JPH05311447A - プラズマcvd法及びその装置 - Google Patents

プラズマcvd法及びその装置

Info

Publication number
JPH05311447A
JPH05311447A JP11333692A JP11333692A JPH05311447A JP H05311447 A JPH05311447 A JP H05311447A JP 11333692 A JP11333692 A JP 11333692A JP 11333692 A JP11333692 A JP 11333692A JP H05311447 A JPH05311447 A JP H05311447A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrodes
discharge
reaction vessel
magnetic field
solenoid coils
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11333692A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayoshi Murata
正義 村田
Yoshiaki Takeuchi
良昭 竹内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP11333692A priority Critical patent/JPH05311447A/ja
Priority to DE69324849T priority patent/DE69324849T2/de
Priority to EP93250088A priority patent/EP0574100B1/en
Priority to CA002092756A priority patent/CA2092756C/en
Priority to US08/127,377 priority patent/US5423915A/en
Publication of JPH05311447A publication Critical patent/JPH05311447A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】大面積のアモルファスシリコン薄膜を高速に成
膜できるプラズマCVD装置を提供する。 【構成】反応容器1と、この反応容器1に反応ガスを導
入し、排出する手段と、反応容器1内に収容された放電
用電極2、3と、放電用電極2、3にグロー放電用電力
を供給する電源4と、放電用電極2、3間の電界に直交
し、かつ互いに直交する方向に軸芯をもつように、反応
容器1をはさんで設置された2対のソレノイドコイル5
a、5b、100a、100bと、これらのソレノイド
コイルに磁界発生用電力を供給する交流電源とを有し、
これらのソレノイドコイルに磁界発生用の電力を供給す
る交流電源103とを有し、放電用電極2、3間の電界
と直交するように支持された基板10上にアモルファス
シリコン薄膜を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はアモルファスシリコン太
陽電池、薄膜トランジスタ、光センサ、半導体保護膜な
ど各種電子デバイスに使用される大面積薄膜の製造に適
したプラズマCVD法及びプラズマCVD装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】大面積のアモルファスシリコン薄膜を製
造するために、従来より用いられているプラズマCVD
装置の構成を図10を参照して説明する。この技術的手
段は例えば特願昭61−106314号などに開示され
ているように公知である。
【0003】反応容器1内には、グロー放電プラズマを
発生させるための電極2、3が平行に配置されている。
これら電極2、3には、低周波電源4から例えば60H
zの商用周波数の電力が供給される。なお、電源として
は、直流電源や高周波電源を用いることもできる。反応
容器1の周囲には、これを囲むようにコイル5が巻かれ
ており、交流電源6から交流電力が供給される。反応容
器1内には、図示しないボンベから反応ガス導入管7を
通して例えばモノシランと水素との混合ガスが供給され
る。反応容器1内のガスは排気管8を通して真空ポンプ
9により排気される。基板10は、電極2、3が形成す
る放電空間の外側に、電極2、3の面と直交するように
適宜の手段で支持される。
【0004】この装置を用い、以下のようにして薄膜を
製造する。真空ポンプ9を駆動して反応容器1内を排気
する。反応ガス導入管7を通して例えばモノシランと水
素との混合ガスを供給し、反応容器1内の圧力を0.0
5〜0.5Torrに保ち、低周波電源4から電極2、
3に電圧を印加すると、グロー放電プラズマが発生す
る。コイル5に例えば10Hzの交流電圧を印加し、電
極2、3間に発生する電界Eと直交する方向に磁界Bを
発生させる。すなわち、グロー放電プラズマを発生させ
