JPH05323039A - 放射線検査装置 - Google Patents

放射線検査装置

Info

Publication number
JPH05323039A
JPH05323039A JP12835192A JP12835192A JPH05323039A JP H05323039 A JPH05323039 A JP H05323039A JP 12835192 A JP12835192 A JP 12835192A JP 12835192 A JP12835192 A JP 12835192A JP H05323039 A JPH05323039 A JP H05323039A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
image
ray
inspection object
conveyor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12835192A
Other languages
English (en)
Inventor
Teruo Yamamoto
輝夫 山本
Takeo Tsuchiya
武雄 土屋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP12835192A priority Critical patent/JPH05323039A/ja
Publication of JPH05323039A publication Critical patent/JPH05323039A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Controlling Sheets Or Webs (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】設置面積を増やすことなく、鮮明な画像を得る
ことができる放射線検査装置を得ること。 【構成】X線管1の片側に、第1のX線走査機構を構成
する、回転円板5A,コリメータ9A,散乱X線検出器
6Aと透過X線検出器11Aを配置する。X線管1の他側
には、第2のX線走査機構を構成する、回転円板5B,
コリメータ9B,散乱X線検出器6Bと透過X線検出器
11Bを配置する。コンベア12A1,12A2とコンベア12
B1,12B2の間には、姿勢変更装置としてのアーム10
bを設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、放射線検査装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の放射線検査装置のなかには、例え
ば、特開昭63-25537号公報に記載されたX線作像装置の
ように、散乱X線画像化法によるものがある。図4は、
この散乱X線画像化法による空港の放射線検査装置を示
す説明図である。
【0003】図4において、X線管1から円錐状に放射
されたX線ビーム2は、直線コリメータ3の中央部に縦
に形成された溝3aを通過し、帯状のX線ビーム4とな
って回転円板5の中心部の図4において左側に入射され
る。この回転円板5には、中心部から放射状の溝5aが
等間隔に形成され、矢印Eに示すように反時計方向に回
転駆動されている。したがって、X線ビーム4は、溝5
aを通過すると線状ビームとなって、散乱X線検出器6
の中央部に縦に形成された溝6aを通過し、更に細いX
線ビーム8となってコンベア12の検査物としての鞄7A
に照射される。すると、このX線ビーム8の一部は、鞄
7Aを透過しスポットX線8aとなって、透過X線検出
器11に入射し、他は鞄7Aで反射され、後方散乱X線8
bとなって、散乱X線検出器6に入射する。
【0004】一方、回転円板5の溝5aから散乱X線検
出器6の溝6aを通過したX線ビーム8は、矢印E方向
に回転する回転円板5とともに、X線ビーム4を上下に
横切る溝5aによって、溝6aを上下に移動して鞄7A
に走査される。この鞄7Aを上下に走査するX線ビーム
8は、鞄7Aがコンベア12とともにX線ビーム8に対し
て直交方向に移動するので、鞄7Aに対してはコンベア
12の移動方向と逆の方向に移動する。
【0005】このように構成された放射線検査装置にお
いては、鞄7Aの内部に、もし、プラスチック爆弾や麻
薬などが入っていると、低原子番号の物質ほど後方散乱
X線8bが増えるX線の性質を利用して、空港において
輸入禁止品を検査することができる。また、逆に、スポ
ットX線8aを検出した透過X線検出器11により、鞄7
Aの内部の金属製の凶器の有無も検査することができ
る。次に、図5は、従来の放射線検査装置の具体的構成
例を示す斜視図及び制御ブロック図、図6は、図5の矢
印F1方向から見た部分縦断面拡大図である。
【0006】図5及び図6において、X線管1から放射
