JPH05332723A - Method for detecting position of inspected object - Google Patents

Method for detecting position of inspected object

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JPH05332723A
JPH05332723A JP4136591A JP13659192A JPH05332723A JP H05332723 A JPH05332723 A JP H05332723A JP 4136591 A JP4136591 A JP 4136591A JP 13659192 A JP13659192 A JP 13659192A JP H05332723 A JPH05332723 A JP H05332723A
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nozzle
coordinate position
inspection object
image
camera
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Hiroyuki Fukano
太進 深野
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Abstract

PURPOSE:To provide a method capable of precisely detecting the displacement of an inspected object. CONSTITUTION:Prior to the attraction of an inspected object D to a nozzle N, the initial coordinate positions of the nozzle N and a position correcting mark M provided near the nozzle N and integrally with the nozzle N are determined, and the initial coordinate positions are stored in an image processing part VC. The respective attracted state coordinate positions for the inspection target D attracted to the nozzle Z and the position correcting mark M are determined. The coordinate position obtained by correcting the attracted state coordinate position of the inspected object D in reference to the difference (u) between the initial coordinate position and attracted state coordinate position of the position correcting mark M is taken as the coordinate position of the inspected object D.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は検査対象物の位置検出方
法に係り、詳しくは、正確な位置検出を可能にした、検
査対象物の位置検出方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for detecting the position of an inspection object, and more particularly to a method for detecting the position of an inspection object which enables accurate position detection.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子部品をノズルに吸着し、しかるのち
基板の所定位置にこの電子部品を実装するにあたり、吸
着後実装前に、ノズルに吸着された電子部品などの検査
対象物がカメラにより観察され、この検査対象物が理想
位置に対しどれだけ位置ずれしているかを知るために、
カメラ及びその画像を処理する画像処理部において、位
置検出が行われる。
2. Description of the Related Art When an electronic component is adsorbed by a nozzle and then mounted at a predetermined position on a substrate, the inspection object such as the electronic component adsorbed by the nozzle is observed by a camera after the adsorption and before mounting. In order to know how much this inspection object is displaced from the ideal position,
Position detection is performed in a camera and an image processing unit that processes the image thereof.

【0003】そして、この位置検出の前に、検査対象物
を吸着していない状態で、ノズルのみの位置検出を行
い、ノズルが移載ヘッドに取り付けられた際の位置ずれ
などが、イニシャライズ処理によりキャンセルされるよ
うになっている。
Prior to this position detection, the position of only the nozzle is detected while the object to be inspected is not adsorbed, and the positional deviation when the nozzle is attached to the transfer head is caused by the initialization process. It is supposed to be canceled.

【0004】したがって、従来手段においては、ノズル
は常にカメラ画像における所定座標に正確に位置してい
るという前提に立って、検査対象物の位置検出が行われ
ていた。因みに、ノズルが検査対象物を吸着している状
態において、ノズルは検査対象物の影にあり、ノズルの
位置を検出することは困難であり、前記前提から実際に
この検出は行われていなかった。
Therefore, in the conventional means, the position of the object to be inspected is detected on the assumption that the nozzle is always positioned accurately at the predetermined coordinates in the camera image. By the way, when the nozzle is sucking the inspection object, the nozzle is in the shadow of the inspection object, and it is difficult to detect the position of the nozzle, and this detection has not been actually performed from the above assumption. ..

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、電子部
品実装工程において、現実に電子部品を吸着したノズル
が、カメラの視野に入る際には、ノズル及びその支持部
側も、カメラ側も振動しているのが普通であり、しかも
その振動の態様はノズル側、カメラ側で相違する。
However, in the electronic component mounting process, when the nozzle that actually picks up the electronic component comes into the field of view of the camera, both the nozzle and its supporting portion side and the camera side vibrate. Ordinarily, the vibration mode differs between the nozzle side and the camera side.

