JPH05273760A - Formation of resist image - Google Patents
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- JPH05273760A JPH05273760A JP6840792A JP6840792A JPH05273760A JP H05273760 A JPH05273760 A JP H05273760A JP 6840792 A JP6840792 A JP 6840792A JP 6840792 A JP6840792 A JP 6840792A JP H05273760 A JPH05273760 A JP H05273760A
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- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、電子基材として使用
されるプリント配線板の製造工程でのレジスト膜の形成
方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for forming a resist film in a manufacturing process of a printed wiring board used as an electronic base material.
【0002】[0002]
【従来の技術】プリント配線板の製造工程でのレジスト
膜の形成方法としては、スクリーン印刷法、ドライ
フィルム法、ロールコーター法、スピンコート法、
電着法などが知られている。しかし、微細かつ高精度
なプリント配線板の製造のために要求される、薄膜であ
って、膜厚精度の良いレジスト膜を上記従来法で形成す
ることには問題がある。即ち、の印刷法は、レジスト
塗膜厚みを精度良くコントロールするのが難しく、お
ドライフィルム法は、予め成膜されたフィルムを加熱圧
着するため、薄膜化が困難であり、のロールコーター
法は、平板状のものでないと塗布できず、スルーホール
用孔内部への塗布が困難であり、のスピンコート法
は、大基板への適用が難しく、の電着法は、レジスト
被膜にピンホールが発生しやすく、電着液の管理等が難
しいとそれぞれに問題があるのが現状である。2. Description of the Related Art As a method of forming a resist film in a manufacturing process of a printed wiring board, a screen printing method, a dry film method, a roll coater method, a spin coating method,
The electrodeposition method is known. However, there is a problem in forming a resist film which is a thin film and has a high film thickness accuracy by the above-mentioned conventional method, which is required for manufacturing a fine and highly accurate printed wiring board. That is, in the printing method of, it is difficult to control the resist coating film thickness with accuracy, and in the dry film method, it is difficult to thin the film because the film formed in advance is heated and pressed, and the roll coater method of However, it cannot be applied unless it is a flat plate, and it is difficult to apply it to the inside of the through hole hole. The spin coating method is difficult to apply to a large substrate, and the electrodeposition method is that the resist coating has pinholes. Under the present circumstances, there are problems when they easily occur and it is difficult to control the electrodeposition liquid.
【0003】特に、スルーホール用孔を有するプリント
配線板の製造において、の印刷法、のロールコータ
法、のスピンコート法については、スルーホール信頼
性が乏しく、耐エッチング用インクからなる孔埋めでス
ルーホール用孔を埋めて孔壁面を保護した状態で回路形
成を行ったり、特開昭63−38289号公報等に記載
された、吸引によりレジストの孔詰まりを除去する方法
等があるが、共にアスペクト比(板厚/孔径)の大きい
基板での適用が難しい。Particularly, in the production of a printed wiring board having holes for through holes, the printing method, the roll coater method, and the spin coating method have poor through-hole reliability and are filled with holes made of an ink for etching resistance. There is a method of forming a circuit in a state where the through hole is filled to protect the wall surface of the hole, and a method of removing the hole clogging of the resist by suction as described in JP-A-63-38289. It is difficult to apply to substrates with a large aspect ratio (plate thickness / hole diameter).
【0004】また、のドライフィルム法では、スルー
ホール配線板の製造への適用が難しい。The dry film method is difficult to apply to the production of through-hole wiring boards.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】これら従来の問題点を
解決するための方法として、この発明の発明者らは、先
に、スルーホール用孔を含む基板表面全体に導体金属層
を形成した基板を貯液槽内に収容した感光性レジスト液
に浸漬し引き上げることによって、スルーホール用孔を
含む導体金属層表面全体にレジスト液を付着させてレジ
スト膜を形成する方法を開発し、特許出願している(特
願平1−44115号参照)。この方法によれば、極め
て簡単な作業で、スルーホール用孔の内部まで確実に必
要充分なレジスト層を形成することができる。As a method for solving these conventional problems, the inventors of the present invention previously prepared a substrate having a conductor metal layer formed on the entire surface of the substrate including through-hole holes. We developed a method to form a resist film by dipping the resist solution in a photosensitive resist solution contained in a liquid storage tank and pulling it up to deposit the resist solution on the entire surface of the conductor metal layer including the holes for through holes, and applied for a patent. (See Japanese Patent Application No. 1-444115). According to this method, the necessary and sufficient resist layer can be surely formed even inside the through hole hole by an extremely simple operation.
【0006】しかし、この先願発明の方法では、作業条
件等によって、図6に示すようにスルーホール用孔10
の内部に気泡Bを噛むという問題があった。この気泡B
が、レジスト液からの引き上げ、および加熱乾燥工程で
スルーホールエッジ部11あるいはスルーホール用孔1
0内周面に局部的にレジスト層30の薄い箇所や途切れ
た箇所が生じることになる。このようにレジスト層30
で充分に被覆していない箇所では、エッチング工程で導
体金属層2はエッチング除去されてしまって、導体回路
の断線や回路不良が発生し、スルーホール信頼性を低下
させる原因となる。However, according to the method of this prior invention, as shown in FIG.
There was a problem that the air bubble B was bitten inside. This bubble B
However, the through-hole edge portion 11 or the through-hole hole 1 is pulled up from the resist solution and heated and dried.
0, the thin portion or the discontinuous portion of the resist layer 30 is locally generated on the inner peripheral surface. Thus, the resist layer 30
In the portion not sufficiently covered with, the conductor metal layer 2 is removed by etching in the etching step, which causes disconnection of the conductor circuit and circuit failure, which causes deterioration of through hole reliability.
【0007】そこで、この発明が解決しようとする課題
は、薄膜のレジスト層を基板表面全体に均一に形成する
ことであり、特に、スルーホール用孔内部に気泡を含ま
ないレジスト膜を形成することであり、その結果とし
て、微小径スルーホールあるいはランドレススルーホー
ルを含む、高密度、高精度な回路基板を簡便かつ低コス
トで実施でき、しかも、スルーホール信頼性よく製造す
るレジスト膜の形成方法を提供することである。Therefore, the problem to be solved by the present invention is to uniformly form a thin resist layer on the entire surface of the substrate, and particularly to form a resist film containing no bubbles inside the through-hole. As a result, a method of forming a resist film that can easily and inexpensively implement a high-density, high-accuracy circuit board including minute diameter through-holes or landless through-holes, and that is capable of manufacturing through-holes with high reliability is provided. Is to provide.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する、こ
の発明のレジスト膜形成方法は、非ニュートン性を有す
るレジスト液流体中に基板を浸漬し、脱泡処理した後、
引き上げることにより、基板にレジスト液を塗布するよ
うにすることを特徴とする。この発明に適用される脱泡
方法としては、振動脱泡、あるいは、揺動脱泡等があ
る。これらの脱泡方法は、レジスト液に浸漬した基板に
振動や揺動を与えて、スルーホール用孔内部の気泡を追
い出すようにするものである。A method for forming a resist film according to the present invention, which solves the above-mentioned problems, is to immerse a substrate in a resist liquid fluid having non-Newtonian property and defoam it.