された円錐状のX線ビーム2は、図示しない直線コリメ
ータを経て、X線ビームの走査機構を構成する回転円板
5の中心5bから放射状に90°間隔に形成された溝5a
を通過して、回転円板5に従って回転の中心5bを軸に
回転する帯状のX線ビーム4を形成する。このX線ビー
ム4は、次に通過するコリメータ9の溝9aを通過する
ときに、X線ビーム4と溝9aの交点9bの部分だけが
通過し点状に絞られて、溝9aに沿って上下方向に直線
移動する細いX線ビーム8となる。
【0007】このX線ビーム8は、回転円板5の回転に
従って検査物となる瓶7Dに上下に走査され、この瓶7
Dを透過したX線は、透過X線検出器11にスポットX線
8aとして入射する。透過X線検出器11のX線入射面に
は、X線を可視光に変換し更に電気信号に変換するX線
センサが配置されている。矢印F2に示すように駆動さ
れるコンベア12の上に載置された検査体としての瓶7D
に入射するX線ビーム8は、コンベア12が矢印F2の方
向に移動することで、上下に走査しながら矢印F2と反
対方向に瓶7Dを移動する。したがって、X線ビーム8
は、X線管1の入射方向から瓶7Dの全面に照射され
る。
【0008】一方、瓶7Dに照射されたX線ビーム8の
うちの一部は、後方散乱X線8bとなって後方に散乱反
射され、コリメータ9の側面に立設された散乱X線検出
器6に入射し、電気信号に変換される。したがって、こ
の電気信号は、瓶7DのX線ビーム8の反射X線による
画像信号となる。この画像信号は、上述のX線スポット
8aから変換された電気信号と同様に、瓶7Dのある直
線走査線上の投影像でしかないが、コンベア12とともに
瓶7Dが移動することで、この瓶7Dの全体のX線散乱
像による画像信号となる。
【0009】コンベア12の端部の回転軸には、瓶7Dの
移動距離を検出するためのエンコーダ55Aが連結され、
このエンコーダ55Aの出力信号は、AD変換器56Aに入
力される。また、回転円板5の外周にも、エンコーダ55
Bがアイドル歯車を介して連結され、このエンコーダ55
Bの出力信号も、AD変換器56Aに入力される。したが
って、瓶7Dに入射したX線ビーム8の位置は、これら
のエンコーダ55A,55BからAD変換器56Aに入力され
た信号で求められる。この位置信号と、透過X線検出器
11及び散乱X線検出器6からAD変換器56Aに入力され
た画像信号は、AD変換器56A,56BでそれぞれAD変
換された後、記憶回路57に入力され逐次記憶される。さ
らに、この記憶回路57の内部に順に記憶された瓶7Dの
X線画像は、制御回路59からの指令で読み出され、表示
装置58の画面に表示される。
【0010】ところで、周知のように、検査物にX線を
照射するときには、図7の説明図に示すように、検査物
となる鞄7Aや瓶7Dの入射面近くのP点で発生した後
方散乱X線8b1の方が、裏面方向のQ点で発生した後
方散乱X線8b2よりも強い。なぜならば、X線ビーム
8は、検査物の内部を進むに従って減衰し、後方散乱X
線8b1,8b2も、検査物の中から後方に出てくると
きに減衰するが、P点の方が、Q点よりも走査面に近い
ので、後方散乱X線8b1の減衰量の方が少ないからで
ある。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】したがって、このよう
に構成された放射線検査装置においては、図7のQ点で
示す位置に、もし、麻薬やニトロメタンなどの爆薬が隠
されていたときには、減衰する後方散乱X線8b2のた
めに表示装置の画像が不鮮明となって検出できなくなる
おそれがある。
【0012】そのため、図8に示すように、コンベア12
の両側にX線管を配置して、検査物の内部の麻薬や爆薬
を検査する方法も考えられる。すなわち、この方法は、
矢印Gの方向に駆動されるコンベア12の上流側の片側
に、X線管1Aと、このX線管1Aから放射されたX線
を帯状から線状に形成する直線コリメータ3A及び,回
転円板5Aと、後方散乱X線を検出する散乱X線検出器
6Aと配置する。一方、コンベア12の下流側の他側に
は、X線管1Bと、このX線管1Bから放射されたX線
を帯状から線状に形成する直線コリメータ3B及び回転
円板5Bと、後方散乱X線を検出する散乱X線検出器6
Bを配置する。
【0013】さらに、コンベア12の上流側には、このコ
ンベア12を挾んで散乱X線検出器6Aと対向するよう
に、透過X線検出器11を配置し、この透過X線検出器11
と、散乱X線検出器6A,6Bの検出信号を画像構成ユ
ニット52に入力し、この画像構成ユニット52の出力を、
透過X線画像モニタ53と散乱X線画像モニタ54に入力し
表示して、麻薬などを検査しようとするものである。
【0014】ところが、この方法は、もし、麻薬が検査
物の片側に隠されていても、片側から走査されたX線の
後方散乱X線で検出することができる反面、コンベア12
の両側に放射線検査装置を設置することになるので、価
