れた３相の導電性パイプとを備えている。

【００１２】 ３相の絶縁筒は一端側の相から他端側の相に向って高さが段階的に高くなるよ うにそれぞれの高さが設定されている。また３相の導電性パイプはそれぞれの相 の絶縁筒内のガス空間に連通されていて、外部に導出された各導電性パイプの他 端には、ガス注入口と排気口とを兼ねるバルブが取付けられている。各相の絶縁 筒内には絶縁ガスが封入されている。

【００１３】

【作用】

上記のように、３相のブッシングの端子にシールドを接続するとともに、各ブ ッシングを絶縁筒で覆って、該絶縁筒内に絶縁ガスを封入するようにすると、ブ ッシング回りの絶縁耐力をテスト用ケーブルを用いる場合と同等にすることがで きるため、テスト用ケーブルを用いることなく、導電性パイプを電線を通して電 源に接続することにより、試験電圧の印加を行うことができる。

【００１４】 また上記のように導電性パイプの端部にガス注入口と排気口とを兼ねるバルブ を設けておくと、該バルブを通して絶縁筒内を真空引きした後、該バルブを通し て絶縁筒内に絶縁ガスを封入することができるため、絶縁筒内への絶縁ガスの充 気を能率良く行うことができる。

【００１５】 更に上記のように電圧の印加を行う導電性パイプがガスの充排気手段を兼ねる ようにすると、装置の構造の簡素化を図ることができる。

【００１６】 上記のように、３相の絶縁筒の高さを異ならせると、相間の絶縁距離を長くす ることができるため、絶縁耐力を高めることができる。

【００１７】

【実施例】

図１は本考案の実施例の要部を示したもので、同図において１はガス絶縁開閉 装置の容器、２ｕ〜２ｗはＵ，Ｖ，Ｗ３相のスリップオン形のブッシングである 。ブッシング２ｕ〜２ｗは、容器１の上部に設けられたブッシング取付け孔を気 密に貫通した状態で配置されて、該取付け孔の周辺部に設けられたフランジ１ｕ 〜１ｗに固定されている。

【００１８】 ２ｕ〜２ｗの中心導体２au〜２awの端部には雌形接触子からなる端子２bu〜２ bwが設けられていて、これらの端子に図示しないケーブルの端末部に設けられた コネクタ側の雄形の接触子を抜き差し可能に差し込み接続し得るようになってい る。

【００１９】 本考案の試験電圧印加装置においては、３相のブッシング２ｕ〜２ｗの端子２ bu〜２bwにそれぞれ電界緩和用のシールド５ｕ〜５ｗを接続する。図示のシール ド５ｕ〜５ｗは、周囲の電界を緩和するように表面が湾曲したシールド本体５au 〜５awと、該シールド本体から突出した接触子５bu〜５bwとから成り、シールド 本体５au〜５awがブッシング２ｕ〜２ｗの上に載せられて、接触子５bu〜５bwが ブッシングの端子２bu〜２bwに差し込み接続されている。

【００２０】 シールド本体５au〜５awにはそれぞれ銅等の良導電性材料から成る導電性パイ プ６ｕ〜６ｗの一端が接続されている。これらの導電性パイプは、それぞれの一 端に設けたねじ部をシールド本体５au〜５awに設けたねじ孔に結合することによ りシールド５ｕ〜５ｗに接続されている。

【００２１】 ３相のブッシング２ｕ〜２ｗをそれぞれ覆うように３相の絶縁筒７ｕ〜７ｗが 取り付けられている。図示の絶縁筒７ｕ〜７ｗはそれぞれの下端にフランジ７au 〜７awを有していて、これらのフランジがガス絶縁開閉装置の容器に設けられフ ランジ１ｕ〜１ｗにボルト止めされている。絶縁筒７ｕ〜７ｗとフランジ１ｕ〜 １ｗとの間にはパッキン８ｕ〜８ｗが配設され、これらのバッキンにより、絶縁 筒７ｕ〜７ｗとフランジ１ｕ〜１ｗとの接続部の気密が保持されている。

