JPH05335686A - 光半導体素子 - Google Patents
光半導体素子Info
- Publication number
- JPH05335686A JPH05335686A JP16355792A JP16355792A JPH05335686A JP H05335686 A JPH05335686 A JP H05335686A JP 16355792 A JP16355792 A JP 16355792A JP 16355792 A JP16355792 A JP 16355792A JP H05335686 A JPH05335686 A JP H05335686A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- active layer
- gain
- amplifier
- mesa stripe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光増幅用の半導体素子において、入射光の偏
光に依存せず十分な利得を有し、かつ、利得のリップル
が小さいことを可能にする。 【構成】 バルク活性層を有するメサストライプと、該
バルク活性層とバンドギャップが同程度のMQW活性層
を含むメサストライプとを、直列に配す構造および、素
子両端面の近くで、活性層が途切れる窓構造を有する構
造をとった。
光に依存せず十分な利得を有し、かつ、利得のリップル
が小さいことを可能にする。 【構成】 バルク活性層を有するメサストライプと、該
バルク活性層とバンドギャップが同程度のMQW活性層
を含むメサストライプとを、直列に配す構造および、素
子両端面の近くで、活性層が途切れる窓構造を有する構
造をとった。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光半導体素子の構造
に関し、特に、信号光を電気変換することなく増幅する
光半導体素子(LDアンプ)の構造に関する。
に関し、特に、信号光を電気変換することなく増幅する
光半導体素子(LDアンプ)の構造に関する。
【0002】
【従来の技術】光増幅器としては、希土類(Er,Nd
等)添加の光ファイバ増幅器、半導体レーザ増幅器(以
下LDアンプと略する)が光通信用として期待されてい
るが、LDアンプは、特に、軽小、集積可能であり、か
つ、光通信用のどの波長にも対応できる点で注目され、
以下の文献1〜5の技術報告がある。 1)車 他 電子情報通信学会技術研究報告 OQE89-
17 (1989) 49頁 Electron Letters Vol.25 (1989) No.18 pp1241 2)曲 他 1990年電子情報通信学会秋季全国大会講
演論文集 4-166 1991年電子情報通信学会春季全国大会講演論文集 4-19
1 3)M.S.Lin et.al. IEEE Journal of Quantum Electr
onics Vol.26 (1990)pp1772 4)S.Cole et.al. Electron Letters Vol.25 (198
9) pp314 5)N.A.Olsson Electron Letters Vol.25 (198
9) pp1050 LDアンプの実用化にあたっては、利得値の向上、利得
値の入射光の偏光による依存性(偏光依存性、TE−T
M間利得差)の減少、及び利得値の入射光の波長による
振動(リップル)の減少が図られている。文献2,3で
は、偏光依存性をほぼ解消し、かつ十分な内部利得値
(〜25dB)を得ている。また、文献1では、リップ
ルの振動をほぼ解消している。
等)添加の光ファイバ増幅器、半導体レーザ増幅器(以
下LDアンプと略する)が光通信用として期待されてい
るが、LDアンプは、特に、軽小、集積可能であり、か
つ、光通信用のどの波長にも対応できる点で注目され、
以下の文献1〜5の技術報告がある。 1)車 他 電子情報通信学会技術研究報告 OQE89-
17 (1989) 49頁 Electron Letters Vol.25 (1989) No.18 pp1241 2)曲 他 1990年電子情報通信学会秋季全国大会講
演論文集 4-166 1991年電子情報通信学会春季全国大会講演論文集 4-19
1 3)M.S.Lin et.al. IEEE Journal of Quantum Electr
onics Vol.26 (1990)pp1772 4)S.Cole et.al. Electron Letters Vol.25 (198
