JPH05298141A - Integrated circuit for specified use - Google Patents
Integrated circuit for specified useInfo
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- JPH05298141A JPH05298141A JP4106515A JP10651592A JPH05298141A JP H05298141 A JPH05298141 A JP H05298141A JP 4106515 A JP4106515 A JP 4106515A JP 10651592 A JP10651592 A JP 10651592A JP H05298141 A JPH05298141 A JP H05298141A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、テスト容易化設計手法
を実現した特定用途向け集積回路(ASIC;Applicat
ion Specific Integrated Circuit )に関し、詳しく
は、マイクロプログラム制御方式を採用したASICの
テスト時のモジュールの可観測性を向上させるように改
善するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an application specific integrated circuit (ASIC; Applicat) realizing a testability design method.
ion specific integrated circuit), in detail, the observability of the module at the time of the test of the ASIC adopting the microprogram control method is improved.
【0002】[0002]
【従来の技術】特定用途向け集積回路(以下、ASIC
と呼ぶ)の設計にあっては、その回路構成が大規模化、
複雑化した場合に、高信頼性(十分な故障検出率)確保
のために、チップ単体のテストをいかに効率よく行うか
が重要な課題となっている。本発明では、特に、マイク
ロプログラム制御方式を採用したASICを対象とする
ものであり、このようなASICの一般的な例を図4に
示す。この図のASIC1は、上位ホスト計算機(図示
せず)から非同期にアクセスされるためのチップ・セレ
クト信号CS,リード/ライト制御信号RWC,ホスト
・アドレスHA(lビット)等を受けるCPUインター
フェイス部INF2、INF2からのリード・イネーブ
ル信号を受けて該当するレジスタの値を出力ポートBO
に送出またはライト・イネーブル信号を受けて該当する
レジスタにホスト計算機からのパラメータ・コマンドを
入力ポートBI経由で書き込むパラメータ設定部PRE
G3を有する。この入力ポートBI及び出力ポートBO
は、外部とデータHD(mビット)を授受することによ
り、このASIC1は上位のホスト計算機等と双方向に
通信を行える。尚、送信バッファBOは信号HOEによ
り制御される。更に、マイクロプログラム制御部MCT
L4は、マイクロアドレスMICAを生成するアドレス
・シーケンサADSEQ41、マイクロアドレスMIC
Aを受けてマイクロコードINSTを出力するROM4
2、マイクロコードINSTを一時保持するパイプライ
ン・レジスタPPL43、デコーダDEC44を備えて
いる。マルチプレクサMUX5は、MCTL4の制御に
よりPREG3内の特定レジスタの値を選択し、レジス
タ演算部RALU6にデータdとして与えるものであ
る。レジスタ演算部RALU6は、MUX5からのデー
タd、内部レジスタtr0,tr1,…、一定値データ
all”0”の内二つのデータ・ソースを選択するソース
・セレクタSOR61を有し、SOR61で選択した値
に演算を施す演算部ALU62を備える。また、複数の
モジュールM1,M2,M3,…,MNは、このASI
C1の動作時にあって、MCTL4、RALU6、演算
結果出力バスXBUSを介してそれぞれ制御されるもの
である。マイクロプログラム制御方式のASIC1は以
上のように構成され、上位のホスト計算機からの指示に
従ってMCTL4により、内部の複数のモジュールM
1,M2,…,MNが制御され、動作する。ここで、複
数のモジュールM1,M2,…,MNの内、モジュール
M1は、出力ポートGOよりデータMDOを外部に送出
するものとする。また、入力ポートGIより外部からデ
ータMDIを取り込み、出力ポートGOは信号MOEに
より制御される。2. Description of the Related Art Integrated circuits for specific applications (hereinafter referred to as ASICs)
Called)), the circuit configuration becomes large-scale,
In order to ensure high reliability (sufficient failure detection rate) in the case of complication, how to efficiently test a single chip is an important issue. The present invention is particularly directed to an ASIC that employs a microprogram control method, and a general example of such an ASIC is shown in FIG. The ASIC 1 in this figure is a CPU interface unit INF2 that receives a chip select signal CS, a read / write control signal RWC, a host address HA (l bit), etc. for asynchronous access from a host computer (not shown). , Read enable signal from INF2 and output corresponding register value to output port BO
Parameter setting unit PRE which sends the parameter command from the host computer to the corresponding register via the input port BI upon receiving the write enable signal
With G3. This input port BI and output port BO
By exchanging data HD (m bits) with the outside, the ASIC 1 can bidirectionally communicate with a host computer or the like of a higher rank. The transmission buffer BO is controlled by the signal HOE. Furthermore, the micro program control unit MCT
L4 is an address sequencer ADSEQ41 for generating a micro address MICA, a micro address MIC
ROM4 that receives A and outputs microcode INST
2. A pipeline register PPL43 for temporarily holding the microcode INST and a decoder DEC44 are provided. The multiplexer MUX5 selects the value of the specific register in PREG3 under the control of MCTL4 and gives it to the register operation unit RALU6 as data d. The register operation unit RALU6 has data d from the MUX 5, internal registers tr0, tr1, ..., Constant value data.