る電極間の放電電界Eと直交する方向に磁界Bを発生さ
せる。この磁界Bの強さは正弦波状に変化するため、そ
の方向が周期的に変化する。この磁界における磁束密度
は50〜100ガウス程度でよい。
【0005】反応ガス導入管7から供給されたガスは電
極2、3間に生じるグロー放電プラズマによって分解さ
れる。この結果、ラジカルSiが発生し、基板10表面
に付着して薄膜を形成する。
【0006】水素イオンなどの荷電粒子は、電極2、3
間で電界Eによるクーロン力F1 =qEと、ローレンツ
力F2 =q(V・B)(ここで、Vは荷電粒子の速度)
とによっていわゆるE・Bドリフト運動を起こす。荷電
粒子は、E・Bドリフトによって初速を与えられた状態
で、電極2、3と直交する方向に飛びだし、基板10に
向けて飛んでゆく。しかし、電極2、3間に生じる電界
の影響が小さい放電空間では、コイル5により生じた磁
界Bによるサイクロトロン運動により、Larmor軌
道を描いて飛んでいく。したがって、水素イオンなどの
荷電粒子が基板10を直撃することは少ない。
【0007】電気的に中性であるラジカルSiは、磁界
Bの影響を受けず、上記荷電粒子群の軌道からそれて基
板10に至り、その表面に非晶質薄膜を形成する。ラジ
カルSiはLarmor軌道を飛んでいく荷電粒子と衝
突するため、電極2、3の前方だけでなく、左または右
に広がった形で非晶質薄膜が形成される。しかも、磁界
Bを交流電源6により変動させているので、基板10の
表面に非晶質薄膜を均一に形成することが可能となる。
なお、電極2、3の長さは、反応容器1の長さの許すか
ぎり長くしても何ら問題がないので、基板10が長尺の
ものであっても、その表面に均一な非晶質薄膜を形成す
ることが可能となる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来の装置で
は、グロー放電プラズマを発生させる電極間の放電電界
Eと直交する方向に磁界Bを発生させることにより、大
面積の成膜を容易に可能としている。しかし、次のよう
な問題がある。
【0009】(1)大面積の成膜を行う場合、電極とし
て長尺のものを用いる必要がある。長尺の電極を用いて
安定したプラズマを発生させるには、その電源の周波数
は可能なかぎり低い方が容易であるため、数10Hz〜
数100Hzの電源が用いられている。しかし、周波数
が低くなり、半周期の間のイオン移動距離が電極間隔を
越えるような条件の下では、直流放電の場合と同様に、
プラズマを維持するために、イオン衝突によって陰極よ
り放出された二次電子が本質的な役割を担うことにな
る。そのため電極に膜が付着して絶縁されると、その部
分では放電が起こらないようになる。この場合、電極表
面を常にクリーンに保つ必要がある。そのため、電極を
頻繁に交換したり頻繁に清掃するなどの煩雑な作業が必
要となり、コスト高の要因の一つとなっている。
【0010】(2)上記(1)の欠点を補うために、プ
ラズマ発生源に例えば13.56MHzの高周波電源を
用いると、放電維持に対する電極放出二次電子は本質的
なものでなくなり、電極上に膜などの絶縁物が存在して
いても、電極間にはグロー放電が形成される。しかしな
がら、長尺の電極を用いる場合には、高周波による表皮
効果により電流の大部分が表面(約0.01mm)を流
れるため、電気抵抗が増加する。例えば、電極の長さが
約1m以上になると、電極上に電位分布が現れて一様な
プラズマが発生しなくなる。これを分布定数回路で考え
ると、図11に示すようになる。図11において、xは
電極の長さ方向の距離を示している。すなわち、電極の
単位長さ当りの抵抗Rが放電部分のインピーダンス
1 、Z2 、…、Zn に比べて無視できないほど大きく
なってくると、電極内に電位分布が現れる。したがっ
て、高周波電源を用いる場合には、大面積の成膜を行う
ことは非常に困難であり、実際上これまでは実現できな
かった。
【0011】(3)上記(1)、(2)の方法では、図
12に示すように、磁界の強さが正弦波状に変化する変
調磁界が、プラズマに印加される。この場合、磁界の強
さが一定である場合に比べ、磁界によりプラズマ密度を
増大させ、それに基づいて成膜速度を向上させる効果は
それほど大きくない。例えば、アモルファスシリコンを
成膜する場合には、成膜速度を1〜2オングストローム
/sec以上に保つことは困難であった。本発明は、大
面積成膜が可能で、かつ成膜速度を大きくできるプラズ
マCVD法及びその装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明のプラズマCVD
法は、反応容器内に基板を設置して反応ガスを供給し、
放電用電極間にグロー放電プラズマを発生させ、基板上
に非晶質薄膜を形成するプラズマCVD法において、上
記放電用電極間の電界に直交し、かつ互いに直交する2
つの方向に磁界を印加することを特徴とするものであ
る。
【0013】本発明のプラズマCVD装置は、反応容器
と、この反応容器に反応ガスを導入し、排出する手段
と、上記反応容器内に収容された放電用電極と、この放