9) pp314 5)N.A.Olsson Electron Letters Vol.25 (198
9) pp1050 LDアンプの実用化にあたっては、利得値の向上、利得
値の入射光の偏光による依存性(偏光依存性、TE−T
M間利得差)の減少、及び利得値の入射光の波長による
振動(リップル)の減少が図られている。文献2,3で
は、偏光依存性をほぼ解消し、かつ十分な内部利得値
(〜25dB)を得ている。また、文献1では、リップ
ルの振動をほぼ解消している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】LDアンプにおける利
得値の偏光依存性は、歪量子井戸構造の採用(文献
2)、幅の狭い(〜4000A以下)埋め込みダブル・
ヘテロ活性層を有する構造の採用(文献3)、厚い埋め
込みダブル・ヘテロ活性層を有する構造の採用(文献
4)により、減少された。
得値の偏光依存性は、歪量子井戸構造の採用(文献
2)、幅の狭い(〜4000A以下)埋め込みダブル・
ヘテロ活性層を有する構造の採用(文献3)、厚い埋め
込みダブル・ヘテロ活性層を有する構造の採用(文献
4)により、減少された。
【0004】しかし、歪量子井戸構造を用いたLDアン
プは、偏光無依存にするために結晶組成を狙いどうりに
合わせるのが難しい。結晶の成長において、条件ずれに
関し、より緩いトレランスで作れる構造が望まれる。
プは、偏光無依存にするために結晶組成を狙いどうりに
合わせるのが難しい。結晶の成長において、条件ずれに
関し、より緩いトレランスで作れる構造が望まれる。
【0005】幅の狭い活性層を有するLDアンプは、製
造工程に困難があり、再現性よく形成することが難し
い。従来、活性層を含むメサストライプを形成するに
は、ウェットエッチング工程により、化合部半導体を切
り出している。これを狭く(〜4000A以下)切り出
すことは、困難である。
造工程に困難があり、再現性よく形成することが難し
い。従来、活性層を含むメサストライプを形成するに
は、ウェットエッチング工程により、化合部半導体を切
り出している。これを狭く(〜4000A以下)切り出
すことは、困難である。
【0006】厚い活性層を有するLDアンプでは、LD
アンプ駆動時において、活性層における注入キャリア密
度が低下するので、利得値および飽和出力の減少が避け
られない。
アンプ駆動時において、活性層における注入キャリア密
度が低下するので、利得値および飽和出力の減少が避け
られない。
【0007】以上のようなわけで、従来、偏光依存性が
小さく、かつ、十分な利得(〜20dB以上)の得られ
るLDアンプを、容易に製造することができなかった。
小さく、かつ、十分な利得(〜20dB以上)の得られ
るLDアンプを、容易に製造することができなかった。
【0008】また、LDアンプ特性上の課題として、利
得に生じるリップルが挙げられる。これは、アンプ内の
導波路を進行する信号光が、LDアンプ素子端面におい
て反射することに起因している。
得に生じるリップルが挙げられる。これは、アンプ内の
導波路を進行する信号光が、LDアンプ素子端面におい
て反射することに起因している。
【0009】本発明は、偏光依存性およびリップルを解
消し、かつ十分な利得を得ることを目的としている。
消し、かつ十分な利得を得ることを目的としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】従来技術における上記課
題を解決するために、バルク活性層を有するメサと、M
QW活性層を含むメサとを、直列に配す構造を有するこ
とを特徴とする光半導体素子、及び、上記光半導体素子
において、素子両端面の近くで、活性層が途切れる窓構
造を有することを特徴とする光半導体素子、を考案し
た。
題を解決するために、バルク活性層を有するメサと、M
QW活性層を含むメサとを、直列に配す構造を有するこ
とを特徴とする光半導体素子、及び、上記光半導体素子
において、素子両端面の近くで、活性層が途切れる窓構
造を有することを特徴とする光半導体素子、を考案し
た。
【0011】
【作用】本光半導体素子では、バルク活性層の領域を、
入射光の増幅領域とし、MQW活性層領域を、利得の偏
光依存分を補償する領域として駆動させる。
入射光の増幅領域とし、MQW活性層領域を、利得の偏
光依存分を補償する領域として駆動させる。
【0012】バルク活性層を有するLDアンプの利得の
