JPH05273284A - 液晶表示装置の抵抗欠陥集計データシステム - Google Patents
液晶表示装置の抵抗欠陥集計データシステムInfo
- Publication number
- JPH05273284A JPH05273284A JP7377792A JP7377792A JPH05273284A JP H05273284 A JPH05273284 A JP H05273284A JP 7377792 A JP7377792 A JP 7377792A JP 7377792 A JP7377792 A JP 7377792A JP H05273284 A JPH05273284 A JP H05273284A
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- JP
- Japan
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- data
- crystal display
- display device
- computer
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】テスタ１による液晶表示装置の測定データの取
り込み、これ等のデータの処理による欠陥ラインの計
算、集計、欠陥位置の特定等をコンピュータ２、５によ
って自動的に行い得る液晶表示装置の抵抗欠陥集計デー
タシステム。 【構成】液晶表示装置の欠陥の計測を行うテスタ１と、
このテスタ１の測定データの取り込みおよび集計、処理
を行うコンピュータ２、５とを有し、前記コンピュータ
は前記測定データの基板単位、ロット単位およびロット
間での集計、処理、平均値、標準偏差の算出を行い、そ
れ等の集計、処理、算出の結果を生産管理システム３に
向けて送り出すと共にコンピュータのデータファイルと
して保存可能としたもの。
り込み、これ等のデータの処理による欠陥ラインの計
算、集計、欠陥位置の特定等をコンピュータ２、５によ
って自動的に行い得る液晶表示装置の抵抗欠陥集計デー
タシステム。 【構成】液晶表示装置の欠陥の計測を行うテスタ１と、
このテスタ１の測定データの取り込みおよび集計、処理
を行うコンピュータ２、５とを有し、前記コンピュータ
は前記測定データの基板単位、ロット単位およびロット
間での集計、処理、平均値、標準偏差の算出を行い、そ
れ等の集計、処理、算出の結果を生産管理システム３に
向けて送り出すと共にコンピュータのデータファイルと
して保存可能としたもの。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は液晶表示器における抵抗
値欠陥、ライン欠陥を自動的に集計する抵抗欠陥集計デ
ータシステムに関する。
値欠陥、ライン欠陥を自動的に集計する抵抗欠陥集計デ
ータシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】図２は従来人手によって行っていた欠陥
データ集計作業の系統図である。この図において、作業
員（計測員）はテスタ１を使用して液晶表示器の各ブロ
ック毎にラインの欠陥と抵抗値とを測定する。テスタ１
にはプリンタが付属しており、前記計測結果はリスト１
３として出力される。前記リスと１３中にはラインの欠
陥が示されているから、人手により欠陥ライン番号を換
算してチップ毎に集計作業１４を行っている。
データ集計作業の系統図である。この図において、作業
員（計測員）はテスタ１を使用して液晶表示器の各ブロ
ック毎にラインの欠陥と抵抗値とを測定する。テスタ１
にはプリンタが付属しており、前記計測結果はリスト１
３として出力される。前記リスと１３中にはラインの欠
陥が示されているから、人手により欠陥ライン番号を換
算してチップ毎に集計作業１４を行っている。
【０００３】上記の集計結果は集計表１５として纏めら
れる。そして、生産管理システムへの登録は、作業員が
キーボードを操作して端末機１６に入力して行う。
れる。そして、生産管理システムへの登録は、作業員が
キーボードを操作して端末機１６に入力して行う。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】１基板当りのライン数
は４０００本程度であり、上記の集計、登録はかなりの
手数を必要とする。まして、多数の基板を含むロット当
りの登録作業には膨大な手数を必要とし、基板当りの欠
陥数が多ければ１日に数ロットの計測、登録作業を消化
するのは至難と言ってよい。
は４０００本程度であり、上記の集計、登録はかなりの
手数を必要とする。まして、多数の基板を含むロット当
りの登録作業には膨大な手数を必要とし、基板当りの欠
陥数が多ければ１日に数ロットの計測、登録作業を消化
するのは至難と言ってよい。
【０００５】また、上記のように基板当りの欠陥数が多
く流品ロットが多い場合には、作業効率が低下するだけ
でなく、集計作業中に欠陥場所の特定に誤りを生じるお
それもある。
く流品ロットが多い場合には、作業効率が低下するだけ
でなく、集計作業中に欠陥場所の特定に誤りを生じるお
それもある。
【０００６】さらに、テスタ１付属のプリンタにおいて
は抵抗値、ライン欠陥は、基板上の各ブロック単位で記