電用電極にグロー放電用電力を供給する電源と、上記放
電用電極間の電界に直交し、かつ互いに直交する方向に
軸芯をもつように、反応容器をはさんで設置された2対
のソレノイドコイルと、これらのソレノイドコイルに磁
界発生用電力を供給する交流電源とを有し、上記放電用
電極間の電界に直交するように支持された基板上に非晶
質薄膜を形成することを特徴とするものである。本発明
において、2対のソレノイドコイルにはそれぞれ、例え
ば位相可変2出力発振器から出力される、位相が制御さ
れた正弦波電流が供給される。
【0014】
【作用】本発明においては、2対のソレノイドコイルに
よる合成磁界Bが、プラズマ発生用放電電極の電界Eに
対し直交方向に印加される。位相可変2出力発振器から
2対のソレノイドコイルに供給される正弦波電流の位相
を適当に制御すれば、この合成磁界Bは一定の角速度ω
で回転し、その強さは時間に依存せず一定値である。こ
の結果、電極間のプラズマは、角速度ωで回転する力F
(E・Bドリフト)を受ける。すなわち、プラズマは放
電電界Eに直交する平面内で全方向に揺り動かされる。
したがって、プラズマ密度は時間的、空間的に平均化さ
れ、成膜面積を大幅に増大できる。また、磁界によるプ
ラズマ封じ込め効果により、成膜速度を向上できる。
【0015】また、本発明では、対をなす2個の厚みの
ある有限長ソレノイドコイル間では磁界が一様な分布を
示すので、中間に入る反応容器及びガスの導入用排出用
配管類の設置空間を大きく取れる。
【0016】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図1は本発明の一実施例のプラズマCVD装置の
構成を示す断面図である。なお、従来例の図10と同一
部材には、同一番号を付している。
【0017】反応容器1内には、グロー放電プラズマを
発生させるための電極2と接地電極3が互いに平行に配
置されている。電極2には、高周波電源4から例えば1
3.56MHzの周波数の電力がインピーダンスマッチ
ング回路104、第1の高周波ケーブル106及び電力
導入端子105を介して供給される。接地電極3は、反
応容器1及び第2高周波ケーブル107を介してアース
108に接続されている。また、上記インピーダンスマ
ッチング回路104の接地側端子は第3の高周波ケーブ
ル109により、反応容器1に接続されている。
【0018】接地用電極3の近傍には、電極2、3と平
行にすなわち電極2、3により発生する電界に直交する
ように、図示しない基板ホルダにより基板10が設置さ
れる。反応容器1内には、図示しないボンベ及び流量計
から反応ガス導入管7を通して例えばモノシランが供給
される。反応容器1内のガスは排気管8を通して真空ポ
ンプ(図示せず)により排気される。反応容器1内の圧
力は圧力計110で測定される。
【0019】反応容器1の周囲には、第1〜第4の厚み
のある有限長ソレノイドコイル5a、5b、100a、
100bが配置されている。図2及び図3に示すよう
に、第1及び第2のソレノイドコイル5a、5bが対を
なし、第3及び第4のソレノイドコイル100a、10
0bが対をなし、それぞれの軸芯が互いに直交する方向
すなわちx軸方向及びy軸方向に合致するように配置さ
れる。
【0020】第1及び第2のソレノイドコイル5a、5
bには、位相可変2出力発振器103の一方の出力端子
から、第1の電力増幅器101を介して正弦波形の電力
が供給される。第3及び第4のソレノイドコイル100
a、100bには、位相可変2出力発振器103の他方
の出力端子から、第2の電力増幅器102を介して正弦
波形の電力が供給される。上記位相可変2出力発振器1
03は、2つの正弦波信号を、それぞれの相対位相を任
意に設定して出力できる。その信号は図示しないオシロ
スコープで観測される。図4に示すように、第1及び第
2のソレノイドコイル5a、5bが発生する磁界は、軸
芯の方向(x軸方向)にほぼ一様な強さの分布になって
いる。第3及び第4のソレノイドコイル100a、10
0bが発生する磁界も、図4と同様に軸芯の方向(y軸
方向)にほぼ一様な強さの分布になっている。
【0021】上記装置を用い、以下のようにして例えば
アモルファスシリコン薄膜を製造する。真空ポンプを駆
動して反応容器1内を排気する。反応容器1内が十分に
排気(例えば10-7Torr)された後、反応ガス導入
管7を通して例えばモノシランを50〜100cc/m
in程度の流量で供給し、反応容器1内の圧力を0.0
5〜0.5Torrに保つ。高周波電源4からインピー
ダンスマッチング回路104及び電力導入端子105な
どを介して、電極2、3に電力を供給すると、電極間に
モノシランのグロー放電プラズマが発生する。
【0022】一方、図5(b)、(c)に示すように、
位相可変2出力発振器103からの2出力を、第1及び
第2の電力増幅器101、102を介して、それぞれ第
1及び第2のソレノイドコイル5a、5b、並びに第3
及び第4のソレノイドコイル100a、100bに、例
えば位相を90°ずらした周波数10Hzの正弦波電力
