JPH05283169A - Organic thin-film el element - Google Patents

Organic thin-film el element

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JPH05283169A
JPH05283169A JP4074894A JP7489492A JPH05283169A JP H05283169 A JPH05283169 A JP H05283169A JP 4074894 A JP4074894 A JP 4074894A JP 7489492 A JP7489492 A JP 7489492A JP H05283169 A JPH05283169 A JP H05283169A
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JP
Japan
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cathode
layer
transporting
organic
light emitting
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JP4074894A
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Japanese (ja)
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Noritoshi Tomikawa
典俊 富川
Yuichi Ito
祐一 伊藤
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Toppan Inc
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Toppan Printing Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/805Electrodes
    • H10K50/82Cathodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/84Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/844Encapsulations

Abstract

PURPOSE:To provide luminescence having uniform and high intensity all over the luminescence face with good reproducibility by using an ion plating film made of metals containing Mg as the main constituent as a cathode. CONSTITUTION:The glass plate of a transparent insulating substrate 1 is coated with ITO as an anode 2. N,N'-diphenyl-N,N'-bis(3-methyl phenyl)-1,1'- bipheney-4,4'-diamine is deposited as a positive hole injection transporting layer 3. Tris(8-quinolinol)aluminum is deposited as an organic electron transporting luminescence layer 4, and an ion plating film of Mg is formed on it as a cathode 7. GeO is finally deposited as a sealing layer 8. The work function of the cathode 7 is lower than that of a conventional Mg-Ag alloy, it is illuminated in the yellow green color when DC voltage is applied, and uniform and high- intensity luminescence can be obtained all over the luminescence face.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電気的な発光、すなわ
ちエレクトロルミネセンス(以下単にELという)を用
いたEL素子に関するものであり、更に詳しくは陽極、
正孔注入輸送層、有機電子輸送発光層、陰極、もしくは
陽極、正孔注入輸送層、有機発光層、電子注入輸送層、
陰極の順で構成される有機薄膜EL素子に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an EL device using electroluminescence, that is, electroluminescence (hereinafter simply referred to as EL), more specifically, an anode,
Hole injecting and transporting layer, organic electron transporting and light emitting layer, cathode, or anode, hole injecting and transporting layer, organic light emitting layer, electron injecting and transporting layer,
The present invention relates to an organic thin film EL element that is composed of a cathode in this order.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のEL素子は、電極間に高抵抗な絶
縁層を設けた交流駆動型のものが主流で、それらは分散
型EL素子と薄膜型EL素子に分類される。分散型EL
素子の構造は、樹脂バインダー中に分散させた高誘電率
のチタン酸バリウム等の粉末を背面電極となるアルミ箔
上に数10μmの厚さにコーティングして絶縁層とし、
その上に樹脂バインダー中に分散した硫化亜鉛系の発光
体層を設け、更にその上に透明電極を積層したものであ
る。この型の素子は、安価で大面積、厚さ1mm以下の
面発光体を得られ、液晶表示装置用のバックライト等の
用途があるが、少なくとも輝度が低下しやすい。
2. Description of the Related Art Most conventional EL devices are of AC drive type in which a high resistance insulating layer is provided between electrodes, and they are classified into a dispersion type EL device and a thin film type EL device. Distributed EL
The device structure is such that powder of high dielectric constant barium titanate or the like dispersed in a resin binder is coated on an aluminum foil serving as a back electrode to a thickness of several tens of μm to form an insulating layer,
A zinc sulfide-based light emitting layer dispersed in a resin binder is provided thereon, and a transparent electrode is further laminated thereon. This type of element can be obtained at a low cost and has a large surface area and a surface light emitter having a thickness of 1 mm or less, and has applications such as a backlight for a liquid crystal display device, but at least the brightness is likely to decrease.

【0003】薄膜EL素子は、ガラス板に酸化インジウ
ム錫(以下ITO)等を被覆した透明電極基板上に、絶
縁層としてスパッタリング法等により酸化イットリウム
等の誘電体薄膜層を数百nm形成し、その上にZnS
系、ZnSe系、SrS系、CaS系等の蛍光体薄膜を
電子ビーム蒸着、スパッタリング法等で数百nm程度積
層し、更に誘電体薄膜層、アルミ等の背面電極の順に積
層された構造になっている。電極間の膜厚は1〜2μm
以下である。薄膜型EL素子は長寿命で高精細な表示が
可能でポータブル型コンピュータ用ディスプレー等の用
途に適しているが高価である。
In a thin film EL device, a dielectric thin film layer of yttrium oxide or the like having a thickness of several hundreds nm is formed as an insulating layer by a sputtering method or the like on a transparent electrode substrate in which a glass plate is coated with indium tin oxide (hereinafter referred to as ITO). ZnS on it
-Based, ZnSe-based, SrS-based, CaS-based phosphor thin films of several hundred nm are stacked by electron beam evaporation, sputtering, etc., and then a dielectric thin film layer and a back electrode such as aluminum are stacked in this order. ing. The film thickness between electrodes is 1-2 μm
It is below. The thin film type EL device is long-lived and capable of high-definition display, and is suitable for applications such as displays for portable computers, but is expensive.

【0004】どちらの型のEL素子の場合も十分な輝度
を得るためには100V以上の交流高電圧を要する。例
えば、電池でEL素子を発光させる際には昇圧トランス
を要するためEL素子が1mm以下の薄型であっても組
み込まれた機器全体の厚さを薄くするのは困難であっ
た。
In either type of EL element, an AC high voltage of 100 V or more is required to obtain sufficient brightness. For example, since a step-up transformer is required when the EL element emits light with a battery, it is difficult to reduce the thickness of the entire device incorporated even if the EL element has a thin thickness of 1 mm or less.

