JPH05253219A - Ｘ線装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】撮影距離に応じて撮影条件を補正するようにな
されたＸ線装置において、超音波距離計を使用した撮影
距離の測定精度を高め、撮影像の質の向上を図る。 【構成】撮影距離を測定する超音波距離計を、超音波振
動子の発射用又は受波用のどちらか一方（４又は８ａ）
をＸ線源２側に配し、他方（８ａ又は４）を移動型とし
てＸ線源２からの距離を測定したい位置におき、発射用
振動子４から発せられた超音波５を反射させることなく
受波用振動子８ａで直接受波できる構成とし、超音波発
射から受波までの時間により発射用振動子４から受波用
振動子８ａまでの距離（撮影距離）を測定する構成とす
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線源と被写体又は受
像面までの距離（撮影距離）を超音波距離計で測定し、
その距離に応じて撮影条件（ＫＶやｍＡｓなど）を補正
するようになされたＸ線装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来のこの種のＸ線装置の超音波距離計
は、超音波を発する振動子（超音波発射用振動子）と反
射波を受ける振動子（超音波反射波受波用振動子）とを
Ｘ線管の近傍に隣接配置し、発射用振動子から被写体又
は受像面に向けて発射された超音波がその被写体又は受
像面で反射し、再びＸ線管近傍位置まで戻ったところを
反射波受波用振動子で受波する構成となっていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、被
写体又は受像面（特に被写体）の、超音波を反射させる
面の向きや反射面の状態で反射率や反射方向が変化し、
また、超音波が発射されるビーム角が５〜３０度と比較
的広く、したがって被写体に超音波が当たる面積、すな
わち、反射波受波用振動子から見ての反射波が返ってく
る方向が広く、距離測定値に誤差が生じやすい。このた
め、撮影条件の補正を誤らせることとなり、撮影像の質
を低下させるという問題点があった。

【０００４】本発明の目的は、超音波距離計を使用した
撮影距離の測定精度を高め、撮影像の質を向上するよう
にしたＸ線装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的は、予め設定さ
れた撮影条件を、Ｘ線源から被写体又は受像面までの実
測距離に応じて補正するために超音波距離計を備えたＸ
線装置において、上記超音波距離計は、一方の超音波振
動子から発せられた超音波が、他方の超音波振動子に達
するまでの時間を測って、上記両振動子間の超音波経路
の距離を測定する超音波距離計で、上記一方の超音波振
動子は上記Ｘ線源近傍に配置され、他方の超音波振動子
は上記被写体又は受像面の任意の位置に移動可能になさ
れ、超音波発射側の超音波振動子からの超音波を受波側
の超音波振動子で直接受波可能としたことにより達成さ
れる。

【０００６】

【作用】上記超音波発射側の振動子から発せられた超音
波は、被写体又は受像面などで反射することなく直接に
受波側の振動子に至るため、反射による超音波の減衰が
なく、反射による超音波発射側の振動子から受波側の振
動子に至る経路の多重性がなく、また、超音波発射側の
振動子から受波側の振動子に至る経路長が、従来の反射
型に比べ２分の１になるため、超音波の拡散による減衰
がおおよそ４分の１になり、それだけＳ／Ｎ比がよくな
って距離の測定精度が向上する。これにより、撮影距離
の測定精度が高められ、撮影像の質が向上されることに
なる。

【０００７】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図１は、本発明によるＸ線装置の一実施例を示す
概略構成図である。この図１において、１はチューブヘ
ッドケース、２はＸ線管、３は超音波距離計本体（超音
波発振器、超音波打出し回路及び受波増幅器などからな
る）、４は超音波発射用振動子、５は超音波、６はＸ
線、７はケーブル、８ａは受波用振動子、８ｂは受波用
振動子ケース、９は被写体、１０はＸ線撮影フィルムな
どの受像面である。なお、図１において超音波距離計
は、超音波距離計本体３、超音波発射用振動子４、ケー
ブル７及び受波用振動子８ａ，受波用振動子ケース８ｂ
を備えて構成されている。

【０００８】図１に示するように、Ｘ線管２と超音波発
射用振動子４が隣接して配置され、超音波距離計本体３
と共に、チューブヘッドケース１に納められている。上
記振動子４から発せられた超音波５は、Ｘ線６とほぼ平
行した経路を通って受波用振動子ケース８ｂに納められ
ている受波用振動子８ａに達する。

【０００９】受波用振動子８ａで受波された超音波は、
電気信号となって超音波距離計本体３の受波増幅器で増
幅された後、超音波発射時間からの遅延時間が計測され
る。この遅延時間により、Ｘ線源と被写体９又は受像面
１０（ここでは被写体９）までの距離（撮影距離）が測
定される。

【００１０】図２は本発明装置で使用される超音波距離
計の具体例を示すブロック図である。この図２におい
て、発振器２１は、発射された超音波５が受波されるま
でに要する時間より十分長い時間間隔でパルスを発生さ
せている。そしてこのパルスは、超音波打出し回路２２
に加えられると同時にフリップフロップ２３をセット
し、フリップフロップ２３の出力をオンの状態にセット
する。

【００１１】超音波打出し回路２２は、上記パルスに同
期して、１波から数波長の超音波発生信号を出力し、こ
れを超音波発射用振動子４に加える。これにより超音波
発射用振動子４は超音波５を発射する。

【００１２】超音波受波用振動子８ａに達した超音波５
は、その振動子８ａを振動させる。この振動が電気信号
となって受波増幅器２４で増幅され、上記フリップフロ
ップ２３をリセットし、その出力をオフの状態に戻す。

【００１３】発振器２５は、数百ＫＨｚの連続波を発生
している。ＡＮＤ回路２６は、上記フリップフロップ２
３の出力がオンになっている間だけ、発振器２５の発振
信号を通し、カウンタ２７に入力させる。カウンタ２７
は、ＡＮＤ回路２６からの波の数を数える。

【００１４】カウンタ２７のカウント値は、超音波発射
用振動子４から超音波が発射された後、その超音波が受
波用振動子８ａに達するまでに要した時間に対応してお
り、このカウント値に上記超音波の音速を掛算器２８で
掛け合わせることにより、発射用振動子４から受波用振
動子８ａまでの距離（撮影距離）を測定することができ
る。なお、図２の各部の信号波形を図３に示しておく。

【００１５】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、超
音波距離計を使用した撮影距離の測定精度を高め、撮影
像の質を向上することができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるＸ線装置の一実施例を示す概略構
成図である。

【図２】本発明装置で使用される超音波距離計の具体例
を示すブロック図である。

【図３】図２の各部の信号波形を示す図である。

【符号の説明】

２ Ｘ線管 ３ 超音波距離計本体 ４ 超音波発射用振動子 ５ 超音波 ６ Ｘ線 ８ａ 受波用振動子 ９ 被写体 １０ 受像面

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】予め設定された撮影条件を、Ｘ線源から被
   写体又は受像面までの実測距離に応じて補正するために
   超音波距離計を備えたＸ線装置において、上記超音波距
   離計は、一方の超音波振動子から発せられた超音波が、
   他方の超音波振動子に達するまでの時間を測って、上記
   両振動子間の超音波経路の距離を測定する超音波距離計
   で、上記一方の超音波振動子は上記Ｘ線源近傍に配置さ
   れ、他方の超音波振動子は上記被写体又は受像面の任意
   の位置に移動可能になされ、超音波発射側の超音波振動
   子からの超音波を受波側の超音波振動子で直接受波可能
   としたことを特徴とするＸ線装置。