JPH05326796A - 半導体装置用パッケージ - Google Patents

半導体装置用パッケージ

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JPH05326796A
JPH05326796A JP4155854A JP15585492A JPH05326796A JP H05326796 A JPH05326796 A JP H05326796A JP 4155854 A JP4155854 A JP 4155854A JP 15585492 A JP15585492 A JP 15585492A JP H05326796 A JPH05326796 A JP H05326796A
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JP
Japan
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semiconductor device
leads
package
lead
sealed
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JP4155854A
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English (en)
Inventor
Hisayasu Sato
久恭 佐藤
Hiroshi Shinohara
尋史 篠原
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

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  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 収容される半導体装置の放熱効果を高めるこ
とができる半導体装置用パッケージを得ることを目的と
する。 【構成】 半導体装置1がダイボンドされる導体板7の
一部を封止材5の外部にまで導出し、該導体板7でもっ
てリードを構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は半導体装置用パッケー
ジに関し、特に、放熱効果が向上した半導体装置用パッ
ケージに関するものである。
【0002】
【従来の技術】図8は従来の内部に半導体装置が封止さ
れた半導体パッケージの外観を示す斜視図であり、ま
た、図9は図8に示したパッケージ内の構造を示す断面
図である。これらの図において、1は集積回路が形成さ
れた半導体装置、2は半導体装置1が接合されるダイボ
ンドエリアを構成するアルミナ等からなる導体板、3は
半導体装置1に接続される側の内部リード3aと図示し
ない外部装置に接続される側の外部リード3bとからな
るリード、4は半導体装置1と内部リード3aとを電気
的に接続する金属細線、5はダイボンドエリア2上に搭
載された半導体装置1,内部リード3a及び金属細線4
を樹脂封止する封止材である。ここで、リード3は、通
常、図に示すように、等間隔に複数配置され、それぞれ
のリードが同じ形状及び同じ断面積を有している。
【0003】このようなパッケージで封止された半導体
装置1は、リード3を介して図示しない外部装置との間
で信号の授受が行われ、また、図示しない電源から電源
の供給を受けて、所望の動作が行われる。そして、この
間の半導体装置1への通電によって生じる発熱は通常、
パッケージの表面部、即ち、封止材5及び外部リード3
bを介して放熱される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の半導体装置用パ
ッケージは以上のように構成され、パッケージ内で動作
する半導体装置で発生する熱が、パッケージの表面部、
即ち、封止材5表面と外部リード3bから外部に放熱さ
れるようになっている。しかしながら、近年、半導体装
置が高集積化及び高速化されるにつれて、半導体装置に
おける発熱量が増加し、上記のような従来パッケージの
構造では、半導体装置からの発熱を十分に外部に放熱で
きず、パッケージ内の半導体装置の温度が上昇し、装置
特性の劣化ひいては半導体装置の破壊を招くという問題
点を生じていた。特に、上記のような封止材が樹脂にて
構成されたパッケージは、セラミックパッケージに比べ
てパッケージ内部の熱抵抗が大きく、半導体装置で発生
した熱が外部に向けて効率よく導出されず、上記問題点
が一層顕著にあらわれていた。
【0005】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたもので、従来に比べて放熱効果を向上
できる半導体装置用パッケージを得ることを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる半導体