【００２２】 絶縁筒７ｕ〜７ｗは、一端側の相から他端側の相に向って高さが段階的に高く なるように、それぞれの高さが異なっている。図示の例ではＵ相側（図の左側） に試験電圧供給用電源が配置されている場合を想定して、Ｕ相の絶縁筒７ｕの高 さを最も低くし、Ｗ相の絶縁筒７ｗの高さを最も高くしているが、試験電圧供給 用電源をＷ相側（図の右側）に配置する場合には、Ｗ相の絶縁筒７ｕの高さを最 も低くし、Ｕ相の絶縁筒７ｗの高さを最も高くする。

【００２３】 前記導電性パイブ６ｕ〜６ｗの他端は、絶縁筒７ｕ〜７ｗの端部壁に設けられ た孔を貫通して外部に導出されている。導電性バイプ６ｕ〜６ｗの貫通部にはパ ッキン９ｕ〜９ｗが設けられ、これらのパッキンにより導電性パイプ６ｕ〜６ｗ の貫通部の気密が保持されている。

【００２４】 導電性パイプ６ｕ〜６ｗの他端には、試験電圧を印加する電線１０ｕ〜１０ｗ を接続する端子金具１１ｕ〜１１ｗが接続されるとともに、バルブ１２ｕ〜１２ ｗが接続されている。バルブ１２ｕ〜１２ｗとしては、図示しない真空プンプの 吸引口に設けられたカプラ及びＳＦ₆ ガスのボンベにつながるガス供給パイプに 設けられたカプラをワンタッチで接続することができて、カプラが接続された際 にのみ開き、カプラを外した時には自動的に閉じるバルブを用いている。導電性 パイプ６ｕ〜６ｗの一端はシールド５ｕ〜５ｗ内に設けられたガス通路を通して 絶縁筒７ｕ〜７ｗ内のガス空間に連通させられている。

【００２５】 端子金具１１ｕ〜１１ｗにそれぞれ接続された電線１０ｕ〜１０ｗは試験電圧 の印加点（試験電圧供給用電源の出力端子）１３に接続される。

【００２６】 上記の試験電圧印加装置は、ガス絶縁開閉装置の耐電圧試験を行う際にガス絶 縁開閉装置の容器に取り付けられる。試験を行う際には、先ずバルブ１２ｕ〜１ ２ｗに図示しない真空ポンプを接続して、絶縁筒７ｕ〜７ｗ内の真空引きを行う 。次いで図示しないＳＦ₆ ガス供給用ボンベにつながるパイプに取付けられたカ プラをバルブ１２ｕ〜１２ｗに接続して、絶縁筒７ｕ〜７ｗ内にＳＦ₆ ガスを所 定の圧力まで充填する。

【００２７】 そして端子金具１１ｕ〜１１ｗにそれぞれ接続されている電線１０ｕ〜１０ｗ を電源に接続し、ブッシング２ｕ〜２ｗの端子に試験電圧を印加する。

【００２８】 上記のように、絶縁筒７ｕ〜７ｗの高さを段階的に異ならせて、これらの絶縁 筒の端部から導電性パイプの端部を導出すると、試験電圧を印加する充電部が水 平方向に並んでいる場合に比べて相間の絶縁距離Ｌを長くすることができ、絶縁 耐力を向上させることができる。

【００２９】 また絶縁筒７ｕ〜７ｗ内にはＳＦ₆ ガスが封入されているため、ブッシング２ ｕ〜２ｗの回りの絶縁耐力を高めることができ、テスト用ケーブルを用いなくて も所定の絶縁耐力を得て、試験電圧を印加することができる。

【００３０】 また上記のようにブッシングの端子にシールド５ｕ〜５ｗを取り付けるように すると、絶縁筒内の電界を緩和することができるため、絶縁耐力を一層高くする ことができる。

