JPH0529937A

JPH0529937A - 校正方法及び校正用信号発生装置

Info

Publication number: JPH0529937A
Application number: JP20748091A
Authority: JP
Inventors: Koji Ochi; 幸治越智
Original assignee: Iwatsu Electric Co Ltd
Current assignee: Iwatsu Electric Co Ltd
Priority date: 1991-07-24
Filing date: 1991-07-24
Publication date: 1993-02-05

Abstract

(57)【要約】【目的】入力アナログ信号とアナログ・ディジタル変
換の閾値レベルとの相対的なレベル関係を調整する校正
方法において、変換誤差を小さくできる校正方法を提供
する。【構成】１又は複数の基準レベルを中心に上下に変化
する信号が重畳された状態のアナログ校正用信号を用意
する。この校正用信号をアナログ・ディジタル変換器を
有する校正対象装置に供給する。この校正対象装置で得
られる前記校正用信号のディジタル出力値に基づいて、
前記基準レベルとアナログ・ディジタル変換の閾値レベ
ルとの相対的なレベル関係を調整する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、例えばディジタルメ
モリ装置やディジタルメモリスコープ等のアナログ・デ
ィジタル変換器を搭載した装置の入力感度を校正する際
に使用して好適な校正方法及び校正用信号発生装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】種々のアナログ信号を記録して解析する
ために、アナログ・ディジタル変換器を搭載したディジ
タルメモリ装置やディジタルメモリスコープ等が使用さ
れている。ディジタルメモリ装置は、アナログ信号をデ
ィジタル信号に変換してＩＣメモリ等に一時蓄えること
ができる装置であり、ディジタルメモリスコープは、更
にそのＩＣメモリ等に蓄えられたディジタル信号を再度
アナログ信号に戻してブラウン管等に表示する機能をも
備えた装置である。

【０００３】従来、これらディジタルメモリ装置やディ
ジタルメモリスコープ等の入力感度を調整し、検査し又
は校正する場合には、直流標準電源（いわゆるＤＣスタ
ンダード）を用いている。すなわち、この直流標準電源
から出力される所定電圧値（基準レベル）の校正用信号
を、校正対象とする装置に入力して、この装置のディジ
タル出力信号の値を読むことにより、又は、さらに、こ
のディジタル出力信号をディジタル・アナログ変換して
得られたアナログ信号の値を読むことにより、それらの
値が所定の値になるように調整を行なったり、本来の値
からの誤差を読み取るようにしている。

【０００４】また、校正用信号として方形波信号を使用
して、同様に調整又は誤差の読み取りを行う校正方法も
知られている。この場合、校正用信号として使用される
方形波信号は図８の（Ａ）に示すように、ローレベル１
Ｌとハイレベル１Ｈとの間で周期的に変化する信号Ｓｉ
である。ここで、ローレベル１Ｌ及びハイレベル１Ｈは
それぞれディジタル値のＮ１及びＮ２に対応するものと
する。

【０００５】一方、校正対象とする装置のアナログ・デ
ィジタル変換器の前段には感度調整用の入力アンプが備
えられている。そして、この校正対象装置に上記校正用
方形波信号Ｓｉを入力し、例えばディジタル出力値を読
んで、そのローレベル１Ｌとハイレベル１Ｈのディジタ
ル値がＮ１及びＮ２となるように、前記入力アンプのゲ
イン及びオフセットを調整する。これによりアナログ・
ディジタル変換器のオフセットを含む感度が校正され
る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
校正方法の場合、入力アンプの調整状態によりアナログ
・ディジタル変換器において、閾値レベルについて±１
ＬＳＢ（１ＬＳＢは最下位ビットに対応するアナログ信
号のレベル）の誤差が生じる。

【０００７】すなわち、校正用方形波信号Ｓｉのハイレ
ベル１Ｈに対し、アナログ・ディジタル変換の閾値レベ
ルが、図８の（Ｂ）に示すように２Ｈａ及び２Ｈｂであ
っても、また、図８の（Ｃ）に示すように３Ｈａ及び３
Ｈｂであっても、ディジタル出力値はＮ２となる。同様
にして、校正用方形波信号Ｓｉのローレベル１Ｌに対
し、アナログ・ディジタル変換の閾値レベルが、図８の
（Ｂ）に示すように２Ｌａ及び２Ｌｂであっても、ま
た、図８の（Ｃ）に示すように３Ｌａ及び３Ｌｂであっ
ても、ディジタル出力値はＮ１となる。なお、入力アン
プにより増減されるのは図８の（Ａ）の校正波信号Ｓｉ
のレベルであるが、図８では便宜上、閾値レベルを変化
させて示す。

