JP2000171232A - 超音波計測装置 - Google Patents

超音波計測装置

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JP2000171232A
JP2000171232A JP10344426A JP34442698A JP2000171232A JP 2000171232 A JP2000171232 A JP 2000171232A JP 10344426 A JP10344426 A JP 10344426A JP 34442698 A JP34442698 A JP 34442698A JP 2000171232 A JP2000171232 A JP 2000171232A
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pressure wave
propagation time
pressure
ultrasonic
measured
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Atsushi Chihoshi
淳 千星
Makoto Ochiai
誠 落合
Shigeru Kanemoto
茂 兼本
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Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 計測対象の位置および形状を圧力波によって
非接触で精度よく測定すると共に、同時に圧力波の発生
位置および圧力波の伝播する空間の温度分布をも非接触
で精度よく測定する。 【解決手段】 計測対象の表面1の既知の複数位置に圧
力波発生装置2で圧力波5を発生させ、該各発生位置か
ら伝播される各圧力波5を未知の位置に設置して移動可
能にされた圧力波検出装置6によって個別に検出する。
また、各圧力波5の伝播時間を伝播時間測定装置7,8
を用いて測定した後、各伝播時間に基づいて、演算装置
9によって圧力波検出装置6の設定位置を算出し、これ
によって未知であった圧力波検出装置6の設定位置なら
びに移動位置を測定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、計測対象の表面に
対する超音波の送波、および該表面から反射される圧力
波の圧力波検出装置による受波を利用して、計測対象の
位置および形状、圧力波検出装置の位置、ないしは圧力
波の伝播空間の温度分布を計測するための超音波計測装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、この種の計測対象として距離
の検出手段には、超音波距離計やレーザー距離計(レー
ザーレンジファインダー)などが用いられている。
【0003】まず、前者の超音波距離計による距離の検
出ついて説明する。この超音波距離計は、超音波の送受
波を利用するもので、超音波発振器から計測対象に対し
て超音波を照射(送波)すると共に、該計測対象からの
反射圧力波を超音波検出器によって検出(受波)するこ
とにより、計測対象までの超音波の往復に要した経過時
間、つまり、伝播時間(TOF:Time of Flight)を基
準にとり、計測対象までの距離を計測するようにしてい
る。
【0004】具体的には、例えば、図7に示すように、
発振器/検出器を兼ねたトランスデューサーを用いるの
が一般的である。
【0005】すなわち、図7を参照して、トランスデュ
ーサー6からは、まず、トリガー信号により、計測対象
に向けて超音波信号13aを放射する。該超音波信号1
3aは、計測対象の表面1で反射され、この反射波信号
13bがトランスデューサー6によって検出される。つ
いで、該検出信号は、A/D変換器7、信号処理装置8
を経た後、ディジタル計算機10により、その放射から
検出までの伝播時間が演算され、該伝播時間を基にして
表面1、ひいては所要の計測対象までの距離が測定され
るのである。
【0006】図8には、上記トリガー信号と反射波信号
(受波信号)13bとの関係の一例を示す。ここで、計
測対象の表面1に対する超音波の伝播時間は、該図8に
おけるトリガー信号の立ち上りと受波信号の立ち上がり
との間の経過時間tTOF に相当する。従って、計測対象
の表面1とトランスデューサー6間に介在される伝播媒
質、例えば、この場合には、空間中での超音波の伝播速
度vをあらかじめ確認しておくことにより、この計測対
象の表面1とトランスデューサー6間の距離Lは、 2L=v×tTOF であるから、 L=v×tTOF /2 として求めることができる。
【0007】また、後者のレーザー距離計による距離の
検出ついては、上記超音波に代えてレーザー光を送受信
することでTOFを求め、これによって計測対象までの
距離を測定するものである。
【0008】一方、計測対象の表面形状を計測する装置
としては、レーザーのスリット光を該計測対象の表面に
照射して反射光を複眼のCCDカメラに入射させ、その
視差から3次元形状を計測するものがある。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の超音波距離計の場合には、超音波を発振させる
ためのインピーダンスなどの関係から、比較的低周波の
超音波を用いなければならず、この結果、検出器で検出
される反射波信号の立ち上がりがゆるやかであって、そ
の立ち上がり点を正確に捉えることが困難である。一
