JPH0530910B2 - - Google Patents
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- JPH0530910B2 JPH0530910B2 JP26149084A JP26149084A JPH0530910B2 JP H0530910 B2 JPH0530910 B2 JP H0530910B2 JP 26149084 A JP26149084 A JP 26149084A JP 26149084 A JP26149084 A JP 26149084A JP H0530910 B2 JPH0530910 B2 JP H0530910B2
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Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、放電によつて真空中にプラズマを
発生させ、このプラズマを用いて被処理物表面に
薄膜堆積、エツチング、スパツタリング及び清浄
化等の処理を施す表面処理装置に関する。
発生させ、このプラズマを用いて被処理物表面に
薄膜堆積、エツチング、スパツタリング及び清浄
化等の処理を施す表面処理装置に関する。
(従来の技術)
真空中のプラズマを用いて被処理物の表面を処
理する場合には、そのプラズマ密度と処理速度と
が比例する。しかし、従来の2電極放電方式の装
置で、電極間の電力を増加させて高密度プラズマ
を得ようとすると、その非接地側電極の負電圧の
絶対値が増加するので、処理が低効率化し、しか
も、イオン衝撃が強くなつて被処理物を大きく損
傷する問題があつた。
理する場合には、そのプラズマ密度と処理速度と
が比例する。しかし、従来の2電極放電方式の装
置で、電極間の電力を増加させて高密度プラズマ
を得ようとすると、その非接地側電極の負電圧の
絶対値が増加するので、処理が低効率化し、しか
も、イオン衝撃が強くなつて被処理物を大きく損
傷する問題があつた。
そこで、電極間の電力を増加させずに高密度プ
ラズマを得るため、電極面に平行にあるいは電極
面を覆う形に磁界を作り、この磁界の力をかりて
高密度の放電プラズマを電極の近傍に発生させる
方法が考えられている。つまり、この方法は、上
記磁界の力で、電子に擬似サイクロイド運動を起
させ、この電子の運動方向に沿つて高密度のプラ
ズマを発生させるものである。
ラズマを得るため、電極面に平行にあるいは電極
面を覆う形に磁界を作り、この磁界の力をかりて
高密度の放電プラズマを電極の近傍に発生させる
方法が考えられている。つまり、この方法は、上
記磁界の力で、電子に擬似サイクロイド運動を起
させ、この電子の運動方向に沿つて高密度のプラ
ズマを発生させるものである。
この方法によれば、2電極放電方式の場合より
もカソード上の電極の負電圧の絶対値を小さくで
きるとともに、高密度のプラズマを得ることがで
きる。
もカソード上の電極の負電圧の絶対値を小さくで
きるとともに、高密度のプラズマを得ることがで
きる。
しかし、本発明者らは、所定の限られた範囲で
上記擬似サイクロイド運動を起させれば、当該電
極の周囲全体に亙つて擬似サイクロイド運動を起
させる場合よりも、さらに少ない電力で高密度の
プラズマを発生させうるものと考え、第9図に示
す装置を用いて実験を繰り返したところ、次のよ
うな問題があることを発見した。
上記擬似サイクロイド運動を起させれば、当該電
極の周囲全体に亙つて擬似サイクロイド運動を起
させる場合よりも、さらに少ない電力で高密度の
プラズマを発生させうるものと考え、第9図に示
す装置を用いて実験を繰り返したところ、次のよ
うな問題があることを発見した。
すなわち、第9図に示した装置は、接地電位を
保持した真空容器1に電極2を設けるとともに、
この電極2の周囲に絶縁物3を設けている。
保持した真空容器1に電極2を設けるとともに、
この電極2の周囲に絶縁物3を設けている。
この状態で、記号4の方向に磁界を形成すれ
ば、電子は電極2の表面において、擬似サイクロ
イド曲線5に沿つて運動するが、絶縁物3及び真
空容器1の側壁によつて、上記擬似サイクロイド
運動が制限あるいは禁止される。
ば、電子は電極2の表面において、擬似サイクロ
イド曲線5に沿つて運動するが、絶縁物3及び真
空容器1の側壁によつて、上記擬似サイクロイド
運動が制限あるいは禁止される。
(本発明が解決しようとする問題点)
擬似サイクロイド運動を制限あるいは禁止すれ
ば、理論的には、ごく限られた範囲でしかプラズ
マが生成されないので、必要パワーが少なくてす
むはずである。
ば、理論的には、ごく限られた範囲でしかプラズ
マが生成されないので、必要パワーが少なくてす
むはずである。
このようにすれば、確かに、プラズマを発生さ
せるためのパワーが少なくて済む。しかし、この
場合には、第10図に示すように、上記擬似サイ
クロイド運動前方の密度分布が、その後方の密度
分布よりも高くなり、全体として、当該プラズマ
の密度分布が不均一なることが解つた。
せるためのパワーが少なくて済む。しかし、この
場合には、第10図に示すように、上記擬似サイ