It is characterized in that the resist solution is applied to the substrate by pulling it up. The defoaming method applied to the present invention includes vibration defoaming, swing defoaming and the like. In these defoaming methods, the substrate immersed in the resist solution is vibrated or shaken to expel air bubbles inside the through-hole.
【0009】基板の振動方法については、特には限定し
ないが、基板の板面方向もしくは厚み方向に振動を加え
るのが好ましい。基板を振動させる機構としては、例え
ば、図4に示すように振動モーター60を用いた起振機
構6のほか、通常の機械装置における各種の起振機構が
採用できる。また、槽に超音波振動発生装置を組み込ん
でおき液と基板をともに振動させることもできる。図
中、2は基板、3は液、4は槽である。基板を振動させ
る機構としては、さらに、図5に示すように基板の支持
部65を機械的に作動させればよい。具体的には、駆動
モーター63の回転をクランク機構64やカム機構、ギ
ア機構などを介して直線往復運動に変換する機構が採用
できる。図中、2は基板、3は液、4は槽である。ま
た、電磁シリンダー、エアーシリンダー等を用いてもよ
い。振動の振幅や速度や回数等を調製することによっ
て、スルーホール用孔内部の気泡が良好に追い出される
ように設定しておくことができる。The method of vibrating the substrate is not particularly limited, but it is preferable to apply vibration in the plate surface direction or the thickness direction of the substrate. As the mechanism for vibrating the substrate, for example, as shown in FIG. 4, in addition to the vibrating mechanism 6 using the vibrating motor 60, various vibrating mechanisms in ordinary mechanical devices can be adopted. It is also possible to incorporate an ultrasonic vibration generator into the tank and vibrate both the liquid and the substrate. In the figure, 2 is a substrate, 3 is a liquid, and 4 is a tank. As a mechanism for vibrating the substrate, the support portion 65 of the substrate may be mechanically operated as shown in FIG. Specifically, a mechanism that converts the rotation of the drive motor 63 into a linear reciprocating motion via a crank mechanism 64, a cam mechanism, a gear mechanism, or the like can be adopted. In the figure, 2 is a substrate, 3 is a liquid, and 4 is a tank. Moreover, you may use an electromagnetic cylinder, an air cylinder, etc. By adjusting the amplitude, speed, number of times, etc. of the vibration, it is possible to set it so that the bubbles inside the through-hole hole are satisfactorily expelled.
【0010】基板の振動方向については、特に限定はし
ないが、基板の厚み方向に振動を加えるのが比較的好ま
しい。上記のような脱泡処理を行う場合、非ニュートン
性を有するレジスト液を流体状態にすることによって、
液の粘度を下げ、それぞれの脱泡処理による脱泡効果を
より高めることができる。レジスト液の流速は得には限
定しないが、好ましくは5〜1000mm/分、より好
ましくは10〜500mm/分である。The vibration direction of the substrate is not particularly limited, but it is relatively preferable to apply vibration in the thickness direction of the substrate. When performing the defoaming treatment as described above, by making the resist liquid having non-Newtonian property into a fluid state,
The viscosity of the liquid can be reduced, and the defoaming effect of each defoaming treatment can be further enhanced. The flow rate of the resist solution is not particularly limited, but is preferably 5 to 1000 mm / min, more preferably 10 to 500 mm / min.
【0011】レジスト液を流動状態とする機構として
は、図1に示すような循環装置が例示される。貯液槽4
の隣に仕切板を挟んでオーバーフロー槽46を設けると
ともに、循環配管49を設けている。循環配管49の途
中には、感光性レジスト液3を強制的に循環させるため
のポンプ43、および必要に応じて適当なバルブ45が
取り付けられている。貯液槽4内に導入された循環配管
49は、吐出口48から感光性レジスト液3を吐出する
ようになっている。また、レジスト液を流動状態にする
ことで、気泡が液流れに乗り、スルーホール用孔10
(図4、5参照)の周辺に留まることがないので、脱泡
処理が効果的に行われる。As a mechanism for bringing the resist solution into a fluid state, a circulation device as shown in FIG. 1 is exemplified. Storage tank 4
An overflow tank 46 and a circulation pipe 49 are provided next to each other with a partition plate sandwiched therebetween. A pump 43 for forcibly circulating the photosensitive resist solution 3 and an appropriate valve 45 as needed are attached in the middle of the circulation pipe 49. The circulation pipe 49 introduced into the liquid storage tank 4 discharges the photosensitive resist liquid 3 from the discharge port 48. Further, when the resist liquid is brought into a fluid state, the bubbles ride on the liquid flow and the through-hole holes 10 are formed.
Since it does not stay around (see FIGS. 4 and 5), the defoaming process is effectively performed.
【0012】上記のような方法でレジスト液層が形成さ
れたスルーホール用孔の断面を図2に示す。脱泡効果が
充分であれば、スルーホール用孔10に貫通を塞ぐレジ
スト隔壁31が形成される。これはスルーホール用孔1
0に入り込んだレジスト液3がつながったままで残った
ものであり、プリント配線板のエッチングレジスト層と
しても使用可能である。FIG. 2 shows a cross section of the through-hole hole in which the resist liquid layer is formed by the above method. If the defoaming effect is sufficient, a resist partition wall 31 that blocks the through hole is formed in the through hole hole 10. This is hole 1 for through hole
The resist liquid 3 that has entered 0 remains as it is and can be used as an etching resist layer of a printed wiring board.
【0013】ここで、レジスト液3の粘度やチキソトロ
ビー性、あるいは基板の引き上げ速度を調整するとによ
って、基板に対するレジスト液の塗布厚みを調整するこ
とができる。レジスト層30をエッチングレジスト層と
して使用する際、スルーホール用孔10内面上と基板1
表面に少なくとも厚さ0.5μm以上のレジスト膜30
が形成されていることが必要である。Here, the coating thickness of the resist solution on the substrate can be adjusted by adjusting the viscosity and thixotropy of the resist solution 3 or the pulling rate of the substrate. When the resist layer 30 is used as an etching resist layer, on the inner surface of the through hole hole 10 and the substrate 1
A resist film 30 having a thickness of at least 0.5 μm or more on the surface
Must be formed.
