JPH0526756B2 - - Google Patents

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JPH0526756B2
JPH0526756B2 JP60197823A JP19782385A JPH0526756B2 JP H0526756 B2 JPH0526756 B2 JP H0526756B2 JP 60197823 A JP60197823 A JP 60197823A JP 19782385 A JP19782385 A JP 19782385A JP H0526756 B2 JPH0526756 B2 JP H0526756B2
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JP
Japan
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quartz glass
glass tube
temperature
tube
bourdon
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JP60197823A
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JPS6259589A (ja
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Seiji Mizuniwa
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Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6259589A publication Critical patent/JPS6259589A/ja
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  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は横型ボート法における−族化合物
半導体単結晶製造方法及びこれに使用する石英ガ
ラス管装置に係り、特に石英ガラス管内における
過剰族元素の蒸気圧変動を抑制したものに関す
る。
[従来の技術] 一般に、−族化合物半導体単結晶、例えば
GaAsを横型ボート法によつて融液成長させる場
合、族のAsの平衡解離圧(約1atm)を石英ガ
ラス管内の雰囲気圧力として保持しながら成長さ
せる必要がある。このため、結晶成長を行なわせ
るための高温炉と、石英ガラス管内のAs蒸気圧
を1atmに保つための低温炉(約610℃)とから成
る二連式電気炉が使用される。
ところで、石英ガラス管内のAs蒸気圧を1atm
に保つためには管内圧力を検出する必要がある
が、次の理由から通常考え得る圧力検出器を石英
ガラス管に取り付けることは困難であつた。即
ち、石英ガラス管内で610℃より低い部分をつく
るとその部分にAsが凝縮してしまうため、石英
ガラス管の温度は全ての部分で、610℃以上の高
温にしておかなければならず、耐熱性が要求され
ること、石英ガラス管は真空封じしなければなら
ないので外付が困難であること等の理由からであ
る。
そこで従来は石英ガラス管の外壁に熱電対を設
け、石英ガラス管温度を一定にするよう温度制御
して間接的に石英ガラス管内圧を一定に保つよう
にしていた。
[発明が解決しようとする課題] しかし、上述した従来の方法は、飽くまでも温
度制御であつて、Asの蒸気圧力制御ではないた
め、高温炉側からの輻射熱の変化や炉廻りの対流
による温度変動等の影響を受け易く、温度を一定
に保つているからといつて必ずしも石英ガラス管
内を一定に保つているとはいい難かつた。
事実、全く同一の温度設定下で結晶成長を行な
つても高温炉側のAs圧変動による石英ガラス管
の変形は、1回毎に微妙に異なつて来ることが多
かつた。
このように、圧力制御を直接行なつていないこ
とがボート法によるGaAs単結晶歩留の不安定性
の一因となつており、また結晶の化学量論的制御
を不可能としていた。特に、これらのことは結晶
成長装置の大型化に伴なつて大きな問題となつて
いた。
第1の発明の目的は、結晶の化学量論的制御を
可能とし、単結晶歩留りを安定して向上させ、し
かも石英ガラス管の寿命を向上することができる
横型ボート法の−族化合物半導体単結晶製造
方法を提供することである。
また、第2の発明の目的は、石英ガラス管内圧
力を直接且つ正確に検出することができる横型ボ
ート法の−族化合物半導体単結晶製造方法に
使用する石英ガラス管装置を提供することであ
る。
[課題を解決するための手段] 本発明は、密封した石英ガラス管の低温側に
族元素を置いて結晶成長の行われる高温側の蒸気
圧制御をするに際して、石英ガラス管の低温側の
端部に一体的にブルドン管を接続すると共にその
自由端に検出指針を設けて石英ガラス製圧力検出
器を形成し、ブルドン管を族元素の凝縮を防ぐ