【０００８】このようにアナログ・ディジタル変換器で
基準レベルと閾値レベルとの間に校正により１ＬＳＢの
誤差が生じると、同じディジタル値を出力するアナログ
入力信号としては最大４ＬＳＢの誤差が生じてしまう。

【０００９】すなわち、図８Ｂの状態に調整された測定
器の場合には、図８の（Ｄ）に示すようにローレベルが
４Ｌで、ハイレベルが４Ｈの入力信号Ｓi1をも、ディジ
タル出力値Ｎ１及びＮ２の方形波信号として出力する。
また、図８の（Ｃ）の状態に調整された測定器の場合に
は、図８の（Ｅ）に示すようにローレベルが５Ｌで、ハ
イレベルが５Ｈの入力信号Ｓi2をも、ディジタル出力値
Ｎ１及びＮ２の方形波信号として出力する。

【００１０】これら入力信号Ｓi1とＳi2とを比較する
と、レベル４Ｌはレベル５Ｌに対してほぼ２ＬＳＢだけ
低くなり、また、レベル４Ｈはレベル５Ｈに対してほぼ
２ＬＳＢだけ低くなっている。したがって、入力アンプ
の調整状態により、得られるディジタルデータの値が同
じであっても、入力されているアナログ方形波信号には
振幅として最大で略４ＬＳＢの誤差（１つのレベルの正
確な値からの偏差としては最大で±２ＬＳＢの誤差）が
生ずる恐れがある。

【００１１】そして、この誤差はそのままアナログ・デ
ィジタル変換誤差となる。例えば、８ビットの装置をフ
ルスケール（分解能が８ビットであるので、閾値レベル
の分割数はフルスケールで２５６となる）の１／２で校
正するものとすると、フルスケールの１／２は１２８分
割相当であるので、上述のように最大で±２ＬＳＢの変
換誤差が生ずる場合、基準からの誤差は、 ±２／１２８＝０．０１５６２５となる。

【００１２】すなわち、従来の場合、校正用方形波信号
を被測定対象の装置に入力し、その装置のアナログ・デ
ィジタル変換後のディジタル出力データを読みながら調
整しても、ほぼ±１．５６％の変換誤差が生ずる可能性
があることになる。この変換誤差の割合はアナログ・デ
ィジタル変換器の分解能が粗いと更に大きくなる。

【００１３】この発明は以上の点にかんがみ、アナログ
・ディジタル変換器を備えた装置に校正用信号を供給し
て変換出力を調整することにより、その装置の感度を校
正する場合に、変換誤差が従来よりも小さくなる校正方
法を提供することを目的とする。

【００１４】また、この発明はそのような校正方法を実
施するための校正用信号を発生する校正用信号発生装置
を提供することを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】この発明による校正用信
号発生装置においては、１又は複数の基準レベルを中心
に上下に変化する信号が重畳された状態のアナログ信号
を上記校正用信号として出力する。

【００１６】そして、この発明による校正方法において
は、１又は複数の基準レベルを中心に上下に変化する信
号が重畳された状態のアナログ校正用信号を、アナログ
・ディジタル変換器を有する校正対象装置に供給し、こ
の校正対象装置で得られる前記校正用信号のディジタル
出力値に基づいて、前記基準レベルとアナログ・ディジ
タル変換の閾値レベルとの相対的なレベル関係を調整す
る。

【００１７】前記校正用信号の前記基準レベルに対する
上下の変化幅は、前記アナログ・ディジタル変換器のデ
ィジタル信号の１ＬＳＢ以上に設定すると良い。

【００１８】

【作用】上記の構成のこの発明による校正方法において
は、校正用信号として、校正しようとするレベルに対応
する基準レベルを中心に上下に変化するアナログ信号が
使用される。このため、基準レベルをアナログ・ディジ
タル変換のための所定の閾値レベル間の中間のレベルに
したとき、上下に変化する信号部分と上下の閾値レベル
とのレベルの上下関係により、基準レベルの閾値レベル
間でのレベル的な位置が判る。この上下に変化する信号
部分と上下の閾値レベルとのレベルの上下は、アナログ
・ディジタル変換出力に現れる。したがって、校正対象
装置のアナログ・ディジタル変換出力であるディジタル
値から、あるいはそのアナログ変換信号から、校正用信
号の基準レベルの閾値レベルに対する相対的関係を設定
することができる。