【0014】この発明で用いる槽は、レジスト液に耐え
得る程度の耐溶剤性を有する材質で作られた槽であれば
良く、形状については特に限定はしない。この発明でレ
ジスト膜を形成する被塗布物としては、通常のプリント
配線板に用いられている基板材料、例えばガラスエポキ
シ銅張り積層板や紙フェノール銅張り積層板などが主対
象となるが、これらに限定されるものではない。被塗布
物がスルーホール用孔等を有する基板の場合は、基板の
表面がメッキ等の方法で全て金属層覆われている構造が
一般的であり、この発明では、この金属層の上に、スル
ーホール用孔も含めて全てレジスト層で覆うようにレジ
スト膜を形成する。The tank used in the present invention may be any tank made of a material having solvent resistance enough to withstand the resist solution, and the shape is not particularly limited. The material to be coated to form the resist film in the present invention is mainly a substrate material used in a usual printed wiring board, such as a glass epoxy copper-clad laminate or a paper phenol copper-clad laminate. It is not limited to. When the object to be coated is a substrate having holes for through holes, etc., it is general that the surface of the substrate is entirely covered with a metal layer by a method such as plating. In the present invention, on this metal layer, A resist film is formed so as to cover all of the through hole and the resist layer.
【0015】この発明で用いるレジスト液には、一般の
感光性レジストが適用でき、感光性レジスト液にはポジ
タイプとネガタイプとがあるが、この発明では何れのタ
イプも使用できるが、アスペクト比の大きいスルーホー
ルに対しては、ポジタイプの方が好ましい。レジスト液
としては、非ニュートン性を有する液であれば特に限定
しない。一例として、チキソトロピー性調整剤等を配合
した感光性レジスト液が例示される。感光性レジスト液
の成分としては、熱硬化型の樹脂分またはアルカリ可溶
性樹脂分、例えばアクリル系ポリマー、エポキシ系樹
脂、あるいは、ノボラック系樹脂等をベースに、通常の
各種光重合開始剤、光重合促進剤、光重合性モノマー、
オリゴマー、光分解性化合物、および、有機溶剤等の希
釈液、熱硬化剤、さらには、チキソトロピー性調整剤、
粘度調整剤、着色剤、消泡剤、安定剤等のいくつかを配
合したものである。同調整剤以外の各配合成分の具体的
化合物等は、通常の配線板製造に用いられているものと
同様のものが使用される。As the resist solution used in the present invention, a general photosensitive resist can be applied, and the photosensitive resist solution is classified into a positive type and a negative type. Either type can be used in the present invention, but the aspect ratio is large. For through holes, the positive type is preferable. The resist liquid is not particularly limited as long as it has a non-Newtonian property. As an example, a photosensitive resist solution containing a thixotropic agent and the like is illustrated. As components of the photosensitive resist solution, thermosetting resin components or alkali-soluble resin components such as acrylic polymers, epoxy resins, or novolac resins are used as a base, and various ordinary photopolymerization initiators and photopolymerization initiators are used. Accelerator, photopolymerizable monomer,
Oligomers, photodegradable compounds, and diluents such as organic solvents, thermosetting agents, and thixotropic agents,
It is a mixture of some viscosity modifiers, colorants, defoamers, stabilizers and the like. Specific compounds and the like of each compounding component other than the regulator are the same as those used in ordinary wiring board production.
【0016】この非ニュートン性を有するレジスト液の
粘度は、特には限定しないが、B型粘度計(東京計器
製)を用い、No.1〜No.3ロータを使用し、回転
数60rpmで測定した値で示すと、10〜1500c
psが好ましく、50〜500cpsの範囲であること
がより好ましい。このレジスト液のチキソトロピー性値
は1.2〜9.0の範囲が好ましく、この発明における
チキソトロピー性値は下式で表せる値である。The viscosity of the resist liquid having non-Newtonian property is not particularly limited, but it can be determined by using a B type viscometer (manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.). 1-No. When using 3 rotors and showing the value measured at a rotation speed of 60 rpm, 10 to 1500 c
ps is preferable, and more preferably in the range of 50 to 500 cps. The thixotropic value of this resist solution is preferably in the range of 1.2 to 9.0, and the thixotropic value in the present invention is a value represented by the following formula.
【0017】チキソトロピー性値=6rpmでの粘度/
60rpmでの粘度 前記チキソトロピー性値が1.2未満では、スルーホー
ルエッジ部でのレジスト層厚みを充分に確保できず、ま
た、チキソトロピー性値が9.0を超えると、回路パタ
ーン形成部でのエッチングレジスト層のバラツキが大き
くなり過ぎる。Thixotropic value = viscosity at 6 rpm /
Viscosity at 60 rpm If the thixotropy value is less than 1.2, the resist layer thickness at the through hole edge portion cannot be sufficiently secured, and if the thixotropy value exceeds 9.0, the thixotropy value in the circuit pattern forming part is not sufficient. The variation of the etching resist layer becomes too large.
【0018】[0018]
【作用】レジスト膜の形成工程において、非ニュートン
性を有するレジスト液流体中に基板を浸漬し、脱泡処理
した後、基板を引き上げることによって、スルーホール
用孔を含む基板全体に必要充分かつ最小限な厚みのレジ
スト液が付着する。こうして形成されたレジスト層に
は、気泡による局部的な薄層部分や断続部分がなく、基
板表面全体が確実にレジスト膜で覆われている。非ニュ
ートン性を有するレジスト液が流動状態では、液静止状
態に比べてレジスト液の粘度が下がり、脱泡処理におけ
る脱泡効果が高まるからであると推察される。このと
き、基板のスルーホール用孔内部に噛み込まれていた気
泡がスルーホール用孔内部から出てきて液流れに乗り、
やがて液面へと浮き上がって除去される。In the resist film forming process, the substrate is immersed in a non-Newtonian resist fluid and defoamed, and then the substrate is pulled up, so that the entire substrate including the through-hole holes is necessary and sufficient. A resist solution with a limited thickness adheres. The resist layer thus formed has no local thin layer portion or intermittent portion due to bubbles, and the entire substrate surface is reliably covered with the resist film. It is inferred that when the resist solution having non-Newtonian property is in a flowing state, the viscosity of the resist solution is lower than that in a stationary state and the defoaming effect in the defoaming process is enhanced. At this time, the bubbles trapped inside the through-hole of the substrate come out from the inside of the through-hole and ride on the liquid flow,
Eventually, it floats to the liquid surface and is removed.
【0019】ニュートン性のレジスト流体液中に浸漬す
る場合、あるいは、液静止状態に浸漬する場合には、例
えば、0.4mmφ以下の小径スルーホールやアスペク
ト比が4以上の細長いスルーホールでは気泡の噛み込み
が避けられなかったのが、この発明のように、非ニュー
トン性のレジスト流体液中に浸漬することによって、発
生した気泡を完全に除去することができる。When immersed in a Newtonian resist fluid liquid, or immersed in a stationary state, for example, a small diameter through hole of 0.4 mmφ or less or an elongated through hole with an aspect ratio of 4 or more causes bubbles. Although the biting was unavoidable, the generated bubbles can be completely removed by immersing in the non-Newtonian resist fluid liquid as in the present invention.