【0006】ここで、上記検査対象物の位置検出の結果
(理想位置に対する検査対象物の位置ずれ)は、電子部
品が基板に実装される際に反映され、電子部品は、この
位置ずれをキャンセルされつつ基板に実装される。した
がって、この位置検出の精度は良好なものでなければな
らず、殊にQFPチップのように、電子部品本体から狭
ピッチを介して多数のリードが延出しているものを、実
装しようとする際には、この精度が少し低下したのみ
で、実装ミスを招くものである。
The position detection result of the inspection object (positional deviation of the inspection object from the ideal position) is reflected when the electronic component is mounted on the board, and the electronic component cancels the positional displacement. And then mounted on the board. Therefore, the accuracy of this position detection must be good, especially when mounting a device such as a QFP chip in which a large number of leads extend from the electronic component body via a narrow pitch. However, this accuracy is only slightly reduced, and it causes an implementation error.

【0007】したがって、従来手段においては、ノズル
側とカメラ側が別々の振動をしていることに起因して、
位置検出の精度が低下し、実装ミスを生じやすいという
問題点があった。
Therefore, in the conventional means, the nozzle side and the camera side vibrate differently,
There is a problem in that the accuracy of position detection is reduced and mounting errors are likely to occur.

【0008】そこで本発明は、精度良好に検査対象物の
位置検出を用いうる検査対象物の位置検出方法を提供す
ることを目的とする。
[0008] Therefore, an object of the present invention is to provide a method for detecting the position of an inspection object which can detect the position of the inspection object with high accuracy.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、ノズルに吸着
された検査対象物をカメラで観察して、このノズルを備
える移載ヘッドに対する位置を検出するにあたり、この
ノズルに検査対象物を吸着させるに先立ち、このノズル
とこのノズルの近傍に、しかもこのノズルと一体的に付
された位置補正標識の初期座標位置を求め、この初期座
標位置を画像処理部に記憶させるステップと、次いでこ
のノズルに吸着された検査対象物とこの位置補正標識と
のそれぞれについて、吸着状態座標位置を求めるステッ
プと、この位置補正標識の初期座標位置と吸着状態座標
位置との差を参照して、前期検査対象物の吸着状態座標
位置を補正した座標位置を、検査対象物の座標位置とす
るステップとを有するものである。
According to the present invention, when an object to be inspected adsorbed by a nozzle is observed by a camera and a position with respect to a transfer head equipped with the nozzle is detected, the object to be inspected is adsorbed by the nozzle. Prior to this, the step of obtaining the initial coordinate position of this nozzle and the position correction mark attached integrally with this nozzle in the vicinity of this nozzle, and storing this initial coordinate position in the image processing unit, and then this nozzle For each of the inspected object and the position correction mark that are adsorbed on the target object, the step of obtaining the adsorption state coordinate position and the difference between the initial coordinate position and the adsorption state coordinate position of this position correction mark are referred to And a step of setting the coordinate position obtained by correcting the coordinate position of the suction state of the object as the coordinate position of the inspection object.

【0010】[0010]

【作用】上記構成により、まず検査対象物をノズルに吸
着させる前に、このノズルと、このノズルと一体的に付
される位置補正標識との双方について、初期座標位置が
求められる。ここで、このノズルと位置補正標識は、一
体的に振動するものである。
With the above-described structure, the initial coordinate positions of both the nozzle and the position correction marker integrally attached to the nozzle are first obtained before the object to be inspected is adsorbed to the nozzle. Here, the nozzle and the position correction marker vibrate integrally.

【0011】次いで、電子部品実装工程において、ノズ
ルに検査対象物を吸着した状態で、検査対象物の吸着座
標位置と、位置補正標識の吸着座標位置が求められる。
この状態で、ノズルは、検査対象物の影により観察でき
ない。
Next, in the electronic component mounting step, the suction coordinate position of the inspection target and the suction coordinate position of the position correction mark are obtained with the inspection target being sucked by the nozzle.
In this state, the nozzle cannot be observed due to the shadow of the inspection object.

【0012】そして、位置補正標識の吸着座標位置と初
期座標位置との差から、吸着前の状態から、ノズルがど
れだけ位置ずれしたかを知ることができる。そして、こ
の差を参照して、検査対象物の正しい位置ずれ量を検出
するものである。
Then, from the difference between the suction coordinate position of the position correction mark and the initial coordinate position, it is possible to know how much the nozzle is displaced from the state before the suction. Then, by referring to this difference, the correct amount of positional deviation of the inspection object is detected.

