JPH05329661A - 抵抗溶接機 - Google Patents
抵抗溶接機Info
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- JPH05329661A JPH05329661A JP13732292A JP13732292A JPH05329661A JP H05329661 A JPH05329661 A JP H05329661A JP 13732292 A JP13732292 A JP 13732292A JP 13732292 A JP13732292 A JP 13732292A JP H05329661 A JPH05329661 A JP H05329661A
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- allowable
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Abstract
(57)【要約】
【目的】溶接結果の良否を検出し、かつ検出結果を表示
するようにした抵抗溶接機を提供する。 【構成】溶接用電極の変位量を検出するストレンゲージ
４４と、正常な抵抗溶接時における溶接用電極変位量の
許容上限変位量によって形成される許容上限変位量波形
パターンと許容下限変位量によって形成される許容下限
変位量波形パターンとをそれぞれ予め格納したＥ2 ＰＲ
ＯＭ７３と、許容上限変位量波形パターンおよび許容下
限変位量波形パターンを形成する許容上限変位量および
許容下限変位量をＥ2 ＰＲＯＭ７３から順次読み出し、
読み出した許容上限変位量と許容下限変位量との間にス
トレンゲージ４４によって検出した変位量があるか否か
を判別する判別手段７５と、判別手段７５からの判別出
力に基づく表示をする表示器８とを備え、表示器８によ
って抵抗溶接の良否を表示するようにした。
するようにした抵抗溶接機を提供する。 【構成】溶接用電極の変位量を検出するストレンゲージ
４４と、正常な抵抗溶接時における溶接用電極変位量の
許容上限変位量によって形成される許容上限変位量波形
パターンと許容下限変位量によって形成される許容下限
変位量波形パターンとをそれぞれ予め格納したＥ2 ＰＲ
ＯＭ７３と、許容上限変位量波形パターンおよび許容下
限変位量波形パターンを形成する許容上限変位量および
許容下限変位量をＥ2 ＰＲＯＭ７３から順次読み出し、
読み出した許容上限変位量と許容下限変位量との間にス
トレンゲージ４４によって検出した変位量があるか否か
を判別する判別手段７５と、判別手段７５からの判別出
力に基づく表示をする表示器８とを備え、表示器８によ
って抵抗溶接の良否を表示するようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は溶接期間中に溶接用電極
変位量により形成される変位量の波形に基づいて抵抗溶
接結果の良否を表示する抵抗溶接機に関する。
変位量により形成される変位量の波形に基づいて抵抗溶
接結果の良否を表示する抵抗溶接機に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、溶接結果の良否が判る抵抗溶接機
はなかった。このため、溶接結果を目視で検査しなけれ
ば、その良否が判別できなかった。
はなかった。このため、溶接結果を目視で検査しなけれ
ば、その良否が判別できなかった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】したがって、抵抗溶接
結果の良否を検査するために相当の時間を必要とし、特
に溶接対象物が小さい場合には効率が悪くなるという問
題点があった。したがって、全数にわたって検査を行う
ためには多くの時間を要するほかに、検査に見落としが
あると最終製品を瞬時に使用不能としてしまうような場
合がある。例えば、３原色陰極線管の電子銃の抵抗溶接
などの場合がこれの例である。
結果の良否を検査するために相当の時間を必要とし、特
に溶接対象物が小さい場合には効率が悪くなるという問
題点があった。したがって、全数にわたって検査を行う
ためには多くの時間を要するほかに、検査に見落としが
あると最終製品を瞬時に使用不能としてしまうような場
合がある。例えば、３原色陰極線管の電子銃の抵抗溶接
などの場合がこれの例である。
【０００４】本発明は、溶接結果の良否を検出し、かつ
検出結果を表示するようにした抵抗溶接機を提供するこ
とを目的とする。
検出結果を表示するようにした抵抗溶接機を提供するこ
とを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の抵抗溶接機は、
溶接用電極の変位量を検出する変位量検出手段と、正常
な抵抗溶接時における溶接用電極変位量の許容上限変位
量によって形成される許容上限変位量波形パターンと正
常な抵抗溶接時における溶接用電極変位量の許容下限変
位量によって形成される許容下限変位量波形パターンと
をそれぞれ予め格納した変位量波形パターン記憶手段
と、許容上限変位量波形パターンおよび許容下限変位量
波形パターンを形成する許容上限変位量および許容下限
変位量を変位量波形パターン記憶手段から順次読み出す
読み出し手段と、読み出し手段によって読み出された許