【0020】[0020]
【実施例】以下、この発明の実施例を図面を参照して説
明する。図2と図3は、この発明のレジスト膜の形成方
法の一実施例を表している。先ず、基板1上にレジスト
層3の形成を行うが、このとき、必要に応じて基板の前
処理を行っておく。前処理としては、基板1すなわち導
体金属層2の表面を物理的または化学的に研磨すること
である。具体的な研磨手段は、通常の配線板に対する方
法と同様に行われる。研磨量は、0.1〜10μm程度
が好ましく、0.2〜2μm程度がより望ましい。上記
した各前処理は、必要に応じて行われるものであり、必
要がなければ行わなくてもよい。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. 2 and 3 show an embodiment of the resist film forming method of the present invention. First, the resist layer 3 is formed on the substrate 1. At this time, the substrate is pretreated if necessary. The pretreatment is to physically or chemically polish the surface of the substrate 1, that is, the conductor metal layer 2. The specific polishing means is the same as the method for a normal wiring board. The polishing amount is preferably about 0.1 to 10 μm, more preferably about 0.2 to 2 μm. The above-described pretreatments are performed as needed, and need not be performed if not necessary.
【0021】つぎに、基板1全体を、粘度やチキソトロ
ピー性値が適当に調整されて貯液槽4に収容されたレジ
スト液3の中へ浸漬する。このとき、非ニュートン性を
有するレジスト液は、液循環により流動状態になってお
り、基板周辺で液粘度が下がり脱泡しやすくなってい
る。基板1のスルーホール用孔10の内部にかみ込まれ
ていた気泡B(図6参照)が、揺動脱泡や振動脱泡によ
り、スルーホール用孔10の内部から出てきて、液流れ
に乗り液面へと浮き上がってじ除去される。この時、ス
ルーホール用孔10に留まることがないので、脱泡処理
が効率的に行われる。Next, the entire substrate 1 is immersed in the resist solution 3 stored in the liquid storage tank 4 with the viscosity and thixotropy value being appropriately adjusted. At this time, the resist liquid having a non-Newtonian property is in a fluidized state due to the liquid circulation, and the liquid viscosity is reduced around the substrate to facilitate defoaming. The bubble B (see FIG. 6) that has been bitten into the through hole hole 10 of the substrate 1 comes out of the through hole hole 10 due to the swing defoaming or the vibration defoaming, and becomes a liquid flow. It floats up to the liquid surface and is removed. At this time, since it does not remain in the through hole hole 10, the defoaming process is efficiently performed.
【0022】つぎに、レジスト液3が付着した状態の基
板1を貯液槽4から引き上げる。このとき、感光性レジ
スト液3が基板1のスルーホール用孔10の内周面を含
む導体金属層2の表面全体に充分な厚みでかつ均一に付
着する。その後、レジスト液3を乾燥させることによっ
て、導体金属層2の表面全体がレジスト膜30で覆われ
た基板1を得られる。レジスト液3は、この乾燥工程で
の熱処理で膜化させられることになる。レジスト液3
は、基板1のスルーホール用孔10の内部およびその他
の表面全体に充分でかつ均一に付着させるようになる。Next, the substrate 1 with the resist solution 3 attached thereto is pulled up from the liquid storage tank 4. At this time, the photosensitive resist liquid 3 adheres to the entire surface of the conductor metal layer 2 including the inner peripheral surface of the through hole hole 10 of the substrate 1 with a sufficient thickness and uniformly. After that, the resist solution 3 is dried to obtain the substrate 1 in which the entire surface of the conductor metal layer 2 is covered with the resist film 30. The resist solution 3 is formed into a film by the heat treatment in this drying step. Resist liquid 3
Are sufficiently and uniformly adhered to the inside of the through-hole 10 of the substrate 1 and the entire other surface.
【0023】上記の発明の方法によれば、レジスト液3
の粘度、チキソトロピー性値またはレジスト液3からの
引き上げ速度を調整することによって、基板1に塗布さ
れるレジスト液3の厚みを調整することができる。例え
ば前記した範囲でレジスト液3の粘度、チキソトロピー
性値およびレジスト液からの引き上げ速度を調整するこ
とにより、数μmレベルの薄膜の形成が可能である。According to the method of the above invention, the resist liquid 3
The thickness of the resist liquid 3 applied to the substrate 1 can be adjusted by adjusting the viscosity, the thixotropic value, or the pulling rate from the resist liquid 3. For example, it is possible to form a thin film of several μm level by adjusting the viscosity of the resist solution 3, the thixotropy value and the pulling rate from the resist solution within the above range.
【0024】上記のようにしてレジスト膜が形成された
基板1は、例えばレジスト膜がエッチングレジストの場
合は適当なマスクパターンを用いて紫外線で露光し、そ
の後現像により不要な部分のレジスト膜を除去し、エッ
チングを施して所望のパターンを形成することができ
る。この発明によれば、数μmレベルの薄膜であるレジ
スト膜を形成することが可能なので、非常に微細なパタ
ーンを正確に形成することがてきる。The substrate 1 on which the resist film is formed as described above is exposed to ultraviolet rays using an appropriate mask pattern when the resist film is an etching resist, for example, and then the unnecessary portion of the resist film is removed by development. Then, etching can be performed to form a desired pattern. According to the present invention, it is possible to form a resist film which is a thin film having a level of several μm, and therefore a very fine pattern can be accurately formed.
【0025】次に、この発明にかかるレジスト膜の形成
方法を実際に適用し、プリント配線板を製造した具体例
について、表1を参照して説明する。 −実施例1− 基板1として、300mm×300mm×1.6mmの
ガラスエポキシ銅張り積層板を用いた。この基板は、ド
リル加工で孔径0.4mm(アスペクト比4)、孔数5
00個のスルーホール用孔10が形成されている。Next, a specific example in which the method for forming a resist film according to the present invention is actually applied to manufacture a printed wiring board will be described with reference to Table 1. -Example 1-As a substrate 1, a 300 mm x 300 mm x 1.6 mm glass epoxy copper-clad laminate was used. This substrate has a hole diameter of 0.4 mm (aspect ratio of 4) and a number of holes of 5 by drilling.
00 through-holes 10 are formed.
【0026】次に、エッチングレジスト層形成の前処理
として、オシュレーション研磨を用いて、導体金属層2
の表面を0.8μm程度研磨した。その後、この銅張り
積層板を流速100mm/分の非ニュートン性の感光性
レジスト液流体中に浸漬し、スルーホール用孔10内部
の気泡Bを揺動脱泡した後、スルーホール用孔10に対
し垂直な方向で引き上げて、スルーホール用孔10を含
む導体金属層を形成した。Next, as a pretreatment for forming the etching resist layer, the oscillator metal polishing is used to form the conductor metal layer 2.
The surface was polished to about 0.8 μm. After that, this copper-clad laminate is immersed in a non-Newtonian photosensitive resist liquid fluid having a flow rate of 100 mm / min to oscillate and defoam the air bubbles B inside the through-hole holes 10, and then into the through-hole holes 10. On the other hand, the conductor metal layer including the through-holes 10 was formed by pulling it up in a direction perpendicular to it.