載されているため、それに欠陥の位置を特定するには換
算表を用意しておき、この換算表から人手によって検索
しなければならない。この欠陥位置の特定も、多くの手
数と時間とを必要とする。
は抵抗値、ライン欠陥は、基板上の各ブロック単位で記
載されているため、それに欠陥の位置を特定するには換
算表を用意しておき、この換算表から人手によって検索
しなければならない。この欠陥位置の特定も、多くの手
数と時間とを必要とする。
【０００７】本発明は上記の事情に基づきなされたもの
で、データの取り込み、欠陥ラインの計算、集計、欠陥
位置の特定等をコンピュータによって自動的に行い得る
液晶表示装置の抵抗欠陥集計データシステムを提供す
る。
で、データの取り込み、欠陥ラインの計算、集計、欠陥
位置の特定等をコンピュータによって自動的に行い得る
液晶表示装置の抵抗欠陥集計データシステムを提供す
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示装置の
抵抗欠陥集計データシステムは、液晶表示装置の欠陥の
計測を行うテスタと、このテスタの測定データの取り込
みおよび集計を行うコンピュータとを有し、前記コンピ
ュータは前記測定データの基板単位、ロット単位および
ロット間での集計、処理、平均値、標準偏差の算出を行
い、これ等を生産管理システムに対して送り出すととも
にコンピュータのデータファイルとして保存可能とした
ことを特徴とする。
抵抗欠陥集計データシステムは、液晶表示装置の欠陥の
計測を行うテスタと、このテスタの測定データの取り込
みおよび集計を行うコンピュータとを有し、前記コンピ
ュータは前記測定データの基板単位、ロット単位および
ロット間での集計、処理、平均値、標準偏差の算出を行
い、これ等を生産管理システムに対して送り出すととも
にコンピュータのデータファイルとして保存可能とした
ことを特徴とする。
【０００９】
【作用】上記構成の本発明の液晶表示装置の抵抗欠陥集
計データシステムにおいては、テスタによる計測と同時
に従来は人手によっていたデータの取り込み、欠陥ライ
ンの計算、集計、欠陥位置の特定等をコンピュータによ
って自動的に行うことができ、単に作業時間の著しい短
縮のみでなく、欠陥位置の特定、登録等の誤りを完全に
防止することができる。
計データシステムにおいては、テスタによる計測と同時
に従来は人手によっていたデータの取り込み、欠陥ライ
ンの計算、集計、欠陥位置の特定等をコンピュータによ
って自動的に行うことができ、単に作業時間の著しい短
縮のみでなく、欠陥位置の特定、登録等の誤りを完全に
防止することができる。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。図１は本発明の一実施例の系統図である。
する。図１は本発明の一実施例の系統図である。
【００１１】この図において、テスタ１の測定データは
コンピュータ２に取り込まれ、コンピュータ２の取り込
んだデータはフロッピーディスク４に格納される。
コンピュータ２に取り込まれ、コンピュータ２の取り込
んだデータはフロッピーディスク４に格納される。
【００１２】１ロット全体の計測を終了した時点で、コ
ンピュータ２は前記フロッピーディスク４に格納された
全データを検索し、計算を行い、欠陥ライン番号リス
ト、平均抵抗、標準偏差、ロット歩留り等を、生産管理
システム３およびプリンタ６に出力する。
ンピュータ２は前記フロッピーディスク４に格納された
全データを検索し、計算を行い、欠陥ライン番号リス
ト、平均抵抗、標準偏差、ロット歩留り等を、生産管理
システム３およびプリンタ６に出力する。
【００１３】必要ならば、オフラインコンピュータ５を
用意し、これにより集計プログラムを使用してヒストグ
ラムや抵抗分布グラフの作成も行わせ、これ等をプリン
タ６に出力させることも可能である。なお、プリンタ６
は書類１１をプリントアウトする。
用意し、これにより集計プログラムを使用してヒストグ
ラムや抵抗分布グラフの作成も行わせ、これ等をプリン
タ６に出力させることも可能である。なお、プリンタ６
は書類１１をプリントアウトする。
【００１４】一方、オフラインコンピュータ５の演算結
果はアーカイバ９に送られ、圧縮されたデータは電話回
線７を介してこれを必要とする各部門８にデータ転送さ
れ、また書庫保存用のフロッピーディスク１０に格納さ
れる。
果はアーカイバ９に送られ、圧縮されたデータは電話回
線７を介してこれを必要とする各部門８にデータ転送さ
れ、また書庫保存用のフロッピーディスク１０に格納さ
れる。
【００１５】上記のように本発明のシステムにおいて
は、テスタ１による計測と同時に従来は人手によってい
たデータの取り込み、欠陥ラインの計算、集計、欠陥位
置の特定等をコンピュータによって自動的に行うことが
でき、単に作業時間の著しい短縮のみでなく、欠陥位置
の特定、登録等の誤りを完全に防止することができる。
は、テスタ１による計測と同時に従来は人手によってい
たデータの取り込み、欠陥ラインの計算、集計、欠陥位
置の特定等をコンピュータによって自動的に行うことが
でき、単に作業時間の著しい短縮のみでなく、欠陥位置
の特定、登録等の誤りを完全に防止することができる。
【００１６】
【発明の効果】上記から明らかなように本発明の液晶表
示装置の抵抗欠陥集計データシステムによれば、従来人
