JPH0536381U - Ｌｓｉテスタ用ボードの検査台 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 単一の治具により各種ＬＳＩテスタ用ボード
の安定的なセットを可能にするＬＳＩテスタ用ボードの
検査台を提供することを目的とする。 【構成】 重ね合わせた両端部２ａ，２ｂを周方向に有
して、略円筒状に形状された台本体２と、重ね合わせた
両端部２ａ，２ｂを周方向に摺動自在に係止する係止部
材３とを備え、台本体２は、弦方向にＬＳＩテスタ用ボ
ード６を立掛け可能な複数組の切込部４，５を有するこ
とを特徴とする。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、ＬＳＩ等の試験に際し、被測定ＬＳＩとテストヘッドとの間に介在 されるＬＳＩテスタ用ボードの検査台に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

ＬＳＩ等の試験は被測定ＬＳＩにテスト装置から試験パターンまたは信号を入 力し、ＬＳＩからの出力値を期待値と比較してＬＳＩの機能の良否を判定したり 、入出力信号、電源部分の電圧、電流などのアナログ値を測定したりするもので ある。このようなＬＳＩの試験にあっては、ＬＳＩとテスト装置のテストヘッド との間にテスタ用ボードが介在され、微小間隔で配列されたＬＳＩのリードピン にテストヘッドの接続端子が接続できるようになっている。この場合、テスタ用 ボードは各種ＬＳＩに対応させて各種形状、各種サイズのものが用意されている 。

【０００３】 従来のＬＳＩテスタ用ボードの検査では、簡単な置台の上にテスタ用ボードを セットしてこれに被測定ＬＳＩを接触させ、或いは壁にテスタ用ボードを立掛け た状態でこれに被測定ＬＳＩを接触させるようにして試験を行っている。この場 合、置台はテスタ用ボードをある程度安定にセットできるように、各種の大きさ のものが用意されている。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

このように従来のＬＳＩのテスタ用ボードの検査では、各種テスタ用ボードに 対応させて複数種の置台を準備しておかねばならず、非常に繁雑であった。また 、壁にテスタ用ボードを立掛けた状態での試験では安定性がなく、作業が面倒な ものとなっていた。

【０００５】 本考案は、このような問題点を鑑みてなされたものであり、単一の治具により 各種ＬＳＩテスタ用ボードの安定的なセットを可能にするＬＳＩテスタ用ボード の検査台を提供することをその目的としている。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成すべく本考案は、重ね合わせた両端部を周方向に有して、略円 筒状に形状された台本体と、重ね合わせた両端部を周方向に摺動自在に係止する 係止部材とを備え、台本体は、弦方向にＬＳＩテスタ用ボードを立掛け可能な複 数組の切込部を有することを特徴とする。

【０００７】

【作用】

円筒形に形成された台本体は、その弦方向にＬＳＩテスタ用ボードを立掛け可 能な切込部を有するので、ＬＳＩテスタ用ボードを立掛けた状態でセットでき、 かつ、この切込部は弦方向に複数組あるので、ＬＳＩテスタ用ボードの大きさに 応じて適宜切込部を選択してＬＳＩテスタ用ボードをセットできる。

【０００８】 一方、台本体の重ね合わせた両端部を周方向に摺動自在に係止する係止部材が 設けられているので、セットするＬＳＩテスタ用ボードの大きさに応じて、両端 部を摺動移動させて台本体の径を調整できる。

【０００９】

【実施例】

以下、図１乃至図３を参照して本考案の一実施例に係るＬＳＩテスタ用ボード の検査台について説明する。図１はこの検査台の斜視図であり、図２は検査台に テスタ用ボードを垂直にセットした状態の斜視図であり、図３は検査台にテスタ 用ボードを水平にセットした状態の斜視図である。

【００１０】 図１に示すように、この検査台１は幅狭な薄板状部材を折り曲げて円筒状に形 成した台本体２と、薄板状部材の両端部２ａ，２ｂを係止するための一対の固定 ビス３，３（係止部材）とを備えている。台本体２はプラスチックなどの可とう 性部材で構成されており、弦方向に２組の切込部４，５が形成されている。この 各組の切込部４，５はそれぞれの弦方向の距離が異なっており、サイズに応じて ＬＳＩテスタ用ボード６を適宜垂直に立掛けてセットできるようになっている。