【0013】[0013]

【実施例】次に図面を参照しながら、本発明の実施例を
説明する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings.

【0014】図1は本発明の一実施例に係る位置検出方
法を用いた装置の概略図、図2はノズル及び位置補正標
識などを示した底面図、図3、図4はカメラ画像の例示
図、図5はベクトル図、図6は上記方法に沿うフローチ
ャート、図7は他の実施例に係る位置補正標識の説明
図、図8は図7の位置補正標識を採用する際のノズル位
置検出の説明図である。
FIG. 1 is a schematic view of an apparatus using a position detecting method according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a bottom view showing nozzles and position correction markers, and FIGS. 3 and 4 are examples of camera images. FIG. 5, FIG. 5 is a vector diagram, FIG. 6 is a flowchart according to the above method, FIG. 7 is an explanatory view of a position correction mark according to another embodiment, and FIG. 8 is nozzle position detection when the position correction mark of FIG. 7 is adopted. FIG.

【0015】さて、図1において、Hは移載ヘッド、N
はこの移載ヘッドHの下部に設けられ、かつ検査対象物
である電子部品Dを吸着するノズル、鎖線NCはこのノ
ズルNの中心軸、PはノズルNと一体的に、しかもノズ
ルNの近傍に設けられる反射板である。この反射板Pは
ノズルNと一体的に振動する。Cは電子部品実装工程に
おける認識ステーションに配設されるカメラ、Lは光源
であり、この光源Lから照射される光aは反射板Pで反
射して、カメラCに入射する。VCはこのカメラCの画
像に対し、図6のフローチャートに沿う画像処理を施す
画像処理部であって、この画像処理部VCはインターフ
ェース及びコンピュータなどからなる。また、反射板P
のノズルNの外側には、位置補正標識としてのマークM
が付されている(図2の底面図も参照)。このマークM
の形状等は、カメラCにより明瞭に観察できるものであ
る限り、任意である。また、小さな光源を上記位置に配
設し、カメラCの画像内において、スポット的に明るく
観察されるようにして、位置補正標識としても差し支え
ない。
In FIG. 1, H is a transfer head and N is a transfer head.
Is a nozzle that is provided below the transfer head H and sucks the electronic component D that is the inspection object, the chain line NC is the central axis of this nozzle N, P is integral with the nozzle N, and in the vicinity of the nozzle N It is a reflector provided in the. The reflector P vibrates integrally with the nozzle N. C is a camera disposed in the recognition station in the electronic component mounting process, L is a light source, and light a emitted from this light source L is reflected by the reflection plate P and enters the camera C. VC is an image processing unit that performs image processing on the image of the camera C according to the flowchart of FIG. 6, and the image processing unit VC is composed of an interface, a computer, and the like. In addition, the reflector P
Outside the nozzle N of the mark M as a position correction mark.
Is attached (see also the bottom view of FIG. 2). This mark M
The shape and the like are arbitrary as long as they can be clearly observed by the camera C. Further, a small light source may be arranged at the above position so that it can be observed as a spot-like bright image in the image of the camera C, and it may be used as a position correction marker.

【0016】本実施例に係る装置は、上記のような構成
よりなり、次に図3〜図7を参照しながら、本実施例の
位置検出方法を図6のフローチャートに沿って説明す
る。
The apparatus according to this embodiment has the above-mentioned structure. Next, the position detecting method of this embodiment will be described with reference to the flow chart of FIG. 6 with reference to FIGS.

【0017】まず、ノズルNに検査対象物(電子部品
D)を吸着させるに先立ち、ノズルNと位置補正標識M
の初期座標位置を求め、この位置を画像処理部VCに記
憶させる(ステップ1,2)。図3はこの初期状態にお
けるカメラCの画像を示しており、Vは視野、x,yは
それぞれこの視野Vの横軸と縦軸、NSはノズルNの
像、MSは位置補正標識Mの像である。
First, prior to adsorbing the inspection object (electronic component D) to the nozzle N, the nozzle N and the position correction mark M are used.
The initial coordinate position of is calculated, and this position is stored in the image processing unit VC (steps 1 and 2). FIG. 3 shows an image of the camera C in this initial state, where V is the visual field, x and y are the horizontal and vertical axes of the visual field V, NS is the image of the nozzle N, and MS is the image of the position correction marker M. Is.