【0027】この時、使用した感光性レジスト液の粘度
は非ニュートン性で、粘度は200cpsであり、チキ
ソトロピー性値は4.4であった。また揺動脱泡は、揺
動幅20mm、揺動速度30回/分、揺動回数30回で
あった。感光性レジストからなるエッチングレジスト液
層を90°Cで乾燥させた後、ポジ型のマスクパターン
を用いて紫外線露光し現像することによって、所定のパ
ターンを有するエッチングレジスト層30を形成した。
エッチングレジスト層30の厚みは、基板平面部で13
μm、スルーホールエッジ部で5μmであった。At this time, the viscosity of the photosensitive resist solution used was non-Newtonian, the viscosity was 200 cps, and the thixotropy value was 4.4. The swing defoaming was performed with a swing width of 20 mm, a swing speed of 30 times / minute, and a swing frequency of 30 times. After the etching resist liquid layer made of a photosensitive resist was dried at 90 ° C., it was exposed to ultraviolet rays using a positive mask pattern and developed to form an etching resist layer 30 having a predetermined pattern.
The thickness of the etching resist layer 30 is 13 in the plane part of the substrate.
μm, and 5 μm at the through hole edge portion.
【0028】この時、走査型電子顕微鏡、あるいは、金
属顕微鏡観察により、全てのスルーホール用孔10内部
に、気泡Bは全く残存しておらず、スルーホール用孔1
0の内壁面および周辺部にエッチングレジスト層30が
被覆されていない箇所は全くないことも確認できた。次
に、通常のエッチング処理方法で導体金属層2のエッチ
ングを行い配線回路を形成した。エッチング工程終了
後、エッチングレジスト層30を全て3%NaOH溶液
によって剥離除去し、スルーホール付配線板を得た。At this time, by observation with a scanning electron microscope or a metallographic microscope, no bubbles B remain inside all the through-hole holes 10, and the through-hole holes 1
It was also confirmed that the inner wall surface and the peripheral portion of No. 0 were not covered with the etching resist layer 30 at all. Next, the conductor metal layer 2 was etched by a usual etching method to form a wiring circuit. After the etching process was completed, the etching resist layer 30 was entirely peeled off with a 3% NaOH solution to obtain a wiring board with through holes.
【0029】このスルーホール付配線板に対して、スル
ーホール導通性試験を行ったところ、断線等の不良発生
率は10ppm以下(スルーホール数10000個(基
板20枚)でスルーホール内断線0個)であり、ニュー
トン性の感光性レジスト液で引き上げる従来の「ディッ
プ法」で製造されたスルホール付配線板に比べて、スル
ホール信頼性が極めて高いことが実証された(比較例2
参照)。When a through-hole conductivity test was conducted on this wiring board with through-holes, the occurrence rate of defects such as disconnection was 10 ppm or less (the number of through-holes was 10000 (20 boards) and no disconnection was found in the through-holes). It is demonstrated that the through hole reliability is extremely higher than that of the wiring board with through hole manufactured by the conventional "dip method" in which the photosensitive resist liquid having Newtonian property is used (Comparative Example 2).
reference).
【0030】−実施例2− 基板1として、96%アルミナ基板(4″×4″×0.
8mm)を用い、レーザー加工で孔径0.3mm(アス
ペクト比2.67)、孔数280個のスルーホール用孔
10を形成した。このアルミナ焼結基板1の表面および
スルーホール用孔10の内壁面を熱リン酸に浸漬して均
一に粗化した後、基板1の表面およびスルーホール用孔
10の内壁面に化学メッキ法で厚み10μmの銅層を形
成して導体金属層2とした。Example 2 As a substrate 1, a 96% alumina substrate (4 ″ × 4 ″ × 0.
8 mm), laser processing was used to form through-holes 10 having a hole diameter of 0.3 mm (aspect ratio 2.67) and a number of holes of 280. The surface of the alumina sintered substrate 1 and the inner wall surface of the through hole hole 10 are immersed in hot phosphoric acid to be uniformly roughened, and then the surface of the substrate 1 and the inner wall surface of the through hole hole 10 are chemically plated. A copper layer having a thickness of 10 μm was formed as a conductor metal layer 2.
【0031】つぎに、エッチングレジスト層形成の前処
理として、オシュレーション研磨を用いて、基板1の導
体金属層2の表面を0.5μm程度研磨した。その後、
この基板1を、流速50mm/分の非ニュートン性の感
光性レジスト液流体中に浸漬し、スルーホール用孔10
内部の気泡Bを振動脱泡(振動時間2分間)した後、ス
ルーホール用孔10に対し垂直な方向で引き上げて、ス
ルーホール用孔10を含む導体金属層2の表面全体にエ
ッチングレジスト液層を形成した。この時使用した感光
性レジスト液の粘度は非ニュートン性で、粘度は150
cpsであり、チキソトロピー性値は4.2であった。Next, as a pretreatment for forming the etching resist layer, the surface of the conductor metal layer 2 of the substrate 1 was polished by about 0.5 μm by using oscillation polishing. afterwards,
The substrate 1 is dipped in a non-Newtonian photosensitive resist liquid fluid having a flow rate of 50 mm / min to form a through hole hole 10
After the internal bubbles B are degassed by vibration (vibration time of 2 minutes), the air bubbles B are pulled up in a direction perpendicular to the through hole holes 10 to form an etching resist liquid layer on the entire surface of the conductor metal layer 2 including the through hole holes 10. Formed. The viscosity of the photosensitive resist solution used at this time is non-Newtonian and the viscosity is 150
cps and thixotropic value was 4.2.
【0032】感光性レジスト液層からなるエッチングレ
ジスト液層を90°Cで乾燥させた後、ポジ型のマスク
パターンを用いて紫外線露光し現像することによって、
所定のパターンを有するエッチングレジスト層30を形
成した。エッチングレジスト層30の厚みは、基板平面
で8μm、スルーホールエッジ部で6μmあった。この
時、走査型電子顕微鏡、あるいは、金属顕微鏡観察によ
り、全てのスルーホール用孔10の内部に、気泡Bは全
く残存しておらず、スルーホール用孔10の内壁面およ
び周辺部にエッチングレジスト層30が被覆されていな
い個所は全く無いことも確認できた。After the etching resist liquid layer composed of the photosensitive resist liquid layer is dried at 90 ° C., it is exposed to ultraviolet rays using a positive type mask pattern and developed,
An etching resist layer 30 having a predetermined pattern was formed. The thickness of the etching resist layer 30 was 8 μm in the plane of the substrate and 6 μm in the through hole edge portion. At this time, as a result of observation with a scanning electron microscope or a metallographic microscope, no bubbles B remain inside all the through-hole holes 10, and etching resist is applied to the inner wall surface and the peripheral portion of the through-hole holes 10. It was also confirmed that the layer 30 was not covered at all.