格が上るだけでなく、設置面積が増えて実用化できな
い。そこで、本発明の目的は、外形と設置面積と価格を
抑え、鮮明な画像を得ることのできる放射線検査装置を
得ることである。
【0015】
【課題を解決するための手段】第1の発明は、一つの放
射源から二方向に放射された放射線をビームとして検査
物に繰り返し走査する放射線走査手段と、検査物を透過
したビームを電気信号に変換する透過放射線検出手段
と、検査物から反射したビームを電気信号に変換する散
乱放射線検出手段と、ビームを横切るように検査物を移
動させる搬送手段と、検査物のビーム入射面を反転する
姿勢変更手段と、透過放射線検出手段と散乱放射線検出
手段から送られた各電気信号から検査物の画像を構成す
る画像構成手段と、この画像構成手段から画像信号が入
力され検査物の透過放射線画像を表示する透過画像表示
手段と、画像構成手段から画像信号が入力され検査物の
散乱放射線画像を表示する散乱画像表示手段とよりなる
放射線検査装置である。
【0016】また、第2の発明は、一つの放射源から二
方向に放射された放射線をビームとして検査物に繰り返
し走査する放射線走査手段と、検査物を透過したビーム
を電気信号に変換する透過放射線検出手段と、検査物か
ら反射したビームを電気信号に変換する散乱放射線検出
手段と、ビームを横切るように検査物を移動させる搬送
手段と、検査物のビーム入射面を反転する姿勢変更手段
と、透過放射線検出手段と散乱放射線検出手段から送ら
れた各電気信号から検査物の画像を構成する画像構成手
段と、この画像構成手段から画像信号が入力され検査物
の透過放射線画像を表示する透過画像表示手段と、画像
構成手段から画像信号が入力され検査物の散乱放射線画
像を表示する散乱画像表示手段とよりなり、二方向の放
射線を放射状としたことを特徴とする放射線検査装置で
ある。
【0017】さらに、第3の発明は、一つの放射源から
二方向に放射された放射線をビームとして検査物に繰り
返し走査する放射線走査手段と、検査物を透過したビー
ムを電気信号に変換する透過放射線検出手段と、検査物
から反射したビームを電気信号に変換する散乱放射線検
出手段と、ビームを横切るように検査物を移動させる搬
送手段と、検査物のビーム入射面を反転する姿勢変更手
段と、透過放射線検出手段と散乱放射線検出手段から送
られた各電気信号から検査物の画像を構成する画像構成
手段と、この画像構成手段から画像信号が入力され検査
物の透過放射線画像を表示する透過画像表示手段と、画
像構成手段から画像信号が入力され検査物の散乱放射線
画像を表示する散乱画像表示手段とよりなり、二方向の
放射線のビームを同一直線上の逆向きとしたことを特徴
とする放射線検査装置である。
【0018】
【作用】第1の発明においては、二方向に放射された放
射線の片側のビームは、検査物の片面側から走査され、
姿勢変更手段で反転された検査物の他面側には、二方向
に放射された放射線の他側のビームが走査される。
【0019】また、第2の発明においては、二方向の放
射状に放射された放射線の片側のビームは、検査物の片
面側から走査され、姿勢変更手段で反転された検査物の
他面側には、二方向の放射状に放射された放射線の他側
のビームが走査される。
【0020】さらに、第3の発明においては、同一直線
上の逆向きに放射された放射線の片側のビームは、検査
物の片面側から走査され、姿勢変更手段で反転された検
査物の他面側には、同一直線上の逆向きに放射された放
射線の他側のビームが走査される。
【0021】
【実施例】以下、第1及び第2の発明の一実施例を図面
を参照して説明する。図1は、第1及び第2の発明の放
射線検査装置を示す斜視図で図5に対応する図である。
【0022】図1において、X線管1の下方には、コン
ベア12A1,12A2の端部に、姿勢変更装置10を挾んで
コンベア12B1,12B2が接続されている。X線管1と
コンベア12A1,12A2,12B1,12B2の接続部の間
には、X線管1の下方に図示しない一対の直線コリメー
タが設けられ、これらの各コリメータの直下には、回転
円板5A,5Bが、X線管1から放射されるX線ビーム
2と直交するように傾斜させて配置されている。
【0023】回転円板5A,5Bの下部には、直線コリ
メータ9A,9Bが配置され、この直線コリメータ9
A,9Bの外側には、散乱X線検出器6A,6Bが設け
られている。コンベア12A1,12A2の端部とコンベア
12B1,12B2の端部には、矢印A1で示すように左側
から送られてきた鞄7Aと、コンベア12A1,12A2で
片側からの検査を終えた鞄7Bが載置されている。
【0024】姿勢変更装置10の中間部には、この姿勢変
更装置10の動作の軸となるピン10cが固定され、姿勢変
更装置10の先端には、アーム10bが設けられ、基端には
油圧シリンダ10aのロッドの端部が連結されている。次
に、このように構成された放射線検査装置の作用を説明