【００１９】そして、校正用信号の基準レベルからの変
化幅が１ＬＳＢ以上である場合には、基準レベルの上下
の閾値レベルと校正用信号が交差するので、ディジタル
値として基準レベルと閾値レベルのレベル関係を確実に
知ることができ、基準レベルをその上下の閾値レベルの
中間値に調整することができる。

【００２０】

【実施例】以下、この発明方法の一実施例を、図１〜図
４を参照しながら説明する。本例はディジタルメモリス
コープの入力感度を校正する場合に、この発明を適用し
たものである。

【００２１】図１は本例の入力感度校正システムを示
し、この図１において、１０は校正用信号発生装置、２
０はディジタルメモリスコープであり、校正用信号発生
装置１０の出力端子１０ａからディジタルメモリスコー
プ２０の入力端子２０ａに校正用信号Ｓ２が供給されて
いる。

【００２２】校正用信号発生装置１０は、この例の場
合、直流標準電源（ＤＣスタンダード）１１と、重畳波
信号加算回路１２とを備える。重畳波信号加算回路１２
は、重畳波信号発生回路１５を有する。そして、直流標
準電源１１の出力端子１１ａが重畳波信号加算回路１２
の抵抗器１３を介して出力端子１０ａに接続される。ま
た、重畳波信号発生回路１５の出力端子１５ａが、抵抗
器１３と出力端子１０ａとの接続点にコンデンサ１４を
介して接続される。

【００２３】直流標準電源１１からは基準レベルの直流
電圧ＤＣ１が発生する。そして、この例の場合、重畳波
信号発生回路１５からは重畳波信号として三角波信号Ｓ
１が発生する。したがって、校正用信号発生装置１０の
出力端子１０ａには、基準レベルの直流電圧ＤＣ１に三
角波信号Ｓ１が重畳された信号Ｓ２（図２Ａ参照）が得
られる。

【００２４】この場合、この三角波信号Ｓ１は、この例
では、図２Ａに示すように、約２ＬＳＢ程度の振幅の信
号とされている。したがって、この例の場合は、校正用
信号Ｓ２は基準レベルの直流電圧ＤＣ１を中心に上下に
それぞれ最大で約１ＬＳＢの変化をする三角波が重畳さ
れた状態の信号である。

【００２５】ディジタルメモリ装置７においては、入力
端子２０ａを介して入力された校正用信号Ｓ２は入力ア
ンプ２１に供給される。この入力アンプ２１には、オフ
セット調整用の可変抵抗器２２及びゲイン調整用の可変
抵抗器２３が設けられ、これら可変抵抗器２２及び２３
の抵抗値を調整することにより、それぞれオフセット及
びゲインが調整できるように構成されている。

【００２６】この入力アンプ２１から出力される調整後
の校正用信号Ｓ３は、アナログ・ディジタル変換器２４
に供給され、ディジタルデータに変換される。このアナ
ログ・ディジタル変換器２４の出力ディジタルデータ
は、メモリ２５に書き込まれる。そして、このメモリ２
５から随時読み出されたディジタルデータがディジタル
・アナログ変換器２６に供給されて、アナログ信号に戻
され、そのアナログ信号がディスプレイ装置２７に供給
され、アナログ信号波形Ｓ４がＣＲＴなどのディスプレ
イに表示される。なお、メモリ２５から読み出したディ
ジタルデータをアナログ信号に戻さずにそのままディス
プレイに表示する場合もある。

【００２７】次に、本例の校正動作につき説明する。
今、図２Ａに示すように、アナログ・ディジタル変換器
２４から出力されるディジタル値が（Ｎ−１），Ｎ，
（Ｎ＋１）であるときの、入力アナログ信号に対するア
ナログ・ディジタル変換器２４における閾値のレベル
を、それぞれレベルＬＡ，ＬＢ，ＬＣ及びＬＤとする。
そして、ディジタル値Ｎに対する校正のために、基準レ
ベルの直流電圧ＤＣ１を閾値レベルＬＢとＬＣとの中間
のレベルに校正する場合について説明する。