装置用パッケージは、互いに絶縁されて配置される複数
のリードを、少なくとその太さもしくは幅が互いに異な
る2種以上のリードによって構成したものである。
【0007】更に、この発明にかかる半導体装置用パッ
ケージは、半導体装置が搭載されるダイボンドエリアを
構成する導体板の一部を封止材の外部にまで導出し、こ
れをリードとして用いるようにしたものである。
【0008】更に、この発明にかかる半導体装置用パッ
ケージは、互いに絶縁されて配置される複数のリードの
それぞれの外部リードの幅を、内部リードの幅より広く
形成したものである。
【0009】更に、この発明にかかる半導体装置用パッ
ケージは、その幅が上記内部リードの幅より広く形成さ
れた上記外部リードのリード平面を、複数のリードが併
設される方向に対して垂直となるように成形したもので
ある。
【0010】更に、この発明にかかる半導体装置用パッ
ケージは、半導体装置が搭載されるダイボンドエリアを
構成する導体板の一部を封止材の外部にまで導出し、こ
れを封止材の上面にてフィン状に折り曲げるようにした
ものである。
【0011】
【作用】この発明においては、パッケージのリードとし
て従来に比べてその太さ或いは幅が大きいリードを用い
るようにしたから、半導体装置で発生した熱が効率良く
リードに導いかれて、パッケージ内の熱抵抗を下げるこ
とができ、しかも、外部リードにおける放熱面積を拡大
することができる。
【0012】更に、この発明においては、半導体装置が
搭載される導体板の一部をパッケージ外部に導出して、
これをリードとして構成するようにしたから、半導体装
置で発生した熱を、この外部に導出される導体板を通し
て外部に効率よく放熱することができる。
【0013】更に、この発明においては、複数のリード
のそれぞれの外部リードの幅を、内部リードの幅より広
く形成したから、外部リードにおける放熱面積を拡大す
ることができる。
【0014】更に、この発明においては、その幅が上記
内部リードの幅より広く形成した上記外部リードのリー
ド平面を、リードが併設される方向に対して垂直に成形
したから、隣接するリード間を接触させることなく、外
部リードの幅を一層広くでき、外部リードにおける放熱
面積を一層拡大することができる。
【0015】更に、この発明においては、半導体装置が
搭載される導体板を封止材の外部にまで導出し、これを
封止材の上面で折り曲げてフィン状に成形したから、半
導体装置で発生した熱を外部に効率よく導出でき、しか
も、フィン状部において効率よく放熱される。
【0016】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1は、この発明の第1の実施例による内部に半
導体装置が封止された4方向フラットパッケージ(以
下、QFP型パッケージと称す。)の構造を示す外観斜
視図であり、図において、図8,9と同一符号は同一ま
たは相当する部分を示し、6は従来のリード3よりもそ
の幅を広く形成した幅広リード、6bは外部リードであ
る。ここで、リード3,幅広リード6は図9に示した従
来のパッケージと同様に、封止材の内部で半導体装置と
金属細線にて接続されている。
【0017】このような本実施例のQFP型パッケージ
では、幅広リード6はパッケージ内部で、半導体装置に
対して広い面積をもって接するため、半導体装置で発生
する熱が効率よくリード6に導かれ、パッケージ内の熱
抵抗を下げることができ、しかも、リード6における外
部リード6bの放熱面積が拡大し、放熱効果を高めるこ
とができる。
【0018】尚、この幅広リード6を半導体装置への電
源供給用リードとして使用すれば、電源電流による電圧
降下が小さく、半導体装置を一層の安定して動作するこ
とができる。
【0019】次に、この発明の第2の実施例を図につい
て説明する。図2は、この発明の第2の実施例による内
部に半導体装置が封止されたQFP型パッケージの構造
を示す外観斜視図であり、図3は、図2のパッケージの
内部を示す上面図である。これらの図において、図8,
9と同一符号は同一または相当する部分を示し、7はダ
イボントエリアからその端部がパッケージの外部まで導
出されるように形成された導体板である。図2に示す状
態は、図3に示す状態の後、樹脂封止を行い、リード3
及び導体板からなるリード7を所定の形状に折り曲げた
ものである。ここで、導体板7はリードとして使用され
る。
【0020】このような本実施例のQFP型パッケージ
では、半導体装置がダイボンドされる導体板7がダイボ
ンドエリアからパッケージ外部にのびるように形成され
てリード7として用いられるため、半導体装置1で発生
する熱がこの導体板7を通して外部に導出されることか
ら、パッケージ内の熱抵抗を小さくでき、しかも、リー