【0033】つぎに、通常のエッチング処理方法で導体
金属層2のエッチングを行い配線回路を形成した。エッ
チング工程終了後、エッチングレジスト層30を全て3
%NaOH溶液によって剥離除去し、スルーホール付配
線板を得た。このスルーホール付配線板に対して、スル
ーホール導通性試験を行ったところ、断線等の不良発生
率は20ppm以下(スルーホール数5600個(基板
20枚)でスルーホール内断線0個)であり、従来のス
ルーホール用孔に垂直な方向に浸漬し、そのまま引き上
げる「ディップ法」で製造されたスルーホール付配線板
に比べて、スルーホール信頼性が極めて高いことが実証
された。Next, the conductor metal layer 2 was etched by a usual etching method to form a wiring circuit. After the etching process is completed, the etching resist layer 30 is all 3
Peeling and removal was performed with a% NaOH solution to obtain a wiring board with through holes. When a through-hole continuity test was conducted on this wiring board with through-holes, the failure occurrence rate was 20 ppm or less (the number of through-holes was 5,600 (20 boards), and there was no disconnection in the through-holes). , It was proved that the through hole reliability is extremely higher than that of the conventional wiring board with through holes, which is manufactured by the "dip method" of immersing in the direction perpendicular to the through hole holes and pulling it up as it is.
【0034】−実施例3− 基板1としてセラミックス基板を用いた。まず、Al2
O3 粉末96重量部と、SiO2 、CaO、MgO等の
焼結補助剤4重量部とを混合するとともに、この混合物
に対して12重量部の有機物(結合剤、可塑剤)を添加
し、ドクターブレード法でシート状に成形してセラミッ
クグリーンシートを得た。このグリーンシートを加熱し
て半硬化状態にした後、金型でプレス加工して孔径0.
4mm(アスペクト比2)のスルーホール用孔10を形
成した。上記グリーンシートを150°Cで乾燥した
後、1600°Cで焼成することによって、スルーホー
ル用孔10を有するセラミック基板からなる基板1を得
た。Example 3 A ceramic substrate was used as the substrate 1. First, Al 2
96 parts by weight of O 3 powder and 4 parts by weight of a sintering aid such as SiO 2 , CaO, MgO are mixed, and 12 parts by weight of an organic substance (binder, plasticizer) is added to this mixture, A ceramic green sheet was obtained by forming into a sheet by the doctor blade method. After heating this green sheet to a semi-cured state, it is pressed with a mold to have a hole diameter of 0.
A through-hole hole 10 of 4 mm (aspect ratio 2) was formed. The green sheet was dried at 150 ° C and then fired at 1600 ° C to obtain a substrate 1 made of a ceramic substrate having through-holes 10.
【0035】基板1の表面を粗化処理した後、化学メッ
キ法を施した後で、電解メッキ法により厚み35μmの
銅層を形成して導体金属層2とした。この基板を流速1
50mm/分の非ニュートン性の感光性レジスト液流体
中に浸漬し、スルーホール用孔10内部の気泡Bを揺動
脱泡した後、スルーホール用孔10に対し垂直な方向で
引き上げて、基板表面全体にエッチングレジスト液層を
形成した。この時、使用した感光性レジスト液の粘度は
170cpsであり、チキソトロピー性値は4.3であ
った。また揺動脱泡は、揺動幅10mm、揺動速度20
回/分、揺動回数40回であった。After roughening the surface of the substrate 1, a chemical plating method was performed, and then a copper layer having a thickness of 35 μm was formed by an electrolytic plating method to form a conductor metal layer 2. Flow rate of this substrate is 1
The substrate B is immersed in a non-Newtonian photosensitive resist liquid fluid of 50 mm / min to oscillate and defoam the bubbles B in the through-hole holes 10 and then pulled up in a direction perpendicular to the through-hole holes 10 to obtain a substrate. An etching resist liquid layer was formed on the entire surface. At this time, the viscosity of the photosensitive resist solution used was 170 cps, and the thixotropy value was 4.3. The swing defoaming is performed with a swing width of 10 mm and a swing speed of 20.
The number of rotations / minute was 40 and the number of times of rocking was 40.
【0036】感光性レジストからなるエッチングレジス
ト液層を90°Cで乾燥させた後、ポジ型のマスクパタ
ーンを用いて紫外線露光し現像することによって、所定
のパターンを有するエッチングレジスト層30を形成し
た。エッチングレジスト層30の厚みは、基板平面部で
12μm、スルーホールエッジ部で5μmであった。な
お、その他の実施条件は、実施例1と同様の工程でスル
ーホール付配線板を製造したところ、前記各実施例と同
様に断線等の不良は見られず、優れたスルーホール信頼
性を有するものであった。After the etching resist liquid layer made of a photosensitive resist was dried at 90 ° C., it was exposed to ultraviolet rays using a positive mask pattern and developed to form an etching resist layer 30 having a predetermined pattern. .. The thickness of the etching resist layer 30 was 12 μm in the plane portion of the substrate and 5 μm in the through hole edge portion. As for the other execution conditions, when a wiring board with through holes was manufactured in the same steps as in Example 1, no defects such as disconnection were observed as in the above Examples, and excellent through hole reliability was obtained. It was a thing.
【0037】−実施例4− 孔径0.3mm(アスペクト比5.33)、孔数500
個のスルーホール用孔10が形成された基板を使用し、
揺動脱泡が揺動幅20mm、揺動速度60回/分、揺動
回数60回であった以外の他の実施条件は、実施例2と
同様の工程で、所定のパターンを有するエッチングレジ
スト層30を形成した。エッチングレジスト層30の厚
みは、基板平面部で15μm、スルーホールエッジ部で
4μmであった。-Example 4-Pore diameter 0.3 mm (aspect ratio 5.33), number of pores 500
Using a substrate on which the through-hole holes 10 are formed,
Except that the swing defoaming was performed with a swing width of 20 mm, a swing speed of 60 times / minute, and a swing number of 60 times, the etching resist having a predetermined pattern was formed in the same process as in Example 2. Layer 30 was formed. The thickness of the etching resist layer 30 was 15 μm in the plane portion of the substrate and 4 μm in the through hole edge portion.
【0038】この時、走査型電子顕微鏡、あるいは、金
属顕微鏡観察により、全てのスルーホール用孔10の内
部に、気泡Bは全く残存しておらず、スルーホール用孔
10の内壁面および周辺部にエッチングレジスト層30
が被覆されていない個所は全く無いことも確認できた。
なお、その他の実施条件は、実施例1と同様の工程でス
ルーホール付配線板を製造したところ、前記各実施例と
同様に断線等の不良は見られず、優れたスルーホール信
頼性を有するものであった。At this time, as a result of observation with a scanning electron microscope or a metallographic microscope, no air bubbles B remain inside all the through-hole holes 10, and the inner wall surface and the peripheral portion of the through-hole holes 10 are completely removed. Etching resist layer 30
It was also confirmed that there were no uncoated areas.