【００２８】この場合、図２Ａに示すように、その校正
用信号Ｓ２（調整後の校正用信号Ｓ３）の直流信号ＤＣ
１が、閾値レベルＬＢとＬＣとの中間のレベルであると
きには、校正用信号Ｓ２は基準レベルの直流電圧ＤＣ１
を中心に上下に最大で約１ＬＳＢの変化をする三角波が
重畳された状態の信号であるので、変換出力信号Ｓ４
は、図２Ｂに示すように、値（Ｎ−１），値Ｎ及び値
（Ｎ＋１）にそれぞれ対応する３段階のレベルに渡って
周期的に変化する信号となる。

【００２９】ここで、ＤＣ１のレベルが＋極性であると
すると、図１の入力アンプ２１の可変抵抗器２３を調整
してアンプゲインを大きくすると（感度を良くする
と）、図２Ａにおける調整後の校正用信号Ｓ３に対する
閾値レベルが相対的にレベルの低い方にシフトする。こ
のため、変換出力信号Ｓ４は値（Ｎ＋１）のレベルの時
間が長くなり、値（Ｎ−１）のレベルの時間が短くな
る。

【００３０】一方、入力アンプ２１のゲインを小さくす
ると（感度を悪くすると）、調整後の校正用信号Ｓ３の
ＤＣレベルが低くなるので、閾値レベルが相対的にレベ
ルの高い方にシフトする。このため、変換出力信号Ｓ４
は値（Ｎ−１）に対応するレベルに存在する時間が長く
なり、値（Ｎ＋１）のレベルの時間が短くなる。

【００３１】したがって、アンプゲインを調整して変換
出力信号Ｓ４のディジタル値（Ｎ−１）及び（Ｎ＋１）
に対応するレベルの継続時間を等しくすれば、調整後の
校正用信号Ｓ３の基準信号のレベルが閾値レベルＬＢと
ＬＣとの平均値Ｌ０＝（ＬＢ＋ＬＣ）／２に設定され
る。

【００３２】このようにして、直流標準電源１１の出力
電圧である基準レベルを、アナログ・ディジタル変換の
閾値のレベルの平均値に合わせることができるので、直
流標準電源１１の出力電圧の２以上の基準レベルを、ア
ナログ・ディジタル変換の前記基準レベルの上下の閾値
レベルの平均値に合わせることにより、入力アンプのゲ
インの調整による調整誤差をほぼ零とすることができ
る。

【００３３】また、図２Ａにおいて破線の三角波で示す
ように、基準レベルの電圧ＤＣ１に重畳されている三角
波の振幅を丁度１ＬＳＢあるいは１ＬＳＢより僅かに小
さい振幅に設定した場合、基準レベルの電圧ＤＣ１の調
整レベルが閾値のレベルＬＢとＬＣとの平均値に設定さ
れたときには、変換出力Ｓ４が常に値Ｎのレベルとな
り、調整レベルがそれより高ければ、変換出力Ｓ４は、
値Ｎと値（Ｎ＋１）との２値を取る。また、調整レベル
がそれより低ければ、変換出力Ｓ４は、値Ｎと値（Ｎ−
１）との２値を取る。したがって、この場合、出力Ｓ４
が値Ｎのみを取るように設定することにより、基準レベ
ルＤＣ１をその上下の目的の閾値レベルの平均値に調整
する校正ができる。

【００３４】なお、以上のことは、三角波の代わりに正
弦波又はホワイトノイズ等を重畳させても同様の作用効
果が得られるものである。

【００３５】また、校正用信号発生装置１０において、
直流標準電源１１の代わりに、方形波信号の発生源を用
いることもできる。この場合には、２つの基準レベルに
三角波信号などを重畳した状態の信号を校正用信号Ｓ２
として得ることができるので、２つの基準レベルに対し
て校正作業を行う場合に、直流標準電源１１の場合に
は、２つの基準レベルを、それぞれ用意して調整する必
要があるのに対し、校正作業が１度で済む。

【００３６】さらに、重畳波信号としては、三角波だけ
ではなく例えば階段波を用いることもできる。例えば、
３段階で、振幅が１／２ＬＳＢの階段波を基準レベルの
電圧ＤＣ１に重畳した場合について、図３を参照して説
明する。

【００３７】この場合、図３Ａに示すように、３つの場
合Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３を考える。すなわち、図１の入力ア
ンプ２１の可変抵抗器２３を調整してアンプゲインを調
整することにより、電圧ＤＣ１が閾値レベルＬＢとＬＣ
の平均値より大きいとき（場合Ｔ１）、電圧ＤＣ１が閾
値レベルＬＢとＬＣの平均値に等しいとき（場合Ｔ
２）、電圧ＤＣ１が閾値レベルＬＢとＬＣの平均値より
小さいとき（場合Ｔ３）を考える。

