JPH0528115U - Emitter feedback type differential 1x gain amplifier circuit - Google Patents

Emitter feedback type differential 1x gain amplifier circuit

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JPH0528115U
JPH0528115U JP7666691U JP7666691U JPH0528115U JP H0528115 U JPH0528115 U JP H0528115U JP 7666691 U JP7666691 U JP 7666691U JP 7666691 U JP7666691 U JP 7666691U JP H0528115 U JPH0528115 U JP H0528115U
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JP
Japan
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type differential
transistors
feedback type
emitter
hfe
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Application number
JP7666691U
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Japanese (ja)
Inventor
隆之 千田
Original Assignee
横河電機株式会社
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 IC製造プロセスの影響を受け難い、安定な
ゲインのエミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ回路を実
現する。 【構成】 トランジスタQ1 ,Q2 とこの2つのトラン
ジスタのエミッタに各々その一端が接続された抵抗RE
1,RE2とこの2つの抵抗RE1,RE2の他端に接続され
た電流源IO から成るエミッタ帰還型差動段と、電流源
IO の他端に接続された負側電源VEEと、そのコレクタ
は正側電源VCCにそのベ−スは各々抵抗R1 ,R2 を介
して正側電源VCCにそのエミッタは各々負荷抵抗RL1,
RL2に接続されたトランジスタQ3 ,Q4 とエミッタ帰
還型差動段のトランジスタQ1 ,Q2 のコレクタに各々
その他端が接続された負荷抵抗RL1,RL2から成る負荷
回路と、エミッタ帰還型差動段のトランジスタQ1 ,Q
2 のベ−スに接続された入力Vin1 ,Vin2 と、エミッ
タ帰還型差動段と負荷回路の接続点から取り出される出
力VOUT1,VOUT2とにより構成した。
(57) [Summary] (Modified) [Purpose] To realize an emitter feedback type differential 1x gain amplifier circuit with stable gain that is not easily affected by the IC manufacturing process. [Structure] Transistors Q1 and Q2 and a resistor RE whose one end is connected to the emitters of these two transistors, respectively.
1, RE2 and an emitter feedback type differential stage consisting of a current source IO connected to the other ends of these two resistors RE1 and RE2, a negative side power source VEE connected to the other end of the current source IO, and its collector The positive side power source Vcc has its bases connected to resistors R1 and R2, respectively, and the positive side power source Vcc has its load resistors RL1 and
A load circuit composed of transistors Q3 and Q4 connected to RL2 and load resistors RL1 and RL2 having the other ends connected to the collectors of transistors Q1 and Q2 of the emitter feedback type differential stage, and a transistor of the emitter feedback type differential stage. Q1, Q
It is composed of inputs Vin1 and Vin2 connected to the base 2 and outputs VOUT1 and VOUT2 taken from the connection point of the emitter feedback type differential stage and the load circuit.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、エミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ回路のゲインの高精度化に関 するものである。 The present invention relates to high accuracy gain of an emitter feedback type differential 1 × gain amplifier circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior Art]

図3は従来のエミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ回路の一例を示す回路構成 図である。図3において、VCCは正側電源、VEEは負側電源である。トランジス タQ1 ,Q2 とこの2つのトランジスタQ1 ,Q2 のエミッタにその一端がそれ ぞれ接続された抵抗RE と、この2つの抵抗RE の他端にその一端が接続された 電流源IO によりエミッタ帰還型差動段が構成される。電流源IO の他端は負側 電源に接続されている。エミッタ帰還型差動段への入力は、トランジスタQ1 , Q2 のベ−スにそれぞれ接続される。負荷抵抗RL は負荷抵抗であり、一端は正 側電源に、他端はトランジスタQ1 ,Q2 のコレクタにそれぞれ接続されている 。また、負荷抵抗RL とエミッタ帰還型差動段との接続点がそれぞれ出力VOUT1 ,VOUT2である。 FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of a conventional emitter feedback type differential 1 × gain amplifier circuit. In FIG. 3, V CC is a positive power supply and V EE is a negative power supply. The emitters of the transistors Q1 and Q2 and the emitters of the two transistors Q1 and Q2 are connected to the emitters RE, respectively, and the other end of the two resistors RE is connected to the current source I0. A differential stage is constructed. The other end of the current source IO is connected to the negative power source. The inputs to the emitter feedback type differential stage are connected to the bases of the transistors Q1 and Q2, respectively. The load resistor RL is a load resistor, one end of which is connected to the positive power source and the other end of which is connected to the collectors of the transistors Q1 and Q2. The connection points between the load resistance RL and the emitter feedback type differential stage are outputs VOUT1 and VOUT2, respectively.

