JPH05259285A - Wiring path processing method and wiring path processing system - Google Patents

Wiring path processing method and wiring path processing system

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JPH05259285A
JPH05259285A JP4088116A JP8811692A JPH05259285A JP H05259285 A JPH05259285 A JP H05259285A JP 4088116 A JP4088116 A JP 4088116A JP 8811692 A JP8811692 A JP 8811692A JP H05259285 A JPH05259285 A JP H05259285A
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JP
Japan
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wiring
point
virtual point
wiring route
determining
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4088116A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsuyoshi Kurata
勝良 蔵田
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Hitachi Ltd
Hitachi Computer Engineering Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Computer Engineering Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH05259285A publication Critical patent/JPH05259285A/en
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  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide the technology for easily obtaining wiring paths which pass the desired positions. CONSTITUTION:Formation of wiring path passing the desired points can be realized by setting virtual points to the desired positions in the unwired sections and then determining wiring paths using the preset virtual points as the starting points for searching wiring paths. Moreover, wiring patterns passing the wiring layers having the highest priority are intentionally formed by setting the virtual points to the wiring layer having the highest priority and thereby repair of wiring layer of multilayer wiring can be done very easily.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ゲートアレイやスタン
ダードセルそしてカスタムLSIなどの半導体集積回路
さらには配線基板における、配線パターン若しくは配線
経路のレイアウト技術に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a layout technique of a wiring pattern or a wiring path on a semiconductor integrated circuit such as a gate array, a standard cell, a custom LSI, or a wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体集積回路などの自動配線設計に一
般的に採用されている従来手法としては、パターン限定
法、迷路法、ラインサーチ法、チャンネル割り当て法な
どがある。
2. Description of the Related Art Conventional methods generally adopted for automatic wiring design of semiconductor integrated circuits include a pattern limiting method, a maze method, a line search method and a channel assignment method.

【0003】パターン限定法は、L字型のような予め決
定されているパターン形状で端子間の接続を行うもので
あるが、利用可能な配線パターンが制限されているため
自動配線能力が低く、単純な配線パターンにしか適用す
ることができない。
In the pattern limiting method, the terminals are connected in a predetermined pattern shape such as an L shape, but since the available wiring patterns are limited, the automatic wiring ability is low. It can only be applied to simple wiring patterns.

【0004】迷路法は、配線格子単位で配線の可否を管
理し、始点端子から終点端子に至る経路を、1配線格子
づつ所定方向にずらしながら探索していく手法である。
この迷路法では探索が配線格子単位であるため、処理時
間が長くなる上、当該探索処理に膨大な作業記憶領域が
必要とされる。
The maze method is a method of managing the availability of wiring on a wiring grid basis and searching for a path from a starting point terminal to an ending point terminal by shifting one wiring grid in a predetermined direction.
In this maze method, since the search is performed on a wiring grid basis, the processing time is long and a huge working storage area is required for the search processing.

【0005】ラインサーチ法は、探索の単位を配線格子
に沿った線分とするものであり、配線禁止領域を迂回す
るように線分を縦横に延ばしながら配線パターンを探索
していく。このラインサーチ法は線分単位で探索を進め
るため、迷路法に比べれば処理時間の短縮などが図られ
ているが、やはり処理時間の短縮や作業記憶領域の低減
には限界がある。
In the line search method, the unit of search is a line segment along the wiring grid, and the wiring pattern is searched while extending the line segment vertically and horizontally so as to bypass the wiring prohibited area. Since the line search method advances the search in line segment units, the processing time is shortened as compared with the maze method, but the processing time and the working storage area are also limited.

【0006】チャンネル割り当て法は、セル列間単位で
幹線に支線を接続していく手法である。この手法に依れ
ば処理時間は短縮されるが、配線禁止領域が複雑に定義
されたチップモデルに対しては扱いが難しく、しかも3
層以上の多層配線には適用が困難である。
The channel allocation method is a method of connecting a branch line to a trunk line in units of cell columns. According to this method, the processing time is shortened, but it is difficult to handle the chip model in which the wiring prohibited area is complicatedly defined.
It is difficult to apply to multi-layer wiring of more layers.