It has a source selector SOR61 for selecting two data sources of all "0", and an arithmetic unit ALU62 for performing an arithmetic operation on the value selected by the SOR61. Also, the plurality of modules M1, M2, M3, ...
During the operation of C1, it is controlled via the MCTL4, RALU6, and the operation result output bus XBUS. The ASIC 1 of the micro program control system is configured as described above, and the plurality of internal modules M are set by the MCTL 4 according to the instruction from the host computer.
1, M2, ..., MN are controlled and operate. Here, among the plurality of modules M1, M2, ..., MN, the module M1 is assumed to send the data MDO to the outside from the output port GO. Data MDI is externally fetched from the input port GI, and the output port GO is controlled by the signal MOE.
【0003】このようなASIC1の内部のモジュール
M1,M2,…,MNに対して、その動作の正常、異常
をテストする際、テスト動作の可観測性を上げるため、
図5のような構成の回路を採用していた。即ち、図5の
例は、マルチプレクサMUX7を設け、モジュールM1
から外部への本来の出力MD0、モジュールM1からモ
ジュールM2への出力M102、モジュールM2からモ
ジュールM1への出力M201、モジュールM2からモ
ジュールM3への出力M202、モジュールM3からモ
ジュールM2への出力M302等、観測すべき信号をそ
の入力とし、外部からのテスト用マルチプレクサ切換信
号TSEL(rビット)によっていずれか一つの入力を
選択し、出力ラインMDOUTから出力ポートGOを介
して外部に出力する、という方式である。そして、出力
された信号MDについて、図示しない表示手段、記録手
段等によりその様子を観測することができ、モジュール
動作の正常、異常を知ることができる。In order to increase the observability of the test operation when testing whether the operation of the modules M1, M2, ..., MN inside the ASIC 1 is normal or abnormal,
A circuit having a configuration as shown in FIG. 5 was adopted. That is, in the example of FIG. 5, the multiplexer MUX7 is provided and the module M1
Output from the module to the outside MD0, output M102 from module M1 to module M2, output M201 from module M2 to module M1, output M202 from module M2 to module M3, output M302 from module M3 to module M2, etc. A signal to be observed is used as its input, one of the inputs is selected by an external test multiplexer switching signal TSEL (r bit), and the signal is output from the output line MDOUT to the outside via the output port GO. is there. Then, the output signal MD can be observed by a display unit, a recording unit, or the like (not shown), and the normal or abnormal operation of the module can be known.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような従来のASICのテスト方式にあっては、テスト
すべきモジュールの数が多くなりその出力数が増えた場
合に、マルチプレクサ7の入力が増大し、これに伴っ
て、外部からのテスト用マルチプレクサ切換信号TSE
L(rビット)を受けるための端子数もrビットから増
えることとなり、ASIC全体の端子数に制限が発生
し、好ましくない、という問題があった。However, in the conventional ASIC test system as described above, when the number of modules to be tested increases and the number of outputs increases, the input of the multiplexer 7 increases. In response to this, an external test multiplexer switching signal TSE
The number of terminals for receiving L (r bits) also increases from r bits, and the number of terminals of the entire ASIC is limited, which is not preferable.