【００３１】 尚上記の試験電圧印加装置により耐電圧試験を行う場合には、ブッシング２ｕ 〜２ｗにケーブルのコネクタをかぶせない状態で試験を行うことになるが、従来 の耐電圧試験で用いられていたテスト用ケーブルのコネクタは、実際に現地でブ ッシングに接続されるケーブルのコネクタとは異なるものであるため、テスト用 ケーブルを接続して耐電圧試験を行っても、実際のケーブルのコネクタを接続す る場合の耐電圧性能の検証を行ったことにはならない。ブッシングの検証では、 ブッシングの各部の寸法（その一端及び他端の外径及び軸線方向長さ）が所定の 公差内に収まっているか否かを調べることが重要である。この検証はテスト用ケ ーブルを用いなくても行うことができるため、本考案の試験電圧印加装置により 耐電圧試験を行っても何等不都合はない。

【００３２】 上記実施例の試験電圧印加装置を用いて、２回線受電、１ＭＯＦ（電力需給用 計器用変成器）、２変圧器バンク構成の受電設備のガス絶縁開閉装置の耐電圧試 験を行ったところ、テスト用ケーブルを用いて同じ試験を行う場合の１／３の時 間で試験を行うことができ、本考案の装置によれば、試験に要する時間を大幅に 短縮できることが確認された。

【００３３】

【考案の効果】

以上のように、本考案によれば、３相のブッシングの端子にシールドを接続す るとともに、各ブッシングを絶縁筒で覆って、該絶縁筒内に絶縁ガスを封入する ようにしたので、ブッシング回りの絶縁耐力をテスト用ケーブルを用いる場合と 同等にすることができ、テスト用ケーブルを用いることなく、導電性パイプを電 線を通して電源に接続することにより、試験電圧の印加を行うことができる。

【００３４】 また本考案では、導電性パイプの端部にガス注入口と排気口とを兼ねるバルブ を設けて、該バルブを通して絶縁筒内の真空引きと絶縁筒内への絶縁ガスの充気 とを行うことができるようにしたため、絶縁筒内への絶縁ガスの充気を能率良く 行うことができる。従って、本考案によれば、テスト用ケーブルを用いる場合の ような面倒な作業を行う必要がなく、試験に要する時間を短縮することができる 利点がある。

【００３５】 また本考案においては、導電性のパイプが電圧を印加する手段とガスの充排気 手段とを兼ねるようにしたので、装置の構造の簡素化を図ることができる。

【００３６】 更に、本考案においては、３相の絶縁筒の高さを異ならせることにより、相間 の絶縁距離を長くして絶縁耐力を高めるようにしたので、ブッシングの相間距離 が必要最小限に設定されている場合にも容易に適用することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の実施例を示す断面図である。

【図２】（Ａ）は従来の試験電圧印加装置の要部を示す
上面図、（Ｂ）は同試験電圧印加装置を一部断面して示
した正面図である。

【符号の説明】

１…ガス絶縁開閉装置の容器、２ｕ〜２ｗ…ブッシン
グ、５ｕ〜５ｗ…シールド、６ｕ〜６ｗ…導電性パイ
プ、７ｕ〜７ｗ…絶縁筒、１２ｕ〜１２ｗ…バルブ。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項１】 ３相のスリップオン形のブッシングを備
   えたガス絶縁開閉装置に試験電圧を印加する試験電圧印
   加装置において、 ３相のブッシングに対してそれぞれ設けられて対応する
   相のブッシングの端子に接続された３相のシールドと、 前記３相のブッシングをそれぞれ気密に覆う３相の絶縁
   筒と、 ３相の絶縁筒内でそれぞれの相のシールドに一端が接続
   され、他端がそれぞれの相の絶縁筒の端部を気密に貫通
   して外部に導出された３相の導電性パイプとを具備し、 前記３相の絶縁筒は一端側の相から他端側の相に向って
   高さが段階的に高くなるようにそれぞれの高さが設定さ
   れ、 ３相の導電性パイプはそれぞれの相の絶縁筒内のガス空
   間に連通されていて、外部に導出された各導電性パイプ
   の他端には、ガス注入口と排気口とを兼ねるバルブが取
   付けられ、 各相の絶縁筒内に絶縁ガスが封入されていることを特徴
   とするガス絶縁開閉装置用試験電圧印加装置。