JPH05281574A - Liquid crystal display device - Google Patents

Liquid crystal display device

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Publication number
JPH05281574A
JPH05281574A JP7984092A JP7984092A JPH05281574A JP H05281574 A JPH05281574 A JP H05281574A JP 7984092 A JP7984092 A JP 7984092A JP 7984092 A JP7984092 A JP 7984092A JP H05281574 A JPH05281574 A JP H05281574A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
liquid crystal
storage capacitor
display device
substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP7984092A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shogo Hayashi
省吾 林
Junichi Watabe
純一 渡部
Yasuhiro Nasu
安宏 那須
Takehiro Nakamura
威裕 仲村
Atsuyuki Hoshino
淳之 星野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP7984092A priority Critical patent/JPH05281574A/en
Publication of JPH05281574A publication Critical patent/JPH05281574A/en
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Abstract

PURPOSE:To reduce defective insulation and structural defects so as to improve reliability by interposing a liquid crystal between a drive base and an opposed base, and forming a storage capacity electrode on the uppermost layer of the drive base, around each picture element electrode through an insulating film. CONSTITUTION:Plural picture element electrodes 2-1-2-n formed of transparent conductive material and thin film transistors 3-1-3-n adjacent to the picture element electrodes are provided on a glass base 1 to form a drive base A. A storage capacity electrode 7 made of light intercepting conductive material formed of single metal such as chrome or an alloy of two kinds of metal or more is formed at the uppermost layer of the drive base A, integrally across the whole face around the respective picture element electrodes 2-1-2-n through an insulating film 6b. An opposed electrode 8 is formed of transparent conductive material formed on the whole surface of a glass base 9. The glass base 1 and glass base 9 are held to the specified spacing by insulating and conductive spacers, and a liquid crystal 10 is filled into this clearance.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は液晶表示装置に係り、特
に薄膜トランジスタにより液晶への印加電圧をスイッチ
ング制御し、表示をする液晶表示装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly to a liquid crystal display device in which a thin film transistor controls switching of an applied voltage to a liquid crystal for display.

【0002】近年、液晶を用いた表示装置には高解像度
化が要求されている。
In recent years, display devices using liquid crystals have been required to have high resolution.

【0003】解像度を向上させるためには画素電極を小
さくする必要がある。
In order to improve the resolution, it is necessary to make the pixel electrode small.

【0004】しかし、画素電極を小さくすると画素電極
による容量が減少してしまうため、これを補うために蓄
積容量を付加する必要があった。
However, if the pixel electrode is made smaller, the capacitance due to the pixel electrode is reduced, so it is necessary to add a storage capacitor to compensate for this.

【0005】[0005]

【従来の技術】図5は液晶表示装置の一例の構成図を示
す。同図中、12は駆動基板、13は対向基板を示す。
2. Description of the Related Art FIG. 5 is a block diagram showing an example of a liquid crystal display device. In the figure, 12 is a drive substrate and 13 is a counter substrate.

【0006】駆動基板12と対向基板13との間には液
晶14が注入される。
Liquid crystal 14 is injected between the drive substrate 12 and the counter substrate 13.

【0007】駆動基板12上には複数の画素電極15-1
〜15-nがマトリクス状に配列されている。
A plurality of pixel electrodes 15 -1 are formed on the driving substrate 12.
.About.15- n are arranged in a matrix.

【0008】各画素電極15-1〜15-nには夫々薄膜ト
ランジスタ16-1〜16-nが隣接して形成されている。
[0008] are each thin film transistor 16 -1 ~ 16 -n are formed adjacent to each pixel electrode 15 -1 to 15 -n.

【0009】薄膜トランジスタ16-1〜16-nのゲート
はゲートバスライン17-1〜17-m,ドレインはドレイ
ンバスライン18-1〜18-lと接続されて、ソースが画
素電極15-1〜15-nと接続される。
The thin film transistors 16 -1 to 16 -n have gates connected to gate bus lines 17 -1 to 17 -m , drains connected to drain bus lines 18 -1 to 18 -l, and sources connected to pixel electrodes 15 -1 to 15. 15- n .