容上限変位量と許容下限変位量との間に変位量検出手段
によって検出した変位量があるか否かを判別する判別手
段と、判別手段からの判別出力に基づく表示をする表示
手段とを備えたことを特徴とする。
溶接用電極の変位量を検出する変位量検出手段と、正常
な抵抗溶接時における溶接用電極変位量の許容上限変位
量によって形成される許容上限変位量波形パターンと正
常な抵抗溶接時における溶接用電極変位量の許容下限変
位量によって形成される許容下限変位量波形パターンと
をそれぞれ予め格納した変位量波形パターン記憶手段
と、許容上限変位量波形パターンおよび許容下限変位量
波形パターンを形成する許容上限変位量および許容下限
変位量を変位量波形パターン記憶手段から順次読み出す
読み出し手段と、読み出し手段によって読み出された許
容上限変位量と許容下限変位量との間に変位量検出手段
によって検出した変位量があるか否かを判別する判別手
段と、判別手段からの判別出力に基づく表示をする表示
手段とを備えたことを特徴とする。
【０００６】
【作用】本発明の抵抗溶接機によれば、溶接用電極の変
位量が変位量検出手段によって検出され、読み出し手段
によって変位量波形パターン記憶手段から許容上限変位
量波形パターンおよび許容下限変位量波形パターンを形
成する許容上限変位量および許容下限変位量が順次読み
出され、読み出された許容上限変位量と許容下限変位量
と変位量検出手段によって検出された変位量とが比較さ
れて、許容上限変位量と許容下限変位量との間に変位量
検出手段によって検出された変位量があるか否かが判別
手段によって判別され、判別出力に基づく表示が表示手
段になされる。
位量が変位量検出手段によって検出され、読み出し手段
によって変位量波形パターン記憶手段から許容上限変位
量波形パターンおよび許容下限変位量波形パターンを形
成する許容上限変位量および許容下限変位量が順次読み
出され、読み出された許容上限変位量と許容下限変位量
と変位量検出手段によって検出された変位量とが比較さ
れて、許容上限変位量と許容下限変位量との間に変位量
検出手段によって検出された変位量があるか否かが判別
手段によって判別され、判別出力に基づく表示が表示手
段になされる。
【０００７】しかるに、抵抗溶接中においてスパッタが
飛んだりするような異常な場合には、溶接用電極の変位
量が過大になったり、不足したりする。したがって、変
位量検出手段によって検出された変位量が、許容上限変
位量波形パターンを形成する許容上限変位量を超えたと
き、または許容下限変位量波形パターンを形成する許容
下限変位量未満のときはスパッタが飛んだりする溶接不
良のときであり、判別手段の判別出力に基づく表示手段
の表示によってその溶接は不良であることが判ることに
なる。
飛んだりするような異常な場合には、溶接用電極の変位
量が過大になったり、不足したりする。したがって、変
位量検出手段によって検出された変位量が、許容上限変
位量波形パターンを形成する許容上限変位量を超えたと
き、または許容下限変位量波形パターンを形成する許容
下限変位量未満のときはスパッタが飛んだりする溶接不
良のときであり、判別手段の判別出力に基づく表示手段
の表示によってその溶接は不良であることが判ることに
なる。
【０００８】
【実施例】以下本発明を実施例によって説明する。
【０００９】図１は本発明の一実施例の構成を示すブロ
ック図であり、図２は本発明の一実施例の溶接用ヘッド
の構成を示す一部省略断面図である。
ック図であり、図２は本発明の一実施例の溶接用ヘッド
の構成を示す一部省略断面図である。
【００１０】先ず、本実施例の抵抗溶接機の溶接用ヘッ
ドについて説明する。図２において、参照符号１０は、
本考案に係る溶接用ヘッドを示し、当該溶接用ヘッド１
０は、ボデイ１２を含む。ボデイ１２は上部ボデイ１４
と下部ボデイ１６とを有し、上部ボデイ１４から下部ボ
デイ１６に指向して貫通孔１４ａ、１４ｂが設けられて
いる。貫通孔１４ａにはリニアボールベアリング１８が
設けられ、また、下部ボデイ１６にはリニアボールベア
リング２０が設けられている。夫々のリニアボールベア
リング１８、２０を貫通してスライドシャフト２２が設
けられ、スライドシャフト２２の先端部にはスライドシ
ャフト２２から電気的に絶縁されて電極２４が固着され
ている。図中、参照符号２６は溶接用電極を示す。
ドについて説明する。図２において、参照符号１０は、
本考案に係る溶接用ヘッドを示し、当該溶接用ヘッド１
０は、ボデイ１２を含む。ボデイ１２は上部ボデイ１４
と下部ボデイ１６とを有し、上部ボデイ１４から下部ボ
デイ１６に指向して貫通孔１４ａ、１４ｂが設けられて
いる。貫通孔１４ａにはリニアボールベアリング１８が
設けられ、また、下部ボデイ１６にはリニアボールベア
リング２０が設けられている。夫々のリニアボールベア
リング１８、２０を貫通してスライドシャフト２２が設
けられ、スライドシャフト２２の先端部にはスライドシ
ャフト２２から電気的に絶縁されて電極２４が固着され
ている。図中、参照符号２６は溶接用電極を示す。
【００１１】スライドシャフト２２の他方の端部には、
第１スプリング受け２８がボルトを介して固着され、こ
の第１スプリング受け２８にコイルスプリング３０の一
端部が着座する。コイルスプリング３０は、上部ボデイ
１４に画成された凹部３２に収装されるとともに、凹部