【0018】具体的には、電子部品実装装置のイニシャ
ライズ処理と同様に、まず視野Vの原点と、ノズルNの
像NSの中心軸NCとの、オフセット値Δx,Δyを記
憶し、以下このオフセット値Δx.Δyを参照しなが
ら、処理を行う。但し、以下簡単のため、これらのオフ
セット値Δx,Δyが共に0であるとして、説明する。
(ステップ1)。次に、マーキングエリアMAを設定
し、このマーキングエリアMAをスキャンニングして、
上記標識Mの像MSとパターンマッチングさせる。ある
いは、輪郭追跡で上記像MSの中心の座標及び回転角度
を求めてもよい。ここで破線はマッチング前、実線はマ
ッチング時のマーキングエリアMAを示している。そし
て、このマッチングがとれた際に、上記中心軸NCから
像MSの中心へ向かう座標位置(この標識Mの初期座標
位置)及びこの標識の形状等を、画像処理部VCに記憶
させる(ステップ2)。
Specifically, similarly to the initialization processing of the electronic component mounting apparatus, first, the offset values Δx and Δy between the origin of the visual field V and the central axis NC of the image NS of the nozzle N are stored, and this offset will be described below. The value Δx. The process is performed with reference to Δy. However, for the sake of simplicity, it is assumed that the offset values Δx and Δy are both 0.
(Step 1). Next, set the marking area MA, scan this marking area MA,
The image MS of the marker M is pattern-matched. Alternatively, the coordinates of the center of the image MS and the rotation angle may be obtained by contour tracing. Here, the broken line indicates the marking area MA before matching, and the solid line indicates the marking area MA at the time of matching. Then, when this matching is obtained, the coordinate position (the initial coordinate position of this marker M) from the central axis NC to the center of the image MS, the shape of this marker, and the like are stored in the image processing unit VC (step 2). ).

【0019】次いで、電子部品実装装置を運転し、ノズ
ルNに吸着された電子部品Dとこの標識Mのそれぞれに
ついて、吸着状態座標位置を求める(ステップ3,
4)。
Next, the electronic component mounting apparatus is operated to obtain the suction state coordinate position for each of the electronic component D sucked by the nozzle N and the mark M (step 3,).
4).

【0020】図4は、この吸着状態におけるカメラCの
画像を示している。図4中、DSは電子部品Dの像、D
Cはこの像DSの中心である。具体的には、この像Dの
中心DSの座標位置(検査対象物Dの吸着状態座標位
置)及びそのx軸に対する回転角度を検出する(ステッ
プ3)。そして、位置補正標識Mの像MSについて、再
度パターンマッチングを行い、この標識Mの吸着状態座
標位置を求める。そして、画像処理部VCに記憶されて
いるこの標識Mの初期座標位置と、今求めた標識Mの吸
着座標位置との間の差(すなわち、図4のベクトルu)
を求める(ステップ5)。この例では、ノズルNの振動
によりかなり位置ずれしているものである。ここで、反
射板P上の標識MとノズルNは一体的に振動するので、
ノズルNは図4破線で示すように(実際には電子部品D
の影となり像NSはあらわれない)、上記ベクトルuだ
け位置ずれしていることがわかる。
FIG. 4 shows an image of the camera C in this suction state. In FIG. 4, DS is an image of the electronic component D, D
C is the center of this image DS. Specifically, the coordinate position of the center DS of the image D (coordinate position of the suction state of the inspection object D) and its rotation angle with respect to the x-axis are detected (step 3). Then, pattern matching is performed again on the image MS of the position correction marker M to obtain the adsorption state coordinate position of the marker M. Then, the difference between the initial coordinate position of the sign M stored in the image processing unit VC and the suction coordinate position of the sign M just obtained (that is, the vector u in FIG. 4).
Is calculated (step 5). In this example, the vibration of the nozzle N causes a considerable displacement. Since the marker M and the nozzle N on the reflection plate P vibrate integrally,
The nozzle N is as shown by the broken line in FIG.
The image NS does not appear), and it can be seen that the position is displaced by the vector u.