【0007】今日、半導体集積回路の高集積化や回路素
子の微細化に伴って半導体集積回路の論理規模は増大の
一途を辿っており、これに従って自動配線経路処理に対
してはその処理時間の短縮や多層配線への対応が要望さ
れている。かかる要求に対処する技術について記載され
た文献の例としては、「CMOSデバイスハンドブッ
ク」(日刊工業新聞社,昭和62年9月29日,P15
9〜P164)や、「VLSIコンピュータのCAD」
(産業図書,昭和58年10月31日,P87〜P9
6)がある。
Today, the logic scale of a semiconductor integrated circuit is increasing along with the high integration of the semiconductor integrated circuit and the miniaturization of circuit elements, and accordingly, the processing time for the automatic wiring route processing is increased. There is a demand for shortening and support for multilayer wiring. As an example of a document which describes a technique for coping with such a request, there is a "CMOS device handbook" (Nikkan Kogyo Shimbun, September 29, 1987, P15).
9-P164) and "VLSI computer CAD"
(Industrial books, October 31, 1983, P87-P9
There is 6).

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】半導体集積回路チップ
においては、一定の条件下で配線パターンを切断したり
して配線補修を行うことがある。この配線補修は、一般
的に最上位配線層のパターンに対しては比較的容易であ
るが、下位の配線層ほどそれが困難になる。今後、配線
層が現在の3層から4層に増えると、全ネットのうち最
上位層を使用するパターンを含むものが半減されること
によって、配線補修が不可能となるケースが大幅に増加
することが、本発明者によって見いだされた。最上位配
線層を使用するパターンが多くなるように配線経路設計
するのが望ましいが、従来技術においては、基本的に未
配線の区間について結線することを目的としており、そ
の配線経路の形状やその配線経路がどこを通るかなどに
ついては、それが冗長に長くならなければ、特に考慮さ
れず、また、考慮する必要もないとされていた。従って
そのような従来方式では、意識的に最上位配線層を通過
するような配線パターンを得ることができない。
In the semiconductor integrated circuit chip, the wiring pattern may be cut or repaired under certain conditions. This wiring repair is generally relatively easy for the pattern of the uppermost wiring layer, but it becomes more difficult for the lower wiring layer. When the number of wiring layers is increased from the current three layers to four layers in the future, the number of cases in which wiring repair becomes impossible will be significantly increased by halving the number of patterns including the pattern using the uppermost layer of all nets. Have been found by the inventor. It is desirable to design the wiring route so that the number of patterns using the uppermost wiring layer becomes large, but in the conventional technology, basically, the purpose is to connect the unwired section, and the shape of the wiring route and its It has been said that where the wiring route passes, etc., it is not particularly considered, nor is it necessary to be considered unless it becomes redundantly long. Therefore, in such a conventional method, it is not possible to intentionally obtain a wiring pattern that passes through the uppermost wiring layer.

【0009】本発明の目的は、任意位置を通過する配線
経路を容易に得るための技術を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a technique for easily obtaining a wiring route passing through an arbitrary position.

【0010】また、本発明の別の目的は、最上位配線層
を通過する配線パターンを意識的に形成することによっ
て多層配線における配線補修の容易化を図るための技術
を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a technique for facilitating wiring repair in a multilayer wiring by intentionally forming a wiring pattern passing through the uppermost wiring layer.

【0011】本発明の上記並びにその他の目的と新規な
特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるで
あろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記
の通りである。
The outline of a typical one of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0013】すなわち、端子を接続するための配線経路
を決定する配線経路処理方法に、仮想点を未配線区間の
任意位置に設定する第1ステップと、設定された仮想点
を配線経路探索の始点として、又は当該仮想点を通るよ
うに配線経路を決定する第2ステップとを含めるもので
ある。さらに具体的な態様では、上記仮想点の候補点を
決定するステップと、当該候補点が最上位配線層に属す
るか否かをライブラリ情報に従って判定するステップ
と、当該候補点の周囲が配線可能領域であるか否かを判
定するステップとを上記第1ステップに含めることがで
きる。
That is, in a wiring route processing method for determining a wiring route for connecting terminals, a first step of setting a virtual point at an arbitrary position in an unwired section, and a set virtual point as a starting point of a wiring route search. Or a second step of determining a wiring route so as to pass through the virtual point. In a more specific aspect, a step of determining a candidate point of the virtual point, a step of determining whether or not the candidate point belongs to the uppermost wiring layer according to library information, and a periphery of the candidate point are a wirable area. And the step of determining whether or not is included in the first step.