【0005】本発明は、このような課題を解決したもの
であり、マイクロプログラム方式を採用したASICに
おいて端子数を増やすことなく内部のモジュールの動作
の可観測性を向上させることを目的とする。The present invention solves such a problem, and an object of the present invention is to improve the observability of the operation of an internal module without increasing the number of terminals in an ASIC adopting a microprogram system.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
る本発明は、双方向通信手段により上位ホスト計算機と
パラメータまたはコマンドをリード/ライトするパラメ
ータ設定部と、マイクロアドレスを生成して対応するマ
イクロコードをシステム・クロックに同期して出力する
マイクロプログラム制御部と、内部レジスタを有し前記
パラメータ設定部側から与えられるデータについて演算
を施してその演算結果を出力するレジスタ演算部と、前
記マイクロプログラム制御部から前記レジスタ演算部を
介して制御される複数のモジュールとを備える特定用途
向け集積回路において、前記レジスタ演算部からの演算
結果出力バスと前記複数のモジュールのうち外部出力端
子に接続される特定のモジュールの出力とを別途与えら
れるテスト・モード信号により選択する第1のマルチプ
レクサと、前記パラメータ設定部からのデータを入力す
るとともに前記複数のモジュールからの出力信号であっ
て外部へ直接出力されないものを入力し前記マイクロプ
ログラム制御部からの信号によりいずれかの入力を選択
して前記レジスタ演算部へ与える第2のマルチプレクサ
とを設けたことを特徴とする特定用途向け集積回路であ
る。The present invention which achieves such an object corresponds to a host computer by a bidirectional communication means, a parameter setting section for reading / writing parameters or commands, and a micro address generated. A micro program control unit for outputting a micro code in synchronization with a system clock; a register operation unit having an internal register for performing an operation on data given from the parameter setting unit side and outputting the operation result; In an application-specific integrated circuit including a plurality of modules controlled by the program control unit via the register calculation unit, a calculation result output bus from the register calculation unit and an external output terminal of the plurality of modules are connected. Test module that is separately provided with the output of the specific module A first multiplexer selected by a signal, and data input from the parameter setting section and output signals from the plurality of modules which are not directly output to the outside are input by a signal from the microprogram control section. And a second multiplexer for selecting any one of the inputs and giving it to the register arithmetic unit.
【0007】[0007]
【作用】本発明の特定用途向け集積回路は、テスト・モ
ード信号がアクティブな場合に、第2のマルチプレクサ
及びレジスタ演算部により所望のモジュールの出力信号
が演算結果出力バスに送出され、第1のマルチプレクサ
はこの演算結果出力バスを選択して外部へ送出する。In the application-specific integrated circuit of the present invention, when the test mode signal is active, the output signal of the desired module is sent to the operation result output bus by the second multiplexer and the register operation unit, and The multiplexer selects this operation result output bus and sends it to the outside.
【0008】[0008]
【実施例】以下、図面を用いて本発明を詳細に説明す
る。図1は本発明を実施したASIC1の例である。こ
の図で、図4、図5に示した従来のASIC1と符号が
同じブロックは、その機能は同じである。本発明にあっ
ては、第1のマルチプレクサ8及び第2のマルチプレク
サ9を設けたことを特徴とするものである。第1のマル
チプレクサ8は、外部へ信号を送出するモジュールM1
の出力信号MDOUTと、演算結果出力バスXBUSの
いずれか一つを外部から与えられたテスト・モード信号
TESTによって選択出力するものである。ここでは、
テスト・モード信号TEST=”H”の時に演算結果出
力バスXBUSを選択するものとする。この第1のマル
チプレクサ8の出力MD0は出力ポートG0を経由して
外部へ出力される。第2のマルチプレクサ9は、パラメ
ータ設定部PREG3内の特定のレジスタの値P1,
…,PKと、複数のモジュールM1,M2,…,MNの
出力信号M102,M201,M202等をマイクロプ
ログラム制御部MCTL4内のパイプライン・レジスタ
PPL43内のマイクロコードSによって選択し、デー
タdとしてレジスタ演算部6に与えるものである。The present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 1 is an example of an ASIC 1 embodying the present invention. In this figure, blocks having the same reference numerals as those of the conventional ASIC 1 shown in FIGS. 4 and 5 have the same functions. The present invention is characterized in that the first multiplexer 8 and the second multiplexer 9 are provided. The first multiplexer 8 is a module M1 for transmitting a signal to the outside.