偏光依存性は、光増幅を行う領域(活性層)内に光(進
行波)が閉じ込められる割合(光の閉じ込め率)が、偏
光依存性を持つことに起因している。通常、単純なバル
ク活性層を有する、埋め込みダブル・ヘテロ型のLDア
ンプにおいて、光の閉じ込め率は、TE光の方が大き
い。このため、TE光のほうが大きい利得を得る。
偏光依存性は、光増幅を行う領域(活性層)内に光(進
行波)が閉じ込められる割合(光の閉じ込め率)が、偏
光依存性を持つことに起因している。通常、単純なバル
ク活性層を有する、埋め込みダブル・ヘテロ型のLDア
ンプにおいて、光の閉じ込め率は、TE光の方が大き
い。このため、TE光のほうが大きい利得を得る。
【0013】上記のTE−TM間の利得差を補償するに
は、出射側に、TE光のみを利得差分だけ吸収する領域
を設ければよい。通常(歪の無い)のMQW活性層と光
(エネルギーがMQW活性層のバンドギャップと同程度
の光)の相互作用に関しては、電子のバンド間遷移の選
択則の関係から、TE光との相互作用はTM光との相互
作用より大きい。MQW活性層に、ごくわずかな電流し
か流さないときは、MQW層はバルク活性層で増幅され
た光にとって吸収層となるが、上記の理由により、TE
光がTM光より強く吸収される。従って、電流の調整に
よりちょうど利得差分だけ補償させることができる。
は、出射側に、TE光のみを利得差分だけ吸収する領域
を設ければよい。通常(歪の無い)のMQW活性層と光
(エネルギーがMQW活性層のバンドギャップと同程度
の光)の相互作用に関しては、電子のバンド間遷移の選
択則の関係から、TE光との相互作用はTM光との相互
作用より大きい。MQW活性層に、ごくわずかな電流し
か流さないときは、MQW層はバルク活性層で増幅され
た光にとって吸収層となるが、上記の理由により、TE
光がTM光より強く吸収される。従って、電流の調整に
よりちょうど利得差分だけ補償させることができる。
【0014】
【実施例】以下に図面を参照して本発明の実施例を述べ
る。図1に本発明による光半導体素子の一実施例の斜視
断面図を示す。但し、本図では内部構造を示すために一
部分を切除して描いてある。n−InP基板1上にメサ
ストライプ2を通常のウェットエッチングにより形成し
た。メサストライプ2の周囲は、npn−InP電流ブ
ロック層3を設けた。素子の両端部は、電流ブロック層
3と同様の層構造からなる、窓構造4である。バルク活
性層5とMQW活性層6の境界面はバットジョイント7
で形成されている。各活性層の上部は、p−InPクラ
ッド層8、下部はn−InPクラッド層9である。バル
ク活性層5の電極10と、MQW活性層6の電極11は
分離され、各活性層は個別に駆動される。素子端面に
は、ARコーティングを施した。MQW活性層6は、S
CH5層QW構造で構成されている。
る。図1に本発明による光半導体素子の一実施例の斜視
断面図を示す。但し、本図では内部構造を示すために一
部分を切除して描いてある。n−InP基板1上にメサ
ストライプ2を通常のウェットエッチングにより形成し
た。メサストライプ2の周囲は、npn−InP電流ブ
ロック層3を設けた。素子の両端部は、電流ブロック層
3と同様の層構造からなる、窓構造4である。バルク活
性層5とMQW活性層6の境界面はバットジョイント7
で形成されている。各活性層の上部は、p−InPクラ
ッド層8、下部はn−InPクラッド層9である。バル
ク活性層5の電極10と、MQW活性層6の電極11は
分離され、各活性層は個別に駆動される。素子端面に
は、ARコーティングを施した。MQW活性層6は、S
CH5層QW構造で構成されている。
【0015】図2にMQW活性層6のバンドダイアグラ
ムを示す。バルク活性層5は、厚さ2000A、λ=
1.3μm組成のi−InGaAsP層である。
ムを示す。バルク活性層5は、厚さ2000A、λ=
1.3μm組成のi−InGaAsP層である。
【0016】上記素子をLDアンプとして駆動させたと
きの条件及び特性を以下に示す。バルク活性層領域への
注入電流120mA、MQW活性層領域への注入電流7
mAにおいて、波長1.3μmのレーザ光を該光増幅用
素子に入射させたところ、内部利得20dB以上、偏光
依存性(TE−TM間利得差)1.5dB以下、リップ
ル0.05dB程度の特性を得ることができた。
きの条件及び特性を以下に示す。バルク活性層領域への
注入電流120mA、MQW活性層領域への注入電流7