３２に円筒部材３４の先端部が嵌合する。円筒部材３４
は、図から容易に諒解される通り、その一端部が縮径
し、外周に刻設された螺子にナット３６が螺合すること
によってボデイ１２に固定されている。
第１スプリング受け２８がボルトを介して固着され、こ
の第１スプリング受け２８にコイルスプリング３０の一
端部が着座する。コイルスプリング３０は、上部ボデイ
１４に画成された凹部３２に収装されるとともに、凹部
３２に円筒部材３４の先端部が嵌合する。円筒部材３４
は、図から容易に諒解される通り、その一端部が縮径
し、外周に刻設された螺子にナット３６が螺合すること
によってボデイ１２に固定されている。
【００１２】円筒部材３４の内部には、前記コイルスプ
リング３０の他端部が進入し、第２スプリング受け３８
に着座する。図に示す通り、第２スプリング受け３８は
その軸方向中心部に凹部３８ａを画成し、この凹部３８
ａに第１ボール４０を着座せしめる。第２スプリング受
け３８に対して所定間隔離間してスペーサ４２を設け
る。スペーサ４２には凹部３８ａと対向するように凹部
４２ａを設け、この凹部４２ａに前記第１ボール４０の
上半分が着座するよう構成されている。スペーサ４２は
円筒部材３４内に画成された室４３内を摺動自在であ
る。スペーサ４２の軸心に沿ってその上端部に凹部４２
ｂが画成される。この凹部４２ｂにはストレンゲージ
（ロードセル）４４の、先端部が湾曲した検出子４４ａ
が着座する。ストレンゲージ４４からは導線４６が導出
され、この導線４６を介して溶接用電極２６の変位量を
電気信号として取り出す。
リング３０の他端部が進入し、第２スプリング受け３８
に着座する。図に示す通り、第２スプリング受け３８は
その軸方向中心部に凹部３８ａを画成し、この凹部３８
ａに第１ボール４０を着座せしめる。第２スプリング受
け３８に対して所定間隔離間してスペーサ４２を設け
る。スペーサ４２には凹部３８ａと対向するように凹部
４２ａを設け、この凹部４２ａに前記第１ボール４０の
上半分が着座するよう構成されている。スペーサ４２は
円筒部材３４内に画成された室４３内を摺動自在であ
る。スペーサ４２の軸心に沿ってその上端部に凹部４２
ｂが画成される。この凹部４２ｂにはストレンゲージ
（ロードセル）４４の、先端部が湾曲した検出子４４ａ
が着座する。ストレンゲージ４４からは導線４６が導出
され、この導線４６を介して溶接用電極２６の変位量を
電気信号として取り出す。
【００１３】ストレンゲージ４４の上部に当板４８が設
けられる。当板４８の上端部には湾曲した凹部４８ａが
設けられ、加圧調整用摘み５０の先端部に設けられた湾
曲する凹部５０ａとの間で第２ボール５２を挟持する。
加圧調整用摘み５０はナット５４によって円筒部材３４
に螺入されたケース５６を堅牢に保持する。
けられる。当板４８の上端部には湾曲した凹部４８ａが
設けられ、加圧調整用摘み５０の先端部に設けられた湾
曲する凹部５０ａとの間で第２ボール５２を挟持する。
加圧調整用摘み５０はナット５４によって円筒部材３４
に螺入されたケース５６を堅牢に保持する。
【００１４】本実施例の抵抗溶接機は図１に示すよう
に、溶接用電極２６の変位量はストレンゲージ４４によ
って検出され、この検出された変位量出力は電圧変換回
路１に供給して、変位量に対応した電圧レベルに変換す
る。電圧変換回路１によって電圧レベルに変換された検
出変位量出力はＡ／Ｄ変換器２に供給して、溶接用電極
２６の変位量をデジタルデータ（以下、検出変位量デー
タと記す）に変換する。溶接電源３から出力された溶接
電流は被溶接体としてのワーク９を挟む溶接用電極２６
および２６−１を通して流れ、通電によりワーク９が抵
抗溶接される。
に、溶接用電極２６の変位量はストレンゲージ４４によ
って検出され、この検出された変位量出力は電圧変換回
路１に供給して、変位量に対応した電圧レベルに変換す
る。電圧変換回路１によって電圧レベルに変換された検
出変位量出力はＡ／Ｄ変換器２に供給して、溶接用電極
２６の変位量をデジタルデータ（以下、検出変位量デー
タと記す）に変換する。溶接電源３から出力された溶接
電流は被溶接体としてのワーク９を挟む溶接用電極２６
および２６−１を通して流れ、通電によりワーク９が抵
抗溶接される。
【００１５】溶接電流の通電路を空心の電流検出コイル
４に挿通させて、電流検出コイル４と電流検出コイル４
からの出力を積分する積分回路５によって溶接電流値を
検出する。ここで、電流検出コイル４からの出力を積分
するのは電流検出コイル４によって溶接電流の微分出力
が出力されるためであり、電流検出コイル４からの出力
を積分することによって溶接電流値が検出される。
４に挿通させて、電流検出コイル４と電流検出コイル４
からの出力を積分する積分回路５によって溶接電流値を
検出する。ここで、電流検出コイル４からの出力を積分
するのは電流検出コイル４によって溶接電流の微分出力
が出力されるためであり、電流検出コイル４からの出力
を積分することによって溶接電流値が検出される。
【００１６】積分回路５の積分出力を０Ｖの基準電圧と
比較する比較器および該比較器の出力を微分する微分回
路となる通電開始検出回路６に供給して、溶接電流の通
電開始を検出する。
比較する比較器および該比較器の出力を微分する微分回
路となる通電開始検出回路６に供給して、溶接電流の通
電開始を検出する。
