JPH05258349A - 光ディスクの基板 - Google Patents
光ディスクの基板Info
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- JPH05258349A JPH05258349A JP4041392A JP4139292A JPH05258349A JP H05258349 A JPH05258349 A JP H05258349A JP 4041392 A JP4041392 A JP 4041392A JP 4139292 A JP4139292 A JP 4139292A JP H05258349 A JPH05258349 A JP H05258349A
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- Japan
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- film
- substrate
- optical disc
- hard coat
- resin
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＩＳＯ規格を越えるような厳しい環境下にお
いても反り角の変動が少なく、信頼性の高い光ディスク
を提供することにある。 【構成】 一面に情報が記録される単板仕様の光ディス
クの基板であって、この基板を構成する樹脂材料の吸水
率が０．０１％以下のものである光ディスクの基板。
いても反り角の変動が少なく、信頼性の高い光ディスク
を提供することにある。 【構成】 一面に情報が記録される単板仕様の光ディス
クの基板であって、この基板を構成する樹脂材料の吸水
率が０．０１％以下のものである光ディスクの基板。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばＣＤ、ＣＤ−Ｒ
ＯＭあるいは３．５インチの光磁気ディスクのような単
板仕様の光ディスクの基板に関するものである。
ＯＭあるいは３．５インチの光磁気ディスクのような単
板仕様の光ディスクの基板に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光記録媒体（光ディスク）は、ＩＳＯ規
格で定められているように基準面からの反り角が±５ｍ
ｒａｄの範囲内であるように作製されている。尚、この
値は、基板材料としてガラスが使用されている場合には
問題が起きていないのであるが、基板材料としてポリカ
ーボネート樹脂やアクリル樹脂等の有機樹脂材料が用い
られた場合、基板上に光磁気記録膜、光磁気記録膜を保
護する紫外線硬化型の有機保護膜、基板表面の傷付きを
防止する為のハードコート膜、除塵の為の帯電防止コー
ト膜などのような種々の膜が設けられると、この段階で
は樹脂基板単体での反り角が維持できておらず、大きな
ものとなっている。
格で定められているように基準面からの反り角が±５ｍ
ｒａｄの範囲内であるように作製されている。尚、この
値は、基板材料としてガラスが使用されている場合には
問題が起きていないのであるが、基板材料としてポリカ
ーボネート樹脂やアクリル樹脂等の有機樹脂材料が用い
られた場合、基板上に光磁気記録膜、光磁気記録膜を保
護する紫外線硬化型の有機保護膜、基板表面の傷付きを
防止する為のハードコート膜、除塵の為の帯電防止コー
ト膜などのような種々の膜が設けられると、この段階で
は樹脂基板単体での反り角が維持できておらず、大きな
ものとなっている。
【０００３】この為、上記のような膜を設けた場合の反
り量を予め予測しておき、そして予め基板に逆方向の反
りを形成しておいて相殺するようにしたり、各膜の成膜
プロセスで反りを制御しながら最終的に±５ｍｒａｄの
光ディスクを製造しているのが現状である。
り量を予め予測しておき、そして予め基板に逆方向の反
りを形成しておいて相殺するようにしたり、各膜の成膜
プロセスで反りを制御しながら最終的に±５ｍｒａｄの
光ディスクを製造しているのが現状である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の方法
で作製された光ディスクは、すなわち樹脂を基板材とし
て用いた場合の光ディスク、特に、片面の表面側には光
磁気記録膜が設けられ、他面の表面側は樹脂基板である
といった単板仕様の光ディスクの場合には、両面に光磁
気記録膜が設けられている場合のものに比べて反りが著
しく大きいものであった。
で作製された光ディスクは、すなわち樹脂を基板材とし
て用いた場合の光ディスク、特に、片面の表面側には光
磁気記録膜が設けられ、他面の表面側は樹脂基板である
といった単板仕様の光ディスクの場合には、両面に光磁
気記録膜が設けられている場合のものに比べて反りが著