【0010】ゲートバスライン17-1〜17-m及びドレ
インバスライン18-1〜18-lに供給される信号に応じ
て薄膜トランジスタ16-1〜16-nのうち所定の薄膜ト
ランジスタがオンして、画素電極15-1〜15-nのうち
所定の画素電極に電位が付与される。
[0010] In certain of the thin film transistor is turned on among the thin film transistors 16 -1 ~ 16 -n in accordance with the signal supplied to the gate bus line 17 -1 to 17 -m and the drain bus line 18 -1 ~ 18 -l, A potential is applied to a predetermined pixel electrode among the pixel electrodes 15 -1 to 15 -n .

【0011】対向基板13はガラス板19上に透明電極
20が全面に形成された構成で、透明電極20には一定
の電位が付与されている。
The counter substrate 13 has a structure in which a transparent electrode 20 is formed on the entire surface of a glass plate 19, and a constant potential is applied to the transparent electrode 20.

【0012】液晶表示装置は所定の画素電極に電位を付
与することにより透明電極20と所定の画素電極との間
の液晶に電圧を印加して、その部分の液晶の状態を変化
させることにより表示を制御している。
In the liquid crystal display device, a potential is applied to a predetermined pixel electrode to apply a voltage to the liquid crystal between the transparent electrode 20 and the predetermined pixel electrode, thereby changing the state of the liquid crystal in that portion to display an image. Are in control.

【0013】図6は従来の一例の断面図を示す。駆動基
板12はガラス基板21上にまず蓄積容量形成用のIT
O(Indium-Tin-Oxide)膜等の透明導電材よりなる蓄積
容量電極22が全面形成され、その上に絶縁膜が形成さ
れ、画素電極15-1〜15-n,薄膜トランジスタ16-1
〜16-n,ゲートバスライン17-1〜17-m,ドレイン
バスライン18-1〜18-lは絶縁膜23上に形成されて
いた。
FIG. 6 shows a sectional view of a conventional example. First, the drive substrate 12 is formed on the glass substrate 21 by an IT for forming a storage capacitor.
A storage capacitor electrode 22 made of a transparent conductive material such as an O (Indium-Tin-Oxide) film is formed on the entire surface, an insulating film is formed on the storage capacitor electrode 22, pixel electrodes 15 -1 to 15 -n , and a thin film transistor 16 -1.
˜16 −n , gate bus lines 17 −1 to 17 −m , and drain bus lines 18 −1 to 18 −l were formed on the insulating film 23.

【0014】なお、蓄積容量電極22は対向電極20と
同電位とされ、画素電極15-1〜15-nの容量を減少さ
せていた。
The storage capacitor electrode 22 is made to have the same potential as the counter electrode 20 to reduce the capacitance of the pixel electrodes 15 -1 to 15 -n .

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】しかるに、従来の液晶
表示装置では蓄積容量電極及び蓄積容量電極上の絶縁膜
により薄膜トランジスタ、ゲートバスライン、ドレイン
バスラインの形成面が凹凸状になるため、薄膜トランジ
スタ、ゲートバスライン、ドレインバスライン等を安定
して形成することができず、例えば、薄膜トランジスタ
耐圧劣化やらゲートバスライン、ドレインバスラインの
Alと蓄積容量電極のITOとの間で絶縁膜を通して生
じる局所的電池効果による絶縁不良、構造欠陥が生じ、
液晶表示装置の信頼性を劣化させている等の問題点があ
った。
However, in the conventional liquid crystal display device, the thin film transistor, the gate bus line, and the drain bus line are formed in an uneven shape by the storage capacitor electrode and the insulating film on the storage capacitor electrode. A gate bus line, a drain bus line, etc. cannot be stably formed, and for example, deterioration of the breakdown voltage of a thin film transistor, a local occurrence caused by an insulating film between Al of the gate bus line or drain bus line and ITO of a storage capacitor electrode. Insulation defects and structural defects occur due to the battery effect,
There is a problem that the reliability of the liquid crystal display device is deteriorated.

