JPH0531240U - Vacuum pin set tip - Google Patents

Vacuum pin set tip

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JPH0531240U
JPH0531240U JP8756391U JP8756391U JPH0531240U JP H0531240 U JPH0531240 U JP H0531240U JP 8756391 U JP8756391 U JP 8756391U JP 8756391 U JP8756391 U JP 8756391U JP H0531240 U JPH0531240 U JP H0531240U
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JP
Japan
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semiconductor wafer
wafer
tip
suction
vacuum
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JP8756391U
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Japanese (ja)
Inventor
弥生 鳴海
順三 林
秀明 竹内
英夫 生津
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体ウエハの接着保持の不安定性や取り扱
いの困難性を解決した真空ピンセット先端部を提供する
こと。 【構成】 ウエハ吸着部61と首部62の合計長さを、
取り扱うべき半導体ウエハの半径と同程度の長さに設定
し、且つ首部62における胴体部63から首部62全長
のほぼ1/3だけ離れた部分を、ウエハ吸着部61の吸
着面に平行な方向に屈折させて構成した。
(57) [Abstract] [Purpose] To provide a tip of a vacuum tweezer which solves the instability of adhesive holding of a semiconductor wafer and the difficulty of handling. [Structure] The total length of the wafer suction part 61 and the neck part 62 is
The length of the semiconductor wafer to be handled is set to be approximately the same as the radius of the semiconductor wafer. It was constructed by refracting.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、クリーンルーム内で半導体ウエハを吸着し、移動するために使用す る真空ピンセットに係り、特にその半導体ウエハを直接吸着保持する先端部を構 成する真空ピンセット先端部に関するものである。 The present invention relates to a vacuum tweezers used for sucking and moving a semiconductor wafer in a clean room, and more particularly to a vacuum tweezer tip forming a tip for directly sucking and holding the semiconductor wafer.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior Art]

LSI製造・開発等では、種々の不純物の混入やそれらの影響を避けるために 低発塵性の部屋(クリーンルーム)で作業を行っている。半導体ウエハの取り扱 いについては、人間の扱いによる塵の発生とそれに伴う不純物の混入を避けるた め、機械による一括搬送や移動等が多く行われている。 In LSI manufacturing / development, etc., work is done in a low dust-generating room (clean room) in order to avoid contamination of various impurities and their effects. Regarding the handling of semiconductor wafers, in order to avoid the generation of dust due to human handling and the accompanying contamination of impurities, batch transfer and movement by machines are often used.

【0003】 しかし、装置や作業内容によっては、手作業で半導体ウエハを移動させなけれ ばならないことがあり、このようなときには、直接ウエハを吸着保持する先端部 を汚染の少ない石英製とした真空ピンセットが多く使用されている。However, depending on the device and the work contents, it may be necessary to manually move the semiconductor wafer. In such a case, the vacuum tweezers whose tip end that directly sucks and holds the wafer is made of quartz with less contamination. Is often used.

【0004】 このような真空ピンセットAは、図5に示すように金属製の真空ピンセット本 体1に金属製パイプ2を取り付け、石英製の真空ピンセット先端部3とこの金属 製パイプ2を接続スリーブ4を介して同軸的に接続し一体化したものである。In such vacuum tweezers A, as shown in FIG. 5, a metal pipe 2 is attached to a metal vacuum tweezer body 1, and a quartz vacuum tweezer tip portion 3 and the metal pipe 2 are connected to each other. 4 and is coaxially connected through 4 and integrated.