手によって行っていた換算、集計、端末機への入力等の
作業がコンピュータによって自動化されるため、作業効
率が飛躍的に向上されるだけでなく、各種の誤りの発生
も完全に防止される。
示装置の抵抗欠陥集計データシステムによれば、従来人
手によって行っていた換算、集計、端末機への入力等の
作業がコンピュータによって自動化されるため、作業効
率が飛躍的に向上されるだけでなく、各種の誤りの発生
も完全に防止される。
【００１７】また、ファイル管理が可能となったためア
ーカイバによってデータ圧縮を施し、これををデータベ
ース形式で保存し、且つ必要ならば通信回線を介して必
要とする各部門に伝送することが可能となった。
ーカイバによってデータ圧縮を施し、これををデータベ
ース形式で保存し、且つ必要ならば通信回線を介して必
要とする各部門に伝送することが可能となった。
【００１８】さらに、従来の人手によって行う作業では
困難であった平均抵抗の算出、抵抗値偏差の算出等を即
時に行うことができるため、生産管理の精度が飛躍的に
向上される。
困難であった平均抵抗の算出、抵抗値偏差の算出等を即
時に行うことができるため、生産管理の精度が飛躍的に
向上される。
【００１９】なお、ライン抵抗の分布図、ヒストグラム
等が表示できるから、各ラインの抵抗分布の状態を一見
して知り得るようにできる。
等が表示できるから、各ラインの抵抗分布の状態を一見
して知り得るようにできる。
【図１】本発明の一実施例の系統図。
【図２】従来人手によって行っていた欠陥データ集計作
業の系統図。
業の系統図。
１…テスタ、２…コンピュータ、３…生産管理システ
ム、４、１０…フロッピーディスク、５…オフラインコ
ンピュータ、６…プリンタ、７…電話回線、８…各部
門、９…アーカイバ、１１…書類。
ム、４、１０…フロッピーディスク、５…オフラインコ
ンピュータ、６…プリンタ、７…電話回線、８…各部
門、９…アーカイバ、１１…書類。
Claims (1)
- 【請求項１】 液晶表示装置の欠陥の計測を行うテスタ
と、このテスタの測定データの取り込みおよび集計を行
うコンピュータとを有し、前記コンピュータは前記測定
データの基板単位、ロット単位およびロット間での集
計、処理、平均値、標準偏差の算出を行い、これ等を生
産管理システムに対して送り出すとともにコンピュータ
のデータファイルとして保存可能としたことを特徴とす
る液晶表示装置の抵抗欠陥集計データシステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7377792A JPH05273284A (ja) | 1992-03-30 | 1992-03-30 | 液晶表示装置の抵抗欠陥集計データシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7377792A JPH05273284A (ja) | 1992-03-30 | 1992-03-30 | 液晶表示装置の抵抗欠陥集計データシステム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05273284A true JPH05273284A (ja) | 1993-10-22 |
Family
ID=13527978
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7377792A Withdrawn JPH05273284A (ja) | 1992-03-30 | 1992-03-30 | 液晶表示装置の抵抗欠陥集計データシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05273284A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104793372A (zh) * | 2015-05-12 | 2015-07-22 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法 |
| JP2017503210A (ja) * | 2013-12-31 | 2017-01-26 | 深▲セン▼市華星光電技術有限公司 | 液晶表示装置のデータラインの抵抗の補償方法 |
-
1992
- 1992-03-30 JP JP7377792A patent/JPH05273284A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017503210A (ja) * | 2013-12-31 | 2017-01-26 | 深▲セン▼市華星光電技術有限公司 | 液晶表示装置のデータラインの抵抗の補償方法 |
| CN104793372A (zh) * | 2015-05-12 | 2015-07-22 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法 |
| CN104793372B (zh) * | 2015-05-12 | 2018-01-19 | 武汉精测电子技术股份有限公司 | 不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990608 |