【0021】次に、このベクトルuを参照して、既に求
められた検査対象物(電子部品D)の吸着状態座標位置
を補正した座標位置を求める座標位置とする(ステップ
6)。図4において、検査対象物Dの像DSの中心DC
は、本来あるべき原点からベクトルvだけ位置ずれして
いる。ここで、求める座標位置を示すベクトルVは、
(ベクトルV)=(ベクトルv)−(ベクトルu)によ
り与えられる。ここで、従来手段においては、正しい座
標位置(ベクトルV)ではなく、生の座標位置(ベクト
ルv)が位置ずれを示すとされていた。しかし、図5か
ら明らかなように、従来手段によると、ノズルNが振動
して、ベクトルuが大きくなると、無視できない程度に
精度が低下するものである。
Next, referring to this vector u, the coordinate position obtained by correcting the already obtained suction state coordinate position of the inspection object (electronic component D) is set as the coordinate position to be obtained (step 6). In FIG. 4, the center DC of the image DS of the inspection object D
Is displaced by the vector v from the original origin. Here, the vector V indicating the desired coordinate position is
(Vector V) = (vector v) − (vector u). Here, in the conventional means, not the correct coordinate position (vector V) but the raw coordinate position (vector v) indicates the displacement. However, as is apparent from FIG. 5, according to the conventional means, when the nozzle N vibrates and the vector u becomes large, the accuracy deteriorates to a nonnegligible level.

【0022】さて、図7は他の実施例に係る位置補正標
識を示す。図7(a)に示す例では、反射板Pの下面
(ノズルN側)に、十字状のラインに付した標識M1で
あり、図7(b)の例では、反射板Pに十字状をなすス
リットSを開設し、この反射板Pの上方に、このスリッ
トSに向けて光を照射する光源Lを設け、このスリット
Sを透過する十字状のスリット光(標識)M2をカメラ
Cに取り込むようにしたものである。なお、上記光源L
を赤色光を発するものとし、反射板Pを白色とすれば、
反射板Pの像とスリットM2の像とのコントラストを十
分に得ることができる。このような十字状の標識M1,
M2をカメラCに取込むと、図8に示すように観察され
る。この場合、ノズルNの像NSの中心NCを求めるに
は次のようにするとよい。即ち、図8に一点鎖線で示す
ように、視野Vの周縁部を枠状に、ライン走査し、十字
の各辺に接する点P1,P2,P3,P4を求める。そ
して、これらのP1,P2,P3,P4を通る直線の交
点を求める中心NCとすると良い。
Now, FIG. 7 shows a position correction mark according to another embodiment. In the example shown in FIG. 7A, the mark M1 is attached to the cross-shaped line on the lower surface (on the side of the nozzle N) of the reflection plate P, and in the example of FIG. A slit S is formed, a light source L that irradiates light toward the slit S is provided above the reflecting plate P, and cross-shaped slit light (marker) M2 that passes through the slit S is captured by the camera C. It was done like this. The light source L
Is to emit red light and the reflecting plate P is white,
It is possible to obtain a sufficient contrast between the image of the reflection plate P and the image of the slit M2. Such a cross-shaped marker M1,
When M2 is taken into camera C, it is observed as shown in FIG. In this case, in order to obtain the center NC of the image NS of the nozzle N, the following may be done. That is, as shown by the alternate long and short dash line in FIG. 8, the peripheral portion of the visual field V is frame-shaped and line-scanned to find points P1, P2, P3, and P4 in contact with each side of the cross. Then, it is advisable to set the intersection NC of the straight lines passing through P1, P2, P3 and P4 as the center NC.