【0005】 真空ピンセット先端部3は、吸着部31(全体の長さのほぼ1/6)、首部3 2(同ほぼ1/6)、胴体部33(同ほぼ1/3)、テーパ部34(同ほぼ1/ 6)からなる。接続スリーブ4は、真空ピンセット先端部3を洗うときに一緒に 洗浄できるように洗浄可能で取外し可能な材質が要求される点から、フッ素樹脂 製のものが使用され、そこには、上記真空ピンセット先端3のテーパ部34に対 応するテーパ状孔41、金属製パイプ2の先端用の差込み孔42が形成され、両 孔41、42は連通している。The tip portion 3 of the vacuum tweezers includes a suction portion 31 (approximately 1/6 of the entire length), a neck portion 32 (approximately 1/6 of the same), a body portion 33 (approximately 1/3 of the same), and a taper portion 34. (Almost 1/6). The connection sleeve 4 is made of a fluororesin because it requires a washable and removable material so that the tip 3 of the vacuum tweezers can be washed together when washing the tip 3 of the vacuum tweezers. A tapered hole 41 corresponding to the tapered portion 34 of the tip 3 and an insertion hole 42 for the tip of the metal pipe 2 are formed, and both holes 41, 42 communicate with each other.

【0006】 このような真空ピンセットAは、半導体ウエハBの裏面を吸着保持するように 使用するので、その半導体ウエハの表面に傷がつき難く、不良品の発生の問題が 少ない。Since such vacuum tweezers A are used so as to suck and hold the back surface of the semiconductor wafer B, the surface of the semiconductor wafer is less likely to be scratched, and the problem of defective products is small.

【0007】[0007]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

しかし、従来の真空ピンセットAは、その真空ピンセット先端部3のウエハ吸 着部31と首部32の合計長さが短く(全体の長さのほぼ1/3)、このために 半導体ウエハBを吸着保持する際には、図6に例示するように、その外周部分5 を吸着保持する他ないが、これでは吸着状態が不安定で、例えば半導体ウエハB の縁部分に外力が加わると簡単に吸着力が損なわれ、半導体ウエハBの落下等の 事故が発生し易かった。 However, in the conventional vacuum tweezers A, the total length of the wafer suction portion 31 and the neck portion 32 of the vacuum tweezer tip portion 3 is short (approximately 1/3 of the entire length), and therefore the semiconductor wafer B is sucked. When holding, as shown in FIG. 6, the outer peripheral portion 5 has to be sucked and held, but this makes the sucked state unstable, and for example, when an external force is applied to the edge portion of the semiconductor wafer B 1, it is easily sucked. The power was lost, and accidents such as dropping of the semiconductor wafer B were easy to occur.

【0008】 また、この真空ピンセットAは直線形状であり、半導体ウエハBの上方に発塵 源である手が位置しないように、斜め上方からその真空ピンセットAで吸着させ る際に、手首を不自然に折り曲げる必要があり、その半導体ウエハBの取り扱い が困難であった。Further, the vacuum tweezers A have a linear shape, and when the vacuum tweezers A are attracted obliquely from above so that the hand, which is a dust source, is not positioned above the semiconductor wafer B, the wrist is not touched. It was necessary to bend naturally, and it was difficult to handle the semiconductor wafer B.

【0009】 本考案の目的は、上記した半導体ウエハ接着保持の不安定性や取り扱いの困難 性を解決した真空ピンセット先端部を提供することである。An object of the present invention is to provide a vacuum tweezers tip portion that solves the above-described instability of holding and holding a semiconductor wafer and the difficulty of handling.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

このために本考案は、ウエハ吸着部、真空ピンセット本体と接続される胴体部 、上記ウエハ吸着部と上記胴体部を連結する首部とからなる真空ピンセット先端 部において、上記ウエハ吸着部と上記首部の合計長さをウエハの半径と同程度の 長さに設定し、且つ上記首部における上記胴体部から首部全長のほぼ1/3だけ 離れた部分を上記ウエハ吸着部の吸着面に平行な方向に屈折させて構成したもの である。 To this end, the present invention provides a wafer suction part, a body part connected to the vacuum tweezers body, and a vacuum tweezer tip part including the wafer suction part and a neck part connecting the body part. The total length is set to be approximately the same as the radius of the wafer, and the portion of the neck portion away from the body portion by about 1/3 of the total neck length is bent in a direction parallel to the suction surface of the wafer suction portion. It was made up of.