【0014】配線経路処理システムは、上記手法を利用
して所要の端子を接続するための物理的な配線パターン
情報を得るように構成される。例えば、回路ブロックの
論理的な接続関係と、その論理的な接続関係に基づいて
決定された回路ブロックの物理的なパターン配置結果
と、半導体集積回路のレイアウトルールと、仮想点設定
のための条件ライブラリとが入力されるとき、設定され
た仮想点を配線経路探索の始点として配線経路を決定す
ることによって、回路ブロックの端子を接続するための
物理的な配線パターン情報を出力するように構成するこ
とができる。
The wiring route processing system is configured to obtain physical wiring pattern information for connecting the required terminals by using the above method. For example, the logical connection relationship of the circuit blocks, the physical pattern layout result of the circuit blocks determined based on the logical connection relationship, the layout rule of the semiconductor integrated circuit, and the condition for setting the virtual points. When a library is input, it is configured to output the physical wiring pattern information for connecting the terminals of the circuit block by determining the wiring route using the set virtual point as the starting point of the wiring route search. be able to.

【0015】[0015]

【作用】上記した手段によれば、仮想点を未配線区間の
任意位置に設定し、設定された仮想点を配線経路探索の
始点若しくは中継点として配線経路を決定することは、
当該始点若しくは中継点を通過する配線経路の形成を可
能とする。また、上記仮想点を最上位配線層に設定する
ことは、最上位配線層を通過する配線パターンの形成を
可能とし、多層配線における配線補修の容易化を達成す
る。
According to the above means, the virtual point is set at an arbitrary position in the unwired section, and the wiring route is determined by using the set virtual point as the starting point or the relay point of the wiring route search.
It is possible to form a wiring path that passes through the starting point or the relay point. Further, setting the virtual points in the uppermost wiring layer enables formation of a wiring pattern that passes through the uppermost wiring layer, and facilitates wiring repair in multilayer wiring.

【0016】[0016]

【実施例】図2には半導体集積回路の自動配置配線技術
に本発明を適用する場合の一実施例が示される。
FIG. 2 shows an embodiment in which the present invention is applied to an automatic placement and routing technique for a semiconductor integrated circuit.

【0017】同図において1は自動配置システム、2は
自動配線システムであり、それぞれ固有の動作プログラ
ムを有し、キー若しくはカードなどで入力されたパラメ
ータに従った処理を実行する。尚、図2において自動配
置システム1と自動配線システム2は異なるブロックの
ように図示されているが、ハードウェアとしてのワーク
ステーション若しくはコンピュータは兼用可能である。
In the figure, 1 is an automatic placement system, and 2 is an automatic wiring system, each of which has its own operation program and executes processing in accordance with parameters input by a key or a card. Although the automatic placement system 1 and the automatic wiring system 2 are illustrated as different blocks in FIG. 2, a workstation or a computer as hardware can also be used.

【0018】自動配置システム1には論理ファイル3及
びLSI構造ライブラリ4の情報が与えられる。論理フ
ァイル3には半導体集積回路を構成するための論理ゲー
トやゲート間の論理的な結線情報などの論理回路図情報
が含まれる。LSI構造ライブラリ4にはLSIの大き
さ、セル形状、配線禁止領域、レイアウトルール、そし
てゲートアレイやスタンダードセルなどの場合に予め必
要とされるセル搭載可能領域などの情報が含まれてい
る。
Information on the logical file 3 and the LSI structure library 4 is given to the automatic placement system 1. The logic file 3 includes logic circuit diagram information such as logic gates for forming a semiconductor integrated circuit and logical connection information between the gates. The LSI structure library 4 includes information such as the size of the LSI, the cell shape, the wiring prohibited area, the layout rule, and the cell mountable area required in advance in the case of a gate array or a standard cell.

【0019】自動配置システム1は論理ファイル3及び
LSI構造ライブラリ4の情報を読み込み、これに従っ
て所要の論理回路を構成するための各種ゲートを仮想的
なチップ上でセルへ割り付ける。このセル割り付け結果
は配置結果ファイル5に格納される。
The automatic placement system 1 reads the information of the logic file 3 and the LSI structure library 4, and allocates various gates for constructing a required logic circuit to cells on a virtual chip according to the information. The cell allocation result is stored in the placement result file 5.