しく大きいものであった。
【０００５】例えば、３．５インチの光ディスクにあっ
ては、ＩＳＯ規格では光ディスクの動作環境が温度１０
℃〜５０℃、相対湿度１０％〜８０％（温湿度勾配１０
℃／ｈ，１０％／ｈ）と規定されており、このような条
件下でも±５ｍｒａｄの範囲に反り角を収める為には、
温度２０℃、相対湿度５０％の環境下で光ディスクの反
りを±２ｍｒａｄ以内の反り角に収める必要がある。し
かしながら、このようなＩＳＯ規格を満足する光ディス
クであっても、例えば熱帯のような高温多湿下において
光ディスクを運搬した後、冷房・除湿の効いた室内に持
ち込まれて使用される場合、あるいは厳寒の中を運搬し
た後、空調の効いた室内に持ち込まれて使用される場合
といったように、温湿度勾配１０℃／ｈ，１０％／ｈを
越えた環境下での使用が充分に有り、このような環境下
では反り角が増大し、ドライブのトラッキングやフォー
カシングサーボのエラーを起こし、読み取り・書き込み
エラーに至ることが有った。
ては、ＩＳＯ規格では光ディスクの動作環境が温度１０
℃〜５０℃、相対湿度１０％〜８０％（温湿度勾配１０
℃／ｈ，１０％／ｈ）と規定されており、このような条
件下でも±５ｍｒａｄの範囲に反り角を収める為には、
温度２０℃、相対湿度５０％の環境下で光ディスクの反
りを±２ｍｒａｄ以内の反り角に収める必要がある。し
かしながら、このようなＩＳＯ規格を満足する光ディス
クであっても、例えば熱帯のような高温多湿下において
光ディスクを運搬した後、冷房・除湿の効いた室内に持
ち込まれて使用される場合、あるいは厳寒の中を運搬し
た後、空調の効いた室内に持ち込まれて使用される場合
といったように、温湿度勾配１０℃／ｈ，１０％／ｈを
越えた環境下での使用が充分に有り、このような環境下
では反り角が増大し、ドライブのトラッキングやフォー
カシングサーボのエラーを起こし、読み取り・書き込み
エラーに至ることが有った。
【０００６】そして、このような読み取り・書き込みエ
ラーは、前記したような片面の表面側には光磁気記録膜
が設けられ、他面の表面側は樹脂基板であるといった単
板仕様の光ディスクの場合に一層大きなものであった。
従って、本発明の目的は、ＩＳＯ規格を越えるような厳
しい環境下においても反り角の変動が少なく、信頼性の
高い光ディスクを提供することにある。
ラーは、前記したような片面の表面側には光磁気記録膜
が設けられ、他面の表面側は樹脂基板であるといった単
板仕様の光ディスクの場合に一層大きなものであった。
従って、本発明の目的は、ＩＳＯ規格を越えるような厳
しい環境下においても反り角の変動が少なく、信頼性の
高い光ディスクを提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記の問題点を解決する
為に、本発明者により鋭意研究が押し進められた結果、
環境変化（温・湿度変化）による光ディスクの反り角の
変動の原因は、単板仕様の光ディスクにおける両面の物
性が大幅に異なるからであることが究明された。すなわ
ち、光ディスクの両面側からの吸水・放水速度の差に起
因し、光ディスクの反り角の変動が大きなことが究明さ
れた。つまり、光ディスクの片面には無機材料からなる
光磁気記録膜が設けられており、他面は有機樹脂からな
る基板が暴露されていることから、吸湿過程では両面側
からの吸湿量に差が出来（ディスクの基板面側は光磁気
記録膜面側より多量の水分を吸収・膨張）、基板面が凸
になる方向に反り角が増大し、反り角は時間経過と共に
極大を示し、その後減少初期の値に戻る。これは、吸水
が飽和に達し、全体が均一に膨張した為である。又、乾
燥過程も同様で、膨潤したディスクの基板両側から放水
が起こり、ディスクは基板面が凹の方向に反り角の極大
を示し、やがて初期の値に戻ることが究明されたのであ
る。
為に、本発明者により鋭意研究が押し進められた結果、
環境変化（温・湿度変化）による光ディスクの反り角の
変動の原因は、単板仕様の光ディスクにおける両面の物
性が大幅に異なるからであることが究明された。すなわ
ち、光ディスクの両面側からの吸水・放水速度の差に起
因し、光ディスクの反り角の変動が大きなことが究明さ
れた。つまり、光ディスクの片面には無機材料からなる
光磁気記録膜が設けられており、他面は有機樹脂からな
る基板が暴露されていることから、吸湿過程では両面側
からの吸湿量に差が出来（ディスクの基板面側は光磁気
記録膜面側より多量の水分を吸収・膨張）、基板面が凸
になる方向に反り角が増大し、反り角は時間経過と共に
極大を示し、その後減少初期の値に戻る。これは、吸水
が飽和に達し、全体が均一に膨張した為である。又、乾
燥過程も同様で、膨潤したディスクの基板両側から放水
が起こり、ディスクは基板面が凹の方向に反り角の極大
を示し、やがて初期の値に戻ることが究明されたのであ