クロイド運動前方の密度分布が、その後方の密度
分布よりも高くなり、全体として、当該プラズマ
の密度分布が不均一なることが解つた。
もし、密度分布が不均一なプラズマで、被処理
物の表面処理をすれば、その表面処理自体も不均
一になるので、この種の装置は、実際の使用に耐
え得ないことが判明した。
物の表面処理をすれば、その表面処理自体も不均
一になるので、この種の装置は、実際の使用に耐
え得ないことが判明した。
この発明は、小さなパワーで高密度のプラズマ
を発生させるとともに、その密度分布を均一化し
た装置の提供を目的にする。
を発生させるとともに、その密度分布を均一化し
た装置の提供を目的にする。
(問題点を解決するための手段)
この発明は、上記の目的を達成するために、圧
力を制御する手段を備えた真空容器内に、一対の
非接地電極をほぼ平行にして対向させるととも
に、両非接地電極を同一の電源に接続し、さらに
この非接地電極の表面に沿つて磁界を発生させる
手段及び非接地電極を回りにおける電子の擬似サ
イクロイド運動を制限又は禁止する手段を設けた
構成にしている。
力を制御する手段を備えた真空容器内に、一対の
非接地電極をほぼ平行にして対向させるととも
に、両非接地電極を同一の電源に接続し、さらに
この非接地電極の表面に沿つて磁界を発生させる
手段及び非接地電極を回りにおける電子の擬似サ
イクロイド運動を制限又は禁止する手段を設けた
構成にしている。
(本発明の作用)
擬似サイクロイド運動を制限あるいは禁止する
上記手段によつて、互いに対向する非接地電極の
表面に、密度分布を対称的にした一対のプラズマ
が発生する。
上記手段によつて、互いに対向する非接地電極の
表面に、密度分布を対称的にした一対のプラズマ
が発生する。
(本発明の効果)
この発明は、密度分布が均一化した高密度のプ
ラズマを生成できるので、均一かつ高効率で、し
かも高速でダメージの少ない表面処理ができる。
ラズマを生成できるので、均一かつ高効率で、し
かも高速でダメージの少ない表面処理ができる。
また、限られた範囲でプラズマを生成するの
で、その使用電力も小さくなる。しかも、使用電
力を小さくした分、イオン化衝撃が小さくなるの
で、被処理物を損傷することもなくなる。
で、その使用電力も小さくなる。しかも、使用電
力を小さくした分、イオン化衝撃が小さくなるの
で、被処理物を損傷することもなくなる。
(本発明の実施例)
第1〜4図は第1実施例を示すもので、接地電
位を保持した真空容器11内には、一対の非接地
電極12,13を対向させているが、この非接地
電極12,13は、その対向側面12a,13a
とは反対側を絶縁物14,15で覆つている。
位を保持した真空容器11内には、一対の非接地
電極12,13を対向させているが、この非接地
電極12,13は、その対向側面12a,13a
とは反対側を絶縁物14,15で覆つている。
なお、この実施例では、真空容器11を接地さ
せることによつて、真空容器11を接地電極とし
て機能させている。
せることによつて、真空容器11を接地電極とし
て機能させている。
そして、上記非接地電極12,13には、同一
の高周波電源16を接続し、それら両電極12,
13が常に同電位に保たれるようにするととも
に、いずれか一方の電極、例えば電極12の対向
側面12aに被処理物である基板17を載置して
いる。
の高周波電源16を接続し、それら両電極12,
13が常に同電位に保たれるようにするととも
に、いずれか一方の電極、例えば電極12の対向
側面12aに被処理物である基板17を載置して
いる。
さらに、この真空容器11の外側にはコイル1
8,19を設け、このコイル18,19に直流電
流を流して、両電極12,13に平行な矢印B方
向の静磁界を作るようにしている。
8,19を設け、このコイル18,19に直流電
流を流して、両電極12,13に平行な矢印B方
向の静磁界を作るようにしている。
このようにした真空容器11には、複数のガス
ボンベ20〜22のガスを、所定の混合比にし
て、バルブ23、バリアブルリーク24及びガス
導入口25を経由して導入する一方、バルブ26
を介して真空ポンプ27で排気し、この真空容器
11内を所定の圧力に維持する。
ボンベ20〜22のガスを、所定の混合比にし
て、バルブ23、バリアブルリーク24及びガス
導入口25を経由して導入する一方、バルブ26
を介して真空ポンプ27で排気し、この真空容器
11内を所定の圧力に維持する。
しかして、真空容器11内に処理ガスを導入す
るとともに、コイル18,19に直流電流を流し
て、非接地電極12,13の対向部間に、それら
電極の対向側面12a,13aと平行なB方向の
静磁界を作る。この静磁界を作つた状態で、非接
地電極12,13に高周波電源16からの高周波
電力を供給すると、それぞれの非接地電極12,
13の対向側面12a,13a近傍で、電子が擬
似サイクロイド運動を起す。この運動方向前方に
おいては、上記絶縁物14,15と真空容器11
の側壁とで、その擬似サイクロイド運動が禁止又
は制限される。したがつて、この禁止又は制限さ
れた運動方向前方では、第3,4図に示すよう
に、当該プラズマが高密度化する。