【0005】そこで近年、昇圧トランス等の不要な低電
圧直流駆動のEL素子を目指した研究が行われており、
その一つとして有機薄膜EL素子の研究が行われてい
る。特開昭57−51781号公報、特開昭59−19
4393号公報、特開昭63−264692号公報、特
開昭63−295695号公報、ジャパニーズ.ジャー
ナル.オブ.アプライド.フィジックス第25巻第9号
773頁(1986年)、アプライド.フィジックス.
レター第51巻第12号913頁(1987年)、ジャ
ーナル.オブ.アプライド.フィジックス第65巻第9
号3610頁(1989年)等によれば、従来、この種
の有機薄膜EL素子は以下のように作られている。
Therefore, in recent years, research aiming at an unnecessary EL element of low voltage DC drive such as a step-up transformer has been conducted.
As one of them, researches on organic thin film EL devices have been conducted. JP-A-57-51781 and JP-A-59-19
4393, JP-A-63-264692, JP-A-63-295695, Japanese. journal. of. Applied. Physics Vol. 25, No. 9, p. 773 (1986), Applied. Physics.
Letter Vol. 51, No. 12, p. 913 (1987), Journal. of. Applied. Physics Volume 65 Volume 9
According to No. 3610 (1989), etc., an organic thin film EL device of this type has been conventionally manufactured as follows.

【0006】まず、ガラス等の透明絶縁基板上に蒸着ま
たはスパッタリング法等で形成した金やITOの透明導
電性皮膜の陽極上に、まず正孔注入輸送層として銅フタ
ロシアニン、ポリ3−メチルチオフェン、もしくは(化
1)で示される、1,1−ビス(4−ジ−パラ−トリル
アミノフェニル)シクロヘキサン(融点181.4℃〜
182.4℃)、または(化2)で示される、N,N’
−ジフェニル−N,N’−ビス(3−メチルフェニル)
−1,1’−ビフェニル−4,4’−ジアミン(融点1
59℃〜163℃)等のテトラフェニルジアミン誘導体
の層を蒸着や電解重合法等で1μm程度以下の厚さに単
層または積層して形成する。
First, copper phthalocyanine, poly-3-methylthiophene, as a hole injecting and transporting layer, is formed on the anode of a transparent conductive film of gold or ITO formed on a transparent insulating substrate such as glass by vapor deposition or sputtering. Alternatively, 1,1-bis (4-di-para-tolylaminophenyl) cyclohexane (melting point: 181.4 ° C.
182.4 ° C.), or N, N ′ represented by (Chemical Formula 2)
-Diphenyl-N, N'-bis (3-methylphenyl)
-1,1'-biphenyl-4,4'-diamine (melting point 1
A layer of a tetraphenyldiamine derivative (59 ° C. to 163 ° C.) or the like is formed by vapor deposition, electrolytic polymerization or the like to have a thickness of about 1 μm or less in a single layer or laminated.

【0007】[0007]

【化1】 [Chemical 1]

【0008】[0008]

【化2】 [Chemical 2]

【0009】次に正孔注入輸送層上に、テトラフェニル
ブタジエン、アントラセン、ペリレン、コロネン、12
−フタロペリノン誘導体、トリス(8−キノリノ−ル)
アルミニウム等の有機蛍光体を蒸着、または樹脂バイン
ダ−中に分散させてコ−ティングすることにより電子輸
送発光層を1.0μm程度以下の厚さで形成する。最後
に、その上に陰極としてMg,In,Alの単体金属、
またはMgとAgの合金(原子比10:1)等を蒸着す
る。
Next, on the hole injecting and transporting layer, tetraphenyl butadiene, anthracene, perylene, coronene, 12
-Phthaloperinone derivative, tris (8-quinolinol)
An organic phosphor such as aluminum is vapor-deposited or dispersed in a resin binder and coated to form an electron-transporting light-emitting layer with a thickness of about 1.0 μm or less. Finally, on top of that, Mg, In, Al single metal as a cathode,
Alternatively, an alloy of Mg and Ag (atomic ratio 10: 1) or the like is deposited.

【0010】以上のように作られた素子は、透明電極側
を陽極として20〜30V以下の直流低電圧を印加する
ことにより発光層に正孔と電子が注入され、その再結合
により発光する。
In the device manufactured as described above, holes and electrons are injected into the light emitting layer by applying a direct current low voltage of 20 to 30 V or less with the transparent electrode side as an anode, and light is emitted by recombination thereof.

【0011】また、アプライド.フィジックス.レタ−
第57巻第6号531頁(1990年)等によると、安
達らは、ITOの陽極上に、正孔注入輸送層としてN,
N’−ジフェニル−N,N’−ビス(3−メチルフェニ
ル)−1,1’−ビフェニル−4,4’−ジアミン、有
機発光層として1−[4−N,N−ビス(P−メトキシ
フェニル)アミノスチリル]ナフタレン、電子注入輸送
層として2−(4−ビフェニル)−5−(4−t−ブチ
ルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾ−ル(以下単
にBPBDという)、陰極としてMgAg合金を順に積
層して得た有機薄膜EL素子を作り、同様に20〜30
V以下の直流低電圧で1000cd/m 2 以上のEL発
光を得ている。
In addition, applied. Physics. Letter
According to Volume 57, No. 6, page 531 (1990), etc.
On the anode of ITO, Tachi et al.
N'-diphenyl-N, N'-bis (3-methylphenyi
Ru) -1,1'-biphenyl-4,4'-diamine, present
1- [4-N, N-bis (P-methoxy) as an organic light emitting layer
Phenyl) aminostyryl] naphthalene, electron injection transport
2- (4-biphenyl) -5- (4-t-butyl) as a layer
Ruphenyl) -1,3,4-oxadiazole (hereinafter referred to as
BPBD) and MgAg alloy as the cathode
The organic thin film EL device obtained by layering is prepared,
1000 cd / m at DC low voltage of V or less 2 From the above EL
You are getting the light.

【0012】しかし、この種の有機薄膜EL素子におい
ては、10V程度以下の低電圧で1000cd/m2
上の高輝度を得るためには、陰極から有機電子輸送発光
層へ効率的に電子を注入する必要がある。そのために
は、有機電子輸送発光層に用いている有機蛍光体の最低
空被占軌道(以下単にLUMOという)のエネルギ−レ
ベル以上の高いフェルミレベルを有する低仕事関数の陰
極を用いる必要がある。
However, in this type of organic thin film EL device, in order to obtain a high brightness of 1000 cd / m 2 or more at a low voltage of about 10 V or less, electrons are efficiently injected from the cathode to the organic electron transporting light emitting layer. There is a need to. For that purpose, it is necessary to use a cathode with a low work function having a high Fermi level higher than the energy level of the lowest unoccupied molecular orbital (hereinafter simply referred to as LUMO) of the organic phosphor used in the organic electron transporting light emitting layer.