る。
【０００８】このような知見を基にして、さらなる研究
が押し進められて行った結果、すなわち吸水率が異なる
樹脂材料を用いて基板を作製し、そして光ディスクを作
製し、ＩＳＯ規格を越えるような厳しい温湿度環境下に
おいての記録・再生を試み、検討した処、基板の樹脂材
料の吸水率が０．０１％以下のものを用いた場合には非
常に信頼性が高いものであった。
が押し進められて行った結果、すなわち吸水率が異なる
樹脂材料を用いて基板を作製し、そして光ディスクを作
製し、ＩＳＯ規格を越えるような厳しい温湿度環境下に
おいての記録・再生を試み、検討した処、基板の樹脂材
料の吸水率が０．０１％以下のものを用いた場合には非
常に信頼性が高いものであった。
【０００９】このような知見から本願発明が達成された
ものであり、前記本願発明の目的は、一面に情報が記録
される単板仕様の光ディスクの基板であって、この基板
を構成する樹脂材料の吸水率が０．０１％以下のもので
あることを特徴とする光ディスクの基板によって達成さ
れる。そして、このような特性の透明基板の一面上に、
窒化シリコンなどからなる誘電体保護膜、希土類遷移金
属などからなる記録膜、窒化シリコンなどからなる誘電
体保護膜、アルミニウム合金などからなる金属反射膜を
蒸着やスパッタ手段などの薄膜形成手段で成膜し、さら
に必要に応じてその上にハードコート膜をスピンコート
法などで設けると共に、透明基板の他面側にもハードコ
ート膜を設けることによって本発明になる光ディスクが
得られる。
ものであり、前記本願発明の目的は、一面に情報が記録
される単板仕様の光ディスクの基板であって、この基板
を構成する樹脂材料の吸水率が０．０１％以下のもので
あることを特徴とする光ディスクの基板によって達成さ
れる。そして、このような特性の透明基板の一面上に、
窒化シリコンなどからなる誘電体保護膜、希土類遷移金
属などからなる記録膜、窒化シリコンなどからなる誘電
体保護膜、アルミニウム合金などからなる金属反射膜を
蒸着やスパッタ手段などの薄膜形成手段で成膜し、さら
に必要に応じてその上にハードコート膜をスピンコート
法などで設けると共に、透明基板の他面側にもハードコ
ート膜を設けることによって本発明になる光ディスクが
得られる。
【００１０】このように構成された光ディスクは、温度
２０℃、相対湿度５０％の環境下での反り角が±２ｍｒ
ａｄ以内のものであった。そして、ドライブのトラッキ
ングやフォーカシングサーボのエラーが起き難く、読み
取り・書き込みエラーが起き難いものである。本発明の
光ディスクの基板は、吸水率が０．０１％以下のもので
あれば良く、このようなものとして、例えばポリオレフ
ィン系の樹脂やポリメチルペンテン系の樹脂などが挙げ
られる。そして、このような樹脂材料が用いられた場合
には、カレンダリング法、射出成形法、射出圧縮成形
法、圧縮成形法、フォトポリマー法（２Ｐ法）などが利
用できるから好ましい。
２０℃、相対湿度５０％の環境下での反り角が±２ｍｒ
ａｄ以内のものであった。そして、ドライブのトラッキ
ングやフォーカシングサーボのエラーが起き難く、読み
取り・書き込みエラーが起き難いものである。本発明の
光ディスクの基板は、吸水率が０．０１％以下のもので
あれば良く、このようなものとして、例えばポリオレフ
ィン系の樹脂やポリメチルペンテン系の樹脂などが挙げ
られる。そして、このような樹脂材料が用いられた場合
には、カレンダリング法、射出成形法、射出圧縮成形
法、圧縮成形法、フォトポリマー法（２Ｐ法）などが利
用できるから好ましい。
【００１１】光ディスクの基板面上に設けられる記録層
としては、記録膜単層、記録膜／保護膜、保護膜／記録
膜／保護膜、保護膜／記録膜／保護膜／反射膜などが挙
げられる。記録膜を構成する材料としては、ＴｂＦｅＣ
ｏなどの光磁気記録材料などが挙げられる。保護膜を構
成する材料としては誘電体などが用いられ、反射膜を構
成する材料としてはアルミニウム、アルミニウム合金な
どが用いられる。
としては、記録膜単層、記録膜／保護膜、保護膜／記録
膜／保護膜、保護膜／記録膜／保護膜／反射膜などが挙
げられる。記録膜を構成する材料としては、ＴｂＦｅＣ
ｏなどの光磁気記録材料などが挙げられる。保護膜を構
成する材料としては誘電体などが用いられ、反射膜を構
成する材料としてはアルミニウム、アルミニウム合金な
どが用いられる。
【００１２】記録層上に設けられるハードコート膜やハ
ードコート膜は、例えばトリメチロールプロパントリ
（メタ）アクリレート、ペンタエリスリトールトリ（メ
タ）アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ（メ
タ）アクリレート、ペンタグリセロールトリ（メタ）ア
クリレート、グリセリントリ（メタ）アクリレート、ジ