【００１７】一方、符号７はタイマ手段を内蔵したＣＰ
Ｕ７１、ＲＡＭ７２およびＥ2 ＰＲＯＭ７３を備えたマ
イクロコンピュータであり、Ｅ2 ＰＲＯＭ７３にはワー
ク９の溶接時における溶接用電極の変位量波形パターン
を複数回測定し、スパッタが飛んだりしない正常な抵抗
溶接時において溶接用電極２６の許容上限変位量によっ
て形成される許容上限変位量波形パターンと正常な抵抗
溶接時において溶接用電極２６の許容下限変位量によっ
て形成される許容下限変位量波形パターンとが予め記憶
させてある。図３（ａ）および（ｂ）はそれぞれ許容上
限変位量波形パターンおよび許容下限変位量波形パター
ンの一例を模式的に示している。
Ｕ７１、ＲＡＭ７２およびＥ2 ＰＲＯＭ７３を備えたマ
イクロコンピュータであり、Ｅ2 ＰＲＯＭ７３にはワー
ク９の溶接時における溶接用電極の変位量波形パターン
を複数回測定し、スパッタが飛んだりしない正常な抵抗
溶接時において溶接用電極２６の許容上限変位量によっ
て形成される許容上限変位量波形パターンと正常な抵抗
溶接時において溶接用電極２６の許容下限変位量によっ
て形成される許容下限変位量波形パターンとが予め記憶
させてある。図３（ａ）および（ｂ）はそれぞれ許容上
限変位量波形パターンおよび許容下限変位量波形パター
ンの一例を模式的に示している。
【００１８】Ａ／Ｄ変換器２からの検出変位量データお
よび通電開始検出回路６からの通電開始検出信号はマイ
クロコンピュータ７に供給して、通電開始検出信号が入
力されたときからＣＰＵ７１の制御のもとに、内蔵タイ
マ手段による計時を開始すると共に検出変位量データを
順次ＲＡＭ７２に格納し、内蔵タイマ手段による計時が
１溶接時間より僅かに長く設定された所定時間に達した
ときからＲＡＭ７２に格納された検出変位量データと、
Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上限変位量波形
パターンを形成する変位量データ（以下、許容上限変位
量データと記す）および許容下限変位量波形パターンを
形成する変位量データ（以下、許容下限変位量データと
記す）とを読み出し、検出変位量データが許容上限変位
量データと許容下限変位量データとの間に入っているか
否かを判別し、判別出力を表示するための処理をして表
示器８へ出力し、表示器８に判別出力に基づく表示をさ
せる。
よび通電開始検出回路６からの通電開始検出信号はマイ
クロコンピュータ７に供給して、通電開始検出信号が入
力されたときからＣＰＵ７１の制御のもとに、内蔵タイ
マ手段による計時を開始すると共に検出変位量データを
順次ＲＡＭ７２に格納し、内蔵タイマ手段による計時が
１溶接時間より僅かに長く設定された所定時間に達した
ときからＲＡＭ７２に格納された検出変位量データと、
Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上限変位量波形
パターンを形成する変位量データ（以下、許容上限変位
量データと記す）および許容下限変位量波形パターンを
形成する変位量データ（以下、許容下限変位量データと
記す）とを読み出し、検出変位量データが許容上限変位
量データと許容下限変位量データとの間に入っているか
否かを判別し、判別出力を表示するための処理をして表
示器８へ出力し、表示器８に判別出力に基づく表示をさ
せる。
【００１９】したがってマイクロコンピュータ７はＲＡ
Ｍ７２と、Ｅ2 ＰＲＯＭ７３との他に機能的に、溶接終
了判別手段７４と、溶接終了判別時からＲＡＭ７２およ
びＥ 2 ＰＲＯＭ７３に格納された変位量データを順次読
み出して比較し、Ｅ2 ＰＲＯＭ７３から読み出した許容
上限変位量データと許容下限変位量データとの間にＲＡ
Ｍ７２から読み出した検出変位量データが入っているか
否かを判別する判別手段７５と、判別手段７５による判
別結果に基づく信号を出力する出力手段７６とを備えて
いる。
Ｍ７２と、Ｅ2 ＰＲＯＭ７３との他に機能的に、溶接終
了判別手段７４と、溶接終了判別時からＲＡＭ７２およ
びＥ 2 ＰＲＯＭ７３に格納された変位量データを順次読
み出して比較し、Ｅ2 ＰＲＯＭ７３から読み出した許容
上限変位量データと許容下限変位量データとの間にＲＡ
Ｍ７２から読み出した検出変位量データが入っているか
否かを判別する判別手段７５と、判別手段７５による判
別結果に基づく信号を出力する出力手段７６とを備えて
いる。
【００２０】次に上記のように構成した本実施例の作用
を図４および図５のフローチャートにしたがって説明す
る。
を図４および図５のフローチャートにしたがって説明す
る。
【００２１】溶接用電極２６と２６−１との間にワーク
９が挿入され、加圧力が加えられて抵抗溶接が開始され
ると、通電開始検出回路６からの通電開始検出信号が入
力されるのを待って、すなわち通電開始が検出されるの
を待って（ステップＳ１）、通電開始が検出されると内
蔵タイマ手段による計時が開始され（ステップＳ２）、
次いでＡ／Ｄ変換器２から出力される検出変位量データ
がＲＡＭ７２に順次格納され（ステップＳ３）、検出変
位量データのＲＡＭ７２への格納は内蔵タイマ手段が設
定時間の計時を終了するまで、すなわち通電が終了する
まで継続される（ステップＳ４）。
９が挿入され、加圧力が加えられて抵抗溶接が開始され
ると、通電開始検出回路６からの通電開始検出信号が入