【0013】従来、最も高輝度が得られる代表的な有機
電子輸送発光材料として知られているトリス(8−キノ
リノール)アルミニウムのLUMOのエネルギーレベル
は、大気下で光電子放出法で測定した仕事関数の値から
光学的エネルギーギャップ(2.75eV)を引いて求
めると約3.1eVである。また、電子注入輸送材料と
して使われているBPBDの場合は2.7eVである。
仕事関数が3.1eV以下で、高いフェルミレベルを持
つ低仕事関数の金属としては、Li(仕事関数2.4e
V)、Na(同2.3eV)、K(同2.3eV)等の
アルカリ金属、Mg(同3.2eV),Ca(同2.9
eV)、Sr(同2.7eV)、Ba(同2.5eV)
等のアルカリ土類金属等があるが、Mgを除いて、空気
中では極めて酸化し易く不安定であるため、単体金属と
しては陰極として用いることができなかった。
The LUMO energy level of tris (8-quinolinol) aluminum, which is conventionally known as a typical organic electron-transporting light-emitting material capable of obtaining the highest brightness, has a work function measured by a photoelectron emission method in the atmosphere. The value obtained by subtracting the optical energy gap (2.75 eV) from the value is about 3.1 eV. Further, it is 2.7 eV in the case of BPBD used as an electron injecting and transporting material.
As a low work function metal having a work function of 3.1 eV or less and a high Fermi level, Li (work function 2.4e
V), Na (same 2.3eV), K (same 2.3eV) and other alkali metals, Mg (same 3.2eV), Ca (same 2.9).
eV), Sr (2.7 eV in the same), Ba (2.5 eV in the same)
Alkaline earth metals and the like, but except Mg, cannot be used as a cathode as a simple metal because they are extremely oxidizable and unstable in air.

【0014】Mgは低仕事関数ながら比較的高い安定性
をもつため、封止層を設けることで、単体金属として陰
極に用いることが可能である。しかし、有機薄膜への密
着性が悪く、均一な薄膜形成能を持たないため、発光面
全域で均一な発光を再現性良く得ることが困難であっ
た。
Since Mg has a relatively high stability even though it has a low work function, it can be used as a single metal for the cathode by providing a sealing layer. However, it is difficult to obtain uniform light emission over the entire light emitting surface with good reproducibility because of poor adhesion to the organic thin film and lack of uniform thin film forming ability.

【0015】C.W.Tangらは、MgAg合金(原
子比10:1、仕事関数 3.8eV)を陰極として用
い、10V程度の直流印加電圧で1000cd/m2
上の輝度の有機薄膜EL素子を実現した。しかし、Ag
と合金化することでMgの有機薄膜への密着性の悪さや
薄膜形成の均一性の悪さは改善されたものの、Ag(仕
事関数4.6eV)を混ぜることで、MgAg合金の仕
事関数はトリス(8−キノリノール)アルミニウムのL
UMOのエネルギーレベルより低くなるため電子が注入
されにくくなる欠点があった。
C. W. Tang et al. Realized an organic thin film EL device having a brightness of 1000 cd / m 2 or more by applying a DC voltage of about 10 V by using a MgAg alloy (atomic ratio 10: 1, work function 3.8 eV) as a cathode. But Ag
Although the poor adhesion of Mg to the organic thin film and the poor uniformity of thin film formation were improved by alloying with Mg, the work function of MgAg alloy was Tris by mixing Ag (work function 4.6 eV). L of (8-quinolinol) aluminum
Since the energy level is lower than the UMO energy level, it is difficult to inject electrons.

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の問題
を解決するために、従来使用されたMgAg合金よりも
低仕事関数で、比較的安定で均一性の高い陰極材料を用
い、発光面全域で均一な高輝度有機薄膜EL素子を提供
することを目的としてなされたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above problems, the present invention uses a cathode material having a work function lower than that of a conventionally used MgAg alloy, a relatively stable and high uniformity, and a light emitting surface. The purpose of the present invention is to provide a high-brightness organic thin film EL element that is uniform over the entire area.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】すなわち、本発明は、少
なくとも陽極、正孔注入輸送層、有機電子輸送発光層、
陰極、もしくは少なくとも陽極、正孔注入輸送層、有機
発光層、電子注入輸送層、陰極の順で構成される有機薄
膜EL素子において、前記陰極がMgを主成分とする金
属を用いたイオンプレーティング膜で形成されてなるこ
とを特徴とするものである。
That is, the present invention provides at least an anode, a hole injecting and transporting layer, an organic electron transporting and emitting layer,
Cathode, or at least an anode, a hole injecting and transporting layer, an organic light emitting layer, an electron injecting and transporting layer, and an organic thin film EL device comprising a cathode in this order, the ion plating using a metal whose main component is Mg. It is characterized by being formed of a film.

【0018】以下、本発明における有機薄膜EL素子
を、図1に示すように、基板1上に陽極2、正孔注入輸
送層3、有機電子輸送発光層4、陰極7の順に構成する
場合について説明するが、同様の構成を基板1上に陰極
7から順に構成することもできる。
In the following, as shown in FIG. 1, the organic thin film EL device of the present invention comprises a substrate 1, an anode 2, a hole injecting and transporting layer 3, an organic electron transporting and emitting layer 4, and a cathode 7 in this order. Although described, the same structure can be formed on the substrate 1 in order from the cathode 7.

【0019】また、図2に示すように、有機電子輸送発
光層4を有機発光層5と電子注入輸送層6とに機能分離
し、基板1上に陽極2、正孔注入輸送層3、有機発光層
5、電子注入輸送層6、陰極7の順に構成することもで
きる。
Further, as shown in FIG. 2, the organic electron transporting light emitting layer 4 is functionally separated into an organic light emitting layer 5 and an electron injecting and transporting layer 6, and an anode 2, a hole injecting and transporting layer 3, an organic layer is formed on a substrate 1. The light emitting layer 5, the electron injecting and transporting layer 6, and the cathode 7 may be arranged in this order.