【0016】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、絶縁不良、構造欠陥を減少させ信頼性の高い液晶表
示装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to provide a highly reliable liquid crystal display device in which insulation defects and structural defects are reduced.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明は透明基板上に所
定数の画素電極と、該画素電極に隣接して薄膜トランジ
スタとを形成してなる駆動基板と、該駆動基板に対向し
て対向電極が形成された対向基板との間に液晶を介在さ
せ、該画素電極と該対向電極との間に電圧を印加するこ
とにより、該液晶の状態を変化させ表示を行なう液晶表
示装置において、最上層に絶縁膜を介して前記画素電極
夫々の周囲に形成された蓄積容量電極を有する。
According to the present invention, there is provided a driving substrate having a predetermined number of pixel electrodes formed on a transparent substrate and a thin film transistor adjacent to the pixel electrodes, and a counter electrode facing the driving substrate. In a liquid crystal display device for displaying by changing the state of the liquid crystal by applying a voltage between the pixel electrode and the counter electrode by interposing a liquid crystal between the counter substrate on which the liquid crystal is formed. And a storage capacitor electrode formed around each pixel electrode via an insulating film.

【0018】[0018]

【作用】蓄積容量電極は薄膜トランジスタの上部に絶縁
膜を介して積層される構成であるため、薄膜トランジス
タを透明基板(1)上に直接的に形成することができ
る。
Since the storage capacitor electrode is laminated on the thin film transistor via the insulating film, the thin film transistor can be directly formed on the transparent substrate (1).

【0019】従って、薄膜トランジスタを平坦な基板上
に形成できるため、安定した特性の薄膜トランジスタを
得ることができる。
Therefore, since the thin film transistor can be formed on a flat substrate, a thin film transistor having stable characteristics can be obtained.

【0020】[0020]

【実施例】図1は本発明の一例の実施例の要部の断面
図、図2は本発明の一実施例の他の要部の断面図、図3
は本発明の一実施例の要部の平面図である。同図中、A
は駆動基板、Bは対向基板を示す。1は透明基板である
ガラス基板を示す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a sectional view of an essential part of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view of another essential part of an embodiment of the present invention, FIG.
FIG. 3 is a plan view of a main part of an embodiment of the present invention. In the figure, A
Is a drive substrate, and B is a counter substrate. Reference numeral 1 denotes a glass substrate which is a transparent substrate.

【0021】ガラス基板1上には複数の画素電極2-1
-nがマトリクス状に形成される。複数の画素電極2-1
〜2-nはITO(Indium-Tin-Oxide)等の透明な導電材
よりなる。3-1〜3-nは薄膜トランジスタ(TFT)
で、薄膜トランジスタ3-1〜3 -nは夫々ゲート電極3
a,ドレイン電極3b,ソース電極3c,半導体層3d
よりなり、複数の画素電極2-1〜2-n毎に隣接して設け
られている。
A plurality of pixel electrodes 2 are provided on the glass substrate 1.-1~
Two-nAre formed in a matrix. Multiple pixel electrodes 2-1
~ 2-nIs a transparent conductive material such as ITO (Indium-Tin-Oxide)
Consists of. Three-1~ 3-nIs a thin film transistor (TFT)
Then, the thin film transistor 3-1~ 3 -nIs the gate electrode 3 respectively
a, drain electrode 3b, source electrode 3c, semiconductor layer 3d
Consists of a plurality of pixel electrodes 2-1~ 2-nAdjacent to each
Has been.

【0022】ゲート電極3aはマトリクス状に配置され
た複数の画素電極2-1〜2-nの間に配設されたゲートバ
スライン4(図3)に接続される。また、ドレイン電極
3bはマトリクス状に配置された複数の画素電極2-1
-nの間にゲートバスライン4と絶縁状態に直交するド
レインバスライン5(図3)に接続される。ソース電極
3cは隣接した画素電極2-1〜2-nに接続される。
The gate electrode 3a is connected to a gate bus line 4 (FIG. 3) arranged between a plurality of pixel electrodes 2 -1 to 2 -n arranged in a matrix. Further, the drain electrode 3b is composed of a plurality of pixel electrodes 2 -1 to 2 -1 arranged in a matrix.
It is connected to the gate bus line 4 and the drain bus line 5 (FIG. 3) orthogonal to the insulation state between 2 and n . The source electrode 3c is connected to the adjacent pixel electrodes 2 -1 to 2 -n .