力されるのを待って、すなわち通電開始が検出されるの
を待って（ステップＳ１）、通電開始が検出されると内
蔵タイマ手段による計時が開始され（ステップＳ２）、
次いでＡ／Ｄ変換器２から出力される検出変位量データ
がＲＡＭ７２に順次格納され（ステップＳ３）、検出変
位量データのＲＡＭ７２への格納は内蔵タイマ手段が設
定時間の計時を終了するまで、すなわち通電が終了する
まで継続される（ステップＳ４）。
【００２２】したがって、内蔵タイマ手段が設定時間の
計時を終了したときには、ＲＡＭ７２に１溶接期間にわ
たる検出変位量データが順次格納された状態となる。こ
こで、通電によってワーク９にワーク９の電気抵抗値と
溶接電流値とにしたがうジュール熱が発生し、抵抗溶接
される。同時に、溶接用電極２６にコイルスプリング３
０の弾発力に応じてワーク９の方向へ変位量を加えてい
るため、溶接が進行するにしたがって溶接用電極２６は
ワーク９の方向へ変位する。したがって、第２スプリン
グ受け３８に対するコイルスプリング３０の弾発力は弱
まり、第１ボール４０、スペーサ４２を介してストレン
ゲージ４４に伝わる変位量は減少し、溶接用電極２６の
変位量が検出され、ＲＡＭ７２に格納された検出変位量
データは模式的に図２において線ｃに示すごとくであ
る。
計時を終了したときには、ＲＡＭ７２に１溶接期間にわ
たる検出変位量データが順次格納された状態となる。こ
こで、通電によってワーク９にワーク９の電気抵抗値と
溶接電流値とにしたがうジュール熱が発生し、抵抗溶接
される。同時に、溶接用電極２６にコイルスプリング３
０の弾発力に応じてワーク９の方向へ変位量を加えてい
るため、溶接が進行するにしたがって溶接用電極２６は
ワーク９の方向へ変位する。したがって、第２スプリン
グ受け３８に対するコイルスプリング３０の弾発力は弱
まり、第１ボール４０、スペーサ４２を介してストレン
ゲージ４４に伝わる変位量は減少し、溶接用電極２６の
変位量が検出され、ＲＡＭ７２に格納された検出変位量
データは模式的に図２において線ｃに示すごとくであ
る。
【００２３】通電が終了したときは、Ｅ2 ＰＲＯＭ７３
に格納されている許容上限変位量データとＲＡＭ７２に
格納されている検出変位量データとが順次読み出され
（ステップＳ５）、読み出された両データは比較されて
（Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上限変位量デ
ータ＜ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）
であるか否かがチェックされる（ステップＳ６）。
に格納されている許容上限変位量データとＲＡＭ７２に
格納されている検出変位量データとが順次読み出され
（ステップＳ５）、読み出された両データは比較されて
（Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上限変位量デ
ータ＜ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）
であるか否かがチェックされる（ステップＳ６）。
【００２４】ステップＳ６におけるチェックの結果、
（Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上限変位量デ
ータ＜ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）
であると判別されたときは表示器８に変位量過大を示す
情報が出力される（ステップＳ７）。したがって、表示
器８には変位量過大の表示がなされて、溶接不良である
ことが示される。
（Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上限変位量デ
ータ＜ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）
であると判別されたときは表示器８に変位量過大を示す
情報が出力される（ステップＳ７）。したがって、表示
器８には変位量過大の表示がなされて、溶接不良である
ことが示される。
【００２５】ステップＳ６におけるチェックの結果、
（Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上限変位量デ
ータ＜ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）
でないと判別されたときは、ステップＳ６に続いてＥ2
ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上限変位量データの
全部が読み出されたか否かがチェックされ（ステップＳ
８）、ステップＳ８におけるチェックの結果、Ｅ2 ＰＲ
ＯＭ７３に格納されている許容上限変位量データの全部
が読み出されていないと判別されたときは、ステップＳ
８に続いてステップＳ５から実行される。
（Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上限変位量デ
ータ＜ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）
でないと判別されたときは、ステップＳ６に続いてＥ2
ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上限変位量データの
全部が読み出されたか否かがチェックされ（ステップＳ
８）、ステップＳ８におけるチェックの結果、Ｅ2 ＰＲ
ＯＭ７３に格納されている許容上限変位量データの全部
が読み出されていないと判別されたときは、ステップＳ
８に続いてステップＳ５から実行される。
【００２６】Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上
限変位量データの全部が読み出されるまでの間に、（Ｅ
2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上限変位量データ
＜ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）であ
ると判別されたときは表示器８に変位量過大を示す情報
が出力されることはステップＳ６、Ｓ７のとおりであ
る。したがって、ＲＡＭ７２に格納されている検出変位
量データによって形成される変位量波形が図２における
破線ｃ′に模式的に示すように許容上限変位量データを
超えているときは、超えたことが検出された時点におい
変位量過大の表示がなされることになる。
限変位量データの全部が読み出されるまでの間に、（Ｅ
2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容上限変位量データ
＜ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）であ
ると判別されたときは表示器８に変位量過大を示す情報
が出力されることはステップＳ６、Ｓ７のとおりであ
る。したがって、ＲＡＭ７２に格納されている検出変位
量データによって形成される変位量波形が図２における
破線ｃ′に模式的に示すように許容上限変位量データを
超えているときは、超えたことが検出された時点におい
変位量過大の表示がなされることになる。
【００２７】ステップＳ８においてＥ2 ＰＲＯＭ７３に
格納されている許容上限変位量データの全部が読み出さ
れたときは、ステップＳ８に続いてＥ2 ＰＲＯＭ７３に
格納されている許容下限変位量データとＲＡＭ７２に格
納されている検出変位量データとが順次読み出され（ス
テップＳ９）、読み出された両データは比較されて（Ｅ
2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下限変位量データ
＞ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）であ
るか否かがチェックされる（ステップＳ１０）。
格納されている許容上限変位量データの全部が読み出さ
れたときは、ステップＳ８に続いてＥ2 ＰＲＯＭ７３に
格納されている許容下限変位量データとＲＡＭ７２に格
納されている検出変位量データとが順次読み出され（ス
テップＳ９）、読み出された両データは比較されて（Ｅ
2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下限変位量データ
＞ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）であ
るか否かがチェックされる（ステップＳ１０）。
【００２８】ステップＳ１０におけるチェックの結果、
（Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下限変位量デ
ータ＞ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）
であると判別されたときは表示器８に変位量不足を示す
情報が出力される（ステップＳ１１）。したがって、表
示器８には変位量不足の表示がなされて、溶接不良であ
ることが示される。
（Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下限変位量デ
ータ＞ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）
であると判別されたときは表示器８に変位量不足を示す
情報が出力される（ステップＳ１１）。したがって、表
示器８には変位量不足の表示がなされて、溶接不良であ
ることが示される。
【００２９】ステップＳ１０におけるチェックの結果、
（Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下限変位量デ
ータ＞ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）
でないと判別されたときはステップＳ１０に続いてＥ2
ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下限変位量データの
全部が読み出されたか否かがチェックされ（ステップＳ
１２）、ステップＳ１２におけるチェックの結果、Ｅ2
ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下限変位量データの
全部が読み出されていないと判別されたときは、ステッ
プＳ１２に続いてステップＳ９から実行される。
（Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下限変位量デ