【００１１】 台本体２は薄板状部材の両端部２ａ，２ｂを重ね合わせて一対の固定ビス３， ３で固定する構造となっており、またこの重ね合わせた薄板状部材の両端部２ａ ，２ｂは周方向に摺動自在に係止できるようになっている。すなわち、重ね合わ せて内側に位置する端部２ａには上下一対のめねじが埋め込まれたねじ穴７，７ （図３（ａ）参照）が設けられており、外側に位置する端部２ｂには周方向に 延びる上下一対の長溝８，８が形成されている。そして、固定ビス３によりこの 長溝８の部分を介して重合部の内側の端部２ａと外側の端部２ｂとが締付け固定 されると共に、この固定ビス３を緩めることで内側の端部２ａと外側の端部２ｂ とを、長溝８を案内にして周方向に摺動移動できるようになっている。これによ り、検査台１の径は必要に応じて大小調整される。

【００１２】 図２は、この検査台にＬＳＩテスタ用ボードを立掛けた状態を示している。Ｌ ＳＩテスタ用ボード６は円板状に形成され、一方の面の中央部に被測定ＬＳＩ２ ０のリードピンが接続される端子が設けられ、周縁部にテスト装置のテストヘッ ドに接続される端子が設けられ、中央部と周縁部との間に両端子を接続するプリ ント配線（いずれも図示せず）が設けられている。これにより、被測定ＬＳＩ２ ０に対応するＬＳＩテスタ用ボード６を用意し、これを検査台１に垂直にセット し、ボードが正しくＬＳＩ２０に接続されているか検査が行なわれる。この場合 、同図（ａ）に示すように径の大きいＬＳＩテスタ用ボード６は、検査台１の内 側に形成された切込部４に差し込まれるようにしてセットされ、同図（ｂ）に示 すように径の小さいＬＳＩテスタ用ボード６は、外側に形成された切込部５にセ ットされる。したがって、ＬＳＩテスタ用ボード６はそのサイズにより、適宜安 定的な検査台１へのセットが可能になると共に、被測定ＬＳＩ２０のパッケージ 形状やリードピンの形状に応じた配線での検査が可能となる。なお、検査台１の 径を大小調整することで、また、切込部４，５をさらに増やすことで、より大き なＬＳＩテスタ用ボード６やより小さなＬＳＩテスタ用ボード６にも幅広く対応 できるし、角型のＬＳＩテスタ用ボードにも対応可能である。

【００１３】 図３は、検査台にＬＳＩテスタ用ボードを寝かせた状態を示している。この状 態では被測定ＬＳＩ２０に対応するＬＳＩテスタ用ボード６を用意し、これを検 査台１上に水平にセットし、検査する。この場合、径の大きいＬＳＩテスタ用ボ ード６は、検査台１を太径に変化させておいて、これにセットするようにし、図 （ａ）に示すように更に大きなＬＳＩテスタ用ボード６では、薄板状部材の両端 部２ａ，２ｂが突き合わされる位置まで、検査台１を押し開くような状態に変化 させる。一方、同図（ｂ）に示すように径の小さいＬＳＩテスタ用ボード６は、 検査台１を小径に変化させておいて、これにセットする。したがって、ＬＳＩテ スタ用ボード６はそのサイズにより、適宜安定的な検査台１へのセットが可能に なると共に、ＬＳＩテスタ用ボード６の表裏を変えることで被測定ＬＳＩ２０の パッケージ形状やリードピンの形状に応じたボードの検査が可能となる。

【００１４】 このように本実施例では、単一の検査台１により各種ＬＳＩに応じた態様での ＬＳＩテスタ用ボードの検査が可能になる。したがって、試験作業が円滑に行い 得る。

【００１５】

【考案の効果】

以上のように本考案によれば、台本体の弦方向に複数組の切込部を設けると共 に、その重合部を摺動自在に係止できるように構成されているので、ＬＳＩテス タ用ボードを水平、垂直のいずれの状態にも安定的にセットでき、被測定ＬＳＩ の種類に応じて作られたＬＳＩテスタ用ボードを作業し易い方向からの検査操作 が可能になる。また、水平、垂直のいずれの状態であっても、ＬＳＩテスタ用ボ ードの大きさに応じたセットが単一の治具で可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例に係るＬＳＩテスタ用ボード
の検査台の斜視図である。

【図２】検査台にＬＳＩテスタ用ボードを垂直にセット
した状態の斜視図である。

【図３】検査台にＬＳＩテスタ用ボードを水平にセット
した状態の斜視図である。

【符号の説明】

１…検査台、２…台本体、２ａ，２ｂ…端部、３…固定
ビス、４，５…切込部、６…ＬＳＩテスタボード、２０
…被測定ＬＳＩ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 重ね合わせた両端部を周方向に有して、
   略円筒状に形状された台本体と、 重ね合わせた前記両端部を周方向に摺動自在に係止する
   係止部材とを備え、 前記台本体は、弦方向にＬＳＩテスタ用ボードを立掛け
   可能な複数組の切込部を有することを特徴とするＬＳＩ
   テスタ用ボードの検査台。