【0020】自動配線システム2は、配置結果ファイル
5、論理ファイル3、LSI構造ライブラリ4の情報を
読み込み、これに従ってセル間の配線経路を求め、その
座標情報を配線結果ファイル6に格納する。この自動配
置システム2で行われる配線経路の探索処理内容につい
ては後で説明するが、仮想点を未配線区間の任意位置に
設定し、設定された仮想点を配線経路探索の始点として
配線経路を決定するようにしている。このときのデータ
処理に必要とされる作業領域はメインメモリ7の全部又
は一部に割り当てられる。
The automatic wiring system 2 reads the information of the placement result file 5, the logic file 3 and the LSI structure library 4, finds the wiring route between the cells according to the information, and stores the coordinate information in the wiring result file 6. The details of the wiring route search processing performed by the automatic placement system 2 will be described later. A virtual point is set at an arbitrary position in an unwired section, and the set virtual point is used as the starting point of the wiring route search. I am trying to decide. The work area required for data processing at this time is assigned to all or part of the main memory 7.

【0021】図3には図2に示されるシステムで得られ
た配置配線情報に従って形成された半導体集積回路の部
分的な平面図が示される。
FIG. 3 is a partial plan view of a semiconductor integrated circuit formed according to the arrangement and wiring information obtained by the system shown in FIG.

【0022】同図において10は半導体基板であり、そ
の縁部分にはボンディングパッド又はCCBパッドなど
の外部電極11や入出力バッファ回路12が配置され、
その中央部には所定の内部セル13が多数配置されてい
る。図2において内部セル13はゲートアレイのように
一定の幅をもって列方向に規則的に配置されているが、
本発明はそれに限定されない。
In the figure, reference numeral 10 denotes a semiconductor substrate, and an external electrode 11 such as a bonding pad or a CCB pad and an input / output buffer circuit 12 are arranged on the edge portion thereof.
A large number of predetermined internal cells 13 are arranged in the central portion. In FIG. 2, the internal cells 13 are regularly arranged in the column direction with a constant width like a gate array.
The invention is not so limited.

【0023】図3の半導体集積回路は、特に制限されな
いが、配線層を4層持つ。同図には内部セル13の端子
SからTに至る配線が代表的に示されており、14は第
1層目の配線層に形成された第1層目配線、15は第2
層目配線、16は第3層目配線、17は第4層目配線で
あり、隣接する配線層の端部はスルーホール18,1
9,20を介して結合されている。上記第1層目配線1
4及び第3層目配線16は主にX方向に延びるアルミニ
ウムなどの導電パターンによって形成され、上記第2層
目配線15及び第4層目配線17は主にY方向に延びる
アルミニウムなどの導電パターンによって形成される。
Although not particularly limited, the semiconductor integrated circuit of FIG. 3 has four wiring layers. In the figure, wirings from the terminals S to T of the internal cell 13 are shown as representatives, 14 is a first layer wiring formed in the first wiring layer, and 15 is a second wiring.
The third layer wiring, 16 is the third layer wiring, 17 is the fourth layer wiring, and the end portions of the adjacent wiring layers are through holes 18, 1.
They are connected via 9, 20. First layer wiring 1
The fourth and third layer wirings 16 are mainly formed of a conductive pattern such as aluminum extending in the X direction, and the second layer wiring 15 and the fourth layer wiring 17 are mainly conductive patterns such as aluminum extending in the Y direction. Formed by.

【0024】上記自動配線システム2で実行される処理
の一例は図1に示される以下の手順に従って行われる。
An example of the processing executed by the automatic wiring system 2 is performed according to the following procedure shown in FIG.