Output signal MDOUT and one of the operation result output buses XBUS are selectively output by a test mode signal TEST applied from the outside. here,
The operation result output bus XBUS is selected when the test mode signal TEST = "H". The output MD0 of the first multiplexer 8 is output to the outside via the output port G0. The second multiplexer 9 has a value P1 of a specific register in the parameter setting unit PREG3.
, PK and output signals M102, M201, M202, etc. of the plurality of modules M1, M2, ..., MN are selected by the microcode S in the pipeline register PPL43 in the microprogram control unit MCTL4 and registered as data d. It is given to the calculation unit 6.
【0009】次に、このように構成された本発明のAS
IC1において、マイクロプログラム制御部MCTL4
及びレジスタ演算部RALU3によって制御される複数
のモジュールM1,M2,…,MNをテストする際の動
作を図2のタイムチャートを用いて説明する。 (1)はじめに、モジュールM1の出力M102を外部
に出力する場合について述べる。 n1サイクルにて、システム・クロックCPの立ち上が
りで第2のマルチプレクサ9の入力Sに、MCTL4か
らモジュールM1からの出力M102を選択することを
指示するマイクロコードS(M102)を与える。これ
により、第2のマルチプレクサ9の出力dには、出力M
102にかかるデータa1が出力される。続いて、レジ
スタ演算部RALU6にて、入力dとデータ”0”とを
SOR61でソース選択してALU62にて論理和演算
してその結果を演算結果出力バスXBUSに送出する。
従って、演算結果出力バスXBUSには出力M102の
データa1が出力される。一方、n1サイクルのシステ
ム・クロックCPの立ち上がりで第1のマルチプレクサ
8へのテスト・モード信号TESTを”H”とするた
め、第1のマルチプレクサ8は演算結果出力バスXBU
Sの値を選択し、その出力MDOには演算結果出力バス
XBUSの値が現れる。また、事前に出力ポートGOの
出力イネーブル信号MOEは”H”となっているため、
当該ASIC1の出力MDは、出力M102のデータa
1となる。尚、出力M102にかかるデータa1は適当
なストローブ・タイミングSTBにてストローブされ
る。引き続き、N2サイクル、n3サイクルにて同様の
動作が繰り返され、出力MDは、順次、出力M102に
かかるデータa2,a3となる。 (2)次に、モジュールM2の出力M201を出力MD
とする場合について述べる。 m1サイクルにて、システム・クロックCPの立ち上が
りで第2のマルチプレクサ9の入力Sに、モジュールM
2からの出力M201を選択することを指示するマイク
ロコードS(M201)を与える。これにより、第2の
マルチプレクサ9の出力dからは出力M201に対応し
たデータb1が出力される。そして、レジスタ演算部R
ALU6で入力dとデータ”0”をソース選択し、AL
U62にて論理和演算を行い、その結果を演算結果出力
バスXBUSに出力する。これにより、演算結果出力バ
スXBUSには出力M201にかかるデータb1が出力
される。一方、第1のマルチプレクサ8は、テスト・モ
ード信号TEST=”H”が与えられているため、演算
結果出力バスXBUSの値を選択し、その出力MDOに
は演算結果出力バスXBUSの値b1が出力される。従
って、この回路の出力MDは出力M201にかかるデー
タb1となる。尚、出力M201にかかるデータb1は
適当なストローブ・タイミングSTBにてストローブさ
れる。引き続き、m2サイクル,m3サイクルにて同様
の動作が繰り返され、出力MDには順次出力M201に
かかるデータb2,b3が出力され、適当なタイミング
STBにてストローブされる。以下、同様にして、モジ
ュールM3,M4,…,MNのデータが当該ASIC1
の出力MDとなる。Next, the AS of the present invention configured as described above
In IC1, microprogram control unit MCTL4
The operation when testing the plurality of modules M1, M2, ..., MN controlled by the register arithmetic unit RALU3 will be described with reference to the time chart of FIG. (1) First, the case where the output M102 of the module M1 is output to the outside will be described. In the n1 cycle, at the rising edge of the system clock CP, the microcode S (M102) for instructing to select the output M102 from the module M1 from the MCTL4 is given to the input S of the second multiplexer 9. As a result, the output M of the second multiplexer 9 becomes the output M.