【００３８】各期間の変換出力信号Ｓ４は、それぞれ、
図３Ｂに示すように、場合Ｔ１では値Ｎのみでなく、値
（Ｎ＋１）を取る信号となり、また、場合Ｔ３では値Ｎ
のみでなく、値（Ｎ−１）を取る信号となり、場合Ｔ２
では常時値Ｎのみを取る信号となる。したがって、図３
の例の階段波の場合には、場合Ｔ２のように、変換出力
信号Ｓ４が値Ｎのみを常に取るように入力アンプ２１の
ゲインを調整することにより、基準レベルの直流電圧Ｄ
Ｃ１を閾値レベルＬＢとＬＣの平均値に設定することが
できるものである。

【００３９】そして、変換出力信号Ｓ４が場合Ｔ１のよ
うな場合には、基準レベルが平均値よりも高く調整さ
れ、また、変換出力信号Ｓ４が場合Ｔ３のような場合に
は、基準レベルが平均値よりも低く調整されたことが判
る。

【００４０】図３の例では重畳される階段波は３段階で
あるが、３段階以上であれば、その段数に応じて基準レ
ベルが設定目的の閾値レベルの平均値よりどの程度ズレ
ているかを知ることができる。

【００４１】例えば、４段階で、１段の振幅が１／４Ｌ
ＳＢの場合の階段波を、基準レベルの直流電圧ＤＣ１の
基準信号に重畳して形成された校正用信号Ｓ２を図４Ａ
に示す。図４Ａの左側に示すのは、基準レベルがその上
下の閾値レベルの平均値であるとき、図４Ａの中央に示
すのは、基準レベルが前記平均値より１／４ＬＳＢより
小さい値だけ低いとき、図４Ａの右側に示すのは、基準
レベルが前記平均値より１／４より大きく１／２より小
さいときである。この例の場合、図４Ｂから明らかなよ
うに、変換出力信号Ｓ４により、１／４ＬＳＢづつの精
度で平均値からのズレを知ることができる。したがっ
て、段数を多くすることにより、平均値からのズレをよ
り細かい精度で知ることができる。

【００４２】階段波の階段の数を次第に増加させていく
と、その階段波は三角波になる。また、その調整後の校
正用信号Ｓ３に対するその中間レベルのズレが或る規格
に対して内側か外側かを知れば良いときなどは、その階
段波の階段の数はそれほど多くする必要はなく、適当な
段数に設定するだけでよい。

【００４３】また、信号源及び入力アンプ２１などでノ
イズが必ず混入する。このような場合、ノイズを除去し
て重畳波信号を正確に捉えるには、重畳波信号に同期し
た周期で、Ａ／Ｄ変換器２４の出力データＳ４を取り込
み、平均化するようにすれば良い。このため、重畳波信
号の周期は、校正用信号が直流標準電圧でない場合に
は、方形波信号などの校正用信号の周期の整数倍である
方が良い。さらには、その重畳波信号の周期がアナログ
・ディジタル変換器２４の変換用のクロックと同期状態
にあれば更に正確なデータを得ることができるのはいう
までもない。

【００４４】次に、この発明の他の実施例につき説明す
るに、図５は本例の校正用信号発生装置を示している。
この図５において、３１は基準レベル信号発生回路とし
ての方形波発生回路であり、この方形波発生回路３１よ
り発生する方形波信号は、可変抵抗器３２で所望のレベ
ルに減衰された後、合成用アンプ３５の一方の入力端子
に供給される。

【００４５】また、３３は重畳波発生回路を示し、この
重畳波発生回路３３よりは、前述したような重畳波信号
が発生し、その重畳波信号は、可変抵抗器３４で所望の
レベルに減衰された後、合成用アンプ３５の他方の入力
端子に供給される。そして、この合成用アンプ３５で合
成された信号が、アッテネータとしての可変抵抗器３０
で所望のレベルに減衰された後、校正用信号Ｓ２として
出力端子１０ａに導出される。

【００４６】この例の校正用信号Ｓ２によれば、基準信
号としての方形波信号に重畳波信号を種々の振幅比で重
畳することができ、容易に所望の特性を有する校正用信
号Ｓ２を生成することができる。