する。
【0025】X線管1から放射された円錐状のX線ビー
ム2の一部は、図示しない直線コリメータを経て第1の
X線ビームの走査機構を構成する回転円板5Aに形成さ
れた溝5aを通過して、回転円板5Aの回転中心5bを
軸に回転円板5Aとともに回転するX線ビームを形成す
る。
【0026】このX線ビームは、次のコリメータ9Aに
形成された図示しない溝を通過するときに、この溝との
交点の部分だけが通過した点状に絞られて、コリメータ
9Aの溝に沿って直線移動する第1の細い線状のX線ビ
ーム8Aとなる。このX線ビーム8Aは、矢印A1方向
から搬送されてきた試験体となる鞄7Aに走査され、こ
の鞄7Aを透過した放射線は、透過X線検出器11AのX
線画像投影面に入射される。一方、鞄7Aからの後方散
乱X線は、第1の散乱X線検出器6Aで検出され、電気
信号に変換されて、図2で後述する図示しないAD変換
器を経て、記憶装置に記憶される。
【0027】このようにして、第1のX線ビームの走査
機構で検査された鞄7Aは、コンベア12A1,12A2で
更に送られると、姿勢変更装置10の油圧シリンダ10aで
揺動されるアーム10bによって反対側に反転されて、鞄
7Bが矢印A2の方向に搬送された後のコンベア12B
1,12B2上で停止し、第2のX線ビームの走査機構で
第1のX線ビームの走査方向と反対方向から走査され
る。
【0028】すなわち、X線管1から放射された円錐状
のX線ビーム2の一部は、図示しない直線コリメータを
経て第2のX線ビームの走査機構を構成する回転円板5
Bに形成された溝5aを通過して、回転円板5Bの回転
中心5bを軸に回転円板5Bとともに回転するX線ビー
ムを形成する。
【0029】このX線ビームは、次のコリメータ9Bに
形成された図示しない溝を通過するときに、この溝との
交点の部分だけが通過し点状に絞られて、コリメータ9
Bの溝に沿って直線移動する第2の細い線状のX線ビー
ム8Bとなる。このX線ビーム8Bは、コンベア12A
1,12A2から搬送されてきた試験体となる鞄7Aに走
査され、この鞄7Aを透過した放射線は、透過X線検出
器11BのX線画像投影面に入射される。一方、鞄7Aか
らの後方散乱X線は、第2の散乱X線検出器6Bで検出
され、電気信号に変換されて、図2で後述する図示しな
いAD変換器を経て、記憶装置に記憶される。
【0030】このようにして、第1,第2のX線ビーム
の走査機構で両側面を順に走査され内部を検査された鞄
7Aは、矢印A2に示すようにコンベア12B1,12B2
の下流側に搬送され、次の検査物がコンベア12A1,12
A2で搬送されて、上記検査が繰り返される。
【0031】したがって、このように構成された放射線
検査装置においては、1個のX線管から放射されたX線
を第1,第2のX線ビームの走査機構と姿勢変更装置に
よって、検査物の両側からX線ビームを走査し、両側か
らの後方散乱X線で散乱画像を表示するようにしたの
で、検査装置の価格と設置床面積の増加を最小限に抑え
ることができる。
【0032】なお、上記実施例において、鞄7Aの姿勢
の変更を行う姿勢変更装置10は、アーム10bとこのアー
ム10bを駆動する油圧シリンダ10aで構成したときで説
明したが、姿勢変更装置10を省いてコンベア12A,12B
を反転させる構成としてもよい。次に、第3の発明の一
実施例を図面を参照して説明する。図2は、第3の発明
の放射線検査装置を示す平面図で、図8に対応する図面
である。
【0033】図2においては、コ字状に形成された搬送
コンベアの中央部にX線管11が配置されている。このう
ち、搬送コンベアは、矢印B1に示すように右方向に駆
動される第1コンベア16Aと、この第1コンベア16Aと
対置され矢印B3に示すように左方向に駆動される第2
のコンベア16Bと、これらの第1コンベア16A,第2コ
ンベア16Bの右側に設けられた連結コンベア16Cと、第
1コンベア16Aと連結コンベア16Cの片側の間に設けら
れた方向転換コンベア19Aと、第2コンベア16Bと連結
コンベア16Cの他側の間に設けられた方向転換コンベア
19Bで構成している。
【0034】このうち、方向転換コンベア19A,19Bに
は、複数のローラ19a,19bが格子状に設けられてい
る。また、第1コンベア16Aには、前コンベア20Aから
搬送されてきた鞄7Aが搬送状態で載置され、連結コン
ベア16Cには、後述する第1の走査機構で片側からX線
ビーム15Aが照射されて内部が片側から検査された鞄7
Bが転換コンベア19Aを経て搬送状態で載置されてい
る。一方、第2コンベア16Bには、連結コンベア16Cか
ら転換コンベア19Bから送られてきた鞄7Cが後述する
第2の走査機構でX線ビーム15Bが照射されている。
【0035】X線管11には、第1コンベア16Aと対向す
る面と第2コンベア16Bと対向する面に放射口が設けら
れている。このうち、第1コンベア16A側には、直線コ