The data a1 related to 102 is output. Subsequently, in the register operation unit RALU6, the source of the input d and the data "0" is selected by the SOR61, the logical sum operation is performed by the ALU62, and the result is sent to the operation result output bus XBUS.
Therefore, the data a1 of the output M102 is output to the calculation result output bus XBUS. On the other hand, the test mode signal TEST to the first multiplexer 8 is set to "H" at the rising edge of the system clock CP in the n1 cycle, so that the first multiplexer 8 outputs the operation result output bus XBU.
The value of S is selected, and the value of the operation result output bus XBUS appears at its output MDO. Further, since the output enable signal MOE of the output port GO has been set to “H” in advance,
The output MD of the ASIC1 is the data a of the output M102.
It becomes 1. The data a1 relating to the output M102 is strobed at an appropriate strobe timing STB. Subsequently, the same operation is repeated in the N2 cycle and the n3 cycle, and the output MD becomes the data a2 and a3 applied to the output M102 sequentially. (2) Next, output M201 of module M2 to output MD
The case will be described. In the m1 cycle, the module M is input to the input S of the second multiplexer 9 at the rising edge of the system clock CP.
The microcode S (M201) is given which instructs to select the output M201 from 2. As a result, the data b1 corresponding to the output M201 is output from the output d of the second multiplexer 9. Then, the register calculation unit R
Select source of input d and data "0" with ALU6, and AL
A logical sum operation is performed in U62, and the result is output to the operation result output bus XBUS. As a result, the data b1 relating to the output M201 is output to the calculation result output bus XBUS. On the other hand, the first multiplexer 8 is supplied with the test mode signal TEST = “H”, and therefore selects the value of the operation result output bus XBUS, and the output MDO thereof has the value b1 of the operation result output bus XBUS. Is output. Therefore, the output MD of this circuit becomes the data b1 related to the output M201. The data b1 associated with the output M201 is strobed at an appropriate strobe timing STB. Subsequently, the same operation is repeated in the m2 cycle and the m3 cycle, the data b2 and b3 relating to the output M201 are sequentially output to the output MD, and strobed at an appropriate timing STB. Similarly, the data of the modules M3, M4, ...
Output MD.
【0010】以上の実施例にあっては、第1のマルチプ
レクサ8の入力切り換え信号としてテスト・モード信号
TESTを外部から与えるような構成のものを示した
が、図3に示すように、マイクロプログラム制御部MC
TL4のパイプライン・レジスタPPL43の出力をマ
ルチプレクサ入力切り換え信号Sとして与えるようにし
てもよい。このような構成にすれば、外部からのテスト
・モード切換信号TESTを受ける端子が不要となる。In the above embodiment, the test mode signal TEST is applied from the outside as the input switching signal of the first multiplexer 8. However, as shown in FIG. Controller MC
The output of the pipeline register PPL43 of TL4 may be given as the multiplexer input switching signal S. With such a configuration, a terminal for receiving the test mode switching signal TEST from the outside is unnecessary.
【0011】[0011]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
マイクロプログラム制御部及びレジスダ演算部より制御
可能な複数のモジュールからの出力信号で外部端子に直
接出力されることのない内部の全ての信号を第2のマル
チプレクサを経由してレジスタ演算部へ選択的に入力で
きるようにし、更に、レジスタ演算部からの演算結果出
力バスと複数モジュール内の外部出力端子に接続される
特定モジュールの出力データとをテスト・モード入力信
号によって切り換える第1のマルチプレクサを設けるこ
とにより、複数モジュールからの観測したい出力信号を
演算結果出力バス及び出力ポートを経由して外部に出力
することができる。従って、テストすべきモジュール数
が多くなっても、外部からのテスト用のマルチプレクサ
切り換え信号端子を特に増設する必要はなく、内部のモ
ジュールの動作の可観測性を向上させることができる。As described above, according to the present invention,
Output signals from a plurality of modules that can be controlled by the micro program control unit and the register arithmetic unit are selectively output to the register arithmetic unit via the second multiplexer without being directly output to the external terminals. And a first multiplexer for switching the operation result output bus from the register operation unit and the output data of the specific module connected to the external output terminals in the plurality of modules by the test mode input signal. Thus, the output signals desired to be observed from the plurality of modules can be output to the outside via the operation result output bus and the output port. Therefore, even if the number of modules to be tested is large, it is not necessary to add an additional multiplexer switching signal terminal for testing from the outside, and the observability of the operation of internal modules can be improved.