【0025】未配線区間の入力が行われると(ステップ
31)、仮想点ライブラリ36に基づいて仮想点第1候
補点が求められる。この仮想点第1候補点は未配線区間
の重心とされる(ステップ32)。次に、マンハッタン
距離Lの初期値を0に設定する(ステップ33)。すな
わち、L=0とされる。上記仮想点の第一候補点からマ
ンハッタン距離Lだけずれた点を座標(X,Y)で表
し、それを仮想点候補点とする。最初は、上記ステップ
33でL=0の初期値が設定されたままの状態であるか
ら、座標(X,Y)は、仮想点第一候補点すなわち未配
線区間の重心とされる。そして、当該座標(X,Y)
が、予め定められた仮想点条件ライブラリ36に適合す
るか否かの判別が行われる(ステップ35)。ここで、
仮想点条件ライブラリ36には、仮想点は最上位配線層
に設定されること、仮想点は未配線区間内に設定される
こと、などの規約が定義されている。この仮想点条件ラ
イブラリの内容は適宜に変更可能とされ、その内容変更
により、仮想点の設定位置の変更が可能とされる。上記
ステップ35の判別において、座標(X,Y)が仮想点
条件ライブラリ36に適合する(YES)と判断された
場合には、今度は上記座標(X,Y)が配線可能か否か
の判別が行われ(ステップ37)、それが可能であると
判断された場合には、さらに当該座標(X,Y)の左
右、上下は配線可能であるか否かの判別が行われ(ステ
ップ38)、それが可能であると判断された場合には、
当該座標(X,Y)が仮想点に決定される(ステップ3
9)。そに対して、上記ステップ35の判別において座
標(X,Y)が仮想点条件ライブラリに適合しない(N
O)と判断された場合や、上記ステップ37の判別にお
いて座標(X,Y)での配線が不可能である(NO)と
判断された場合、さらには上記ステップ38の判別にお
いて座標(X,Y)の左右、上下の配線が不可能である
(NO)と判断された場合には、そこを仮想点とするの
は不適切であるから、上記マンハッタン距離Lをインク
リメント(+1)し、それを更新することにより新たな
仮想点候補点、すなわち座標(X,Y)について、上記
ステップ35,ステップ36,ステップ37の判別が行
われる。そのようにして、最終的にステップ38でYE
Sと判断されることによりステップ39で仮想点が決定
される。
When the unwired section is input (step 31), the virtual point first candidate point is obtained based on the virtual point library 36. This virtual point first candidate point is set as the center of gravity of the unwired section (step 32). Next, the initial value of the Manhattan distance L is set to 0 (step 33). That is, L = 0. A point deviated from the first candidate point of the virtual point by the Manhattan distance L is represented by coordinates (X, Y), and is set as a virtual point candidate point. Initially, the initial value of L = 0 is still set in step 33, so the coordinate (X, Y) is the first virtual point candidate point, that is, the center of gravity of the unwired section. And the coordinates (X, Y)
However, it is judged whether or not it matches the predetermined virtual point condition library 36 (step 35). here,
The virtual point condition library 36 defines rules such as setting a virtual point in the uppermost wiring layer and setting a virtual point in an unwired section. The contents of the virtual point condition library can be changed as appropriate, and the setting position of the virtual points can be changed by changing the contents. When it is determined that the coordinates (X, Y) match the virtual point condition library 36 (YES) in the determination in step 35, it is determined whether or not the coordinates (X, Y) can be wired. Is performed (step 37), and if it is determined that it is possible, it is further determined whether or not wiring is possible on the left, right, top and bottom of the coordinate (X, Y) (step 38). , If it is determined to be possible,
The coordinates (X, Y) are determined as virtual points (step 3).
9). On the other hand, the coordinates (X, Y) do not match the virtual point condition library in the determination in step 35 (N
If it is determined to be O), or if it is determined that the wiring at the coordinates (X, Y) is impossible (NO) in the determination in step 37, the coordinates (X, Y) are determined in the determination in step 38. If it is determined that the wiring on the left, right, top, and bottom of Y) is impossible (NO), it is inappropriate to set it as a virtual point, so the Manhattan distance L is incremented (+1), and Is updated, the determination in steps 35, 36, and 37 is performed for a new virtual point candidate point, that is, the coordinate (X, Y). As such, finally in step 38 YE
When it is judged as S, the virtual point is determined in step 39.