リメータ13Aが、第2コンベア16B側には直線コリメー
タ13Aと同一品の直線コリメータ13Bが対称的に設けら
れている。このうち、直線コリメータ13Aの第1コンベ
ア16Aの側には、回転円板14Aが、直線コリメータ13B
の第2コンベア16B側には回転円板14Aと同一品の回転
円板14Bが偏心して対称的に配設されている。回転円板
14Aと第1コンベア16Aの間には、後方散乱X線検出器
18Aが、回転円板14Bと第2コンベア16Bの間には、後
方散乱X線検出器18Bが互いに対称的に立設されてい
る。この結果、X線管11の第1コンベア16A側から後方
散乱X線検出器18Aまでの機器で、第1のX線ビームの
走査機構を形成し、X線管11の第2コンベア16B側から
後方散乱X線検出器18Bまでの機器で、第2のX線ビー
ムの走査機構を形成している。
【0036】第1コンベア16Aの外側には、X線管11と
後方散乱X線検出器18Aの溝を結ぶ直線の延長上に、透
過X線検出器17が立設されている。この透過X線検出器
17の出力信号線と、後方散乱X線検出器18A,18Bの信
号線は、画像構成ユニット21に接続され、この画像構成
ユニット21の出力信号線は、透過線モニタ22及び散乱線
モニタ23に接続されている。
【0037】このように構成された放射線検査装置にお
いては、第1コンベア16Aで搬送されてきた鞄7Aは、
第1コンベア16Aの後方散乱X線検出器18Aと透過X線
検出器17を結ぶ線上に移動すると、図示しない位置検出
器の信号で第1コンベア16Aが停止する。このとき、第
2コンベア16Bに載置されて搬送される鞄7Cも、同時
にX線管11と後方散乱X線検出器18Bを結ぶ線の延長上
に搬送されるように、第1コンベア16A,転換コンベア
19A,19Bと連結コンベア及び第2コンベア16Bの速度
が設定され、これらの各コンベアは、同時に始動し、ま
た、同時に停止するように制御されている。
【0038】このように構成された放射線検査装置にお
いては、X線管11の片側から放射された円錐状のX線ビ
ーム12Aは、直線コリメータ13Aと回転円板14Aで線状
X線ビーム15Aとなって、後方散乱X線検出器18Aの溝
から鞄7Aに照射される。同じく、X線管11の他側から
放射された円錐状のX線ビーム12Bは、直線コリメータ
13Bと回転円板14Bで線状X線ビーム15Bとなって、後
方散乱X線検出器18Bの溝から鞄7Cに照射される。
【0039】第1コンベア16Aの中央部まで搬送された
鞄7Aは、第1のX線ビームの走査機構で、透過放射線
画像とC1側からの散乱放射線画像が透過線モニタ22と
散乱線モニタ23で検査画像が表示される。次に、この鞄
7Aは、第1コンベア16Aから転換コンベア19Aで連結
コンベア16Cに転送され、転換コンベア19Bを経てコン
ベア19Bに搬送される。この転換コンベア19Bで後方散
乱X線検出器18Bの前方に搬送され停止した鞄7Aは、
第2のX線ビームの走査機構で形成された線状X線ビー
ム15BがC2側に照射され、透過線モニタ22と散乱線モ
ニタ23で検査画像が表示される。
【0040】したがって、このように構成された放射線
検査装置においては、1個のX線管から放射されたX線
を第1,第2のX線ビームの走査機構と姿勢変更装置に
よって、検査物の両側からX線ビームを走査し、両側か
らの後方散乱X線で散乱画像を表示するようにしたの
で、検査装置の価格と設置床面積の増加を最小限に抑え
ることができる。
【0041】次に、図3は、第3の発明の放射線検査装
置の他の実施例を示す斜視図である。図3において、固
定された上部コンベア34Aの前後には、昇降駆動される
コンベア38A,38Bが配置され、上部コンベア34Aの下
方には、上部コンベア34Aと同一品の下部コンベア34B
が設けられている。
【0042】上下のコンベア34A,34Bの中間部には、
X線管11が設置され、このX線管11は、螺旋状の溝が
形成された筒状の回転コリメータ32の内部に収納され
ている。この回転コリメータ32の上下には、直線コリメ
ータ33A,33Bが対称的に配置され、これらの直線コリ
メータ33A,33Bの外側には、後方散乱X線検出器42
A,42Bが対称的に配置されている。
【0043】この結果、X線管11の上部から直線コリメ
ータ33Aまでの機器で、第1のX線ビームの走査機構を
構成し、X線管11の下部から直線コリメータ33Bまでの
機器で、第2のX線ビームの走査機構を形成している。
【0044】上部コンベア34Aの上方には、透過X線検
出器41が設けられ、上部コンベア34Aの上面には、矢印
D3で示すようにコンベア38Aから送られてきた検査物
40が載置されている。
【0045】このように構成された放射線検査装置にお
いては、X線管11から上下に放射されたX線は、回転コ
リメータ32の回転によって螺旋状の溝を通過してコンベ
