JPH0527790U - 画像情報処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】画素数の多い撮像装置からの画像情報を、画素
数の少ない表示装置に表示する場合に、画像情報の変化
のある部分を確実に表示できるようにする。 【構成】所定数の画素に対応する画像信号毎に、信号レ
ベルが最大または最小の画像信号を取り出して表示装置
に出力するように構成している。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、画素数の多い撮像装置からの画像情報を、画素数の少ない表示装置 に表示するような場合に好適な画像情報処理装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

一般に、画素数の多い撮像装置、例えば、ＣＣＤラインセンサからの画像情報 を、画素数の少ない表示装置、例えば、液晶表示器に表示するような場合には、 図４に示されるように画像情報を間引いて表示している。

【０００３】 すなわち、図４（Ａ）は、画素数が２０４８のＣＣＤラインセンサからの画像 信号を示しており、図４（Ｂ）は、１／１６に間引かれて１ラインが１２８画素 の液晶表示器に表示される画像信号を示している。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

ところで、製品を前記ＣＣＤラインセンサなどで撮像してそれを液晶表示器な どにモニタして製品の欠陥を検査するような検査ライン、例えば、不透明フィル ムの穴などの欠陥を検査するような場合には、欠陥部分の画像信号のレベルが、 図４（Ａ）の矢符９で示されるように、正常な部分の画像信号のレベルに比べて 高くなる。

【０００５】 従来では、上述のように、ＣＣＤラインセンサからの画像信号を、その信号レ ベルの高低に拘わらず、規則的に間引いて液晶表示器に表示するために、図４（ Ｂ）に示されるように、欠陥部分に対応する数画素程度の画素信号の変化が間引 かれて表示できない場合があり、欠陥の有無の正確な判断ができないことがある という難点がある。

【０００６】 本考案は、上述の点に鑑みて為されたものであって、画素数の多い撮像装置か らの画像情報を、画素数の少ない表示装置に表示する場合に、画像情報の変化部 分を確実に表示できるようにすることを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】

本考案では、上述の目的を達成するために、次のように構成している。

【０００８】 すなわち、本考案は、撮像装置からの画像信号を処理して前記撮像装置よりも 画素数の少ない表示装置に出力する画像情報処理装置であって、 所定数の画素に対応する画像信号毎に、信号レベルが最大または最小の画像信 号を取り出して前記表示装置に出力する抽出手段を備えている。

【０００９】

【作用】

上記構成によれば、所定数の画素に対応する画像信号毎に、信号レベルが最大 または最小の画像信号を取り出すので、画像信号のレベル変化のある部分は、確 実に表示されることになる。

【００１０】

【実施例】

以下、図面によって本考案の実施例について、詳細に説明する。

【００１１】 図１は、本考案の一実施例の概略構成図であり、この実施例では、不透明フィ ルムの穴の有無を検査するラインに適用して説明する。

【００１２】 図１において、１は光源、２は不透明フィルム、３は画素数が２０４８のＣＣ Ｄラインセンサを内蔵したカメラ、４は画像取り込み回路、５はＡ／Ｄ変換回路 、６はＡ／Ｄ変換回路５からの画像データあるいはＣＰＵ７で処理された画像デ ータが書き込み読み出される画像メモリ、７は各部を制御するとともに、画像デ ータを後述のように処理するＣＰＵ、８はＣＣＤラインセンサよりも画素数が少 ない１ラインが１２８画素の液晶表示器である。なお、画像メモリ６およびＣＰ Ｕ７は、後述のように、信号レベルの最大あるいは最小の画像信号を抽出する抽 出手段としての機能を有する。

【００１３】 この実施例の画像情報処理装置は、画素数が２０４８のＣＣＤラインセンサか らの画像信号を、画素数が少ない１ラインが１２８画素の液晶表示器８に表示す るために、画像信号を１／１６に間引いて出力するのであるが、その際に、不透 明フィルム２の穴に対応する画像信号が間引かれて正確な検査ができなくなるの を防止するために、次のように構成している。