【0026】上記のようにして仮想点が設定された後、
特に制限されないが、配線格子単位で配線の可否を管理
し、始点から終点に至る経路を、1配線格子づつ所定方
向にずらしながら探索していく手法である迷路法などの
所定のアルゴリズムに従い、上記仮想点を配線経路探索
の始点として探索され、それによって配線経路が決定さ
れる。すなわち、従来技術に従えば、図4(A)に示さ
れるように、端子51から端子52,53に至る経路で
当該端子51を始点として1配線格子づつずらしながら
探索されたのに対し、本実施例方式では、探索の開始点
を端子とはせず、上記ステップ39で最終的に決定され
た仮想点が探索の始点とされるので、図4(B)に示さ
れるように、仮想点60から端子51方向と、端子5
2,53方向に探索される。つまり、仮想点条件ライブ
ラリ36の内容により任意に設定された位置を始点とし
て、当該位置を必ず通過する配線経路が形成される。本
実施例では仮想点条件ライブラリ36の内容として、仮
想点20が最上位層に設定されるように定義されている
ので、そのような仮想点20を通過する配線経路の一部
は必ず半導体集積回路の最上位層に形成される。このた
め、半導体集積回路の配線層が現在の3層から4層に増
えた場合でも、配線補修の対象となり得る、若しくはそ
の可能性のある配線経路の一部を最上位層に形成するこ
とによって、最上位使用ネットの大幅な減少を回避する
ことができ、それによって配線補修の容易化を図ること
ができる。
After the virtual points are set as described above,
Although not particularly limited, according to a predetermined algorithm such as a maze method, which is a method of managing the availability of wiring on a wiring grid basis and searching a route from a start point to an end point by shifting one wiring grid in a predetermined direction, The virtual point is searched as the starting point of the wiring route search, and the wiring route is determined thereby. That is, according to the conventional technique, as shown in FIG. 4 (A), a search is performed while shifting one wiring grid from the terminal 51 as a starting point in the path from the terminal 51 to the terminals 52, 53, while In the embodiment method, the search start point is not used as a terminal, and the virtual point finally determined in step 39 is used as the search start point. Therefore, as shown in FIG. 60 to terminal 51 direction, terminal 5
Searched in 2,53 directions. In other words, a wiring route that surely passes through the position is formed with the position arbitrarily set by the contents of the virtual point condition library 36 as the starting point. In this embodiment, the virtual point condition library 36 is defined so that the virtual point 20 is set in the uppermost layer. Therefore, a part of the wiring route passing through the virtual point 20 is always integrated in the semiconductor. It is formed on the top layer of the circuit. Therefore, even if the number of wiring layers of the semiconductor integrated circuit is increased from the current three layers to four layers, by forming a part of the wiring route which may be the target of the wiring repair or may be the uppermost layer, Therefore, it is possible to avoid a large decrease in the number of nets used at the highest level, thereby facilitating the repair of wiring.

【0027】また、図5に示されるように、従来方式に
よる配線経路探索の始点を端子51とした場合の探索範
囲を、1辺の長さが2Rの正方形としたとき、当該正方
形71の面積は4R2(=2R×2R)とされるのに対
し、本実施例において仮想点60が図4(B)に示され
るように端子間中央に設定された場合の探索範囲は、1
辺の長さがRの正方形72となり、その正方形72の面
積はR2となるから、結果的に探索範囲は従来方式の場
合の1/4とされ、迷路法による配線経路形成処理時間
の短縮化を図ることができる。
Further, as shown in FIG. 5, when the starting point of the conventional wiring route search is the terminal 51 and the search range is a square having a side length of 2R, the area of the square 71 is increased. Is set to 4R 2 (= 2R × 2R), whereas the search range when the virtual point 60 is set at the center of the terminals as shown in FIG.
Since the square 72 has a side length of R, and the area of the square 72 is R 2 , the search range is consequently ¼ of that in the conventional method, and the wiring path formation processing time by the maze method is shortened. Can be promoted.

【0028】上記実施例によれば以下の作用効果が得ら
れる。
According to the above embodiment, the following operational effects can be obtained.

【0029】(1)仮想点60を未配線区間の任意位置
に設定し、設定された仮想点を配線経路探索の始点とし
て配線経路を決定することは、任意の点を通過する配線
経路の形成を可能とする。また、上記仮想点を最上位配
線層に設定することによって、最上位配線層を通過する
配線パターンを意識的に形成することができるので、多
層配線における配線補修の容易化を図ることができる。
(1) Setting the virtual point 60 at an arbitrary position in the unwired section and determining the wiring route with the set virtual point as the starting point of the wiring route search means forming a wiring route passing through the arbitrary point. Is possible. Further, by setting the virtual point in the uppermost wiring layer, the wiring pattern passing through the uppermost wiring layer can be intentionally formed, so that the wiring repair in the multilayer wiring can be facilitated.

【0030】(2)上記配線経路処理方法を利用して、
所要の端子を接続するための物理的な配線パターン情報
を得ることによって、上記(1)の作用効果を有する配
線経路処理システムを構成することができる。
(2) Utilizing the above wiring route processing method,
By obtaining the physical wiring pattern information for connecting the required terminals, it is possible to configure the wiring route processing system having the effect (1).

【0031】(3)回路ブロックの論理的な接続関係
と、その論理的な接続関係に基づいて決定された回路ブ
ロックの物理的なパターン配置結果と、半導体集積回路
のレイアウトルールと、仮想点設定のための条件ライブ
ラリとを入力し、設定された仮想点を配線経路探索の始
点として配線経路を決定することによって、上記(1)
の作用効果を有する配線経路処理システムを得ることが
できる。
(3) Logical connection relation of circuit blocks, physical pattern layout result of circuit blocks determined based on the logical connection relation, layout rule of semiconductor integrated circuit, and virtual point setting By inputting the condition library for, and determining the wiring route using the set virtual point as the starting point of the wiring route search.
It is possible to obtain a wiring route processing system having the effects of

【0032】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定
されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲におい
て種々変更可能であることは言うまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited thereto, and needless to say, various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Yes.