ア34A,34Bの進行方向と傾斜した帯状となり、直線コ
リメータ33A,33Bの溝を通過してX線ビームとなる。
このX線ビームが照射された検査物40を透過したX線
は、透過X線検出器41で検出され、検査物40から反射し
たX線は、後方散乱X線検出器42Aで検出される。
【0046】次に、検査物40は上部コンベア34Aからコ
ンベア38Bに搬送され、矢印D2に示すこのコンベア38
Bの下降動作で下部コンベア34Bに移載され、上方から
線状X線ビームが照射されて、後方散乱X線検出器42B
で反射X線が検出される。
【0047】なお、上記実施例では、検査物を空港のコ
ンベアに載置されたときで説明したが、空港でなくて港
湾でもよく、コンベアによる搬送でなく他の移動機でも
よい。さらに鞄や瓶でなく、食料品でもよく、さらに動
物でも、低原子番号の検査対象物であれば特に有効であ
る。
【0048】
【発明の効果】以上、第1の発明によれば、一つの放射
源から二方向に放射された放射線をビームとして検査物
に繰り返し走査する放射線走査手段と、検査物を透過し
たビームを電気信号に変換する透過放射線検出手段と、
検査物から反射したビームを電気信号に変換する散乱放
射線検出手段と、ビームを横切るように検査物を移動さ
せる搬送手段と、検査物のビーム入射面を反転する姿勢
変更手段と、透過放射線検出手段と散乱放射線検出手段
から送られた各電気信号から検査物の画像を構成する画
像構成手段と、この画像構成手段から画像信号が入力さ
れ検査物の透過放射線画像を表示する透過画像表示手段
と、画像構成手段から画像信号が入力され検査物の散乱
放射線画像を表示する散乱画像表示手段とで、放射線検
査装置を構成することにより、二方向に放射された放射
線の片側のビームを、検査物の片面側から走査し、姿勢
変更手段で反転された検査物の他面側に、二方向に放射
された放射線の他側のビームを走査したので、外形と設
置面積を抑え、鮮明な画像を得ることのできる放射線検
査装置を得ることができる。
【0049】また、第2の発明によれば、一つの放射源
から二方向に放射された放射線をビームとして検査物に
繰り返し走査する放射線走査手段と、検査物を透過した
ビームを電気信号に変換する透過放射線検出手段と、検
査物から反射したビームを電気信号に変換する散乱放射
線検出手段と、ビームを横切るように検査物を移動させ
る搬送手段と、検査物のビーム入射面を反転する姿勢変
更手段と、透過放射線検出手段と散乱放射線検出手段か
ら送られた各電気信号から検査物の画像を構成する画像
構成手段と、この画像構成手段から画像信号が入力され
検査物の透過放射線画像を表示する透過画像表示手段
と、画像構成手段から画像信号が入力され検査物の散乱
放射線画像を表示する散乱画像表示手段とよりなり、二
方向の放射線を放射状としたことを特徴とし、二方向の
放射状に放射された放射線の片側のビームを、検査物の
片面側から走査し、姿勢変更手段で反転された検査物の
他面側には、二方向の放射状に放射された放射線の他側
のビームを走査したので、外形と設置面積を抑え、鮮明
な画像を得ることのできる放射線検査装置を得ることが
できる。
【0050】さらに、第3の発明によれば、一つの放射
源から二方向に放射された放射線をビームとして検査物
に繰り返し走査する放射線走査手段と、検査物を透過し
たビームを電気信号に変換する透過放射線検出手段と、
検査物から反射したビームを電気信号に変換する散乱放
射線検出手段と、ビームを横切るように検査物を移動さ
せる搬送手段と、検査物のビーム入射面を反転する姿勢
変更手段と、透過放射線検出手段と散乱放射線検出手段
から送られた各電気信号から検査物の画像を構成する画
像構成手段と、この画像構成手段から画像信号が入力さ
れ検査物の透過放射線画像を表示する透過画像表示手段
と、画像構成手段から画像信号が入力され検査物の散乱
放射線画像を表示する散乱画像表示手段とよりなり、二
方向の放射線のビームを同一直線上の逆向きとしたこと
を特徴とし、同一直線上の逆向きに放射された放射線の
片側のビームを、検査物の片面側から走査し、姿勢変更
手段で反転された検査物の他面側には、同一直線上の逆
向きに放射された放射線の他側のビームを走査したの
で、外形と設置面積を抑え、鮮明な画像を得ることので
きる放射線検査装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1,第2,第3の発明の放射線検査装置の一
実施例を示す斜視図。
【図2】第1,第2,第3の発明の放射線検査装置の他
の実施例を示す平面図。
【図3】第1,第2,第3の発明の放射線検査装置異な
る他の実施例を示す斜視図。
【図4】従来の放射線検査装置の一例を示す斜視図。
【図5】図4と異なる従来の放射線検査装置を示す斜視
図。
【図6】図5の放射線検査装置の部分拡大断面図。
【図7】従来の放射線検査装置の作用を示す説明図。
【図8】図4及び図5と異なる従来の放射線検査装置の