ペンタエリスリトールトリ（メタ）アクリレート、ジペ
ンタエリスリトールテトラ（メタ）アクリレート、ジペ
ンタエリスリトールペンタ（メタ）アクリレート、ジペ
ンタエリスリトールヘキサ（メタ）アクリレート等の多
価アルコールのポリ（メタ）アクリレート、ポリイソシ
アネート１分子当り３モル以上の水酸基を有する（メ
タ）アクリルモノマーとの生成物であるウレタンアクリ
レート等の紫外線硬化型樹脂、熱硬化型樹脂、電子線硬
化型樹脂などが用いられる。
ードコート膜は、例えばトリメチロールプロパントリ
（メタ）アクリレート、ペンタエリスリトールトリ（メ
タ）アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ（メ
タ）アクリレート、ペンタグリセロールトリ（メタ）ア
クリレート、グリセリントリ（メタ）アクリレート、ジ
ペンタエリスリトールトリ（メタ）アクリレート、ジペ
ンタエリスリトールテトラ（メタ）アクリレート、ジペ
ンタエリスリトールペンタ（メタ）アクリレート、ジペ
ンタエリスリトールヘキサ（メタ）アクリレート等の多
価アルコールのポリ（メタ）アクリレート、ポリイソシ
アネート１分子当り３モル以上の水酸基を有する（メ
タ）アクリルモノマーとの生成物であるウレタンアクリ
レート等の紫外線硬化型樹脂、熱硬化型樹脂、電子線硬
化型樹脂などが用いられる。
【００１３】以下、本発明について実施例を挙げて具体
的に説明するが、本発明はこれに限られるものではな
い。
的に説明するが、本発明はこれに限られるものではな
い。
【００１４】
〔実施例１〕外径８６ｍｍ、内径１５ｍｍのゼオネック
ス２８０（日本ゼオン社）製φ３．５インチ基板１を射
出成形により作製した。尚、この基板樹脂の吸水率は
０．０１％以下（測定方法：ＡＳＴＭ Ｄ５７０）であ
った。
ス２８０（日本ゼオン社）製φ３．５インチ基板１を射
出成形により作製した。尚、この基板樹脂の吸水率は
０．０１％以下（測定方法：ＡＳＴＭ Ｄ５７０）であ
った。
【００１５】この基板に、図１に示す如く、各種の膜を
設けた。すなわち、信号面に１１００Å厚のＳｉＮの誘
電体膜２、２５０Å厚のＴｂＦｅＣｒ膜３、４００Å厚
のＳｉＮの誘電体膜４、５００Å厚のＡｌの反射膜５を
スパッタリングにより成膜し、そして反射膜５の上に約
１０μｍの紫外線硬化型のアクリル系樹脂を塗布し、硬
化膜６を設けた。又、信号面と反対面に紫外線硬化型の
塗料を約５μｍ塗布し、ハードコート膜７を設けた。
設けた。すなわち、信号面に１１００Å厚のＳｉＮの誘
電体膜２、２５０Å厚のＴｂＦｅＣｒ膜３、４００Å厚
のＳｉＮの誘電体膜４、５００Å厚のＡｌの反射膜５を
スパッタリングにより成膜し、そして反射膜５の上に約
１０μｍの紫外線硬化型のアクリル系樹脂を塗布し、硬
化膜６を設けた。又、信号面と反対面に紫外線硬化型の
塗料を約５μｍ塗布し、ハードコート膜７を設けた。
【００１６】上記のように構成させた光ディスクを、温
度５℃、相対湿度４０％の恒温恒湿槽に４８時間以上放
置し、充分に乾燥させ、その後急激に温度５０℃、相対
湿度８５％の恒温恒湿槽へ光ディスクを移し、この光デ
ィスクの反り角の経時変化を調べたので、その結果を図
２に示す。又、温度５０℃、相対湿度８５％の恒温恒湿
槽で４８時間以上放置した後、直ちに温度５℃、相対湿
度４０％の恒温恒湿槽へ移し、光ディスクの反り角の経
時変化を調べたので、その結果を図３に示す。
度５℃、相対湿度４０％の恒温恒湿槽に４８時間以上放
置し、充分に乾燥させ、その後急激に温度５０℃、相対
湿度８５％の恒温恒湿槽へ光ディスクを移し、この光デ
ィスクの反り角の経時変化を調べたので、その結果を図
２に示す。又、温度５０℃、相対湿度８５％の恒温恒湿
槽で４８時間以上放置した後、直ちに温度５℃、相対湿
度４０％の恒温恒湿槽へ移し、光ディスクの反り角の経
時変化を調べたので、その結果を図３に示す。
【００１７】これによれば、本発明になる光ディスクの
反り角の変化は小さく、従って記録再生に際してのトラ
ッキングやフォーカシングサーボのエラーが起きにく
く、読み取り・書き込みエラーの少ないことが予想され
る。 〔比較例１〕外径８６ｍｍ、内径１５ｍｍのポリカーボ
ネート製φ３．５インチ基板を射出成形により作製し
た。尚、この基板樹脂の吸水率は０．２％（測定方法：
ＡＳＴＭ Ｄ５７０）であった。
反り角の変化は小さく、従って記録再生に際してのトラ
ッキングやフォーカシングサーボのエラーが起きにく
く、読み取り・書き込みエラーの少ないことが予想され
る。 〔比較例１〕外径８６ｍｍ、内径１５ｍｍのポリカーボ
ネート製φ３．５インチ基板を射出成形により作製し
た。尚、この基板樹脂の吸水率は０．２％（測定方法：
ＡＳＴＭ Ｄ５７０）であった。
【００１８】この基板に実施例１と同様な各種の膜を設
けた。そして、実施例１と同様にして光ディスクの反り