【0011】[0011]

【作用】 本考案では、ウエハ吸着部で半導体ウエハのほぼ中央部分を吸着することがで き、その保持が強力化・安定化する。また、その首部を屈折させているので、手 首を不自然に曲げることなく斜め上方から半導体ウエハの中央部分を吸着させる ことができ、その取り扱いが容易となる。According to the present invention, the wafer suction portion can suck the substantially central portion of the semiconductor wafer, thereby strengthening and stabilizing the holding. Further, since the neck portion is bent, the central portion of the semiconductor wafer can be adsorbed from diagonally above without unnaturally bending the wrist, which facilitates handling.

【0012】[0012]

【実施例】【Example】

以下、本考案の実施例について詳細に説明する。図1はその一実施例の6イン チの半導体ウエハ用の石英性の真空ピンセット先端部6の平面図、図2は側面図 である。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. FIG. 1 is a plan view of a quartz-made vacuum tweezer tip portion 6 for a 6-inch semiconductor wafer according to one embodiment, and FIG. 2 is a side view.

【0013】 この真空ピンセット先端部6は、先端部に設けた長さが25〜30mmの吸着 部61、その吸着部61から伸びる長さがほぼ50mmの首部62、その首部6 2の他端に連続する外径が8mmφの胴体部63、及びテーパ面(図示せず)か らなる。The tip portion 6 of the vacuum tweezers has a suction portion 61 having a length of 25 to 30 mm provided at the tip portion, a neck portion 62 extending from the suction portion 61 and having a length of about 50 mm, and the other end of the neck portion 62. It is composed of a continuous body portion 63 having an outer diameter of 8 mmφ and a tapered surface (not shown).

【0014】 ここで、吸着部61と首部62の合計長さは、75〜80mmとなり、6イン チの半導体ウエハBの半径(75mm)とほぼ同じである。そして、首部62は 首部62の全長のほぼ1/3(ほぼ15mm)だけ胴体部63との境界部分から 離れた部分に屈曲部62aが形成されている。この屈曲部62aにおける屈曲方 向は、吸着部61の吸着面(吸着口の面)に平行な方向であり、その角度は約1 5度±1〜2度である。Here, the total length of the suction portion 61 and the neck portion 62 is 75 to 80 mm, which is almost the same as the radius (75 mm) of the 6-inch semiconductor wafer B. The neck portion 62 has a bent portion 62a formed at a portion separated from the boundary portion with the body portion 63 by about 1/3 (about 15 mm) of the entire length of the neck portion 62. The bending direction of the bent portion 62a is parallel to the suction surface (the surface of the suction port) of the suction portion 61, and the angle is about 15 ° ± 1 to 2 °.

【0015】 よって、この真空ピンセット先端部6を従来と同様に接続スリーブ4に結合し て半導体ウエハBを吸着保持する際には、その吸着部61を半導体ウエハBの中 央部分に位置付けても、首部62の屈曲部62aがその半導体ウエハBの外周部 分に位置する程度となる。つまり、この真空ピンセット先端部6では、その吸着 部61で半導体ウエハBの中央部を吸着保持することができるので、その半導体 ウエハBの周囲に外力が加わったときでも、その保持状態が崩れることはなく、 安定な保持状態を維持できる。Therefore, when the tip portion 6 of the vacuum tweezers is bonded to the connection sleeve 4 as in the conventional case to hold the semiconductor wafer B by suction, the suction portion 61 may be positioned at the center portion of the semiconductor wafer B. The bent portion 62a of the neck portion 62 is located at the outer peripheral portion of the semiconductor wafer B. That is, since the vacuum tweezers tip portion 6 can suck and hold the central portion of the semiconductor wafer B by the suction portion 61, even if an external force is applied to the periphery of the semiconductor wafer B, the holding state is broken. Instead, a stable holding state can be maintained.