【0033】例えば、上記実施例では迷路法を採用する
ものについて説明したが、L字型のような予め決定され
ているパターン形状で端子間の接続を行うパターン限定
法や、探索の単位を配線格子に沿った線分とし、配線禁
止領域を迂回するように線分を縦横に延ばしながら配線
パターンを探索していくラインサーチ法などを採用する
こともできる。
For example, although the maze method is adopted in the above embodiment, a pattern limiting method for connecting terminals in a predetermined pattern shape such as an L-shape, or a search unit for wiring. It is also possible to adopt a line search method or the like in which line segments are arranged along a lattice, and the line patterns are searched while extending the line segments vertically and horizontally so as to bypass the wiring prohibited area.

【0034】上記実施例では探索の開始点を端子とはせ
ず、図1のステップ39で最終的に決定された仮想点が
探索の始点とされるようにしたが、仮想点条件ライブラ
リの内容を変更することによって、設定された仮想点を
中継点として通るように配線経路を決定することができ
る。例えばチップ内の配線混雑部の外側に当該混雑部を
避けるように仮想点を設定するようにすれば、当該混雑
部を回避するような配線経路が形成される。特に、配線
混雑部を回避して配線経路を形成したい場合に有効とさ
れる。また、中継点として複数個の仮想点を設定し、探
索において当該複数の仮想点のいずれか一つを通れば良
いようにすることができる。その場合、探索における目
的点が複数になるので、上記のように中継点として一つ
の仮想点を設定する場合に比して、探索における仮想点
到達の可能性を向上されることができる。
In the above embodiment, the search starting point is not a terminal but the virtual point finally determined in step 39 of FIG. 1 is set as the search starting point. By changing, it is possible to determine the wiring route so as to pass through the set virtual point as a relay point. For example, if a virtual point is set outside the congestion area in the chip to avoid the congestion area, a wiring path that avoids the congestion area is formed. In particular, it is effective when it is desired to form a wiring route while avoiding a wiring congestion portion. Further, it is possible to set a plurality of virtual points as relay points and pass any one of the plurality of virtual points in the search. In that case, since there are a plurality of destination points in the search, the possibility of reaching the virtual point in the search can be improved as compared with the case where one virtual point is set as the relay point as described above.

【0035】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である半導体
集積回路のレイアウト技術に適用した場合について説明
したが、本発明はそれに限定されるものではなく、実装
基板もしくは配線基板のための配線経路決定手法などに
も広く適用することができる。
In the above description, the case where the invention made by the present inventor is mainly applied to the layout technology of the semiconductor integrated circuit which is the background field of application has been described, but the present invention is not limited thereto. It can also be widely applied to a wiring route determination method for a mounting substrate or a wiring substrate.

【0036】本発明は、少なくとも端子を接続するため
の配線経路を決定する配線経路処理ステップを含むこと
を条件とするものに適用することができる。
The present invention can be applied to a device provided that it includes at least a wiring route processing step for determining a wiring route for connecting terminals.

【0037】[0037]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
の通りである。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0038】すなわち、仮想点を未配線区間の任意位置
に設定し、設定された仮想点を配線経路探索の始点とし
て、又は中継点として配線経路を決定することにより、
任意の点を通過する配線経路の形成が可能とされる。ま
たこのとき、仮想点を最上位配線層に設定することによ
って、最上位配線層を通過する配線パターンを意識的に
形成することができ、それによって、多層配線を採用す
る半導体集積回路における配線補修の容易を図ることが
できる。
That is, the virtual point is set at an arbitrary position in the unwired section, and the set virtual point is determined as the wiring path search starting point or the relay point to determine the wiring path.
It is possible to form a wiring path that passes through an arbitrary point. At this time, by setting the virtual point on the uppermost wiring layer, the wiring pattern passing through the uppermost wiring layer can be intentionally formed, and as a result, the wiring repair in the semiconductor integrated circuit adopting the multilayer wiring can be performed. Can be facilitated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例方法における仮想点決定のフ
ローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart of determining a virtual point in a method according to an embodiment of the present invention.

【図2】半導体集積回路の自動配置配線技術に本発明を
適用した場合の一実施例システム構成図である。
FIG. 2 is a system configuration diagram of an embodiment when the present invention is applied to an automatic placement and routing technique for a semiconductor integrated circuit.