【0023】薄膜トランジスタ3-1〜3-n及びゲートバ
スライン4,ドレインバスライン5上には保護膜6を介
して蓄積容量電極7が形成される。
A storage capacitor electrode 7 is formed on the thin film transistors 3 -1 to 3 -n, the gate bus line 4 and the drain bus line 5 via a protective film 6.

【0024】蓄積容量電極7はクロム(Cr),チタン
(Ti),モリブデン(Mo),タンタル(Ta),コ
バルト(Co),ニオブ(Nb),タングステン
(W),イリジウム(Ir),アルミニウム(Al),
ニッケル(Ni)等の単体金属または2種類以上からな
る合金の遮光性の導電材よりなる。蓄積容量電極7は全
面にわたって一体的に形成されている。
The storage capacitor electrode 7 is made of chromium (Cr), titanium (Ti), molybdenum (Mo), tantalum (Ta), cobalt (Co), niobium (Nb), tungsten (W), iridium (Ir), aluminum ( Al),
The light-shielding conductive material is a single metal such as nickel (Ni) or an alloy of two or more kinds. The storage capacitor electrode 7 is integrally formed over the entire surface.

【0025】8は対向電極で、対向電極8はITO(In
dium-Tin-Oxide)等の透明な導電材をガラス基板9上の
全面に形成してなる。ガラス基板9はガラス基板1に平
行に配設される。
The counter electrode 8 is an ITO (In
A transparent conductive material such as dium-tin-oxide) is formed on the entire surface of the glass substrate 9. The glass substrate 9 is arranged parallel to the glass substrate 1.

【0026】ガラス基板1とガラス基板9とは絶縁性の
スペーサ(図示せず)及び導電性スペーサ11(図2)
により所定の間隔に保持され、ガラス基板1とガラス基
板9との間の空隙には液晶10が封入される。
The glass substrate 1 and the glass substrate 9 are insulative spacers (not shown) and conductive spacers 11 (FIG. 2).
The liquid crystal 10 is held at a predetermined interval by the above, and the liquid crystal 10 is sealed in the space between the glass substrate 1 and the glass substrate 9.

【0027】ガラス基板1とガラス基板9との間隔を保
持するスペーサの1つは図2に示すように導電性スペー
サ11で構成される。導電性スペーサ11は対向電極8
と蓄積容量電極7とを接続している。このため、対向電
極8と蓄積容量電極7とは同電位とされる。
One of the spacers for holding the space between the glass substrate 1 and the glass substrate 9 is composed of a conductive spacer 11 as shown in FIG. The conductive spacer 11 is the counter electrode 8
And the storage capacitor electrode 7 are connected. Therefore, the counter electrode 8 and the storage capacitor electrode 7 have the same potential.

【0028】図4は本発明の一実施例の製造工程図を示
す。図4と共に本発明の一実施例の製造方法を説明す
る。
FIG. 4 shows a manufacturing process diagram of an embodiment of the present invention. A manufacturing method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

【0029】まず、ガラス基板1を基板平行移動型で対
向ターゲット方式のマクネトロンスパッタ電極を有し、
基板温度を250 〔℃〕まで昇温可能なスパッタリング装
置にセットし、基板温度を250 〔℃〕,気圧約0.005
〔torr〕のアルゴン(Ar)ガス雰囲気中で、チタン
(Ti)をターゲットとしてガラス基板1にTiを800
〔Å〕,次にアルミニウム(Al)をターゲットとして
ガラス基板1にAlを1000〔Å〕形成する。この膜上
に、ゲートバスライン4のレジスト膜パターンを形成す
る。
First, the glass substrate 1 is provided with a parallel-moving substrate type counter target type McNetron sputter electrode,
The substrate temperature is set to 250 [℃] and the atmospheric pressure is set to about 0.005 by setting the substrate temperature to 250 [℃].
In the argon (Ar) gas atmosphere of [torr], Ti (800) is applied to the glass substrate 1 by targeting titanium (Ti).
[Å] Next, Al is formed on the glass substrate 1 by 1000 [Å] using aluminum (Al) as a target. A resist film pattern for the gate bus line 4 is formed on this film.