【0003】 このような構成において、上記回路の小信号ゲインGは、次式で与えられる。 G=RL /[RE +re +{rb /(1+hFE)}+(2kT/qIO ) ・1/{1+1/hFE)}2 ]・{1/(1+1/hFE)} ただし、rE :トランジスタQ1 ,Q2 のエミッタ抵抗 rb :トランジスタQ1 ,Q2 のベ−ス抵抗 T:絶対温度 hFE:トランジスタQ1 ,Q2 の順方向電流利得 k:ボルツマン定数 q:電子の電荷量 である。ここで、抵抗値RE ,RL がトランジスタQ1 ,Q2 のrE などよりも 十分大きければ、 G=(RL /RE )・1/(1+1/hFE) となる。抵抗値RE ,RL が同一IC製造プロセスで作られる場合は、RL /R E はほぼ一定となり、ゲインは安定するが、アンプの高速化のために、RE ,R L が十分大きくとれない場合は、IC製造プロセスのばらつきにより、抵抗RE ,RL とre ,rb ,hFEなどが独立にばらつくため、ゲインもばらつくことに なり、ゲイン精度を低下させていた。In such a configuration, the small signal gain G of the above circuit is given by the following equation. G = RL / [RE + re + {rb / (1 + hFE)} + (2kT / qIO) * 1 / {1 + 1 / hFE)} 2 ] * {1 / (1 + 1 / hFE)} where rE: transistors Q1 and Q2 Emitter resistance rb: base resistance of transistors Q1 and Q2 T: absolute temperature hFE: forward current gain of transistors Q1 and Q2 k: Boltzmann constant q: electron charge amount. Here, if the resistance values RE and RL are sufficiently larger than rE of the transistors Q1 and Q2, G = (RL / RE) .multidot. (1 + 1 / hFE). If the resistance values RE and RL are made in the same IC manufacturing process, RL / RE will be almost constant and the gain will be stable, but if RE and RL cannot be made sufficiently large to speed up the amplifier. , The resistances RE, RL and re, rb, hFE, etc. are independently dispersed due to variations in the IC manufacturing process, so that the gain is also varied and the gain accuracy is lowered.

【0004】[0004]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

本考案は上記従来技術の課題を踏まえてなされたものであり、エミッタ帰還型 差動1倍ゲインアンプ回路の負荷として、抵抗とベ−スに抵抗を付けたベ−ス接 地トランジスタを用いることにより、IC製造プロセスの影響を受け難い、安定 なゲインのエミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ回路を提供することを目的とし たものである。 The present invention has been made in view of the above problems of the prior art, and uses a resistor and a base-grounded transistor with a resistor attached to the base as a load of an emitter feedback type differential 1 × gain amplifier circuit. Therefore, it is an object of the present invention to provide an emitter feedback type differential 1 × gain amplifier circuit which has a stable gain and is hardly affected by the IC manufacturing process.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

上記課題を解決するための本考案の構成は、トランジスタQ1 ,Q2 と、この 2つのトランジスタのエミッタにそれぞれその一端が接続された抵抗RE1,RE2 と、この2つの抵抗RE1,RE2の他端に接続された電流源IO から成るエミッタ 帰還型差動段と、 前記電流源IO の他端に接続された負側電源VEEと、 そのコレクタは正側電源VCCに、そのベ−スはそれぞれ抵抗R1 ,R2 を介し て前記正側電源VCCに、そのエミッタはそれぞれ負荷抵抗RL1,RL2に接続され たトランジスタQ3 ,Q4 と、前記エミッタ帰還型差動段のトランジスタQ1 , Q2 のコレクタにそれぞれその他端が接続された前記負荷抵抗RL1,RL2から成 る負荷回路と、 前記エミッタ帰還型差動段の前記トランジスタQ1 ,Q2 のベ−スに接続され た入力Vin1 ,Vin2 と、 前記エミッタ帰還型差動段と前記負荷回路の接続点から取り出される出力VOU T1,VOUT2と により構成としたことを特徴とするものである。 The constitution of the present invention for solving the above-mentioned problems is to provide transistors Q1 and Q2, resistors RE1 and RE2 whose one ends are respectively connected to the emitters of these two transistors, and the other ends of these two resistors RE1 and RE2. An emitter feedback type differential stage consisting of a connected current source IO, a negative side power source VEE connected to the other end of the current source IO, its collector is a positive side power source VCC, and its base is a resistor R1. , R2 to the positive side power supply VCC, the emitters of which are connected to load resistors RL1 and RL2, respectively, and the collectors of the transistors Q1 and Q2 of the emitter feedback type differential stage are connected to the other ends. A load circuit comprising the connected load resistors RL1 and RL2; inputs Vin1 and Vin2 connected to the bases of the transistors Q1 and Q2 of the emitter feedback type differential stage; It is characterized in that it has a structure by the limiter feedback output VOU T1, taken out from the connection point of the differential stage and the load circuit VOUT2.