【0020】陽極2は、ガラス等の透明絶縁性の基板1
上にITOや酸化亜鉛アルミニウムのような透明導電性
物質を真空蒸着やスパッタリング法等で被覆した表面抵
抗10〜50Ω/平方、可視光線透過率80%以上の透
明電極、または金やプラチナを薄く蒸着した半透明電極
が望ましい。
The anode 2 is a transparent insulating substrate 1 such as glass.
A transparent electrode with a transparent conductive material such as ITO or zinc aluminum oxide coated on it by vacuum deposition or sputtering, with a surface resistance of 10 to 50 Ω / square and a visible light transmittance of 80% or more, or gold or platinum is thinly deposited. A semitransparent electrode is desirable.

【0021】しかし、別の場合には、陽極2は不透明
で、電子輸送発光層へ正孔注入し易い仕事関数の大きい
金、プラチナ、ニッケル等の金属板、シリコン、ガリウ
ムリン、アモルファス炭化シリコン等の仕事関数が4.
8eV以上の半導体基板、またはそれらの金属や半導体
を絶縁体基板1上に被覆した陽極2を用い、陰極を透明
電極または半透明電極とすることもできる。陰極7も不
透明である場合、発光層4の少なくとも一端が透明であ
る必要がある。
However, in another case, the anode 2 is opaque, and a metal plate such as gold, platinum, nickel, or the like having a large work function that facilitates the injection of holes into the electron-transporting light-emitting layer, silicon, gallium phosphide, amorphous silicon carbide, or the like. Has a work function of 4.
It is also possible to use a semiconductor substrate of 8 eV or more, or an anode 2 in which a metal or semiconductor thereof is coated on an insulator substrate 1, and the cathode is a transparent electrode or a semitransparent electrode. When the cathode 7 is also opaque, at least one end of the light emitting layer 4 needs to be transparent.

【0022】次に透明な陽極2上に正孔注入輸送層3を
形成するが、正孔注入輸送材料の好ましい条件は、酸化
に対して安定で正孔移動度が大、イオン化エネルギ−が
陽極材料と発光層材料の中間にあり、成膜性が良く、少
なくとも発光層材料の蛍光波長領域において実質的に透
明である必要がある。銅フタロシアニン、無金属フタロ
シアニン等のフタロシアニン類またはテトラフェニルジ
アミン誘導体等を単層または積層して使用する。
Next, the hole injecting and transporting layer 3 is formed on the transparent anode 2. Preferred conditions for the hole injecting and transporting material are stable to oxidation, high hole mobility, and high ionization energy. It must be between the material and the light emitting layer material, have good film forming properties, and be substantially transparent at least in the fluorescence wavelength region of the light emitting layer material. A phthalocyanine such as copper phthalocyanine or metal-free phthalocyanine, or a tetraphenyldiamine derivative is used as a single layer or a laminated layer.

【0023】テトラフェニルジアミン誘導体の代表的な
材料としては、1,1−ビス(4−ジ−パラ−トリルア
ミノフェニル)シクロヘキサン、N,N’−ジフェニル
−N,N’−ビス(3−メチルフェニル)−1,1’−
ビフェニル−4,4’−ジアミン、N,N’−ジフェニ
ル−N,N’−ビス(パラ−トリル)−1,1’−ビフ
ェニル−4,4’−ジアミン、N,N,N’N’−テト
ラ(パラ−トリル)−4,4’−ジアミノビフェニル等
があげられるが、上記例に特に限定されるものではな
い。
Typical materials for the tetraphenyldiamine derivative are 1,1-bis (4-di-para-tolylaminophenyl) cyclohexane and N, N'-diphenyl-N, N'-bis (3-methyl). Phenyl) -1,1'-
Biphenyl-4,4'-diamine, N, N'-diphenyl-N, N'-bis (para-tolyl) -1,1'-biphenyl-4,4'-diamine, N, N, N'N ' -Tetra (para-tolyl) -4,4'-diaminobiphenyl and the like can be mentioned, but not limited to the above examples.

【0024】これらの化合物を用いた正孔注入輸送層3
の成膜は、透明電極の陽極2上に主に蒸着により形成さ
れるが、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリメチル
フェニルシラン等の樹脂中に、分散させてスピンコート
等の方法でコーティングすることによって形成すること
も可能である。
Hole injecting and transporting layer 3 using these compounds
The film is formed mainly on the anode 2 of the transparent electrode by vapor deposition, but is formed by dispersing it in a resin such as polyester, polycarbonate or polymethylphenylsilane and coating it by a method such as spin coating. It is also possible.

【0025】正孔注入輸送層3の膜厚は、単層または積
層により形成する場合においても1μm以下であり、好
ましくは0.03〜0.1μmである。テトラフェニル
ジアミン誘導体のように加熱により溶融する正孔注入輸
送材料を用いた場合には、正孔注入輸送材料の蒸着中ま
たは蒸着後に、真空中または不活性ガス雰囲気下で、蒸
着膜の欠陥を除くため、融点程度以下の温度で基板加熱
処理を行なってもよい。
The film thickness of the hole injecting and transporting layer 3 is 1 μm or less, preferably 0.03 to 0.1 μm even when it is formed by a single layer or a laminated layer. When a hole injecting and transporting material that melts by heating, such as a tetraphenyldiamine derivative, is used, defects in the deposited film may be removed during or after the vapor deposition of the hole injecting and transporting material in a vacuum or in an inert gas atmosphere. In order to remove it, the substrate heat treatment may be performed at a temperature equal to or lower than the melting point.

【0026】また、銅フタロシアニンのように結晶性で
蒸着膜表面が凹凸になり易い正孔注入輸送材料を用いた
場合には、蒸着中に基板冷却を行ない非晶質な蒸着膜を
得ることもできる。
When a hole injecting and transporting material such as copper phthalocyanine that is crystalline and has a surface on which the deposited film is likely to be uneven is used, the substrate may be cooled during the deposition to obtain an amorphous deposited film. it can.