を印加する。このとき、同図(a)に示すように、第1
及び第2のソレノイドコイル5a、5bによる磁界B1
と、第3及び第4のソレノイドコイル100a、100
bによる磁界B2 の合成磁界Bが発生する。図6に示す
ように、この合成磁界Bは電極2、3の間の電界Eに対
し直交方向に一定の角速度20π(ラジアン/sec)
で回転しながら、上記グロー放電プラズマに印加され
る。この結果、図7に示すように、グロー放電プラズマ
は、一定の角速度で回転する力(E・Bドリフト)を受
ける。したがって、電極2と3との間のプラズマは、基
板10と平行な面内を全方向に揺り動かされる。なお、
合成磁界Bの強さは40〜100ガウス程度でよい。
【0023】アモルファスシリコン薄膜の膜厚分布及び
成膜速度は、電極の面積、電極間隔、反応ガスの流量、
濃度、圧力、電極間に供給される電力、及びグロー放電
プラズマに印加される合成磁界Bの強度などに依存す
る。そこで、以下のような条件でアモルファスシリコン
薄膜を成膜した。電極として1200mm×1200m
mのものを用い、基板としてガラスを用いた。反応ガス
として、100%モノシランガスを100cc/min
の流量で供給し、反応容器内の圧力を0.5Torrに
設定した。電極2、3間に200Wの高周波電力を印加
した。ソレノイドコイル5a、5b、100a、100
bにより印加される合成磁界Bの強さを0、20、4
0、60、80、100ガウスに設定した。
【0024】図8に得られたアモルファスシリコン薄膜
の膜厚分布を示す。図8から、磁界を印加しない場合と
比較して、合成磁界Bの強さが40及び80ガウスの場
合には、広い面積にわたって膜厚が一様になっている。
【0025】また、図9に磁界の強さと得られたアモル
ファスシリコン薄膜の成膜速度との関係を示す。図9か
ら、本発明の方法では、磁界を印加しない場合に比べ、
合成磁界Bを印加すれば、成膜速度を著しく向上できる
ことがわかる。一方、従来の方法では磁界の強度を強く
しても成膜速度を向上させる効果が小さい。例えば10
0ガウスの磁界を印加したときの成膜速度は、従来の方
法では2オングストローム/sec程度であるのに対
し、本発明の方法では4オングストローム/secと大
幅に向上している。
【0026】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、グ
ロー放電プラズマに放電電界と直交する平面内を一定角
速度で回転する合成磁界を印加することにより、大面積
の非晶質薄膜を高速に成膜できる。したがって、アモル
ファスシリコン太陽電池、液晶ディスプレイ用薄膜トラ
ンジスタ及び光電子デバイスなどの製造分野での工業的
価値が著しく大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係るプラズマCVD装置の構
成を示す断面図。
【図2】同プラズマCVD装置の反応容器と2対のソレ
ノイドコイルとの位置関係を示す平面図。
【図3】同プラズマCVD装置の反応容器と2対のソレ
ノイドコイルとの位置関係を示す平面図。
【図4】同プラズマCVD装置の対をなすソレノイドコ
イル間の磁界強度分布を示す図。
【図5】(a)は2対のソレノイドコイルによる合成磁
界を説明する図、(b)及び(c)はそれぞれ対をなす
2個のソレノイドコイルが発生する磁界を説明する図。
【図6】2対のソレノイドコイルによる合成磁界の回転
を説明する図。
【図7】合成磁界と放電電界との相互作用により発生す
るE・Bドリフトの回転を説明する図。
【図8】本発明の装置により得られたアモルファスシリ
コン薄膜の膜厚分布を示す特性図。
【図9】本発明の装置により得られたアモルファスシリ
コン薄膜の成膜速度と磁界の強さとの関係を示す特性
図。
【図10】従来のプラズマCVD装置の構成を示す断面
図。
【図11】従来のプラズマCVD装置の欠点を示す説明
図。
【図12】従来のプラズマCVD装置において印加され
る磁界を説明する図。
【符号の説明】
1…反応容器、2、3…電極、4…高周波電源、5a、
5b、100a、100b…ソレノイドコイル、10…
基板、101、102…増幅器、103…位相可変2出
力発振器。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 反応容器内に基板を設置して反応ガスを
    供給し、放電用電極間にグロー放電プラズマを発生さ
    せ、基板上に非晶質薄膜を形成するプラズマCVD法に
    おいて、上記放電用電極間の電界に直交し、かつ互いに
    直交する2つの方向に磁界を印加することを特徴とする
    プラズマCVD法。
  2. 【請求項2】 反応容器と、この反応容器に反応ガスを
    導入し、排出する手段と、上記反応容器内に収容された
    放電用電極と、この放電用電極にグロー放電用電力を供
    給する電源と、上記放電用電極間の電界に直交し、かつ
    互いに直交する方向に軸芯をもつように、反応容器をは
    さんで設置された2対のソレノイドコイルと、これらの