角の経時変化を調べたので、その結果を図２及び図３に
示す。これによれば、比較例になる光ディスクの反り角
の変化は大きく、従って記録再生に際してのトラッキン
グやフォーカシングサーボのエラーが起き易く、読み取
り・書き込みエラーの多いことが予想される。
けた。そして、実施例１と同様にして光ディスクの反り
角の経時変化を調べたので、その結果を図２及び図３に
示す。これによれば、比較例になる光ディスクの反り角
の変化は大きく、従って記録再生に際してのトラッキン
グやフォーカシングサーボのエラーが起き易く、読み取
り・書き込みエラーの多いことが予想される。
【００１９】
【効果】本発明によれば、ＩＳＯ規格を越えるような厳
しい環境条件下でも光ディスクに反りが起きにくく、非
常に信頼性の高いものが得られる。
しい環境条件下でも光ディスクに反りが起きにくく、非
常に信頼性の高いものが得られる。
【００２０】
【００２１】
【図１】光ディスクの一部の断面図である。
【００２２】
【図２】光ディスクの反り角の変化を示すグラフであ
る。
る。
【００２３】
【図３】光ディスクの反り角の変化を示すグラフであ
る。
る。
【００２４】
１ 基板 ２，４ 誘電体膜 ３ ＴｂＦｅＣｒ膜 ５ 反射膜 ６ 硬化膜 ７ ハードコート膜
Claims (1)
- 【請求項１】 一面に情報が記録される単板仕様の光デ
ィスクの基板であって、この基板を構成する樹脂材料の
吸水率が０．０１％以下のものであることを特徴とする
光ディスクの基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4041392A JPH05258349A (ja) | 1992-02-27 | 1992-02-27 | 光ディスクの基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4041392A JPH05258349A (ja) | 1992-02-27 | 1992-02-27 | 光ディスクの基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05258349A true JPH05258349A (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=12607106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4041392A Pending JPH05258349A (ja) | 1992-02-27 | 1992-02-27 | 光ディスクの基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05258349A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1296123C (zh) * | 2000-09-13 | 2007-01-24 | 科赫薄膜系统有限公司 | 用于水处理的薄膜过滤器 |
| US7706240B2 (en) | 2003-01-30 | 2010-04-27 | Toppan Printing Co., Ltd. | Optical disk and its manufacturing method |
| US8012560B2 (en) | 2004-04-14 | 2011-09-06 | Toppan Printing Co., Ltd. | Optical disc and method of manufacturing same |
-
1992
- 1992-02-27 JP JP4041392A patent/JPH05258349A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1296123C (zh) * | 2000-09-13 | 2007-01-24 | 科赫薄膜系统有限公司 | 用于水处理的薄膜过滤器 |
| US7706240B2 (en) | 2003-01-30 | 2010-04-27 | Toppan Printing Co., Ltd. | Optical disk and its manufacturing method |
| US8012560B2 (en) | 2004-04-14 | 2011-09-06 | Toppan Printing Co., Ltd. | Optical disc and method of manufacturing same |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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