As for the other execution conditions, when a wiring board with through holes was manufactured in the same steps as in Example 1, no defects such as disconnection were observed as in the above Examples, and excellent through hole reliability was obtained. It was a thing.
【0039】−実施例5− 基板1として、96%アルミナ基板(4″×4″×2.
4mm)を用い、レーザー加工で孔径0.3mm(アス
ペクト比8)、孔数280個のスルーホール用孔10を
形成した以外の他の実施条件は、実施例2と同様の工程
で、所定のパターンを有するエッチングレジスト層30
を形成した。エッチングレジスト層30の厚みは、基板
平面部で16μm、スルーホールエッジ部で3μmであ
った。Example 5 As the substrate 1, a 96% alumina substrate (4 ″ × 4 ″ × 2.
4 mm) and the through hole 10 having a hole diameter of 0.3 mm (aspect ratio of 8) and the number of holes of 280 was formed by laser processing. Etching resist layer 30 having a pattern
Formed. The thickness of the etching resist layer 30 was 16 μm in the plane portion of the substrate and 3 μm in the through hole edge portion.
【0040】この時、走査型電子顕微鏡、あるいは、金
属顕微鏡による観察で、一部のスルーホール用孔10の
内部に、気泡Bが残存していることがわかった。しか
し、前記実施例と同様のエッチング処理方法で導体金属
層2のエッチングを行い、スルーホール付配線板を製造
したところ、前記各実施例と同様に断線等の不良は見ら
れず、優れたスルーホール信頼性をゆうするものであっ
た。At this time, it was found by observation with a scanning electron microscope or a metallurgical microscope that the air bubbles B remained inside some of the through-hole holes 10. However, when the conductor metal layer 2 was etched by the same etching treatment method as in the above-mentioned examples to manufacture a wiring board with through holes, no defects such as disconnection were observed as in the above-mentioned examples, and excellent through It was the hall's reliability.
【0041】−比較例1− 実施例1において、感光性レジスト液を循環させずに、
絶縁基板1をスルーホール用孔10に対し垂直な方向で
引き上げる以外は、実施例1と同様の工程で所定のパタ
ーンを有するエッチングレジスト層30を形成した。こ
の時、走査型電子顕微鏡、あるいは、金属顕微鏡による
観察で、一部のスルーホール用孔10内部に、気泡Bが
残存していることがわかった。-Comparative Example 1-In Example 1, without circulating the photosensitive resist solution,
An etching resist layer 30 having a predetermined pattern was formed in the same process as in Example 1 except that the insulating substrate 1 was pulled up in a direction perpendicular to the through hole hole 10. At this time, it was found by observation with a scanning electron microscope or a metallurgical microscope that some of the bubbles B remained inside the through-holes 10.
【0042】前記実施例と同様のエッチング処理方法で
導体金属層2のエッチングを行い、スルーホール付配線
板を製造し、スルーホール導通性試験を行ったところ、
断線等の不良発生率は2000ppm程度(スルーホー
ル10000個(基板20枚)でスルーホール内断線2
0個)であり、実施例1に比べて不良発生率が大きいこ
とがわかった。この結果により、感光性レジスト液を循
環させながら、感光性レジスト液へ浸漬して製造された
スルーホール付配線板は、感光性レジストを循環させ
ず、液静止状態で絶縁基板を感光性レジスト液に浸漬
し、そのまま基板を引き上げる場合に比べ、スルーホー
ル信頼性が非常に高いことが実証された。The conductor metal layer 2 was etched by the same etching treatment method as in the above-mentioned embodiment to produce a wiring board with through holes, and a through hole conductivity test was conducted.
The rate of defects such as disconnection is about 2000ppm (10000 through holes (20 substrates)
It was found that the defect occurrence rate was higher than that in Example 1. As a result, the wiring board with through-holes manufactured by immersing the photosensitive resist solution in the photosensitive resist solution while circulating the photosensitive resist solution does not circulate the photosensitive resist, but does not circulate the photosensitive resist. It was proved that the through hole reliability was much higher than that in the case of immersing in the substrate and pulling up the substrate as it was.
【0043】−比較例2− 実施例1おいて、感光性レジスト液の粘度はニュートン
性で、100cpsであり、チキソトロピー性値は1.
1であった以外は、実施例1と同様の工程で所定のパタ
ーンを有するエッチングレジスト層30を形成した。エ
ッチングレジスト層30の厚みは、基板平面部で8μm
であったが、スルーホールエッジ部で1μm以下と非常
に薄かった。この時、走査型電子顕微鏡、あるいは、金
属顕微鏡観察等により、スルーホール用孔10の内部
に、気泡Bは残存していなかった。Comparative Example 2 In Example 1, the photosensitive resist solution has a Newtonian viscosity of 100 cps and a thixotropic value of 1.
An etching resist layer 30 having a predetermined pattern was formed by the same steps as in Example 1 except that the etching resist layer 30 was 1. The thickness of the etching resist layer 30 is 8 μm in the plane portion of the substrate.
However, it was very thin at 1 μm or less at the through hole edge portion. At this time, the air bubbles B did not remain inside the through hole hole 10 by observation with a scanning electron microscope or a metallographic microscope.
【0044】前記各実施例と同様に通常のエッチング処
理方法で導体金属層2のエッチングを行い、スルーホー
ル付配線板を製造し、スルーホール導通性試験を行った
ところ、スルーホールエッジ部で断線が多数見られた。
断線等の不良発生率は60であ、実施例に比べて不良発
生率が極めて大きいことがわかった。この結果により、
非ニュートン性を有するレジスト液では、ニュートン性
を有するレジスト液に比べて、スルーホール信頼性が極
めて高いことが実証された。The conductor metal layer 2 was etched by the usual etching method as in each of the above-mentioned examples to manufacture a wiring board with through holes, and a through hole conductivity test was conducted. Was seen in large numbers.
The defect occurrence rate such as disconnection was 60, and it was found that the defect occurrence rate was extremely high as compared with the examples. With this result,
It has been proved that the resist solution having non-Newtonian property has extremely high through-hole reliability as compared with the resist solution having Newtonian property.
【0045】以上の結果を表に纏めると、下記のとおり
である。The above results are summarized in the table below.
【0046】[0046]
【表1】 [Table 1]
【0047】[0047]
【発明の効果】この発明のレジスト膜の形成方法は、薄
膜のレジストを基板表面全体に均一に形成し、スルーホ
ール用孔内部に気泡を含まないレジスト被膜を形成する
ことが可能であり、その結果として、微小径スルーホー
ルあるいはランドレススルーホールを含む高密度、高精
度な回路板を、簡便且つ低コストで、しかも、スルーホ
ール信頼性よく製造するレジスト被膜の形成方法として
有用である。According to the method of forming a resist film of the present invention, a thin film resist can be uniformly formed on the entire surface of a substrate, and a resist film containing no bubbles can be formed inside the through-hole. As a result, it is useful as a method for forming a resist film for producing a high-density, high-precision circuit board including minute diameter through holes or landless through holes simply, at low cost, and with reliable through holes.