【0023】[0023]

【発明の効果】本発明は、ノズルに吸着された検査対象
物をカメラで観察して、このノズルを下部に備える移載
ヘッドに対する位置を検出するにあたり、このノズルに
検査対象物を吸着させるに先立ち、このノズルとこのノ
ズルの近傍に、しかもこのノズルと一体的に付された位
置補正標識の初期座標位置を求め、この初期座標位置を
画像処理部に記憶させるステップと、次いでこのノズル
に吸着された検査対象物とこの位置補正標識とのそれぞ
れについて、吸着状態座標位置を求めるステップと、こ
の位置補正標識の初期座標位置と吸着状態座標位置との
差を参照して、前期検査対象物の吸着状態座標位置を補
正した座標位置を、検査対象物の座標位置とするステッ
プとを有する。したがって、ノズルが検査対象物を吸着
した状態で、カメラに対し位置ずれを生じていても、こ
のずれが補正されるので、正確な位置検出を行うことが
できる。
According to the present invention, when an object to be inspected adsorbed by a nozzle is observed with a camera and the position of the nozzle with respect to a transfer head having a lower portion is detected, the object to be inspected is adsorbed by the nozzle. First, the step of obtaining the initial coordinate position of this nozzle and the vicinity of this nozzle and of the position correction marker attached integrally with this nozzle, and storing this initial coordinate position in the image processing unit, and then adsorbing to this nozzle For each of the inspected inspection object and this position correction mark, referring to the difference between the initial state coordinate position and the adsorption state coordinate position of this position correction mark And a step of setting the coordinate position obtained by correcting the suction state coordinate position as the coordinate position of the inspection object. Therefore, even if there is a positional deviation with respect to the camera with the nozzle adsorbing the object to be inspected, this deviation is corrected and accurate position detection can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る位置検出方法を用いた
装置の斜視図
FIG. 1 is a perspective view of an apparatus using a position detecting method according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例に係るノズルなどを示す底面
FIG. 2 is a bottom view showing a nozzle and the like according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例に係るカメラ画像の例示図FIG. 3 is an exemplary view of a camera image according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例に係るカメラ画像の例示図FIG. 4 is an exemplary view of a camera image according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施例に係る吸着状態座標位置の補
正の説明図
FIG. 5 is an explanatory diagram of correction of a suction state coordinate position according to an embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施例に係るフローチャートFIG. 6 is a flowchart according to an embodiment of the present invention.

【図7】本発明の他の実施例に係る位置補正標識の説明
FIG. 7 is an explanatory view of a position correction sign according to another embodiment of the present invention.

【図8】本発明の他の実施例に係るノズル位置検出の説
明図
FIG. 8 is an explanatory diagram of nozzle position detection according to another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

N ノズル D 検査対象物 H 移載ヘッド M 位置補正標識 M1 位置補正標識 M2 位置補正標識 VC 画像処理部 N nozzle D inspection object H transfer head M position correction marker M1 position correction marker M2 position correction marker VC image processing unit

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ノズルに吸着された検査対象物をカメラで
観察して、このノズルを備える移載ヘッドに対する位置
を検出するにあたり、 このノズルに検査対象物を吸着させるに先立ち、このノ
ズルとこのノズルの近傍に、しかもこのノズルと一体的
に付された位置補正標識の初期座標位置を求め、この初
期座標位置を画像処理部に記憶させるステップと、 次いでこのノズルに吸着された検査対象物とこの位置補
正標識とのそれぞれについて、吸着状態座標位置を求め
るステップと、 この位置補正標識の初期座標位置と吸着状態座標位置と
の差を参照して、前期検査対象物の吸着状態座標位置を
補正した座標位置を、検査対象物の座標位置とするステ
ップとを有することを特徴とする検査対象物の位置検出
方法。
1. An object to be inspected adsorbed by a nozzle is observed by a camera to detect a position with respect to a transfer head equipped with this nozzle. A step of obtaining an initial coordinate position of a position correction mark attached in the vicinity of the nozzle and integrally with the nozzle, and storing the initial coordinate position in the image processing unit; For each of the position correction signs, the step of obtaining the suction state coordinate position and the difference between the initial coordinate position and the suction state coordinate position of the position correction mark are referred to correct the suction state coordinate position of the inspection object in the previous period. The method for detecting the position of an inspection object, the method comprising: using the coordinate position as a coordinate position of the inspection object.
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