JPH05291430A - 半導体チップの実装構造 - Google Patents

半導体チップの実装構造

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JPH05291430A
JPH05291430A JP4094636A JP9463692A JPH05291430A JP H05291430 A JPH05291430 A JP H05291430A JP 4094636 A JP4094636 A JP 4094636A JP 9463692 A JP9463692 A JP 9463692A JP H05291430 A JPH05291430 A JP H05291430A
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JP
Japan
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semiconductor chip
circuit
mounting
pattern
etching photoresist
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JP4094636A
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Shigenari Takami
茂成 高見
Takeshi Kasahara
健 笠原
Yoshimasa Himura
芳正 檜村
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Panasonic Electric Works Co Ltd
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Matsushita Electric Works Ltd
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 実装基板への半導体チップの実装信頼性を高
める。 【構成】 樹脂のモールド成形によって作成される実装
基板1の表面に他の部分よりも高く盛り上げて実装部2
を形成する。この実装部2の表面にパターン形成した回
路3に半導体チップ4を実装する。実装基板1に形成さ
れる他の突部が邪魔になったりすることなくマスクを実
装部2の表面に密着させて高精度で露光できるように
し、半導体チップ4を実装する回路3のパターン精度を
高める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、樹脂のモールド成形に
よって作成される実装基板への半導体チップの実装構造
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ICチップ等の半導体チップ(ベアチッ
プ)を実装基板に直接実装するにあたって、実装基板と
しては積層板を基板として作成したプリント配線基板が
一般的である。このプリント配線基板は、積層板の表面
に張った銅箔等の金属箔にエッチングフォトレジストを
塗布すると共に、エッチングフォトレジストの表面にマ
スクを被せて露光した後に現像処理することによって回
路パターンと逆のパターンでエッチングフォトレジスト
を溶解除去し、そしてこの状態でエッチング液で処理し
てエッチングフォトレジストによって被覆されない部分
の金属箔を溶解させることによって、回路形成して作成
されている。このようなプリント配線基板では、積層板
は一般にフラットな表面を有するためにマスクを密着さ
せて露光をすることができ、回路のファインパターン化
が可能である。
【0003】一方、樹脂のモールド成形によって作成さ
れる基板〔MCB:Mold Circuit Boa
rd(MID:Mold Interconnecti
onDeviceとも称す)〕は射出成形によって表面
を三次元構造にして形成することができるものであり、
ケースと基板とが一体化した構造や、機構部品を同時に
成形したりすることが可能である。
【0004】そこで、図5に示すようにMCBを実装基
板1として用いることが試みられている。図5において
3は実装基板1の表面にパターン形成された回路であ
り、実装基板1の表面に搭載したICチップ等の半導体
チップ4とこの回路3の端部のリード部3aとの間に金
線等のワイヤー9をボンディングすることによって、半
導体チップ4を実装基板1に直接実装するようにしてあ
る。また図5において10はカバー固定用ねじ穴11を
設けたボス、12は部品の位置決め用の突起であり、樹
脂のモールド成形によって作成される実装基板1にはこ
れらボス10や突起12などの突部は簡単に形成するこ
とができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このように実
装基板1の表面にボス10や突起12などの突部が設け
られていると、実装基板1に回路3のパターン形成をお
こなうにあたって、図6に示すようにボス10や突起1
2などの突部が邪魔になって、実装基板1の表面に張っ
た金属箔13に塗布したエッチングフォトレジスト14
に露光用のマスク15を密着させることができず、この
隙間によって露光の際の露光用光線(紫外線)の回り込
みが発生し、露光精度が悪くなって回路3のパターン精
度が低下するという問題があった。特に半導体チップ4
とワイヤー9で接続する回路3はICの電極数(すなわ
ちピン数)の増加に伴って本数が非常に増加しており、
回路のインナーリード部3aは高精度・高ファインピッ
チに形成されることが必要である。従って半導体チップ
4を回路3のリード部3aにワイヤーボンディングする
際の精度が悪くなって、半導体チップ4の実装信頼性が
低下することになるものであった。
【0006】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、半導体チップの実装信頼性を高めることができる
半導体チップの実装構造を提供することを目的とするも
のである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体チッ
プの実装構造は、樹脂のモールド成形によって作成され
る実装基板1の表面に他の部分よりも高く盛り上げて実
装部2を形成し、この実装部2の表面にパターン形成し
た回路3に半導体チップ4を実装して成ることを特徴と
するものである。
【0008】
【作用】実装基板1の表面に他の部分よりも高く盛り上
げて実装部2を形成しているために、実装基板2の表面
に突部が設けられていても露光用マスクを実装部2に密
着させた状態で露光して実装部2に回路3のパターン形
成をおこなうことができ、半導体チップ4を実装する回
路3のパターン精度を高めることができる。
【0009】
【実施例】以下本発明を実施例によって詳述する。実装
基板1は樹脂のモールド成形によって作成されるMCB