【0006】[0006]

【作用】[Action]

本考案によれば、エミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ回路の負荷回路として 、抵抗を付けたベ−ス接地トランジスタと負荷抵抗を用いた構成としている。し たがって、ベ−ス接地トランジスタのベ−ス・エミッタ間電圧と付加したベ−ス 抵抗による電圧降下が、エミッタ帰還型差動段のエミッタ動作抵抗、エミッタ抵 抗、ベ−ス抵抗などの影響を補償することになるため、ゲインがIC製造プロセ スの変動の影響を受け難く、高精度に製造できる。 According to the present invention, as the load circuit of the emitter feedback type differential gain amplifier circuit, a base-grounded transistor with a resistor and a load resistor are used. Therefore, the voltage drop due to the base-emitter voltage of the base grounded transistor and the added base resistance is caused by the emitter operation resistance, the emitter resistance, and the base resistance of the emitter feedback differential stage. Since the effect is compensated, the gain is not easily influenced by the fluctuation of the IC manufacturing process, and the manufacturing can be performed with high accuracy.

【0007】[0007]

【実施例】【Example】

以下、本考案を図面に基づいて説明する。 図1は本考案のエミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ回路の一実施例を示す回 路構成図である。なお、図1において図3と同一要素には同一符号を付して重複 する説明は省略するが、図1と図3との相違点は、図1における負荷回路の構成 を、そのコレクタが正側電源VCCに、そのベ−スがそれぞれ抵抗R1 ,R2 を介 して電源Vccに、そのエミッタがそれぞれ負荷抵抗RL1,RL2に接続されたトラ ンジスタQ3 ,Q4 と負荷抵抗RL1,RL2で構成している点である。 Hereinafter, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a circuit configuration diagram showing an embodiment of an emitter feedback type differential 1 × gain amplifier circuit of the present invention. In FIG. 1, the same elements as those in FIG. 3 are designated by the same reference numerals and overlapping description is omitted. However, the difference between FIG. 1 and FIG. 3 is that the configuration of the load circuit in FIG. The power supply Vcc is composed of transistors Q3 and Q4 and load resistors RL1 and RL2 whose bases are connected to the power supply Vcc through resistors R1 and R2, respectively, and whose emitters are connected to load resistors RL1 and RL2, respectively. That is the point.