【0030】このレジスト膜をマスクとして、燐酸系エ
ッチャントでアルミをエッチングする。この後、BCl
3 +Cl2 混合ガスでリアクティブ・イオン・エッチン
グを行い、Ti膜をエッチングし、図4(A)に示すよ
うにゲート電極3a及びゲートバスライン4が形成され
る。続いてレジストを剥離、ゲートバスライン4(図
3)とドレインバスライン5(図3)との交差部以外を
覆う様にレジスト膜をパターニングし、燐酸系エッチャ
ントでアルミをエッチングする。この後、レジストを剥
離し、ゲートバスライン4及びドレインバスライン5
(図3)のパターンが完成する。
Using this resist film as a mask, aluminum is etched with a phosphoric acid type etchant. After this, BCl
Reactive ion etching is performed with a mixed gas of 3 + Cl 2 to etch the Ti film, and the gate electrode 3a and the gate bus line 4 are formed as shown in FIG. Subsequently, the resist is peeled off, the resist film is patterned so as to cover portions other than the intersections of the gate bus lines 4 (FIG. 3) and the drain bus lines 5 (FIG. 3), and aluminum is etched with a phosphoric acid-based etchant. Then, the resist is peeled off, and the gate bus line 4 and the drain bus line 5 are removed.
The pattern of (FIG. 3) is completed.

【0031】次いで、P−CVD(プラズマCVD)法
によりゲート絶縁膜6aとしてSiO2 膜、SiN膜、
動作半導体膜3dとしてアモルファスシリコン膜、保護
膜6bとしてSiN膜を連続成膜する。
Then, a SiO 2 film, a SiN film, and a gate insulating film 6a are formed by a P-CVD (plasma CVD) method.
An amorphous silicon film is continuously formed as the operating semiconductor film 3d, and a SiN film is continuously formed as the protective film 6b.

【0032】次いで、ゲート絶縁膜6aの上にレジスト
膜を形成する。このレジスト膜はゲートバスライン4と
数ミクロンのギャップを有し、ゲート電極3aに重なる
ように自己整合によりパターニングされたものである。
Next, a resist film is formed on the gate insulating film 6a. This resist film has a gap of several microns with the gate bus line 4, and is patterned by self-alignment so as to overlap the gate electrode 3a.

【0033】このレジストをマスクとして、PH3 をド
ープしたSiH4 (シラン)の雰囲気中においてP−C
VD法により半導体膜3dとなるn+a−Si膜を成膜
し、引き続きTi,Alをスパッタ法により成膜する。
Using this resist as a mask, in the atmosphere of PH 3 -doped SiH 4 (silane), P--C
An n + a-Si film to be the semiconductor film 3d is formed by the VD method, and then Ti and Al are formed by the sputtering method.

【0034】アセトン等でレジストを溶解してゲート電
極3a上部のn型a−SiとTi,Alをリフトオフす
る。
The resist is dissolved with acetone or the like to lift off the n-type a-Si, Ti, and Al above the gate electrode 3a.

【0035】次いで、ソース電極3cとドレイン電極3
d形成用のレジスト膜をパターニングし、これをマスク
として、燐酸系エッチャントでエッチングし、TiをB
Cl 3 +Cl2 雰囲気中でリアクティブ・イオン・エッ
チングを行い、図4(B)に示すようにソース電極3c
とドレイン電極3dを形成する。本工程を実施した後
も、ゲート絶縁膜6aのSiN膜は、全面に残ることと
なる。
Next, the source electrode 3c and the drain electrode 3
The resist film for forming d is patterned, and this is used as a mask
As an etchant using a phosphoric acid-based etchant to remove Ti from B
Cl 3+ Cl2Reactive ion etch in the atmosphere
And the source electrode 3c as shown in FIG. 4 (B).
And the drain electrode 3d are formed. After performing this step
However, the SiN film of the gate insulating film 6a remains on the entire surface.
Become.

【0036】次いで、ドレイン電極3cとコンタクトを
とって図4(C)に示すようにITO膜からなる画素電
極2-1〜2-mを形成する。
Next, the pixel electrodes 2 -1 to 2 -m made of an ITO film are formed in contact with the drain electrode 3c as shown in FIG. 4C.