ことのできる温度以上に保持して族元素の蒸気
をブルドン管内に導き、そのブルドン管の自由端
の検出指針の回転角から蒸気圧を検出するととも
に、この蒸気圧が結晶成長中一定となるように低
温側の石英ガラス管温度を制御するようにしたも
のである。
また、本発明は、低温炉と高温炉とを有する二
連式炉内に配置され、かつ、密封された石英ガラ
ス管の低温炉側にAsを置き、石英ガラス管の高
温炉側にGa又はGaAsを置いて高温側で結晶成長
を行う−族化合物半導体結晶製造方法に使用
する石英ガラス管装置において、石英ガラス管内
と連通され、かつ、石英ガラス管の低温側の端部
に一体的に形成されたブルドン管と、ブルドン管
の自由端に設けられ石英ガラス管内の圧力を回転
角度で表示する検出指針とを備え、低温炉でブル
ドン管の温度を610℃以上に保持するようにした
ものである。
[作用] 上記構成により、石英ガラス管内と連通され、
かつ、石英ガラス管の低温側の端部に一体的に形
成されたブルドン管と、ブルドン管の自由端に設
けられ石英ガラス管内の圧力を回転角度で表示す
る検出指針とを備えたので、石英ガラス管内の微
小な圧力変化を検出することができ、このブルド
ン管の温度を低温炉で610℃以上に保持するので、
ブルドン管内のAs蒸気が凝縮してブルドン管の
内壁に付着し検出指針の回動を妨げることがな
く、石英ガラス管内の圧力を正確に検出すること
ができる。
[実施例] 本発明の実施例を第1図〜第2図に基づいて説
明すれば以下の通りである。
第1図は本発明に係る横型ボート法として温度
傾斜法(GF法)を例にとつた場合のGaAs単結
晶製造装置を示す。本発明は水平ブリツジマン法
(HB法)にも、またGaAs以外の−族化合物
半導体にも共通する。
図中、1は高温炉2と低温炉3とから成る二連
式電気炉であり、この二連式電気炉1内に密封し
た石英ガラス管4が設置されている。石英ガラス
管4の中央には蒸気の流通を許す仕切壁があり、
これにより石英ガラス管4は二分される。石英ガ
ラス管4の高温側には成長用原料であるGa又は
GaAs5と種結晶6とを入れたボート7を置き、
低温側には過剰As8を置いてある。
この過剰As8を置いた低温側石英ガラス管4
の端部には、管内のAs元素の蒸気圧を検出する
ための石英ガラス製圧力検出器9が設けられてい
る。この石英ガラス製圧力検出器9は、図示例で
は、石英ガラス管内と連通され、且つ石英ガラス
管に一体的に設けられた石英ガラス製ブルドン管
10と、このブルドン管10の自由端に取り付け
られた圧力変動の検出指針11とから成り、この
検出指針11によつて炉外から石英ガラス管内圧
の変動が検出できるようになつている。
また、この圧力変動を公知の手段によつて電気
信号に変換し、低温炉3の温度調節器(図示せ
ず)にフイードバツクさせ、結晶成長中常に石英
ガラス管4内のAs蒸気圧を一定にするよう制御
している。
ここで炉の温度分布は第2図に示すように、低
温側石英ガラス管4のAs8を置いた部分を610℃
に保ち、この部分のみ過剰As8を凝縮させると
共に、ブルドン管部分は、610℃よりも高くして
ここにAsが凝縮しないようにした。ブルドン管
10にAsを凝縮させないようにして正確な圧力
検出を確保する。
なお、第1図中、12はAs8を置いた部分の
管外壁に取り付けた熱電対であり、監視用に設け
たものである。
さて、上記構成における具体的作用について述
べる。
Ga2000g、As2190gを充填した石英ガラス管
4を真空封じし、これを第1図に示すように炉内
に設置した。高温炉2を1200℃以上に、低温炉3
を約610℃に昇温させ、GaAs共融反応を行なわ
せた後、高温炉2を更に昇温させた。
そして、高温炉2の結晶成長部に1.0℃/cmの
温度傾斜を設けて、種結晶6部と反対側の部分か
らGaAs融液を徐々に生成させ、種付部分まで溶
かし込みを行なつた。このときの低温炉3の温度
はブルドン管圧力計の指針が1atmを示す位置に
なるよう制御した。種付終了後1℃/Hrの速度
で降温しながら結晶成長を行ない、その後100
℃/Hrで室温まで冷却し、石英ガラス管4を取
りだした。
このようにして石英ガラス管4内に得られた結
晶約4150gは、これを溶融KOHでエツチングし
て転位密度を測定した結果、EPD(エツチピツト
密度)≦500個/cm2という低転位結晶であつた。
また、繰り返し10回成長を行なつたところ、全
数とも単結晶であり、しかも全体の約70%が
EPD≦500個/cm2という好成績を得た。
このような好成績は、石英ガラス管内圧を直接
検出して、その検出圧が一定になるように制御す
ることによつて、間接制御による不安定要因を排
除し、始めて可能になるのである。したがつて、
特に圧力制御が重要となる大型成長装置にとつて
本発明の意義は大きい。
なお、上記実施例においては石英ガラス製圧力
検出器としてブルドン管を利用した例を示した
が、石英ガラス管端部に石英ガラス製のすり合せ
ピストンを摺動自在に嵌装し、そのピストンロツ
ドに指針を取り付けるようにしたものでもよく、