ド7によって放熱面が拡大するため、半導体装置1から
の熱を効率よく外部に放熱することができる。
【0021】図4は、上記第2の実施例と同様に、半導
体装置が搭載されるダイボントエリアからその端部がパ
ッケージの外部まで導出されるように形成した導体板7
をリード7として用いた本発明の第3の実施例によるD
IP(デュアル・インライン・パッケージ)型の半導体
装置用パッケージを示す外観斜視図であり、このDIP
型の半導体装置用パッケージにおいても、上記第2の実
施例と同様の効果を得ることができる。
【0022】次に、この発明の第4の実施例を図につい
て説明する。図5は、この発明の第4の実施例によるQ
FP型パッケージの構造を示す外観斜視図であり、図に
おいて、図1と同一符号は同一または相当する部分を示
し、9(9b)はリード(外部リード)である。このパ
ッケージの内部構造は図9に示した従来のパッケージと
基本的に同じである。そして、複数のリード9の個々の
外部リード9bのリード平面が、封止材5の外部におい
て、複数のリード9が併設する方向に対して垂直方向に
折り曲げられ、そのリード平面の幅が拡げられている。
【0023】このような本実施例の4方向フラットパッ
ケージでは、複数のリード9の個々の外部リード9b
が、そのリード平面が複数のリード9が併設される方向
に対して垂直方向となるように折り曲げられ、且つ、幅
広に形成さているので、隣接するリード9間が接触する
ことなく、外部リードの幅を上記第1の実施例による幅
広のリード6に比べてその幅を広げることができ、より
一層放熱効果を高めることができる。
【0024】次に、この発明の第5の実施例を図につい
て説明する。図6は、この発明の第5の実施例によるQ
FP型パッケージの構造を示す外観斜視図であり、図に
おいて、図1と同一符号は同一または相当する部分を示
し、8は封止材5の内部の図示しない半導体装置のダイ
ボント領域から封止材5の外部に導出してフィン状に成
形された導体板である。
【0025】このような本実施例の4方向フラットパッ
ケージでは、半導体装置1で発生する熱がこの導体板8
を通して外部に導出されることから、パッケージ内の熱
抵抗を小さくでき、しかも、導体板8のフィン状部によ
って放熱面積が拡大され、放熱効果を向上させることが
できる。
【0026】次に、この発明の第6の実施例を図につい
て説明する。図7は、この発明の第6の実施例によるQ
FP型パッケージの構造を示す外観斜視図であり、図に
おいて、図1と同一符号は同一または相当する部分を示
し、8aは封止材5の内部の図示しない半導体装置のダ
イボント領域から封止材5の外部に導出してフィン状に
成形した導体板である。ここで、導体板8aは複数回折
り曲げられた構造に成形されている。
【0027】このような本実施例の4方向フラットパッ
ケージでは、導体板8aが封止材のの上面で、複数回折
り曲げられており、上記第5の実施例によるパッケージ
のフィン状の導体板8よりも、放熱面積が一掃拡大し、
一層放熱効果を向上させることができる。
【0028】尚、上記実施例は何れも、樹脂封止型のパ
ッケージであるが、本発明はセラミック等の他の材料に
よって封止されるパッケージにおいても適用できること
は言うまでもない。
【0029】また、上記何れの実施例においても、半導
体装置とリードの接続は金属細線を用いているが、テー
プ状リードを用いて接合してもよい。
【0030】また、上記実施例ではQFP型,DIP型
のパッケージについて説明したが、他の型のパッケージ
にも適用でき、上記実施例と同様の効果を得ることがで
きる。
【0031】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、複数
のリードを、少なくとその太さもしくは幅が互いに異な
る2種以上のリードによって構成したので、パッケージ
内におけるの熱抵抗が下がり、且つ、外部リードの放熱
面積が拡大することから、半導体装置からの発熱を効率
よく放熱でき、半導体装置の破壊及び動作特性の劣化を
防止できる効果がある。
【0032】更に、この発明によれば、電源供給用リー
ドの太さもしくは幅を、外部装置との信号の授受を行う
リードのそれよりも大きくしたので、電源電流による電
圧降下を小さくでき、半導体装置を一層の安定に動作さ
せることができる。
【0033】更に、この発明によれば、半導体装置がダ
イボンドされる導体板の一部を封止材から外部に導出
し、該導出した導体板でもって、半導体装置と外部の装
置または電源とを接続するリードを構成したので、半導
体装置の発熱が該リードを通して外部に導出されて、効
率よく放熱し、半導体装置の破壊及び動作特性の劣化を
防止できる効果がある。
【0034】更に、この発明によれば、複数のリードの
外部リード部を、そのリード平面が該複数のリードが併
設される方向に対して垂直方向となるように成形したの