mAにおいて、波長1.3μmのレーザ光を該光増幅用
素子に入射させたところ、内部利得20dB以上、偏光
依存性(TE−TM間利得差)1.5dB以下、リップ
ル0.05dB程度の特性を得ることができた。
【0017】上記実施例において、図1に示される各数
値にとらわれる必要はない。
値にとらわれる必要はない。
【0018】上記実施例において、図1に示される活性
層、クラッド層、電流ブロック層、窓構造部、キャップ
層、及び絶縁膜の組成にとらわれる必要はない。
層、クラッド層、電流ブロック層、窓構造部、キャップ
層、及び絶縁膜の組成にとらわれる必要はない。
【0019】上記実施例において、他の組成の電極を用
いてもよい。
いてもよい。
【0020】上記実施例は、請求項2に記載された窓構
造付きのLDアンプの構造および素子特性に関するもの
であるが、窓構造なしのLDアンプに関しては、端面に
ARコーティングを施し、以下の素子特性を得た。
造付きのLDアンプの構造および素子特性に関するもの
であるが、窓構造なしのLDアンプに関しては、端面に
ARコーティングを施し、以下の素子特性を得た。
【0021】バルク活性層領域への注入電流120m
A、MQW活性層領域への注入電流7mAにおいて、波
長1.3μmのレーザ光を該光増幅用素子に入射させた
ところ、内部利得20dB以上、偏光依存性(TE−T
M間利得差)1.5dB以下、リップル0.5dB程度
の特性を得ることができた。
A、MQW活性層領域への注入電流7mAにおいて、波
長1.3μmのレーザ光を該光増幅用素子に入射させた
ところ、内部利得20dB以上、偏光依存性(TE−T
M間利得差)1.5dB以下、リップル0.5dB程度
の特性を得ることができた。
【0022】
【発明の効果】実施例で示したように、本発明によれ
ば、十分な利得を有し、利得の偏光依存性が小さく、か
つ、利得のリップルが小さいLDアンプを、プロセス上
も簡易に製造するとができる。
ば、十分な利得を有し、利得の偏光依存性が小さく、か
つ、利得のリップルが小さいLDアンプを、プロセス上
も簡易に製造するとができる。
【図1】本発明の一実施例である素子の斜視図である。
【図2】MQW活性層のバンドダイアグラムである。
1 InP基板 2 メサストライプ 3 電流ブロック層 4 窓構造 5 バルク活性層 6 MQW活性層 7 バットジョイント 8 pクラッド層 9 nクラッド層 10,11 電極 12 キャップ層 13 絶縁膜
Claims (2)
- 【請求項1】 バルク活性層を有するメサストライプ
と、該バルク活性層とバンドギャップが同程度のMQW
活性層を含むメサストライプとを、直列に配す構造を有
することを特徴とする光半導体素子。 - 【請求項2】 素子両端面の近くで、活性層が途切れる
窓構造が形成されていることを特徴とする請求項1に記
載の光半導体素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16355792A JPH05335686A (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | 光半導体素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16355792A JPH05335686A (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | 光半導体素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05335686A true JPH05335686A (ja) | 1993-12-17 |
Family
ID=15776166
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16355792A Withdrawn JPH05335686A (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | 光半導体素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05335686A (ja) |
-
1992
- 1992-05-28 JP JP16355792A patent/JPH05335686A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990803 |