    ソレノイドコイルに磁界発生用電力を供給する交流電源
    とを有し、上記放電用電極間の電界に直交するように支
    持された基板上に非晶質薄膜を形成することを特徴とす
    るプラズマCVD装置。
JP11333692A 1992-04-16 1992-05-06 プラズマcvd法及びその装置 Pending JPH05311447A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11333692A JPH05311447A (ja) 1992-05-06 1992-05-06 プラズマcvd法及びその装置
DE69324849T DE69324849T2 (de) 1992-04-16 1993-03-22 Verfahren und Vorrichtung zur Plasma-unterstützten chemischen Dampfphasen-Abscheidung
EP93250088A EP0574100B1 (en) 1992-04-16 1993-03-22 Plasma CVD method and apparatus therefor
CA002092756A CA2092756C (en) 1992-04-16 1993-03-26 Plasma cvd method and apparatus therefor
US08/127,377 US5423915A (en) 1992-04-16 1993-09-28 Plasma CVD apparatus including rotating magnetic field generation means

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11333692A JPH05311447A (ja) 1992-05-06 1992-05-06 プラズマcvd法及びその装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05311447A true JPH05311447A (ja) 1993-11-22

Family

ID=14609666

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11333692A Pending JPH05311447A (ja) 1992-04-16 1992-05-06 プラズマcvd法及びその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05311447A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0574100B1 (en) Plasma CVD method and apparatus therefor
JP2011228436A (ja) プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法
JP2785442B2 (ja) プラズマcvd装置
JP2989279B2 (ja) プラズマcvd装置
JPH05311447A (ja) プラズマcvd法及びその装置
JPH0766138A (ja) プラズマcvd装置
JPH05299680A (ja) プラズマcvd法およびその装置
JPH0745540A (ja) プラズマ化学蒸着装置
JPS62170475A (ja) プラズマ処理装置
JP3151596B2 (ja) プラズマ処理方法およびその装置
JP2851765B2 (ja) プラズマ発生方法およびその装置
JP2812477B2 (ja) 半導体処理装置
JPH07147243A (ja) プラズマcvd方法
JP3095565B2 (ja) プラズマ化学蒸着装置
JPH07118463B2 (ja) プラズマcvd装置
KR100911327B1 (ko) 플라즈마 발생 장치
Kawasaki et al. Two-dimensional profile of emissive species in a magnetized SiH/sub 4//Ar glow discharge for the scanning-plasma CVD method
JP3133174B2 (ja) プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
JPH0760798B2 (ja) 非晶質薄膜形成方法および装置
JPH08217594A (ja) マグネトロン型誘導結合方式放電反応装置
JPS619577A (ja) プラズマ化学気相成長法
JPH1012557A (ja) プラズマ化学蒸着装置
JPH1012558A (ja) プラズマ化学蒸着装置及び方法
JPH0650724B2 (ja) 低温プラズマ電磁界制御機構
JPS62143418A (ja) 薄膜形成装置

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20000912