【００４７】次に、ディジタル・アナログ変換器を用い
て校正用信号を生成する校正用信号発生装置の例につき
図６及び図７を参照して説明する。

【００４８】図６は、本例の校正用信号発生装置を示
し、この図６において、４１は校正用信号Ｓ２がディジ
タルデータとして書き込まれた校正用信号用メモリであ
る。この校正用信号用メモリ４１から読み出されたディ
ジタルデータは、ディジタル・アナログ変換器４２にお
いてアナログ信号に変換され、このアナログ信号が出力
用アンプ４３を介してアッテネータとしての可変抵抗器
４４に供給されて、所望のレベルまで減衰される。そし
て、このアッテネータ４４に得られた信号は、校正用信
号Ｓ２として出力端子１０ａに導出される。

【００４９】この例の場合には、予め校正用信号用メモ
リ４１に、例えば図７に示すような校正用信号Ｓ２のデ
ータを書き込んでおくことにより、容易に所望の校正用
信号を得ることができる。図７の例の校正用信号Ｓ２
は、第１の基準レベル６Ｌと第２の基準レベル６Ｈとを
繰り返す方形波信号に、４段階のレベルで周期的に変化
する階段波を重畳したものであり、方形波信号の周波数
をｆとすると、図の例の場合には、階段波の周波数は７
ｆに設定されている。

【００５０】なお、図１の例では、ディジタルメモリ装
置７において、入力段に感度調整用の入力アンプ２１を
設けたが、ゲイン調整用のアンプを出力段に設けるよう
にしてもよく、また、アナログ・ディジタル変換器２６
又はディジタル・アナログ変換器２４に特性調整用の回
路を設けてもよい。さらに、メモリ２５に書き込まれた
ディジタルデータに演算処理を施すことによりオフセッ
ト及びゲインを調整するようにしてもよい。

【００５１】

【発明の効果】以上説明したように、この発明の校正方
法によれば、校正用信号中の調整したい基準レベルと、
アナログ・ディジタル変換の閾値レベルとを常に一定の
レベル関係に設定することができるので、校正誤差が従
来よりも小さくなる。そして、基準レベルに対して上下
に変化する部分の振幅を１ＬＳＢ以上とすれば、基準レ
ベルをその上下の目的の閾値レベルの平均値に常に調整
することができ、アナログ・ディジタル変換誤差を最小
にすることができる。

【００５２】また、この発明の校正用信号発生装置によ
れば、校正したい基準レベルに三角波や階段波などの重
畳波を重畳するだけで、目的とする校正用信号を得るこ
とができるので、簡単な構成で校正用信号を発生できる
利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例の入力感度校正システムを
示すブロック図である。

【図２】図１の例の説明のための信号波形の一例を示す
波形図である。

【図３】図１の例の説明のための信号波形の他の例を示
す波形図である。

【図４】図１の例の説明のための信号波形の更に他の例
を示す波形図である。

【図５】この発明による校正用信号発生装置の他の実施
例の構成を示す図である。

【図６】この発明による校正用信号発生装置のさらに他
の実施例の構成を示す図である。

【図７】図６の例の校正用信号の一例を示す波形図であ
る。

【図８】従来の校正方法の説明図である。

【符号の説明】

１０校正用信号発生装置２０ディジタルメモリ装置１１直流標準電源１２重畳波信号加算回路１５重畳波信号発生回路２１入力アンプ２４アナログ・ディジタル変換器２５メモリ２６ディジタル・アナログ変換器２７ディスプレイ装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】１又は複数の基準レベルを中心に上下に
変化する状態のアナログ校正用信号を、アナログ・ディ
ジタル変換器を有する校正対象装置に供給し、この校正
対象装置で得られる前記校正用信号のディジタル出力値
に基づいて、前記基準レベルとアナログ・ディジタル変
換の閾値レベルとの相対的なレベル関係を調整するよう
にした校正方法。
【請求項２】アナログ・ディジタル変換器を備える校
正対象装置の前記アナログ・ディジタル変換の閾値レベ
ルと基準レベルとの相対的なレベル関係を調整するため
の校正用信号を発生する校正用信号発生装置であって、１又は複数の基準レベルを中心に上下に変化する信号が
重畳された状態のアナログ信号を上記校正用信号として
出力するようにした校正用信号発生装置。
【請求項３】前記校正用信号の前記基準レベルに対す
る上下の変化幅の最大値が、前記アナログ・ディジタル
変換器のディジタル信号の１ＬＳＢ（１ＬＳＢは、アナ
ログ・ディジタル変換後のディジタルデータの最小桁に
対応するアナログ信号のレベル）以上であるようにされ
てなる請求項２記載の校正用信号発生装置。