【図3】上記一実施例スシステムで得られた配置配線結
果に従った半導体集積回路の概略一例平面図である。
FIG. 3 is a schematic plan view of an example of a semiconductor integrated circuit according to a placement and routing result obtained by the system according to the first embodiment.

【図4】迷路法を採用した場合の従来方式と本実施例方
式とのパターン比較説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of pattern comparison between the conventional method and the method of this embodiment when the maze method is adopted.

【図5】迷路法を採用した場合の従来方式と本実施例方
式との探索範囲の比較説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of comparison of search ranges between the conventional method and the present embodiment method when the maze method is adopted.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 自動配置システム 2 自動配線システム 3 論理ファイル 4 LSI構造ライブラリ 5 配置結果ファイル 6 配線結果ファイル 7 メインメモリ 10 半導体基板 11 外部電極 12 入出力バッファ回路 13 内部セル 14 第1層目配線 15 第2層目配線 16 第3層目配線 17 第4層目配線 18 スルーホール 19 スルーホール 20 スルーホール 51 端子 52 端子 53 端子 60 仮想点 1 Automatic Placement System 2 Automatic Wiring System 3 Logic File 4 LSI Structure Library 5 Placement Result File 6 Wiring Result File 7 Main Memory 10 Semiconductor Substrate 11 External Electrode 12 I / O Buffer Circuit 13 Internal Cell 14 First Layer Wiring 15 Second Layer Eye wiring 16 Third layer wiring 17 Fourth layer wiring 18 Through hole 19 Through hole 20 Through hole 51 terminal 52 terminal 53 terminal 60 Virtual point

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 端子を接続するための配線経路を決定す
る配線経路処理方法であって、仮想点を未配線区間の任
意位置に設定する第1ステップと、設定された仮想点を
配線経路探索の始点として配線経路を決定する第2ステ
ップとを含むことを特徴とする配線経路処理方法。
1. A wiring route processing method for determining a wiring route for connecting terminals, comprising: a first step of setting a virtual point at an arbitrary position in an unwired section; and a wiring route search for the set virtual point. And a second step of determining a wiring route as a starting point of the wiring route processing method.
【請求項2】 端子を接続するための配線経路を決定す
る配線経路処理方法であって、仮想点を未配線区間の任
意位置に設定する第1ステップと、設定された仮想点を
通るように配線経路を決定する第2ステップとを含むこ
とを特徴とする配線経路処理方法。
2. A wiring route processing method for determining a wiring route for connecting terminals, comprising: a first step of setting a virtual point at an arbitrary position in an unwired section, and passing through the set virtual point. And a second step of determining a wiring route.
【請求項3】 上記第1ステップは、上記仮想点の候補
点を決定するステップと、当該候補点が最上位配線層に
属するか否かをライブラリ情報に従って判定するステッ
プと、当該候補点の周囲が配線可能領域であるか否かを
判定するステップとを含む請求項1又は2記載の配線経
路処理方法。
3. The first step comprises: determining a candidate point of the virtual point; determining whether the candidate point belongs to the uppermost wiring layer according to library information; and surrounding the candidate point. 3. The wiring route processing method according to claim 1, further comprising a step of determining whether or not the wiring path is a wirable area.
【請求項4】 請求項1,2又は3記載の配線経路処理
方法を利用して、所要の端子を接続するための物理的な
配線パターン情報を得る配線経路処理システム。
4. A wiring route processing system for obtaining physical wiring pattern information for connecting a required terminal by using the wiring route processing method according to claim 1, 2.
【請求項5】 回路ブロックの論理的な接続関係と、そ
の論理的な接続関係に基づいて決定された回路ブロック
の物理的なパターン配置結果と、半導体集積回路のレイ
アウトルールと、仮想点設定のための条件ライブラリと
が入力されるとき、設定された仮想点を配線経路探索の
始点として配線経路を決定することによって、回路ブロ
ックの端子を接続するための物理的な配線パターン情報
を出力する配線経路処理システム。
5. A logical connection relationship between circuit blocks, a physical pattern layout result of the circuit blocks determined based on the logical connection relationship, a layout rule of the semiconductor integrated circuit, and virtual point setting. And a condition library for inputting, the wiring that outputs the physical wiring pattern information for connecting the terminals of the circuit block by determining the wiring path using the set virtual point as the starting point of the wiring path search. Route processing system.
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