【図1】本発明を実施した特定用途向け集積回路の回路
例である。FIG. 1 is a circuit example of an application specific integrated circuit embodying the present invention.
【図2】本発明の特定用途向け集積回路の動作を表すタ
イミング・チャートである。FIG. 2 is a timing chart showing the operation of the application specific integrated circuit of the present invention.
【図3】本発明の他の実施例である。FIG. 3 is another embodiment of the present invention.
【図4】従来の特定用途向け集積回路の回路例である。FIG. 4 is a circuit example of a conventional application-specific integrated circuit.
【図5】従来の特定用途向け集積回路の回路例である。FIG. 5 is a circuit example of a conventional application-specific integrated circuit.
1 ASIC 2 CPUインターフェイス部INF 3 パラメータ設定部PREG 4 マイクロプログラム制御部MCTL 41 アドレス・シーケンサADSEQ 42 メモリROM 43 パイプライン・レジスタPPL 44 デコーダ44 5,7 マルチプレクサ 6 レジスタ演算部RALU 61 ソース・セレクタ 62 演算部ALU 8 第1のマルチプレクサ 9 第2のマルチプレクサ M1,M2,…,MN モジュール 1 ASIC 2 CPU interface unit INF 3 Parameter setting unit PREG 4 Micro program control unit MCTL 41 Address sequencer ADSEQ 42 Memory ROM 43 Pipeline register PPL 44 Decoder 44 5,7 Multiplexer 6 Register operation unit RALU 61 Source selector 62 Operation Part ALU 8 First multiplexer 9 Second multiplexer M1, M2, ..., MN module
Claims (1)
パラメータまたはコマンドをリード/ライトするパラメ
ータ設定部と、マイクロアドレスを生成して対応するマ
イクロコードをシステム・クロックに同期して出力する
マイクロプログラム制御部と、内部レジスタを有し前記
パラメータ設定部側から与えられるデータについて演算
を施してその演算結果を出力するレジスタ演算部と、前
記マイクロプログラム制御部から前記レジスタ演算部を
介して制御される複数のモジュールとを備える特定用途
向け集積回路において、前記レジスタ演算部からの演算
結果出力バスと前記複数のモジュールのうち外部出力端
子に接続される特定のモジュールの出力とを別途与えら
れるテスト・モード信号により選択する第1のマルチプ
レクサと、前記パラメータ設定部からのデータを入力す
るとともに前記複数のモジュールからの出力信号であっ
て外部へ直接出力されないものを入力し前記マイクロプ
ログラム制御部からの信号によりいずれかの入力を選択
して前記レジスタ演算部へ与える第2のマルチプレクサ
とを設けたことを特徴とする特定用途向け集積回路。1. A parameter setting unit for reading / writing parameters or commands from a host computer by bidirectional communication means, and a microprogram control for generating a microaddress and outputting a corresponding microcode in synchronization with a system clock. Section, a register operation section having an internal register for performing an operation on the data given from the parameter setting section side and outputting the operation result, and a plurality of units controlled by the microprogram control section via the register operation section. In a specific-purpose integrated circuit including the module, a test mode signal to which an operation result output bus from the register operation unit and an output of a specific module connected to an external output terminal of the plurality of modules are separately provided. The first multiplexer selected by the The register operation is performed by inputting data from the meter setting unit and inputting output signals from the plurality of modules that are not directly output to the outside, and selecting one of the inputs according to a signal from the microprogram control unit. And a second multiplexer provided to the unit.
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP04106515A JP3125950B2 (en) | 1992-04-24 | 1992-04-24 | Application specific integrated circuits |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publication Number | Publication Date |
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Family Applications (1)
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JP04106515A Expired - Fee Related JP3125950B2 (en) | 1992-04-24 | 1992-04-24 | Application specific integrated circuits |
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1992
- 1992-04-24 JP JP04106515A patent/JP3125950B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
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