で、隣接するリード間を接触させることなく、各リード
の外部リード部の幅(放熱面積)を拡大でき、その結
果、半導体装置からの発熱が効率よく放熱されて、半導
体装置の破壊及び動作特性の劣化を防止できる効果があ
る。
【0035】更に、この発明によれば、半導体装置がダ
イボンドされる導体板の一部が封止材から外部に導出さ
れ、該封止部材の上方においてフィン状に折り曲げるよ
うにしたので、半導体装置の発熱が上記導体板を通して
外部に導出し、フィン状部で効率良く放熱されるため、
半導体装置の破壊及び動作特性の劣化を防止できる効果
がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施例によるQFP型パッケ
ージの構造を示す外観斜視図である。
【図2】この発明の第2の実施例によるQFP型パッケ
ージの構造を示す外観斜視図である。
【図3】図2のQFP型パッケージの内部を示す上面図
である。
【図4】この発明の第3の実施例によるDIP型パッケ
ージの構造を示す外観斜視図である。
【図5】この発明の第4の実施例によるQFP型パッケ
ージの構造を示す外観斜視図である。
【図6】この発明の第5の実施例によるQFP型パッケ
ージの構造を示す外観斜視図である。
【図7】この発明の第6の実施例によるQFP型パッケ
ージの構造を示す外観斜視図である。
【図8】従来の半導体装置用パッケージの構造を示す外
観斜視図である。
【図9】図8の半導体装置用パッケージの内部構造を示
す断面図である。
【符号の説明】
1 半導体装置 2 導体板 3 リード 3a 内部リード 3b 外部リード 4 金属細線 5 封止材 6 幅広のリード 6b 外部リード 7 導体板 8,8a 導体板

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 その内部に半導体装置を収容し、該半導
    体装置と、該半導体装置を外部の装置または電源に電気
    的に接続するための互いに絶縁された複数のリードとを
    封止材にて封止するパッケージにおいて、 上記複数のリードを、少なくとその太さもしくは幅が互
    いに異なる2種以上のリードによって構成したことを特
    徴とする半導体装置用パッケージ。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の半導体装置用パッケー
    ジにおいて、 電源供給用リードの太さもしくは幅が、外部装置との信
    号の授受を行うリードのそれよりも大きいことを特徴と
    する半導体装置用パッケージ。
  3. 【請求項3】 その内部に半導体装置を収容し、該半導
    体装置と、該半導体装置を外部の装置または電源に電気
    的に接続するための互いに絶縁された複数のリードとを
    封止材にて封止するパッケージにおいて、 上記半導体装置がダイボンドされる導体板の一部が上記
    封止材から外部に導出され、該導出された導体板でもっ
    て、上記半導体装置と外部の装置または電源とを接続す
    るリードを構成したことを特徴とする半導体装置用パッ
    ケージ。
  4. 【請求項4】 その内部に半導体装置を収容し、該半導
    体装置と、該半導体装置を外部の装置または電源に電気
    的に接続するための互いに絶縁された複数のリードとを
    封止材にて封止するパッケージにおいて、 上記複数のリードの上記封止材から外部に導出される外
    部リード部が、そのリード平面が該複数のリードが併設
    される方向に対して垂直方向となるようにねじられてい
    ることを特徴とする半導体装置用パッケージ。
  5. 【請求項5】 その内部に半導体装置を収容し、該半導
    体装置と、該半導体装置を外部の装置または電源に電気
    的に接続するための互いに絶縁された複数のリードとを
    封止材にて封止するパッケージにおいて、 上記半導体装置がダイボンドされる導体板の一部が上記
    封止材から外部に導出され、該該封止部材の上方におい
    てフィン状に折り曲げられていることを特徴とする半導
    体装置用パッケージ。
JP4155854A 1992-05-21 1992-05-21 半導体装置用パッケージ Pending JPH05326796A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6175150B1 (en) 1997-04-17 2001-01-16 Nec Corporation Plastic-encapsulated semiconductor device and fabrication method thereof
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