ータ＞ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）
でないと判別されたときはステップＳ１０に続いてＥ2
ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下限変位量データの
全部が読み出されたか否かがチェックされ（ステップＳ
１２）、ステップＳ１２におけるチェックの結果、Ｅ2
ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下限変位量データの
全部が読み出されていないと判別されたときは、ステッ
プＳ１２に続いてステップＳ９から実行される。
【００３０】Ｅ2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下
限変位量データの全部が読み出されるまでの間に、（Ｅ
2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下限変位量データ
＞ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）であ
ると判別されたときは表示器８に変位量不足を示す情報
が出力されることはステップＳ１０、Ｓ１１のとおりで
ある。したがって、ＲＡＭ７２に格納された検出変位量
データにより形成される変位量波形が図２において破線
ｃ″に模式的に示すように許容下限変位量データ未満の
ときは、未満であることが検出された時点におい変位量
不足の表示がなされることになる。
限変位量データの全部が読み出されるまでの間に、（Ｅ
2 ＰＲＯＭ７３に格納されている許容下限変位量データ
＞ＲＡＭ７２に格納されている検出変位量データ）であ
ると判別されたときは表示器８に変位量不足を示す情報
が出力されることはステップＳ１０、Ｓ１１のとおりで
ある。したがって、ＲＡＭ７２に格納された検出変位量
データにより形成される変位量波形が図２において破線
ｃ″に模式的に示すように許容下限変位量データ未満の
ときは、未満であることが検出された時点におい変位量
不足の表示がなされることになる。
【００３１】ステップＳ１２においてＥ2 ＰＲＯＭ７３
に格納されている許容下限変位量データの全部が読み出
されされたときは、ＲＡＭ７２に格納された検出変位量
データにより形成される波形は図２において線ｃの実線
で模式的に示される検出変位量波形の場合であって、許
容上限変位量データを超えることはなく、かつ許容下限
変位量データ未満となることもない場合であって、表示
器８に溶接良好を示す情報が出力される（ステップＳ１
３）。したがって、表示器８の表示から溶接が良好に行
われたことが判る。
に格納されている許容下限変位量データの全部が読み出
されされたときは、ＲＡＭ７２に格納された検出変位量
データにより形成される波形は図２において線ｃの実線
で模式的に示される検出変位量波形の場合であって、許
容上限変位量データを超えることはなく、かつ許容下限
変位量データ未満となることもない場合であって、表示
器８に溶接良好を示す情報が出力される（ステップＳ１
３）。したがって、表示器８の表示から溶接が良好に行
われたことが判る。
【００３２】なお、上記した実施例において、Ａ／Ｄ変
換器２によってデジタルデータに変換された検出変位量
データを一旦ＲＡＭ７２に格納したうえで、許容上限変
位量データおよび許容下限変位量データと比較する場合
を例示したが、リアルタイムで比較するようにしてもよ
い。
換器２によってデジタルデータに変換された検出変位量
データを一旦ＲＡＭ７２に格納したうえで、許容上限変
位量データおよび許容下限変位量データと比較する場合
を例示したが、リアルタイムで比較するようにしてもよ
い。
【００３３】また 変位量をストレンゲージ４４によっ
て検出する場合を例示したが、レーザ光を用いて変位量
を検出する場合も同様である。
て検出する場合を例示したが、レーザ光を用いて変位量
を検出する場合も同様である。
【００３４】
【発明の効果】以上説明した如く本発明の抵抗溶接機に
よれば、溶接用電極の変位量を検出し、読み出し手段に
よって変位量波形パターン記憶手段から許容上限変位量
波形パターンおよび許容下限変位量波形パターンを形成
する許容上限変位量および許容下限変位量を順次読み出
し、読み出された許容上限変位量と許容下限変位量との
間に溶接用電極の変位量があるか否かを判別し、判別出
力に基づく表示を行うようにしたため、抵抗溶接が正常
に行われなかったときは溶接用電極の変位量が許容上限
変位量を超えたり、許容下限変位量未満となって、溶接
結果の良否が判別出力に基づく表示にて示される効果が
ある。
よれば、溶接用電極の変位量を検出し、読み出し手段に
よって変位量波形パターン記憶手段から許容上限変位量
波形パターンおよび許容下限変位量波形パターンを形成
する許容上限変位量および許容下限変位量を順次読み出
し、読み出された許容上限変位量と許容下限変位量との
間に溶接用電極の変位量があるか否かを判別し、判別出
力に基づく表示を行うようにしたため、抵抗溶接が正常
に行われなかったときは溶接用電極の変位量が許容上限
変位量を超えたり、許容下限変位量未満となって、溶接
結果の良否が判別出力に基づく表示にて示される効果が
ある。