で形成されるものであり、その表面にはカバー固定用ね
じ穴11を設けたボス10や、部品の位置決め用の突起
12が突出して設けてある。また実装基板1の表面には
実装部2が盛り上げて形成してある。この実装部2は実
装基板1に設けられるボス10や突起12など周辺部の
他の突部よりも高くなるように、最も突出させて設けて
ある。実装基板1はモールド成形で形成されるために、
実装部2をこのように設けることは自在におこなうこと
ができるものである。そしてこの実装部2の平坦な頂部
面には多数本の回路3が放射状のパターンで設けてあ
る。
【0010】この回路3のパターン形成は図2に示すよ
うにしておこなうことができる。すなわち、実装基板1
の表面に金属箔13を張ると共に金属箔13の表面にエ
ッチングフォトレジスト14を塗布し、そしてエッチン
グフォトレジスト14の表面に露光用のマスク15を重
ね、露光用光線を照射して露光する。このとき、実装部
2はボス10や突起12など他の突部よりも高くなるよ
うに盛り上げて形成してあるために、他の突部が邪魔に
なったりすることなくマスク15を実装部2の表面の金
属箔13に塗布したエッチングフォトレジスト14に密
着させることができるものであり、露光用光線の回り込
みなどの影響なく高精度で露光することができる。従っ
てこのように露光した後に現像処理して回路パターンと
逆のパターンでエッチングフォトレジスト14を溶解除
去し、さらにエッチング液で処理してエッチングフォト
レジスト14によって被覆されない部分の金属箔13を
溶解させることによってパターン形成される回路3を精
度良く作成することができるものであり、特に回路3の
端部のリード部3aを実装部2の表面に高精度・高ファ
インピッチで形成することが可能になるものである。回
路3の表面には必要に応じてNiメッキや金メッキなど
が施される。
【0011】このように回路3のパターン形成をした後
に、図1に示すように半導体チップ4を実装する。図1
において17は回路3のパターン形成をする際に同時に
金属箔13で形成されるダイボンド用パッドであり、回
路3はその端部のリード部3aをこのダイボンド用パッ
ド17に近接させるようにダイボンド用パッド17を中
心にして放射状に形成するようにしてある。そしてダイ
ボンド用パッド17の表面にICチップ等の半導体チッ
プ4をベアチップのまま接着等して搭載し、半導体チッ
プ4の電極と各回路3の端部のリード部3aとの間に金
線等のワイヤー9をボンディングすることによって、半
導体チップ4を実装基板1に実装することができる。さ
らに封止樹脂18によって半導体チップ4や接続用のワ
イヤー9を被覆して保護することによって仕上げること
ができる。
【0012】図3は本発明の他の実施例を示すものであ
り、実装部2に半導体チップ4を囲むように凹溝19が
設けてあり、封止樹脂18をこの凹溝19で止めて周囲
に流れないようにしてある。また図4は本発明のさらに
他の実施例を示すものであり、実装部2の中央部に凹所
20を設け、実装部2の表面に回路3のリード部3aを
形成すると共にこの凹所20内に半導体チップ4を搭載
することによって、ワイヤー9をボンディングする半導
体チップ4の電極と回路3のリード部3aとの間の高低
差がなくなるようにしてある。
【0013】
【発明の効果】上記のように本発明は、樹脂のモールド
成形によって作成される実装基板の表面に他の部分より
も高く盛り上げて実装部を形成し、この実装部の表面に
パターン形成した回路に半導体チップを実装するように
したので、実装基板に形成される他の突部が邪魔になっ
たりすることなくマスクを実装部の表面に密着させて、
露光用光線の回り込みなどの影響なく高精度で露光する
ことができ、半導体チップを実装する回路のパターン精
度を高めることができるものであり、半導体チップの実
装信頼性を高めることができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の断面図である。
【図2】同上の露光の工程の断面図である。
【図3】本発明の他の実施例の一部の断面図である。
【図4】本発明のさらに他の実施例の一部の断面図であ
る。
【図5】従来例の断面図である。
【図6】同上の露光の工程の断面図である。
【符号の説明】
1 実装基板 2 実装部 3 回路 4 半導体チップ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 23/28 C 8617−4M

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 樹脂のモールド成形によって作成される
    実装基板の表面に他の部分よりも高く盛り上げて実装部
    を形成し、この実装部の表面にパターン形成した回路に
    半導体チップを実装して成ることを特徴とする半導体チ
    ップの実装構造。
JP4094636A 1992-04-15 1992-04-15 半導体チップの実装構造 Withdrawn JPH05291430A (ja)

Priority Applications (1)

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JP4094636A JPH05291430A (ja) 1992-04-15 1992-04-15 半導体チップの実装構造

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JP4094636A JPH05291430A (ja) 1992-04-15 1992-04-15 半導体チップの実装構造

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JPH05291430A true JPH05291430A (ja) 1993-11-05

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ID=14115761

Family Applications (1)

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JP (1) JPH05291430A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002112516A (ja) * 2000-09-28 2002-04-12 Mitsubishi Electric Corp ブラシレスモータ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002112516A (ja) * 2000-09-28 2002-04-12 Mitsubishi Electric Corp ブラシレスモータ

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Effective date: 19990706