【0027】次に正孔注入輸送層3上に、有機電子輸送
発光層4を形成するが、有機電子輸送発光層4に用いる
蛍光体には、可視領域に蛍光を有し適当な方法で成膜で
きる任意の蛍光体が使用可能である。例えば、アントラ
セン、サリチル酸塩、ピレン、コロネン、ペリレン、テ
トラフェニルブタジエン、9,10−ビス(フェニルエ
チニル)アントラセン、トリス(8−キノリノール)ア
ルミニウム、ビス(8−キノリノール)亜鉛、トリス
(5−フルオロ−8−キノリノール)アルミニウム錯
体、ビス[8−(パラ−トシル)アミノキノリン]亜鉛
及びカドミウム錯体等があげられる。
Next, the organic electron transporting light emitting layer 4 is formed on the hole injecting and transporting layer 3. The phosphor used for the organic electron transporting light emitting layer 4 has fluorescence in the visible region and is formed by an appropriate method. Any phosphor that can be filmed can be used. For example, anthracene, salicylate, pyrene, coronene, perylene, tetraphenylbutadiene, 9,10-bis (phenylethynyl) anthracene, tris (8-quinolinol) aluminum, bis (8-quinolinol) zinc, tris (5-fluoro-). Examples include 8-quinolinol) aluminum complex, bis [8- (para-tosyl) aminoquinoline] zinc, and cadmium complex.

【0028】有機電子輸送発光層4中の蛍光体は、発光
波長変換、発光効率向上のために2種類以上の蛍光体を
混合するか、多種類の蛍光体の発光層を2層以上積層し
てもよく、そのうちの一方は赤外域または紫外域に蛍光
を示すものであってもよい。有機電子輸送発光層4の成
膜方法は、真空蒸着法、累積膜法、または適当な樹脂バ
インダー中に分散させてスピンコートなどの方法でコー
ティングすることにより行なわれる。
As the phosphors in the organic electron transporting light emitting layer 4, two or more kinds of phosphors are mixed in order to convert emission wavelength and improve light emission efficiency, or two or more light emitting layers of various kinds of phosphors are laminated. One of them may exhibit fluorescence in the infrared region or the ultraviolet region. The method of forming the organic electron transporting light emitting layer 4 is performed by a vacuum vapor deposition method, a cumulative film method, or a method in which the organic electron transporting light emitting layer 4 is dispersed in an appropriate resin binder and coated by spin coating or the like.

【0029】有機電子輸送発光層4の膜厚は、単層また
は積層により形成する場合においても1μm以下であ
り、好ましくは0.03〜0.1μmである。次に、図
2に示すように有機電子輸送発光層4を有機発光層5と
電子注入輸送層6とに機能分離して配する場合、電子注
入輸送材料の好ましい条件は、電子移動度が大きく、L
UMOのエネルギーレベルが有機発光材料のLUMOの
エネルギ−レベルと陰極材料のフェルミレベルの中間に
あり、成膜性が良いことである。更に陽極2が不透明
で、透明もしくは半透明の陰極7から光を取り出す構成
の素子においては、少なくとも有機発光層材料の蛍光波
長領域において実質的に透明である必要がある。例とし
ては、BPBD、3,4,9,10−ペリレンテトラカ
ルボキシル−ビス−ベンズイミダゾールなどがあげられ
るが、上記例に特に限定されるものではない。
The film thickness of the organic electron transporting light emitting layer 4 is 1 μm or less, preferably 0.03 to 0.1 μm even when it is formed by a single layer or a laminated layer. Next, when the organic electron transporting light emitting layer 4 is functionally separated into the organic light emitting layer 5 and the electron injecting and transporting layer 6 as shown in FIG. 2, a preferable condition of the electron injecting and transporting material is that the electron mobility is large. , L
The UMO energy level is between the LUMO energy level of the organic light emitting material and the Fermi level of the cathode material, and the film forming property is good. Further, in the element in which the anode 2 is opaque and the light is extracted from the transparent or semitransparent cathode 7, it is necessary that it is substantially transparent at least in the fluorescence wavelength region of the organic light emitting layer material. Examples include BPBD, 3,4,9,10-perylenetetracarboxyl-bis-benzimidazole and the like, but are not particularly limited to the above examples.

【0030】電子注入輸送層6の成膜方法は、真空蒸着
法、累積膜法、または適当な樹脂バインダー中に分散さ
せてスピンコートなどの方法でコーティングすることに
より行なわれる。電子注入輸送層6の膜厚は、1μm以
下であり、好ましくは0.01〜0.1μmである。
The electron injecting and transporting layer 6 is formed by a vacuum vapor deposition method, a cumulative film method, or by dispersing the electron injecting and transporting layer 6 in an appropriate resin binder and coating it by spin coating or the like. The film thickness of the electron injecting and transporting layer 6 is 1 μm or less, preferably 0.01 to 0.1 μm.

【0031】また、有機電子輸送発光層4または有機発
光層5及び電子注入輸送層6を真空蒸着法により形成す
る際、蒸着中または蒸着後直ちに、水素、アンモニア等
の非電子吸引性または電子供与性のガスを真空チェンバ
ーに導入し、有機分子に吸着させ、有機分子が空気中の
酸素を吸着して膜の電気抵抗が増大することを防ぐこと
もできる。
When the organic electron transporting light emitting layer 4 or the organic light emitting layer 5 and the electron injecting and transporting layer 6 are formed by the vacuum vapor deposition method, non-electron attracting properties such as hydrogen and ammonia or electron donating can be obtained during or immediately after vapor deposition. It is also possible to introduce a volatile gas into the vacuum chamber and allow it to be adsorbed by the organic molecules, which prevents the organic molecules from adsorbing oxygen in the air and increasing the electrical resistance of the membrane.

【0032】次に、本発明による陰極7を有機電子輸送
発光層4または電子注入輸送層6上に形成する。本発明
による陰極の主成分は、Mgであるが、主成分以外に
も、例えばAg,Al,In,Sn,Li,Na,C
a,Sr,Ba等の不純物、添加物が含まれていてもよ
いが、特に上記例に限定されるものではない。
Next, the cathode 7 according to the present invention is formed on the organic electron transporting light emitting layer 4 or the electron injecting and transporting layer 6. The main component of the cathode according to the present invention is Mg, but other than the main component, for example, Ag, Al, In, Sn, Li, Na, C
Impurities and additives such as a, Sr, and Ba may be contained, but are not particularly limited to the above examples.