一例を示す図。
【符号の説明】
1,11…X線管、2,8A,8B,12A,12B…X線ビ
ーム、3,13A,13B…直線コリメータ、4,15A,15
B…X線ビーム、5A,5B,14A,14B…回転円板、
6A,6B…散乱X線検出器、7A,7B,7C…鞄、
9A,9B…コリメータ、10…姿勢変更装置、11A,11
B…透過X線検出器、16A…第1コンベア、16B…第2
コンベア、16C…連結コンベア、21…画像構成ユニッ
ト、22…透過線モニタ、23…散乱線モニタ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一つの放射源から二方向に放射された放
    射線をビームとして検査物に繰り返し走査する放射線走
    査手段と、前記検査物を透過した前記ビームを電気信号
    に変換する透過放射線検出手段と、前記検査物から反射
    した前記ビームを電気信号に変換する散乱放射線検出手
    段と、前記ビームを横切るように前記検査物を移動させ
    る搬送手段と、前記検査物の前記ビーム入射面を反転す
    る姿勢変更手段と、前記透過放射線検出手段と前記散乱
    放射線検出手段から送られた前記各電気信号から前記検
    査物の画像を構成する画像構成手段と、この画像構成手
    段から画像信号が入力され前記検査物の透過放射線画像
    を表示する透過画像表示手段と、前記画像構成手段から
    前記画像信号が入力され前記検査物の散乱放射線画像を
    表示する散乱画像表示手段とよりなる放射線検査装置。
  2. 【請求項2】 二方向の放射線を放射状としたことを特
    徴とする請求項1記載の放射線検査装置。
  3. 【請求項3】 二方向の放射線のビームを同一直線上の
    逆向きとしたことを特徴とする請求項1記載の放射線検
    査装置。
JP12835192A 1992-05-21 1992-05-21 放射線検査装置 Pending JPH05323039A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12835192A JPH05323039A (ja) 1992-05-21 1992-05-21 放射線検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12835192A JPH05323039A (ja) 1992-05-21 1992-05-21 放射線検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05323039A true JPH05323039A (ja) 1993-12-07

Family

ID=14982672

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12835192A Pending JPH05323039A (ja) 1992-05-21 1992-05-21 放射線検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05323039A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000033109A1 (en) * 1998-11-30 2000-06-08 American Science And Engineering, Inc. Fan and pencil beams from a common source for x-ray inspection
JP2006258499A (ja) * 2005-03-15 2006-09-28 Mie Tsuda Denki Sangyo Kk 非破壊検査装置、非破壊検査の検査方法及びホーン
JP2007532876A (ja) * 2004-04-09 2007-11-15 アメリカン・サイエンス・アンド・エンジニアリング・インク 一度に1つのみの供給源が放射線を発光することを確実にすることによって、複数の供給源を備える門形の後方散乱検査器におけるクロストークを排除すること
JP2009097966A (ja) * 2007-10-16 2009-05-07 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置
WO2009094835A1 (fr) * 2007-12-28 2009-08-06 Nuctech Company Limited Structure de support de bras et système d'imagerie à rayonnement équipé de la structure de support de bras