【0008】 このような構成において、その動作は図3と同様であるため、その説明は省略 するが、ここで、以下に、この回路のゲインを求める。なお、トランジスタQ1 〜Q4 は同一形状のものとして、そのベ−ス抵抗rb 、エミッタ抵抗re 、順方 向電流利得hFE、逆方向飽和電流Is の値は等しいとする。また、抵抗値に関し ても、RE1=RE2=RE 、RL1=RL2=RL 、R1 =R2 =Rとすると、図1よ り、 Vin1 −V0 =(I3 /hFE)・rb +I1 (re +RE ) +(kT/q)・lnI4 /Is …(1) Vin2 −V0 =(I4 /hFE)・rb +I2 (re +RE ) +(kT/q)・lnI4 /Is …(2) VOUT1=VCC−(I6 /hFE)・(rb +R) −(kT/q)lnI6 /Is −I4 (RL +re )…(3) VOUT2=VCC−(I5 /hFE)・(rb +R) −(kT/q)lnI5 /Is −I3 (RL +re )…(4) I1 +I2 =I0 …(5) I1 =I3 (1+1/hFE) …(6) I2 =I4 (1+1/hFE) …(7) I3 =I5 (1+1/hFE) …(8) I4 =I6 (1+1/hFE) …(9) が与えられる。この上記(1) 式〜(9) 式と (kT/q)・lnI3 /I4 =(2kT/q)(I3 −I4 )/(I3 +I4 ) の小信号近似を用いると、小信号ゲインGは、 G =(VOUT1−VOUT2)/(Vin1 −Vin2 ) =RL +re +{ 1/(1+hFE)■rb +( kT/ qI0)( 1−3/ hFE) /[RE +re +{ 1/(1+hFE)■rb +( kT/ qI0)( 1−2/ hFE)] +[( −1/ hFE)[RL +re +{ 1/(1+hFE)■rb + ( kT/ qI0)( 1−3/ hFE)]+( 1/hFE)(1−2/hFE) R] /[RE +re +{ 1/(1+hFE)■rb +( kT/ qI0)( 1−2/ hFE)] …(10) となる。この(10)式において、第1項は、RE =RL と設計すると、IC製造プ ロセスのばらつきにより、RE ,RL ,re ,rb ,hFEなどがばらついても、 ほぼ1に等しくなる。なお、RE ,RL は同一プロセスで製造するとすれば、R E =RL は常時実現できる。また、第2項は、 R=RL +re +{ 1/(1+hFE)■rb +( kT/ qI0)( 1−3/ hFE) と設計しておくことにより、RE ,RL ,re ,rb ,hFEなどがばらついても 、小さな値になる。これにより、図1において、抵抗R1 ,R2 の値Rを上記の ように設計すれば、IC製造プロセスのばらつきの影響を抑えて、ゲイン1倍の 差動ゲインアンプを精度良く製造することができる。In such a configuration, the operation thereof is the same as that of FIG. 3 and thus the description thereof is omitted, but here, the gain of this circuit is obtained below. The transistors Q1 to Q4 have the same shape, and the base resistance rb, emitter resistance re, forward current gain hFE, and reverse saturation current Is are equal. Also regarding the resistance value, if RE1 = RE2 = RE, RL1 = RL2 = RL, and R1 = R2 = R, then Vin1−V0 = (I3 / hFE) · rb + I1 (re + RE) + as shown in FIG. (KT / q) .lnI4 / Is (1) Vin2-V0 = (I4 / hFE) .rb + I2 (re + RE) + (kT / q) .lnI4 / Is ... (2) VOUT1 = VCC- (I6 / hFE). (rb + R)-(kT / q) lnI6 / Is-I4 (RL + re) ... (3) VOUT2 = VCC- (I5 / hFE). (rb + R)-(kT / q) lnI5 / Is- I3 (RL + re) (4) I1 + I2 = I0 (5) I1 = I3 (1 + 1 / hFE) (6) I2 = I4 (1 + 1 / hFE) (7) I3 = I5 (1 + 1 / hFE) ... (8) I4 = I6 (1 + 1 / hFE) (9) is given. Using the above equations (1) to (9) and the small signal approximation of (kT / q) · lnI3 / I4 = (2kT / q) (I3−I4) / (I3 + I4), the small signal gain G is , G = (VOUT1-VOUT2) / (Vin1-Vin2) = RL + re + {1 / (1 + hFE) ■ rb + (kT / qI0) (1-3 / hFE) / [RE + re + {1 / (1 + hFE)) ■ rb + (kT / qI0) (1-2 / hFE)] + [(-1 / hFE) [RL + re + {1 / (1 + hFE) ■ rb + (kT / qI0) (1-3 / hFE)] + (1 / hFE) (1-2 / hFE) R] / [RE + re + {1 / (1 + hFE)) rb + (kT / qI0) (1-2 / hFE)] (10). In this equation (10), if the first term is designed as RE = RL, even if RE, RL, re, rb, hFE, etc. vary due to variations in the IC manufacturing process, they become almost equal to 1. If RE and RL are manufactured in the same process, RE = RL can always be realized. Also, the second term is R = RL + re + {1 / (1 + hFE) ■ rb + (kT / qI0) (1-3 / hFE), so that RE, RL, re, rb, hFE Even if there are variations, the value will be small. Thus, in FIG. 1, if the values R of the resistors R1 and R2 are designed as described above, it is possible to suppress the influence of variations in the IC manufacturing process and manufacture a differential gain amplifier with a gain of 1 with high accuracy. ..