【0037】次に図4(D)に示すように保護膜6bと
なるSiN膜を成膜する。
Next, as shown in FIG. 4D, a SiN film to be the protective film 6b is formed.

【0038】この後、画素部のみAlをマスク成膜す
る。画素電極2-1〜2-nに開口部を持つようにレジスト
をパターニングし燐酸系エッチャントでエッチングし、
図4(E)に示すように蓄積容量電極7が形成される。
この後、全面に配向膜(図示せず)が形成され、配向膜
にラビング処理が施され駆動基板が完成する。
After that, Al is mask-deposited only in the pixel portion. Pattern the resist so that it has openings in the pixel electrodes 2 -1 to 2 -n , and etch it with a phosphoric acid-based etchant.
The storage capacitor electrode 7 is formed as shown in FIG.
After that, an alignment film (not shown) is formed on the entire surface, and the alignment film is rubbed to complete the driving substrate.

【0039】一方、ガラス基板の全面にITO膜を形成
し、対向基板Bとしこの後全面に配向膜(図示せず)が
形成され、配向膜にラビング処理が実施される。次に、
対向基板Bと駆動基板Aとを対向させ、導電性スペーサ
11を用いて対向基板BのITO膜と蓄積容量電極7と
を接続し、対向基板Bと駆動基板Aとの間に液晶10を
注入し、液晶表示装置は完成する。
On the other hand, an ITO film is formed on the entire surface of the glass substrate to form a counter substrate B, and then an alignment film (not shown) is formed on the entire surface, and the alignment film is rubbed. next,
The counter substrate B and the drive substrate A are opposed to each other, the ITO film of the counter substrate B is connected to the storage capacitor electrode 7 by using the conductive spacer 11, and the liquid crystal 10 is injected between the counter substrate B and the drive substrate A. Then, the liquid crystal display device is completed.

【0040】このようにガラス基板1上に直接的に薄膜
トランジスタ3-1〜3-nを形成することができるため、
薄膜トランジスタ3-1〜3-n及びゲートバスライン4,
ドレインバスライン5を安定して形成できる。従って、
薄膜トランジスタ3-1〜3-n及びゲートバスライン4,
ドレインバスライン5の短絡等の欠陥を防止でき、信頼
性の高い液晶表示装置が実現できる。
Since the thin film transistors 3 -1 to 3 -n can be formed directly on the glass substrate 1 as described above,
Thin film transistors 3 -1 to 3 -n and gate bus lines 4,
The drain bus line 5 can be stably formed. Therefore,
Thin film transistors 3 -1 to 3 -n and gate bus lines 4,
A defect such as a short circuit of the drain bus line 5 can be prevented, and a highly reliable liquid crystal display device can be realized.

【0041】また、蓄積容量電極7を遮光性の導電材を
用いて薄膜トランジスタ3-1〜3-n及びゲートバスライ
ン4,ドレインバスライン5上に形成することにより、
蓄積容量電極7を遮光膜と兼用して形成している。この
ため、光によるリーク電流の発生を抑制し、動作特性を
安定させることができ、鮮明な画像を得ることができ
る。
Further, the storage capacitor electrode 7 is formed on the thin film transistors 3 -1 to 3 -n, the gate bus line 4 and the drain bus line 5 by using a light-shielding conductive material,
The storage capacitor electrode 7 is formed also as a light shielding film. Therefore, it is possible to suppress the generation of a leak current due to light, stabilize the operation characteristics, and obtain a clear image.

【0042】さらに、導電性スペーサ11を用いて蓄積
容量電極7を対向電極8と接続し、蓄積容量電極7と対
向電極8とを同電位とし、蓄積容量を形成する構成であ
るため、外部に不要な接続線を設ける必要がなくなる。
Furthermore, since the storage capacitor electrode 7 is connected to the counter electrode 8 by using the conductive spacer 11 and the storage capacitor electrode 7 and the counter electrode 8 are set to the same potential to form the storage capacitor, the capacitor is formed outside. There is no need to provide unnecessary connection lines.