【図1】 レジスト液の循環装置を示す概略高声図FIG. 1 is a schematic high-pitched view showing a resist solution circulating device.
【図2】 レジスト液が付着した基板の要部拡大断面図FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of a main part of a substrate on which a resist solution is attached.
【図3】 レジスト液の付着工程を示す断面図FIG. 3 is a cross-sectional view showing a resist liquid attaching step.
【図4】 振動脱泡の実例を示す斜視図FIG. 4 is a perspective view showing an example of vibration defoaming.
【図5】 揺動脱泡の実例を示す斜視図FIG. 5 is a perspective view showing an example of rocking defoaming.
【図6】 従来例を示す断面図FIG. 6 is a sectional view showing a conventional example.
1 絶縁基板 2 導体金属層 3 レジスト液 4 貯液層 6 起振機構 10 スルーホール用孔 11 スルーホールエッジ部 30 エッチングレジスト層 31 レジスト隔壁 43 循環ポンプ 45 バルブ 46 オーバーフロー槽 48 吐出口 49 循環配管 63 振動モーター 64 クランク機構 65 絶縁基板の支持部 B 気泡 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Insulating substrate 2 Conductor metal layer 3 Resist liquid 4 Storage layer 6 Vibration mechanism 10 Through hole hole 11 Through hole edge part 30 Etching resist layer 31 Resist partition wall 43 Circulation pump 45 Valve 46 Overflow tank 48 Discharge port 49 Circulation pipe 63 Vibration motor 64 Crank mechanism 65 Insulating substrate support B Bubbles
─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───
【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成4年9月25日[Submission date] September 25, 1992
【手続補正1】[Procedure Amendment 1]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0002[Name of item to be corrected] 0002
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0002】[0002]
【従来の技術】プリント配線板の製造工程でのレジスト
膜の形成方法としては、スクリーン印刷法、ドライ
フィルム法、ロールコーター法、スピンコート法、
電着法などが知られている。しかし、微細かつ高精度
なプリント配線板の製造のために要求される、薄膜であ
って、膜厚精度の良いレジスト膜を上記従来法で形成す
ることには問題がある。即ち、の印刷法は、レジスト
塗膜厚みを精度良くコントロールするのが難しく、の
ドライフィルム法は、予め成膜されたフィルムを加熱圧
着するため、薄膜化が困難であり、のロールコーター
法は、平板状のものでないと塗布できず、スルーホール
用孔内部への塗布が困難であり、のスピンコート法
は、大基板への適用が難しく、の電着法は、レジスト
被膜にピンホールが発生しやすく、電着液の管理等が難
しいとそれぞれに問題があるのが現状である。2. Description of the Related Art As a method of forming a resist film in a manufacturing process of a printed wiring board, a screen printing method, a dry film method, a roll coater method, a spin coating method,
The electrodeposition method is known. However, there is a problem in forming a resist film which is a thin film and has a high film thickness accuracy by the above-mentioned conventional method, which is required for manufacturing a fine and highly accurate printed wiring board. That is, in the printing method, it is difficult to control the thickness of the resist coating film with high accuracy, and in the dry film method, it is difficult to thin the film because the film formed in advance is heat-pressed. The roll coater method cannot be applied unless it is a flat plate, and it is difficult to apply it inside the holes for through holes. The spin coat method is difficult to apply to a large substrate, and the electrodeposition method is a resist coating. Currently, there are problems in that pinholes are likely to occur and it is difficult to control the electrodeposition liquid.
【手続補正2】[Procedure Amendment 2]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0004[Correction target item name] 0004
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0004】また、のドライフィルム法では、小径お
よびランドレススルーホール配線板への適用が難しい。In the dry film method, a small diameter film is used .
It is difficult to apply to the land-less through-hole wiring board called.
【手続補正3】[Procedure 3]
【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement
【補正対象項目名】0021[Correction target item name] 0021
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【0021】つぎに、基板1全体を、粘度やチキソトロ
ピー性値が適当に調整されて貯液槽4に収容されたレジ
スト液3の中へ浸漬する。このとき、非ニュートン性を
有するレジスト液は、液循環により流動状態になってお
り、基板周辺で液粘度が下がり脱泡しやすくなってい
る。基板1のスルーホール用孔10の内部にかみ込まれ
ていた気泡B(図6参照)が、揺動脱泡や振動脱泡によ
り、スルーホール用孔10の内部から出てきて、液流れ
に乗り液面へと浮き上がって除去される。この時、スル
ーホール用孔10に留まることがないので、脱泡処理が
効率的に行われる。Next, the entire substrate 1 is immersed in the resist solution 3 stored in the liquid storage tank 4 with the viscosity and thixotropy value being appropriately adjusted. At this time, the resist liquid having a non-Newtonian property is in a fluidized state due to the liquid circulation, and the liquid viscosity is reduced around the substrate to facilitate defoaming. The bubble B (see FIG. 6) that has been bitten into the through hole hole 10 of the substrate 1 comes out of the through hole hole 10 due to the swing defoaming or the vibration defoaming, and becomes a liquid flow. It is divided lifted to ride liquid surface. At this time, since it does not remain in the through hole hole 10, the defoaming process is efficiently performed.
Claims (3)
中に、表面に導体金属層が形成された基板を浸漬し、脱
泡処理した後、引き上げることにより、基板にレジスト
液を塗布するようにするレジスト膜形成方法。1. A resist liquid is applied to a substrate by immersing a substrate having a conductor metal layer formed on the surface in a non-Newtonian resist liquid fluid, defoaming the substrate, and then pulling it up. Method for forming resist film.
ホールエッジ部、スルーホール用孔内周面の導体金属層
表面に少なくとも厚さ0.5μm以上のレジスト被覆を
形成し、かつスルーホール用孔内に貫通を塞ぐレジスト
隔壁を形成するようにする請求項1記載のレジスト膜形
成方法。2. The substrate includes a through hole hole, and a resist coating having a thickness of at least 0.5 μm is formed on the conductor metal layer surface of the through hole edge portion and the inner peripheral surface of the through hole hole, and the through hole is used. 2. The method of forming a resist film according to claim 1, wherein a resist partition wall that blocks the penetration is formed in the hole.
請求項1または2記載のレジスト膜形成方法。3. The method for forming a resist film according to claim 1, wherein the defoaming treatment is shaking or vibration of the substrate.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP6840792A JPH05273760A (en) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | Formation of resist image |
Applications Claiming Priority (1)
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JP6840792A JPH05273760A (en) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | Formation of resist image |
Publications (1)
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JPH05273760A true JPH05273760A (en) | 1993-10-22 |
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JP6840792A Pending JPH05273760A (en) | 1992-03-26 | 1992-03-26 | Formation of resist image |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH05273760A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1992
- 1992-03-26 JP JP6840792A patent/JPH05273760A/en active Pending
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