【0033】陰極7の形成方法を図3のイオンプレーテ
ィング装置の説明図に従い説明する。チェンバー11内
を一旦10-6Torrオーダー以下の真空まで排気した
後、ガス導入弁12を通してAr,Ne等の不活性ガス
を導入し、10-4〜10-3Torrの圧力で安定させ
る。RF電源13から整合回路14を介してコイル電極
15に高周波電力を投入することにより、プラズマを発
生させる。水晶振動子式膜厚計でモニターしながら、抵
抗加熱蒸着源16から基板17へ蒸着を行ない、0.1
〜0.3μm程度の膜厚でイオンプレーティング膜を形
成するが、電子ビーム蒸着源やマイクロ波電源を用いれ
ば、10-5Torr台でもプラズマの生成は可能であ
る。また、基板バイアス電源18から基板17へ負の電
圧を印加することで、Mgイオン等の正の荷電粒子の打
ち込みを促進することができるが、積極的にバイアスを
印加しなくても、基板17近傍に生じるシースバイアス
による打ち込み効果が期待できる。
A method of forming the cathode 7 will be described with reference to the illustration of the ion plating apparatus shown in FIG. After the chamber 11 is once evacuated to a vacuum of the order of 10 -6 Torr or less, an inert gas such as Ar or Ne is introduced through the gas introduction valve 12 and stabilized at a pressure of 10 -4 to 10 -3 Torr. Plasma is generated by applying high-frequency power from the RF power supply 13 to the coil electrode 15 via the matching circuit 14. While monitoring with a crystal oscillator type film thickness meter, vapor deposition was performed from the resistance heating vapor deposition source 16 to the substrate 17,
The ion plating film is formed with a film thickness of about 0.3 μm, but plasma can be generated even on the order of 10 −5 Torr by using an electron beam evaporation source or a microwave power source. Further, by applying a negative voltage from the substrate bias power source 18 to the substrate 17, implantation of positively charged particles such as Mg ions can be promoted, but the substrate 17 is not required to be positively applied. The implantation effect due to the sheath bias generated in the vicinity can be expected.

【0034】また、有機層材料がプラズマにより分解さ
れるのを防ぐため、基板17近傍での電子温度は10e
V程度以下、シースバイアス電圧は10V程度以下とな
るように、投入パワーを制御することが重要であるが、
イオンプレーティング法においては、コイル電極15と
基板17の幾何学的配置により制御することも、比較的
容易である。
In order to prevent the organic layer material from being decomposed by plasma, the electron temperature near the substrate 17 is 10e.
It is important to control the applied power so that the sheath bias voltage is about V or less and the sheath bias voltage is about 10 V or less.
In the ion plating method, it is relatively easy to control by the geometrical arrangement of the coil electrode 15 and the substrate 17.

【0035】最後に素子の有機層、電極の酸化を防ぐた
めに、素子上に封止層8を形成する。封止層8は、陰極
7の形成後直ちにSiO2 ,SiO,GeO,MoO3
等の酸化物、MgF2 ,LiF,BaF2 ,AiF3
FeF3 等のフッ化物等の無機物を蒸着、スパッタリン
グ法等により形成し、更に水分の浸入を防ぐために低吸
湿性の紫外線硬化接着剤、エポキシ系接着剤等を用い
て、ガラス板等を接着密封する。
Finally, a sealing layer 8 is formed on the element in order to prevent oxidation of the organic layers and electrodes of the element. The sealing layer 8 is formed of SiO 2 , SiO, GeO, MoO 3 immediately after the formation of the cathode 7.
Oxides such as MgF 2 , LiF, BaF 2 , AiF 3 ,
An inorganic material such as fluoride such as FeF 3 is formed by vapor deposition, sputtering, etc., and a glass plate, etc. is adhered and sealed by using a low hygroscopic UV-curing adhesive, epoxy adhesive, etc. to prevent the entry of moisture. To do.

【0036】以上のように構成した有機薄膜EL素子
は、陽極2を正として直流電圧を印加することにより発
光するが、交流電圧を印加した場合にも陽極2が正に電
圧印加されている間は発光する。
The organic thin film EL element constructed as described above emits light when a positive voltage is applied to the anode 2 and a DC voltage is applied. Emits light.

【0037】[0037]

【作用】真空蒸着において、Mgは昇華性の金属である
ため蒸着源の投入パワーが少ないと比較的大きなクラス
ターとして蒸着される。またMg粒子はたいていの基板
上で移動し易く、不均一で非平滑な多結晶薄膜となり易
いため、発光面全域で均一な発光を再現性良く得ること
が困難であった。
In vacuum deposition, since Mg is a sublimable metal, when the input power of the deposition source is small, it is deposited as a relatively large cluster. Further, since Mg particles are likely to move on most substrates and tend to be a non-uniform and non-smooth polycrystalline thin film, it is difficult to obtain uniform light emission over the entire light emitting surface with good reproducibility.

【0038】そこで、本発明ではMgのイオンプレーテ
ィング薄膜を陰極に用いることにより、発光面全域で均
一な発光を実現した。プラズマ中の電子衝撃によりMg
クラスタ−は分解され、基板上では結晶成長が抑制され
る。またバイアス電界によりMgイオンが加速されるた
め、打ち込み効果により密着性が高く均一で平滑なアモ
ルファス様のMg薄膜陰極が得られる。更にMg単体で
用いることができるためMgAg合金よりも低仕事関数
の陰極となる。
Therefore, in the present invention, by using a Mg ion plating thin film for the cathode, uniform light emission is realized over the entire light emitting surface. Mg due to electron impact in plasma
The clusters are decomposed and crystal growth is suppressed on the substrate. Further, since the Mg ions are accelerated by the bias electric field, a uniform and smooth amorphous thin-film Mg cathode having high adhesion is obtained by the implantation effect. Further, since it can be used with Mg alone, it becomes a cathode having a lower work function than the MgAg alloy.