るとともに、コイル18,19に直流電流を流し
て、非接地電極12,13の対向部間に、それら
電極の対向側面12a,13aと平行なB方向の
静磁界を作る。この静磁界を作つた状態で、非接
地電極12,13に高周波電源16からの高周波
電力を供給すると、それぞれの非接地電極12,
13の対向側面12a,13a近傍で、電子が擬
似サイクロイド運動を起す。この運動方向前方に
おいては、上記絶縁物14,15と真空容器11
の側壁とで、その擬似サイクロイド運動が禁止又
は制限される。したがつて、この禁止又は制限さ
れた運動方向前方では、第3,4図に示すよう
に、当該プラズマが高密度化する。
しかし、両非接地電極12,13を対向させた
ので、それぞれの電極において、上記擬似サイク
ロイド運動の運動方向が逆になる。しかも、両非
接地電極12,13に対する供給電力を等しくし
ているので、両電極の対向側面12a,13aに
沿つて形成されるプラズマの密度分布の状況は、
第3,4図に示すように対称になる。このように
対称なプラズマが、第2図に示す仮想分割線28
を境いにして電極12,13で合体するので、両
電極12,13間におけるプラズマは、高密度で
しかもその密度分布を均一化したものとなる。
ので、それぞれの電極において、上記擬似サイク
ロイド運動の運動方向が逆になる。しかも、両非
接地電極12,13に対する供給電力を等しくし
ているので、両電極の対向側面12a,13aに
沿つて形成されるプラズマの密度分布の状況は、
第3,4図に示すように対称になる。このように
対称なプラズマが、第2図に示す仮想分割線28
を境いにして電極12,13で合体するので、両
電極12,13間におけるプラズマは、高密度で
しかもその密度分布を均一化したものとなる。
上記のように密度分布を均一したプラズマを形
成するとともに、当該真空容器11にCHF3ガス
を導入して、SiO2膜をエツチングしたが、その
ときのエツチング速度は、基板17の表面各箇所
においてほとんど均一であつた。
成するとともに、当該真空容器11にCHF3ガス
を導入して、SiO2膜をエツチングしたが、その
ときのエツチング速度は、基板17の表面各箇所
においてほとんど均一であつた。
ちなみに、第10図に示す密度分布が不均一な
プラズマを使用して、上記と同様のエツチングを
したところ、そのエツチング速度の均一性は±40
%もあつた。
プラズマを使用して、上記と同様のエツチングを
したところ、そのエツチング速度の均一性は±40
%もあつた。
なお、上記真空容器11内にプラズマCVDに
用いる所定のガスを導入すれば、非接地電極12
に置かれた基板17に薄膜を堆積させることがで
きるが、その導入ガスと堆積させうる薄膜とを例
示すると次のようになる。
用いる所定のガスを導入すれば、非接地電極12
に置かれた基板17に薄膜を堆積させることがで
きるが、その導入ガスと堆積させうる薄膜とを例
示すると次のようになる。
SiH4+N2+NH3→SiN4膜
SiH4又はSi2H6等→a・SiH膜
SiH4+N2O→SiO2膜
第5図及び第6図に示した第2実施例は、静磁
界を発生させるのに、磁石29,30を使用した
ものである。すなわち、絶縁物31,32で、金
属製の容器に収納された磁石29,30を覆うと
ともに、非接地電極の対向側面12a,13a以
外の箇所もこの絶縁物31,32で覆つたもので
ある。そして、この磁石29,30には、図示し
ていない導管から冷却媒体を導いて、その磁石2
9,30を冷却できるようにしている。
界を発生させるのに、磁石29,30を使用した
ものである。すなわち、絶縁物31,32で、金
属製の容器に収納された磁石29,30を覆うと
ともに、非接地電極の対向側面12a,13a以
外の箇所もこの絶縁物31,32で覆つたもので
ある。そして、この磁石29,30には、図示し
ていない導管から冷却媒体を導いて、その磁石2
9,30を冷却できるようにしている。
その他、基本的な構成は第1実施例と同様であ
る。
る。
第7図に示した第3実施例は、当該真空容器3
3それ自体を石英ガラス等の絶縁物で構成すると
ともに、この真空容器33内に凹部34,35を
形成し、この凹部に非接地電極12,13を設置
している。そして、非設置電極12,13の対向
部間の周囲には、設置電極36を設けている。
3それ自体を石英ガラス等の絶縁物で構成すると
ともに、この真空容器33内に凹部34,35を
形成し、この凹部に非接地電極12,13を設置
している。そして、非設置電極12,13の対向
部間の周囲には、設置電極36を設けている。
その他、基本的な構成は第1実施例と同様であ
る。
る。
第8図に示した第4実施例は、真空容器38を
接地させるとともに、一方の非接地電極39を絶
縁物40で覆い、他方の非接地電極41を絶縁物
42で覆つている。
接地させるとともに、一方の非接地電極39を絶
縁物40で覆い、他方の非接地電極41を絶縁物
42で覆つている。
そして、上記絶縁物40は一方の非接地電極3
9とともに、真空容器38から取外ずし可能に
し、当該絶縁物40を取外ずして基板17を出し
入れできるようにしている。
9とともに、真空容器38から取外ずし可能に