【0043】[0043]

【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、蓄積容量
電極を薄膜トランジスタとドレインバスライン、ゲート
バスラインの上部に形成することにより、薄膜トランジ
スタとドレインバスライン、ゲートバスライン画素電極
を基板上に直接的に形成することができるため、薄膜ト
ランジスタとドレインバスライン、ゲートバスラインを
安定して欠陥等なく形成することができ、従って、信頼
性の高い液晶表示装置を実現できる等の特長を有する。
As described above, according to the present invention, the thin film transistor, the drain bus line, and the gate bus line pixel electrode are formed on the substrate by forming the storage capacitor electrode on the thin film transistor, the drain bus line, and the gate bus line. Since it can be directly formed on the thin film transistor, the thin film transistor, the drain bus line, and the gate bus line can be formed stably and without defects, and thus, a highly reliable liquid crystal display device can be realized. ..

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の要部の断面図である。FIG. 1 is a sectional view of an essential part of an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例の他の要部の断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of another main part of the embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例の要部の平面図である。FIG. 3 is a plan view of an essential part of an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例の製造工程を説明するための
図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining a manufacturing process according to an embodiment of the present invention.

【図5】液晶表示装置の一例の構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram of an example of a liquid crystal display device.

【図6】従来の一例の断面図である。FIG. 6 is a sectional view of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A TFTパネル B 対向基板 1 ガラス基板 2-1〜2-n 画素電極 3-1〜3-n 薄膜トランジスタ(TFT) 7 蓄積容量電極A TFT panel B Counter substrate 1 Glass substrate 2 -1 to 2 -n Pixel electrode 3 -1 to 3 -n Thin film transistor (TFT) 7 Storage capacitor electrode

フロントページの続き (72)発明者 仲村 威裕 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 星野 淳之 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内Front page continued (72) Inventor Takehiro Nakamura 1015 Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Within Fujitsu Limited

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 透明基板(1)上に所定数の画素電極
(2-1〜2-n)と、該画素電極(2-1〜2-n)に隣接し
て薄膜トランジスタ(3-1〜3-n)とを形成してなる駆
動基板(A)と、該駆動基板(A)に対向して対向電極
(8)が形成された対向基板(B)との間に液晶(1
0)を介在させ、該画素電極(2-1〜2-n)と該対向電
極(8)との間に電圧を印加することにより、該液晶の
状態を変化させ表示を行なう液晶表示装置において、 最上層に絶縁膜(6)を介して前記画素電極(2-1〜2
-n)夫々の周囲に形成された蓄積容量電極(7)を有す
ることを特徴とする液晶表示装置。
1. A predetermined number of pixel electrodes (2 -1 to 2 -n ) on a transparent substrate (1) and a thin film transistor (3 -1 to) adjacent to the pixel electrodes (2 -1 to 2 -n ). 3 -n ) is formed between the drive substrate (A) and the counter substrate (B) having the counter electrode (8) facing the drive substrate (A).
0) is interposed and a voltage is applied between the pixel electrodes (2 -1 to 2- n ) and the counter electrode (8) to change the state of the liquid crystal to perform display. , The pixel electrodes ( 2-1 to 2) on the uppermost layer through an insulating film (6).
-n ) A liquid crystal display device having storage capacitor electrodes (7) formed around each of them.
【請求項2】 前記蓄積容量電極(7)は遮光性の導電
材により形成されたことを特徴とする請求項1記載の液
晶表示装置。
2. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the storage capacitor electrode (7) is formed of a light-shielding conductive material.
【請求項3】 前記蓄積容量電極(7)は前記対向電極
(8)と接続され、前記対向電極(8)と同電位とされ
たことを特徴とする請求項1又は2記載の液晶表示装
置。
3. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the storage capacitor electrode (7) is connected to the counter electrode (8) and has the same potential as the counter electrode (8). ..
【請求項4】 前記蓄積容量電極(7)は導電性のスペ
ーサ(11)により液晶(10)中を介して前記対向電
極(8)と接続されたことを特徴とする請求項3記載の
液晶表示装置。
4. The liquid crystal according to claim 3, wherein the storage capacitor electrode (7) is connected to the counter electrode (8) through a liquid crystal (10) by a conductive spacer (11). Display device.
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