要するに高熱に耐え、真空封じを損なわない石英
ガラス製の検出器であればよい。
また、石英ガラス製ブルドン管10の取付箇所
を上記実施例では最も簡単な低温側石英ガラス管
端部としたが、石英ガラス製ブルドン管は1000℃
以上に加熱しなければ繰返し使用が可能であるた
め、610℃以上で1000℃以下の部分であればいず
れの箇所に取り付けてもよい。
[発明の効果] 以上要するに本発明によれば次のような優れた
効果を発揮する。
(1) 族元素の蒸気圧を直接検出し、この検出圧
が一定となるように石英ガラス管温度を制御す
るようにしたことにより、間接的に蒸気圧を検
出する従来のものと異なり、蒸気圧を厳密に制
御できるので、圧力変動が起因して正確さを欠
いていた結晶の化学量論的制御が可能となり、
成長条件が安定して単結晶歩留りが格段に向上
する。また、蒸気圧が一定となるので、石英ガ
ラス管の変形が少なくなり長寿命化が図れる。
(2) 石英ガラス製の圧力検出器を石英ガラス管に
一体的に設けたことにより、高温に晒されて損
壊したり或いは石英ガラス管の真空封じを損な
つたりすることもなく、石英ガラス管内圧力を
直接且つ正確に検出できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る横型ボート法の−族
化合物半導体単結晶製造方法を実施するための製
造装置の一実施例を示す概略断面図、第2図は第
1図の装置の温度分布図である。 図中、4は石英ガスラ管、8は族元素として
のAs、9は石英ガラス製圧力検出器、10は石
英ガラス製ブルドン管、11は指針である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 密封した石英ガラス管の低温側に族元素を
    置いて結晶成長の行われる高温側の蒸気圧制御を
    するに際して、石英ガラス管の低温側の端部に一
    体的にブルドン管を接続すると共にその自由端に
    検出指針を設けて石英ガラス製圧力検出器を形成
    し、該ブルドン管を族元素の凝縮を防ぐことの
    できる温度以上に保持して族元素の蒸気をブル
    ドン管内に導き、そのブルドン管の自由端の検出
    指針の回転角から蒸気圧を検出するとともに、こ
    の蒸気圧が結晶成長中一定となるように低温側の
    石英ガラス管温度を制御するようにしたことを特
    徴とする横型ボート法の−族化合物半導体結
    晶製造方法。 2 上記族元素がAsであつて、石英ガラス管
    内のAsの蒸気圧を検出するブルドン管の温度を
    610℃以上に保持したことを特徴とする請求項1
    に記載の横型ボート法の−族化合物半導体結
    晶製造方法。 3 低温炉と高温炉とを有する二連式炉内に配置
    され、かつ、密封された石英ガラス管の低温炉側
    にAsを置き、該石英ガラス管の高温炉側にGa又
    はGaAsを置いて高温側で結晶成長を行う−
    族化合物半導体結晶製造方法に使用する石英ガラ
    ス管装置において、前記石英ガラス管内と連通さ
    れ、かつ、石英ガラス管の低温側の端部に一体的
    に形成されたブルドン管と、該ブルドン管の自由
    端に設けられ前記石英ガラス管内の圧力を回転角
    度で表示する検出指針とを備え、前記低温炉で前
    記ブルドン管の温度を610℃以上に保持するよう
    にしたことを特徴とする横型ボート法の−族
    化合物半導体結晶製造に使用する石英ガラス管装
    置。
JP19782385A 1985-09-09 1985-09-09 横型ボ−ト法の3−5族化合物半導体単結晶製造方法及びこれに使用する石英ガラス管装置 Granted JPS6259589A (ja)

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JPS6259589A JPS6259589A (ja) 1987-03-16
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04244387A (ja) * 1991-01-31 1992-09-01 Shin Etsu Handotai Co Ltd クランプ回転軸に対する単結晶棒位置決め方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56164095A (en) * 1980-05-23 1981-12-16 Sanken Electric Co Ltd Preparation of semiconductor using sealed container
JPS58112038A (ja) * 1981-12-25 1983-07-04 Kokusai Electric Co Ltd 加圧合成装置における合成成分の蒸気圧自動制御方法及び装置

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