【0009】 また、図1を改良したエミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ回路は、そのゲイ ンが前記(10)式で与えられるため、RE ,RL ,re ,rb ,hFEなどの温度係 数がどのような値でも、ゲインの温度依存性は小さくなり、広い温度範囲でゲイ ン1倍を高精度に実現できる効果がある。Further, in the emitter feedback type differential 1 × gain amplifier circuit improved in FIG. 1, since the gain thereof is given by the equation (10), temperature coefficients such as RE, RL, re, rb, hFE, etc. However, the gain has less temperature dependence and has the effect of achieving a gain of 1 times with high accuracy in a wide temperature range.

【0010】 図2は本考案のエミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ回路の他の実施例を示す 回路構成図である。図2のものは、図1のエミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ 回路の差動段と負荷回路の間に、ベ−ス接地トランジスタQ5 ,Q6 が付加され た構成となっている。ベ−ス接地トランジスタQ5 ,Q6 のエミッタは、差動段 のトランジスタQ1 ,Q2 のコレクタに、Q5 ,Q6 のコレクタは負荷回路の抵 抗RL1,RL2に接続されている。Q5 ,Q6 のベ−スは、低出力インピ−ダンス の電圧源VB に接続されている。FIG. 2 is a circuit diagram showing another embodiment of the emitter feedback type differential 1 × gain amplifier circuit of the present invention. The configuration shown in FIG. 2 has a configuration in which base ground transistors Q5 and Q6 are added between the differential stage and the load circuit of the emitter feedback type differential gain amplifier circuit of FIG. The emitters of the base-grounded transistors Q5 and Q6 are connected to the collectors of the transistors Q1 and Q2 in the differential stage, and the collectors of Q5 and Q6 are connected to the resistors RL1 and RL2 of the load circuit. The bases of Q5 and Q6 are connected to a low output impedance voltage source VB.

【0011】 ここで、この図2に示すベ−ス接地トランジスタ付エミッタ帰還型差動1倍ゲ インアンプ回路のゲインGは図1のものと同様に求められる。つまり、 G =RL +re +{ 1/(1+hFE)■rb +( kT/ qI0)( 1−4/ hFE) /[RE +re +{ 1/(1+hFE)■rb +( kT/ qI0)( 1−2/ hFE)] +[( −2/ hFE)[RL +re +{ 1/(1+hFE)■rb +( kT/ qI0)( 1−4/ hFE)]+( 1/hFE)(1−3/hFE) R] /[RE +re +{ 1/(1+hFE)■rb +( kT/ qI0)( 1−2/ hFE)] …(11) したがって、この場合は、 R =2[ RL +re +{ 1/(1+hFE)■rb +( kT/ qI0)( 1−4/ hFE)] と設計することにより、図1回路と同様の効果が得られる。Here, the gain G of the emitter feedback type differential 1 × gain amplifier circuit with the base ground transistor shown in FIG. 2 is obtained in the same manner as that of FIG. That is, G = RL + re + {1 / (1 + hFE) ■ rb + (kT / qI0) (1-4 / hFE) / [RE + re + {1 / (1 + hFE) ■ rb + (kT / qI0) (1- 2 / hFE)] + [(-2 / hFE) [RL + re + {1 / (1 + hFE)] rb + (kT / qI0) (1-4 / hFE)] + (1 / hFE) (1-3 / hFE) R] / [RE + re + {1 / (1 + hFE) ■ rb + (kT / qI0) (1-2 / hFE)] (11) Therefore, in this case, R = 2 [RL + re + {1 By designing / (1 + hFE) * rb + (kT / qI0) (1-4 / hFE)], the same effect as the circuit of FIG. 1 can be obtained.

【0012】 なお、ベ−ス接地トランジスタがN段付加されている場合は、 R =(N+1)・[ RL +re +{ 1/(1+hFE)■rb +( kT/ qI0){ 1−( N+3)/hFE■] と設計することにより、同様の効果が得られる。When N stages of base-grounded transistors are added, R = (N + 1). [RL + re + {1 / (1 + hFE) .rb + (kT / qI0) {1- (N + 3) By designing / hFE ■], the same effect can be obtained.