【００１４】 すなわち、図示しない入力手段から最大値モードを指定することによって、Ｃ ＰＵ７は、Ａ／Ｄ変換されて画像メモリ６に書き込まれた画像信号から所定数の 画素、この実施例では、１／１６に間引くので１６画素に対応する画素信号毎に 、信号レベルが最大の画像信号を抽出して画像メモリ６の別の領域に書き込み、 この抽出された画像信号を読み出して液晶表示器８に表示するようにしている。 したがって、画像信号を１／１６に間引く際に、不透明フィルム２の穴に対応 する信号レベルの高い画像信号は、確実に抽出されて液晶表示器８に表示される ことになり、画像信号をその信号レベルの高低に拘わらず、規則的に間引く従来 例のように、不透明フィルムの穴に対応する画像信号が間引かれてしまうといっ たことがない。

【００１５】 さらに、この実施例では、図示しない入力手段から最小値モードを指定するこ とによって、ＣＰＵ７は、Ａ／Ｄ変換されて画像メモリ６に書き込まれた画像信 号から１６画素に対応する画素信号毎に、信号レベルが最小の画像信号を抽出し て画像メモリ６の別の領域に書き込み、この抽出された画像信号を読み出して液 晶表示器８に表示することもできる。この最小値モードは、例えば、透明フィル ムの黒点（汚れ）の有無を検査する場合などに用いられる。

【００１６】 また、この実施例では、図示しない入力手段から平均値モードを指定すること によって、ＣＰＵ７は、Ａ／Ｄ変換されて画像メモリ６に書き込まれた画像信号 から１６画素に対応する画素信号毎に、その信号レベルの平均値を演算して画像 メモリ６の別の領域に書き込み、この書き込まれた平均の画像信号を読み出して 液晶表示器８に表示することもできる。

【００１７】 図２は、この実施例の動作を説明するための画像信号の波形図であり、同図（ Ａ）は、ＣＣＤラインセンサからの画像信号を、同図（Ｂ）は、最大値モードに おける液晶表示器８に表示される画像信号を、同図（Ｃ）は、最大値モードおよ び平均値モードの重ね合わせ表示の画像信号をそれぞれ示している。

【００１８】 この図２に示されるように、画像信号が変化する部分が確実に表示されること になり、フィルムの穴といった欠陥部分を確実に検出できることになる。

【００１９】 なお、図３は、この実施例を、透明フィルムの黒点の有無の検査に適用した場 合の画像信号波形図であり、同図（Ａ）はＣＣＤラインセンサからの画像信号を 、同図（Ｂ）は最小値モードにおける液晶表示器８に表示される画像信号をそれ ぞれ示している。

【００２０】 この図３に示されるように、画像信号が変化する部分が確実に表示されること になり、フィルムの黒点といった欠陥部分を確実に検出できることになる。

【００２１】 上述の実施例では、透過型の検査ラインについて説明したけれども、本考案は 、反射型の検査ラインにも同様に適用できるのは勿論である。

【００２２】

【考案の効果】

以上のように本考案によれば、所定数の画素に対応する画像信号毎に、信号レ ベルが最大または最小の画像信号を取り出すので、画像信号のレベル変化のある 部分は、確実に表示されることになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例の概略構成図である。

【図２】図１の実施例の動作説明に供する信号波形図で
ある。

【図３】図１の実施例の動作説明に供する信号波形図で
ある。

【図４】従来例の問題点を示す信号波形図である。

【符号の説明】

２ フィルム ３ カメラ ６ 画像メモリ ７ ＣＰＵ ８ 液晶表示器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁵ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｆ 15/66 Ａ 8420−5Ｌ

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】撮像装置からの画像信号を処理して前記撮
   像装置よりも画素数の少ない表示装置に出力する画像情
   報処理装置であって、 所定数の画素に対応する画像信号毎に、信号レベルが最
   大または最小の画像信号を取り出して前記表示装置に出
   力する抽出手段を備えることを特徴とする画像情報処理
   装置。