【0039】[0039]

【実施例】【Example】

<実施例1>以下、本発明のEL素子の実施例を図1に
従って説明する。まず、透明絶縁性の基板1として厚さ
1.1mmのガラス板を用い、この上に0.12μmの
ITOを被覆して陽極2とした。この透明導電性ガラス
基板をアルコ−ルで洗浄後、約400℃で10分間加熱
し脱脂を行なった。次に正孔注入輸送層3として、N,
N’−ジフェニル−N,N’−ビス(3−メチルフェニ
ル)−1,1’−ビフェニル−4,4’−ジアミンを
0.05μm蒸着した。
Example 1 An example of the EL device of the present invention will be described below with reference to FIG. First, a 1.1 mm-thick glass plate was used as the transparent insulating substrate 1, and 0.12 μm of ITO was coated thereon to form the anode 2. This transparent conductive glass substrate was washed with alcohol and then heated at about 400 ° C. for 10 minutes to degrease it. Next, as the hole injecting and transporting layer 3, N,
N′-diphenyl-N, N′-bis (3-methylphenyl) -1,1′-biphenyl-4,4′-diamine was vapor-deposited by 0.05 μm.

【0040】次に有機電子輸送発光層4としてトリス
(8−キノリノール)アルミニウムを0.05μm蒸着
し、その上面に陰極7としてMgのイオンプレーティン
グ膜を0.2μm成膜した。プラズマ条件は雰囲気圧力
5×10-4Torr、RFパワー0.3WのArプラズ
マであった。陰極7の仕事関数は光電子放出法により測
定したところ約3.2eVであった。最後に封止層8と
してGeOを2μm蒸着した。
Next, tris (8-quinolinol) aluminum was vapor-deposited in an amount of 0.05 μm as the organic electron transporting light-emitting layer 4, and an Mg ion plating film was formed in a thickness of 0.2 μm as the cathode 7 on the upper surface thereof. The plasma conditions were Ar plasma with an atmospheric pressure of 5 × 10 −4 Torr and an RF power of 0.3 W. The work function of the cathode 7 was about 3.2 eV as measured by the photoelectron emission method. Finally, GeO was vapor-deposited to a thickness of 2 μm as the sealing layer 8.

【0041】この素子は、2.4V以上の直流電圧印加
により黄緑色に発光し、最高輝度は16Vにおいて69
48cd/m2 、電流密度は241mA/cm2 であ
り、発光面全域で均一な高輝度発光を得られた。
This element emits yellowish green light when a DC voltage of 2.4 V or more is applied, and the maximum brightness is 69 V at 16 V.
The current density was 48 cd / m 2 and the current density was 241 mA / cm 2 , and uniform high-luminance light emission was obtained over the entire light emitting surface.

【0042】<実施例2>実施例1と同様に透明導電性
ガラス基板上に正孔注入輸送層3、有機電子輸送発光層
4を順に蒸着した上に陰極7としてMgのイオンプレー
ティング膜を0.2μm成膜した。プラズマ条件は雰囲
気圧力5×10-4Torr、RFパワー1WのArプラ
ズマであった。陰極7の仕事関数は光電子放出法により
測定したところ約3.2eVであった。最後に封止層8
としてGeOを2μm蒸着した。
<Example 2> As in Example 1, the hole injecting and transporting layer 3 and the organic electron transporting and emitting layer 4 were sequentially deposited on the transparent conductive glass substrate, and an Mg ion plating film was used as the cathode 7. A film having a thickness of 0.2 μm was formed. The plasma conditions were Ar plasma with an atmospheric pressure of 5 × 10 −4 Torr and RF power of 1 W. The work function of the cathode 7 was about 3.2 eV as measured by the photoelectron emission method. Finally the sealing layer 8
Was deposited to a thickness of 2 μm.

【0043】この素子は2.4V以上の直流電圧印加に
より黄緑色に発光し、最高輝度は16Vにおいて608
0cd/m2 、電流密度は223mA/cm2 であり、
発光面全域で均一な高輝度発光を得られた。
This device emits yellowish green light when a DC voltage of 2.4 V or more is applied, and the maximum brightness is 608 at 16 V.
0 cd / m 2 , current density is 223 mA / cm 2 ,
Uniform high-brightness light emission was obtained over the entire light emitting surface.

【0044】<比較例1>実施例1と同様に、透明導電
性ガラス基板上に正孔注入輸送層3、有機電子輸送発光
層4を順に蒸着した上に陰極7としてMgAg合金を共
蒸着により形成した。陰極5の仕事関数は光電子放出法
により測定したところ約3.8eVであった。最後に封
止層8としてMgF2 を0.33μm蒸着した。
<Comparative Example 1> In the same manner as in Example 1, the hole injecting and transporting layer 3 and the organic electron transporting and emitting layer 4 were sequentially deposited on the transparent conductive glass substrate, and then the cathode 7 was co-deposited with MgAg alloy. Formed. The work function of the cathode 5 was about 3.8 eV as measured by the photoelectron emission method. Finally, MgF 2 was deposited by 0.33 μm as the sealing layer 8.

【0045】この素子は3V以上の直流電圧印加により
黄緑色に発光し、最高輝度は17Vにおいて5990c
d/m2 、電流密度は268mA/cm2 であり、発光
面全域で均一な高輝度発光を得られた。
This device emits yellow-green light when a DC voltage of 3 V or more is applied, and the maximum brightness is 5990 c at 17 V.
The d / m 2 and the current density were 268 mA / cm 2 , and uniform high brightness light emission was obtained over the entire light emitting surface.

【0046】<比較例2>比較例1と同様に透明導電性
ガラス基板上に正孔注入輸送層3、有機電子輸送発光層
4を順に蒸着した上に陰極7としてMgを0.2μm蒸
着した。陰極5の仕事関数は光電子放出法により測定し
たところ約3.2eVであった。最後に封止層8として
GeOを2μm蒸着した。
Comparative Example 2 As in Comparative Example 1, the hole injecting and transporting layer 3 and the organic electron transporting and emitting layer 4 were sequentially deposited on the transparent conductive glass substrate, and then Mg was deposited as the cathode 7 to a thickness of 0.2 μm. .. The work function of the cathode 5 was about 3.2 eV as measured by the photoelectron emission method. Finally, GeO was vapor-deposited to a thickness of 2 μm as the sealing layer 8.