【0016】 また、半導体ウエハBの表面が手前側を向き、裏面が前方を向くように複数枚 並べられている場合には、右手で半導体ウエハBの隣接間に真空ピンセット先端 部6の吸着部61を、発塵源である手が上方ではなく斜め上方となるように、斜 め上から差し込み、図3に示すように、吸着させることができる。しかも首部6 2が屈曲部62aで屈曲しているので、真空ピンセットを把持する手首部分を不 自然に曲げる必要もなく、その取り扱いが容易となる。When a plurality of semiconductor wafers B are arranged so that the front surface faces the front side and the back surface faces the front, the suction portion of the vacuum tweezers tip portion 6 is provided between the adjacent semiconductor wafers B with the right hand. 61 can be inserted obliquely from above so that the hand, which is the dust source, is not obliquely upward, but obliquely upward, and can be adsorbed as shown in FIG. Moreover, since the neck portion 62 is bent at the bent portion 62a, it is not necessary to bend the wrist portion holding the vacuum tweezers unnaturally, and the handling thereof becomes easy.

【0017】 図4は真空ピンセット先端部6の屈曲部62aの角度を各種設定して、半導体 ウエハを扱う際の評価を行った説明図である。角度が0度では半導体ウエハを扱 うときに、発塵源である手が半導体ウエハの上方に位置しないようにするには、 手首を曲げなければならず、扱いずらい。また、角度が30度〜45度では、逆 に曲り過ぎるので、同様に使いずらい。20度前後の角度でも、手首を深く曲げ る必要があり、使用し難い。結局、15度前後の角度が最も使用し易かった。FIG. 4 is an explanatory diagram in which various angles of the bent portion 62 a of the vacuum tweezers tip portion 6 are set and evaluation is performed when a semiconductor wafer is handled. At an angle of 0 degree, when handling a semiconductor wafer, the wrist, which is the source of dust generation, must be bent to prevent it from being positioned above the semiconductor wafer, which is difficult to handle. On the other hand, when the angle is 30 to 45 degrees, it is too curved, and it is difficult to use. Even at an angle of around 20 degrees, it is difficult to use because you need to bend your wrist deeply. After all, an angle of around 15 degrees was the easiest to use.

【0018】 真空ピンセット先端部6は、上記のように複数枚並んだウエハBの間に差し込 んで使用する場合がある。ウエハ吸着部61は薄く、首部62の外径は小さいの で問題がないが、胴体部63は比較的太いので、その外径は半導体ウエハの並び 間隙よりも小さくする必要があり、本実施例では前記したように8mmφに設定 している。The tip portion 6 of the vacuum tweezers may be used by inserting it between the wafers B arranged in plural as described above. There is no problem because the wafer suction part 61 is thin and the neck 62 has a small outer diameter. However, since the body 63 is relatively thick, the outer diameter must be smaller than the gap between the semiconductor wafers. Then, as mentioned above, it is set to 8 mmφ.

【0019】 上記実施例では6インチの半導体ウエハBを取り扱い対象とした真空ピンセッ ト先端部6についてであったが、4インチ、8インチの半導体ウエハ用として使 用するには、それらの半径に応じて首部62の長さを設定すれば良い。ただし、 屈曲部62aの角度は上記角度に設定することが必要である。また、ウエハ吸着 部61を別体のものとすることもでき、このようなものでは市販のフッ素樹脂製 のウエハ吸着部を使用できる。また、上記した真空ピンセット先端部6は右きき 用であるが左きき用にするには、ウエハ吸着部61の吸着面が反対方向を向くよ うにすれば良い。In the above-mentioned embodiment, the vacuum pinset tip portion 6 for handling the 6-inch semiconductor wafer B is used. However, in order to use it for the 4-inch and 8-inch semiconductor wafers, the radius of each of them should be changed. The length of the neck 62 may be set accordingly. However, the angle of the bent portion 62a needs to be set to the above angle. Further, the wafer suction portion 61 can be a separate one, and in such a case, a commercially available fluororesin wafer suction portion can be used. Further, the vacuum tweezers tip portion 6 described above is for right-handed use, but in order to use it for left-handed use, the suction surface of the wafer suction portion 61 may be oriented in the opposite direction.