【００３５】したがって、抵抗溶接中においてスパッタ
が飛んだりした場合には、一々溶接済み部材を直接目視
による判別をする必要は無くなって、判別出力に基づく
表示から溶接不良が判るため、被溶接部材が小物でも溶
接不良が容易に判り、誤って正常として取り扱うことに
よる事故を未然に防ぐことができる効果がある。
が飛んだりした場合には、一々溶接済み部材を直接目視
による判別をする必要は無くなって、判別出力に基づく
表示から溶接不良が判るため、被溶接部材が小物でも溶
接不良が容易に判り、誤って正常として取り扱うことに
よる事故を未然に防ぐことができる効果がある。
【図１】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】本発明の一実施例の溶接用ヘッドの構成を示す
一部省略断面図である。
一部省略断面図である。
【図３】本発明の一実施例の作用の説明に供する変位量
波形図である。
波形図である。
【図４】本発明の一実施例の作用の説明に供するフロー
チャートである。
チャートである。
【図５】本発明の一実施例の作用の説明に供するフロー
チャートである。
チャートである。
１…電圧変換回路 ２…Ａ／Ｄ変換器 ３…溶接電源 ４…電流検出コイル ５…積分回路 ６…通電開始検出回路 ７…マイクロコンピュータ ８…表示器 ２６、２６−１…溶接用電極 ４４…ストレンゲージ ７１…ＣＰＵ ７２…ＲＡＭ ７３…Ｅ2 ＰＲＯＭ ７４…溶接終了判別手段 ７５…判別手段 ７６…出力手段
Claims (1)
- 【請求項１】溶接用電極の変位量を検出する変位量検出
手段と、正常な抵抗溶接時における溶接用電極変位量の
許容上限変位量によって形成される許容上限変位量波形
パターンと正常な抵抗溶接時における溶接用電極変位量
の許容下限変位量によって形成される許容下限変位量波
形パターンとをそれぞれ予め格納した変位量波形パター
ン記憶手段と、許容上限変位量波形パターンおよび許容
下限変位量波形パターンを形成する許容上限変位量およ
び許容下限変位量を変位量波形パターン記憶手段から順
次読み出す読み出し手段と、読み出し手段によって読み
出された許容上限変位量と許容下限変位量との間に変位
量検出手段によって検出した変位量があるか否かを判別
する判別手段と、判別手段からの判別出力に基づく表示
をする表示手段とを備えたことを特徴とする抵抗溶接
機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13732292A JPH05329661A (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | 抵抗溶接機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13732292A JPH05329661A (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | 抵抗溶接機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05329661A true JPH05329661A (ja) | 1993-12-14 |
Family
ID=15195973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13732292A Pending JPH05329661A (ja) | 1992-05-28 | 1992-05-28 | 抵抗溶接機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05329661A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5973287A (en) * | 1997-06-12 | 1999-10-26 | Yazaki Corporation | Resistance welding method and apparatus used in the method |
| US5977508A (en) * | 1997-06-12 | 1999-11-02 | Yazaki Corporation | Resistance welding method and apparatus used in the method |
-
1992
- 1992-05-28 JP JP13732292A patent/JPH05329661A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5973287A (en) * | 1997-06-12 | 1999-10-26 | Yazaki Corporation | Resistance welding method and apparatus used in the method |
| US5977508A (en) * | 1997-06-12 | 1999-11-02 | Yazaki Corporation | Resistance welding method and apparatus used in the method |
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