【0047】この素子は2.4V以上の直流電圧印加に
より黄緑色に発光し、最高輝度は16Vにおいて252
0cd/m2 、電流密度は252mA/cm2 であった
が、発光面に輝度むらが生じ、発光面全域で均一な発光
は得られなかった。
This device emits yellowish green light when a DC voltage of 2.4 V or more is applied, and the maximum brightness is 252 at 16 V.
Although the current density was 0 cd / m 2 and the current density was 252 mA / cm 2 , uneven brightness occurred on the light emitting surface, and uniform light emission could not be obtained over the entire light emitting surface.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上述べたように、有機薄膜EL素子の
陰極としてMgを主成分とする金属を用いたイオンプレ
ーティング膜を用いることにより、従来使用されたMg
Ag合金よりも低仕事関数で、密着性が高く、均一で平
滑なアモルファス様のMg薄膜陰極が得られるため、発
光面全域で均一な高輝度有機薄膜EL素子を再現性よく
得ることに効果がある。
As described above, by using the ion plating film using a metal containing Mg as a main component as the cathode of the organic thin film EL element, the conventionally used Mg
Since it is possible to obtain a uniform and smooth amorphous-like Mg thin film cathode having a work function lower than that of an Ag alloy and high adhesion, it is effective in obtaining a uniform high-brightness organic thin film EL element over the entire light emitting surface with good reproducibility. is there.

【0049】[0049]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の有機薄膜EL素子の一実施例を示す説
明図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing an example of an organic thin film EL element of the present invention.

【図2】本発明の有機薄膜EL素子の他の実施例を示す
説明図である。
FIG. 2 is an explanatory view showing another embodiment of the organic thin film EL element of the present invention.

【図3】本発明の有機薄膜EL素子におけるイオンプレ
ーティング薄膜陰極を成膜する装置の説明図である。
FIG. 3 is an explanatory view of an apparatus for forming an ion plating thin film cathode in the organic thin film EL element of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 陽極 3 正孔注入輸送層 4 有機電子輸送発光層 5 有機発光層 6 電子注入輸送層 7 陰極 8 封止層 11 チェンバー 12 ガス導入弁 13 RF電源 14 整合回路 15 コイル電極 16 抵抗加熱蒸着源 17 基板 18 基板バイアス電源 1 Substrate 2 Anode 3 Hole Injecting and Transporting Layer 4 Organic Electron Transporting and Emitting Layer 5 Organic Emitting Layer 6 Electron Injecting and Transporting Layer 7 Cathode 8 Sealing Layer 11 Chamber 12 Gas Introducing Valve 13 RF Power Supply 14 Matching Circuit 15 Coil Electrode 16 Resistance Heating Vapor Deposition Source 17 Substrate 18 Substrate bias power supply

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】少なくとも陽極、正孔注入輸送層、有機電
子輸送発光層、陰極、もしくは少なくとも陽極、正孔注
入輸送層、有機発光層、電子注入輸送層、陰極の順で構
成される有機薄膜EL素子において、前記陰極がMgを
主成分とする金属を用いたイオンプレーティング膜で形
成されてなることを特徴とする有機薄膜EL素子。
1. An organic thin film comprising at least an anode, a hole injecting and transporting layer, an organic electron transporting and emitting layer, a cathode, or at least an anode, a hole injecting and transporting layer, an organic light emitting layer, an electron injecting and transporting layer, and a cathode in this order. In the EL element, the organic thin film EL element is characterized in that the cathode is formed of an ion plating film using a metal containing Mg as a main component.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003051380A (en) * 2001-08-07 2003-02-21 Toyota Central Res & Dev Lab Inc Linear light source using organic electroluminescent element, and manufacturing method of same
CN108336109B (en) * 2018-01-02 2021-02-02 厦门天马微电子有限公司 Organic light emitting display panel, display device and organic light emitting display mother board

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62243289A (en) * 1986-04-16 1987-10-23 関西日本電気株式会社 Manufacture of thin film el panel
JPH0337994A (en) * 1989-06-30 1991-02-19 Nec Corp Organic thin film luminous element
JPH03141588A (en) * 1989-10-27 1991-06-17 Ricoh Co Ltd Electroluminescent device
JPH0428197A (en) * 1990-05-22 1992-01-30 Ricoh Co Ltd End-face radiating type electroluminescent element and its driving method
JPH04363896A (en) * 1991-06-07 1992-12-16 Nec Corp Organic film electroluminescence element and its manufacture
JPH0521165A (en) * 1991-07-12 1993-01-29 Ricoh Co Ltd Electric field light emitting element
JPH05101890A (en) * 1991-10-08 1993-04-23 Tdk Corp Electrode forming method of electroluminescent element

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62243289A (en) * 1986-04-16 1987-10-23 関西日本電気株式会社 Manufacture of thin film el panel
JPH0337994A (en) * 1989-06-30 1991-02-19 Nec Corp Organic thin film luminous element
JPH03141588A (en) * 1989-10-27 1991-06-17 Ricoh Co Ltd Electroluminescent device
JPH0428197A (en) * 1990-05-22 1992-01-30 Ricoh Co Ltd End-face radiating type electroluminescent element and its driving method
JPH04363896A (en) * 1991-06-07 1992-12-16 Nec Corp Organic film electroluminescence element and its manufacture
JPH0521165A (en) * 1991-07-12 1993-01-29 Ricoh Co Ltd Electric field light emitting element
JPH05101890A (en) * 1991-10-08 1993-04-23 Tdk Corp Electrode forming method of electroluminescent element

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003051380A (en) * 2001-08-07 2003-02-21 Toyota Central Res & Dev Lab Inc Linear light source using organic electroluminescent element, and manufacturing method of same
CN108336109B (en) * 2018-01-02 2021-02-02 厦门天马微电子有限公司 Organic light emitting display panel, display device and organic light emitting display mother board

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