し、当該絶縁物40を取外ずして基板17を出し
入れできるようにしている。
さらに、上記絶縁物40を真空容器38にセツ
トしたとき、他方の非接地電極41と電気的に導
通する構成にしている。
トしたとき、他方の非接地電極41と電気的に導
通する構成にしている。
いずれにしても、第2〜4実施例は、第1実施
例の変形例として示したもので、各実施例ともそ
の基本的な原理は全て同じである。
例の変形例として示したもので、各実施例ともそ
の基本的な原理は全て同じである。
なお、上記各実施例のいずれの場合にも、交番
磁界、回転磁界あるいは楕円回転磁界を用いても
よい。
磁界、回転磁界あるいは楕円回転磁界を用いても
よい。
このように交番磁界、回転磁界あるいは楕円回
転磁界を用いると、磁場の強度に対してイオン化
効率が高まり、処理速度が速くなるとともに、そ
の処理が均一化する利点もある。
転磁界を用いると、磁場の強度に対してイオン化
効率が高まり、処理速度が速くなるとともに、そ
の処理が均一化する利点もある。
図面第1〜4図はこの発明の第1実施例を示す
もので、第1図は真空容器の正面を断面にした状
態の概略図、第2図は上記真空容器の平面を断面
にした状態の概略図、第3図は一方の非接地電極
近傍に形成されたプラズマの密度分布を示す図、
第4図は他方の非接地電極近傍に形成されたプラ
ズマの密度分布を示す図、第5,6図は第2実施
例を示すもので、第5図は真空容器の正面を断面
にした状態の概略図、第6図は第5図の−線
断面図、第7図は第3実施例の真空容器の正面を
断面にした状態の概略図、第8図は第4実施例の
真空容器の正面を断面にした状態の概略図、第9
図は従来の装置の要部を示す概略図、第10図は
従来のプラズマの密度分布の状況を示す図であ
る。 11,33,38……真空容器、12,13,
39,41……非接地電極、12a,13a……
対向側面、14,15,31,32,40,42
……絶縁物、18,19……コイル、27……真
空ポンプ、29,30……磁石。
もので、第1図は真空容器の正面を断面にした状
態の概略図、第2図は上記真空容器の平面を断面
にした状態の概略図、第3図は一方の非接地電極
近傍に形成されたプラズマの密度分布を示す図、
第4図は他方の非接地電極近傍に形成されたプラ
ズマの密度分布を示す図、第5,6図は第2実施
例を示すもので、第5図は真空容器の正面を断面
にした状態の概略図、第6図は第5図の−線
断面図、第7図は第3実施例の真空容器の正面を
断面にした状態の概略図、第8図は第4実施例の
真空容器の正面を断面にした状態の概略図、第9
図は従来の装置の要部を示す概略図、第10図は
従来のプラズマの密度分布の状況を示す図であ
る。 11,33,38……真空容器、12,13,
39,41……非接地電極、12a,13a……
対向側面、14,15,31,32,40,42
……絶縁物、18,19……コイル、27……真
空ポンプ、29,30……磁石。
Claims (1)
- 1 圧力を制御する手段を備えた真空容器内に、
一対の非接地電極をほぼ平行にして対向させると
ともに、両非接地電極を同一の電源に接続し、さ
らにこの非接地電極の表面に沿つて磁界を発生さ
せる手段及び非接地電極を回りにおける電子の擬
似サイクロイド運動を制限又は禁止する手段を設
けた表面処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26149084A JPS61139668A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 表面処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26149084A JPS61139668A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 表面処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61139668A JPS61139668A (ja) | 1986-06-26 |
JPH0530910B2 true JPH0530910B2 (ja) | 1993-05-11 |
Family
ID=17362630
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26149084A Granted JPS61139668A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | 表面処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61139668A (ja) |
-
1984
- 1984-12-11 JP JP26149084A patent/JPS61139668A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61139668A (ja) | 1986-06-26 |
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