JP2014041147A (ja) * 2008-03-31 2014-03-06 Southern Innovation International Pty Ltd スクリーニング方法および装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000033109A1 (en) * 1998-11-30 2000-06-08 American Science And Engineering, Inc. Fan and pencil beams from a common source for x-ray inspection
JP2007532876A (ja) * 2004-04-09 2007-11-15 アメリカン・サイエンス・アンド・エンジニアリング・インク 一度に1つのみの供給源が放射線を発光することを確実にすることによって、複数の供給源を備える門形の後方散乱検査器におけるクロストークを排除すること
JP4689663B2 (ja) * 2004-04-09 2011-05-25 アメリカン サイエンス アンド エンジニアリング,インコーポレイテッド 一度に1つのみの供給源が放射線を発光することを確実にすることによって、複数の供給源を備える門形の後方散乱検査器におけるクロストークを排除すること
JP2006258499A (ja) * 2005-03-15 2006-09-28 Mie Tsuda Denki Sangyo Kk 非破壊検査装置、非破壊検査の検査方法及びホーン
JP2009097966A (ja) * 2007-10-16 2009-05-07 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置
WO2009094835A1 (fr) * 2007-12-28 2009-08-06 Nuctech Company Limited Structure de support de bras et système d'imagerie à rayonnement équipé de la structure de support de bras
JP2014041147A (ja) * 2008-03-31 2014-03-06 Southern Innovation International Pty Ltd スクリーニング方法および装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5247561A (en) Luggage inspection device
US4974247A (en) System for radiographically inspecting an object using backscattered radiation and related method
US10823686B2 (en) X-ray inspection method and X-ray inspection device
JP3105476B2 (ja) 多重角度予備選別断層撮影装置及び方法
EP2993495A1 (en) Vehicle-mounted inspection system
US7020242B2 (en) X-ray inspection system
US6434219B1 (en) Chopper wheel with two axes of rotation
CN1129775C (zh) 跨式检查系统
EP2221847B1 (en) X-ray diffraction imaging system, and method for fabricating the x-ray diffraction imaging system
AU2002307053A1 (en) X-ray inspection system
CN103064125A (zh) 用于提高受指引的人员筛查的系统和方法
CN1112583C (zh) 一种大型客体数字辐射成象检测装置
CN103718028A (zh) 用于执行有限空间中复杂目标的反向散射检查的方法
CN102713679A (zh) X射线成像装置和x射线成像方法
CN101501530A (zh) 用于获得图像数据的系统和方法
CN102359971A (zh) 一种实现单源多视角安全检查的方法及系统
JPH05323039A (ja) 放射線検査装置
WO2019237722A1 (zh) 一种安检设备以及安检系统
CN103901485A (zh) 一种人体安检系统
JP2004085250A (ja) 放射線計測装置
JP2009008441A (ja) 半固定式物質同定装置および方法
JP3572191B2 (ja) X線ctスキャナ装置
CN104764759A (zh) 一种用于x射线背散射成像系统的跳线飞点扫描装置
JPS61240145A (ja) 産業用x線ct装置
CN112946769B (zh) 安检设备、安检方法和仓储系统