【0020】[0020]

【考案の効果】[Effect of the device]

以上から本考案によれば、ウエハ吸着部と首部の合計長さを、取り扱う半導体 ウエハの半径と同程度の長さに設定したことによって、ウエハ吸着部で半導体ウ エハのほぼ中央部分を吸着することができるので、その半導体ウエハに外力が加 わったときでも、その保持状態が悪化することはない。 As described above, according to the present invention, the total length of the wafer suction portion and the neck portion is set to be the same length as the radius of the semiconductor wafer to be handled, so that the wafer suction portion sucks almost the central portion of the semiconductor wafer. Therefore, even when an external force is applied to the semiconductor wafer, its holding state does not deteriorate.

【0021】 また、その首部を屈折させているので、ウエハの斜め上方から真空ピンセット 先端部を差し込んで吸着させる作業を、手首を不自然に曲げることなく行えるの で、その取り扱いが容易となる。Further, since the neck portion is bent, the work of inserting the tip portion of the vacuum tweezers from a diagonally upper side of the wafer and adsorbing it can be performed without bending the wrist unnaturally, so that the handling becomes easy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本考案の一実施例の真空ピンセット先端部の
平面図である。
FIG. 1 is a plan view of a tip portion of a vacuum tweezers according to an embodiment of the present invention.

【図2】 同真空ピンセット先端部の側面図である。FIG. 2 is a side view of the tip portion of the vacuum tweezers.

【図3】 同真空ピンセット先端部により半導体ウエハ
を吸着保持する説明図である。
FIG. 3 is an explanatory view of holding a semiconductor wafer by suction with the tip portion of the vacuum tweezers.

【図4】 同真空ピンセット先端部の首部の屈曲角度の
違いによる取り扱い易さの説明のための図である。
FIG. 4 is a view for explaining ease of handling due to a difference in bending angle of the neck portion of the vacuum tweezers tip portion.

【図5】 従来の真空ピンセットの分解斜視図である。FIG. 5 is an exploded perspective view of a conventional vacuum tweezers.

【図6】 従来の真空ピンセット先端部により半導体ウ
エハを吸着保持する説明図である。
FIG. 6 is an explanatory view of holding a semiconductor wafer by suction with a conventional vacuum tweezers tip portion.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

6:真空ピンセット先端部、61:ウエハ吸着部、6
2:首部、62a:屈曲部、63:胴体部。
6: vacuum tweezers tip part, 61: wafer suction part, 6
2: neck part, 62a: bent part, 63: body part.

フロントページの続き (72)考案者 生津 英夫 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内Front Page Continuation (72) Inventor Hideo Ikutsu 1-6-6, Uchisaiwaicho, Chiyoda-ku, Tokyo Nihon Telegraph and Telephone Corporation

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 ウエハ吸着部、真空ピンセット本体と
接続される胴体部、上記ウエハ吸着部と上記胴体部を連
結する首部とからなる真空ピンセット先端部において、 上記ウエハ吸着部と上記首部の合計長さをウエハの半径
と同程度の長さに設定し、且つ上記首部における上記胴
体部から首部全長のほぼ1/3だけ離れた部分を上記ウ
エハ吸着部の吸着面に平行な方向に屈折させて成ること
を特徴とする真空ヒンセット先端部。
1. A total length of the wafer suction portion and the neck portion at a vacuum tweezer tip portion including a wafer suction portion, a body portion connected to the vacuum tweezer body, and a neck portion connecting the wafer suction portion and the body portion. Is set to a length approximately equal to the radius of the wafer, and the portion of the neck portion away from the body portion by about 1/3 of the entire neck length is bent in a direction parallel to the suction surface of the wafer suction portion. Vacuum Hinset tip characterized by being made.
JP8756391U 1991-09-30 1991-09-30 Vacuum pin set tip Withdrawn JPH0531240U (en)

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