【0013】[0013]

【考案の効果】[Effect of the device]

以上、実施例と共に具体的に説明したように、本考案によれば、エミッタ帰還 型差動1倍ゲインアンプ回路の負荷回路として、抵抗を付けたベ−ス接地トラン ジスタと負荷抵抗を用いた構成としている。したがって、ベ−ス接地トランジス タのベ−ス・エミッタ間電圧と付加したベ−ス抵抗による電圧降下が、エミッタ 帰還型差動段のエミッタ動作抵抗、エミッタ抵抗、ベ−ス抵抗などの影響を補償 することになるため、ゲインがIC製造プロセスの変動の影響を受け難く、高精 度に製造でき、また、ゲインの温度依存性が小さいという効果を有するエミッタ 帰還型差動1倍ゲインアンプ回路を実現できる。 As described above in detail with reference to the embodiments, according to the present invention, a base-grounded transistor with a resistor and a load resistor are used as a load circuit of an emitter feedback type differential 1 × gain amplifier circuit. It is configured. Therefore, the voltage drop between the base-emitter voltage of the base-grounded transistor and the added base resistance affects the effects of the emitter operation resistance, emitter resistance, and base resistance of the emitter feedback differential stage. Since the gain is compensated, the gain is not easily influenced by the fluctuation of the IC manufacturing process, the gain can be manufactured with high accuracy, and the gain temperature dependence is small. Can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案のエミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ
回路の一実施例を示す回路構成図である。
FIG. 1 is a circuit configuration diagram showing an embodiment of an emitter feedback type differential 1 × gain amplifier circuit of the present invention.

【図2】本考案のエミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ
回路の他の実施例を示す回路構成図である。
FIG. 2 is a circuit configuration diagram showing another embodiment of an emitter feedback type differential 1 × gain amplifier circuit of the present invention.

【図3】従来のエミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ回
路の一例を示す回路構成図である。
FIG. 3 is a circuit configuration diagram showing an example of a conventional emitter feedback type differential 1 × gain amplifier circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

IO 電流源 Q1 〜Q4 トランジスタ R1 ,R2 ,RE1,RE2 抵抗 RL1,RL2 負荷抵抗 VCC 正側電源 VEE 負側電源 Vin1 ,Vin2 入力信号 VOUT1,VOUT2 出力 IO Current source Q1 to Q4 Transistors R1, R2, RE1, RE2 Resistance RL1, RL2 Load resistance VCC Positive power supply VEE Negative power supply Vin1, Vin2 Input signal VOUT1, VOUT2 Output

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 トランジスタQ1 ,Q2 と、この2つの
トランジスタのエミッタにそれぞれその一端が接続され
た抵抗RE1,RE2と、この2つの抵抗RE1,RE2の他端
に接続された電流源IO から成るエミッタ帰還型差動段
と、 前記電流源IO の他端に接続された負側電源VEEと、 そのコレクタは正側電源VCCに、そのベ−スはそれぞれ
抵抗R1 ,R2 を介して前記正側電源VCCに、そのエミ
ッタはそれぞれ負荷抵抗RL1,RL2に接続されたトラン
ジスタQ3 ,Q4 と、前記エミッタ帰還型差動段のトラ
ンジスタQ1 ,Q2 のコレクタにそれぞれその他端が接
続された前記負荷抵抗RL1,RL2から成る負荷回路と、 前記エミッタ帰還型差動段の前記トランジスタQ1 ,Q
2 のベ−スに接続された入力Vin1 ,Vin2 と、 前記エミッタ帰還型差動段と前記負荷回路の接続点から
取り出される出力VOUT1,VOUT2とにより構成としたこ
とを特徴とするエミッタ帰還型差動1倍ゲインアンプ回
路。
1. Transistors Q1 and Q2, resistors RE1 and RE2 each having one end connected to the emitters of the two transistors, and a current source IO connected to the other ends of the two resistors RE1 and RE2. An emitter feedback type differential stage, a negative side power source VEE connected to the other end of the current source IO, its collector is a positive side power source VCC, and its base is the positive side via resistors R1 and R2, respectively. The power source Vcc has its emitters connected to load resistors RL1 and RL2, respectively, and transistors Q3 and Q4 are connected to the collectors of the emitter feedback type differential stage transistors Q1 and Q2. A load circuit composed of RL2, and the transistors Q1 and Q of the emitter feedback type differential stage
An emitter-feedback-type differential circuit characterized by comprising inputs Vin1 and Vin2 connected to the base 2 and outputs VOUT1 and VOUT2 taken out from the connection point of the emitter-feedback-type differential stage and the load circuit. Dynamic 1x gain amplifier circuit.
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