方、放射される超音波の広がりもまた大きく、複雑な表
面形状を有する計測対象にあっては、同様に正確な距離
を求めることができない。
【0010】また、レーザー距離計においては、そのレ
ーザー光自体が光速度であるので、特に計測対象の表面
に対して近距離で適用する場合、そのTOFが非常に短
くて時間管理が極めて困難である。
【0011】さらに、CCDカメラの視差によって計測
対象の3次元形状を計測する装置では、照明光による影
響が大きく、その使用環境に厳しい条件が必要になるも
のであった。
【0012】従って、本発明の目的とするところは、計
測対象としての任意の物体の位置および形状を圧力波に
よって非接触で精度よく測定できるようにし、また、同
時に圧力波の発生位置および圧力波の伝播する空間の温
度分布をも非接触で精度よく測定できるようにした超音
波計測装置を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の請求項1に記載の超音波計測装置は、計測
対象の既知の複数位置に圧力波を発生させる圧力波発生
装置と、前記各圧力波の発生位置に対向する未知の位置
に設置して移動可能にされ、該各発生位置から伝播され
る各圧力波を個別に検出する圧力波検出装置と、前記検
出される各圧力波の伝播時間をそれぞれに測定する伝播
時間測定装置と、前記測定される各伝播時間によって前
記圧力波検出装置の設置位置ならびに移動位置を算出す
る演算装置とを備えることを特徴としている。
【0014】本請求項1の超音波計測装置では、圧力波
発生装置を用いて、計測対象の既知の複数位置に圧力波
を発生させ、該各発生位置から伝播される各圧力波が未
知の位置に設置して移動可能にされた圧力波検出装置で
個別に検出される。また、これらの各圧力波の伝播時間
は、伝播時間測定装置によってそれぞれに測定され、か
つ演算装置では、各伝播時間に基づいて圧力波検出装置
の設定位置ならびに移動位置が算出される。
【0015】本発明の請求項2に記載の超音波計測装置
は、計測対象の未知の位置に圧力波を発生させる圧力波
発生装置と、前記圧力波の発生位置に対向する既知の複
数位置に各別に設置されて、該発生位置から伝播される
圧力波を個々に検出する各圧力波検出装置と、前記各別
に検出される圧力波の伝播時間をそれぞれに測定する伝
播時間測定装置と、前記測定される各伝播時間によって
前記圧力波の発生位置を算出する演算装置とを備えるこ
とを特徴としている。
【0016】本請求項2の超音波計測装置では、圧力波
発生装置を用いて、計測対象の未知の位置に圧力波を発
生させ、該発生位置から伝播される各圧力波が既知の複
数位置に各別に設置した圧力波検出装置で各別に検出さ
れる。また、これらの各圧力波の伝播時間は、伝播時間
測定装置によってそれぞれに測定され、かつ演算装置で
は、各伝播時間に基づいて圧力波の発生位置が算出され
る。
【0017】本発明の請求項3に記載の超音波計測装置
は、計測対象の既知の位置に圧力波を発生させる圧力波
発生装置と、前記圧力波の発生位置に対向する既知の位
置に設置されて、該発生位置から伝播される圧力波を検
出する圧力波検出装置と、前記検出される圧力波の伝播
時間を測定する伝播時間測定装置と、前記測定される伝
播時間によって前記圧力波の発生位置と圧力波検出装置
間での圧力波の伝播速度を算出する演算装置とを備え、
前記圧力波の伝播速度を複数箇所対応の相当分算出し、
該算出されるそれぞれの各圧力波の伝播速度により、C
T法を用いて伝播空間中の温度分布を計測できるように
したことを特徴としている。
【0018】本請求項3の超音波計測装置では、圧力波
発生装置を用いて、計測対象の既知の位置に圧力波を発
生させ、該発生位置から伝播される圧力波が既知の位置
に設置した圧力波検出装置で検出される。また、この圧
力波の伝播時間は、伝播時間測定装置によって複数箇所
対応の相当分測定され、かつ演算装置においては、各伝
播時間に基づいて圧力波の発生位置と圧力波検出装置間
での各圧力波の伝播速度が算出されると共に、これらの
各圧力波の伝播速度から、CT法を用いて伝播空間中の
温度分布が計測される。
【0019】本発明の請求項4に記載の超音波計測装置
は、計測対象の既知の位置に圧力波を発生させる圧力波
発生装置と、前記圧力波の発生位置に対向する既知の位
置に設置されて、該発生位置から伝播される圧力波を検
出する圧力波検出装置と、前記検出される圧力波の伝播
時間を測定する伝播時間測定装置と、前記測定される伝
播時間によって前記圧力波の発生位置と圧力波検出装置
間の距離を算出する演算装置とを備え、前記圧力波の発
生位置と圧力波検出装置間の距離を複数箇所対応の相当
分算出し、該算出されるそれぞれの各距離によって、圧
力波の発生位置対応部分の表面形状を計測できるように
したことを特徴としている。
【0020】本請求項4の超音波計測装置では、圧力波
発生装置を用いて、計測対象の既知の位置に圧力波を発
生させ、該発生位置から伝播される圧力波が既知の位置
に設置した圧力波検出装置で検出される。また、この圧
力波の伝播時間は、伝播時間測定装置によって複数箇所
対応の相当分測定され、かつ演算装置においては、各伝
播時間に基づいて圧力波の発生位置と圧力波検出装置間
の各距離が算出されると共に、これらの算出される各距
離によって、圧力波の発生位置に対応する部分の表面形
状が計測される。
【0021】本発明の請求項5に記載の超音波計測装置
は、請求項1ないし4の何れか1項の超音波計測装置に
おいて、前記圧力波発生装置として、レーザー光を照射
して照射位置に圧力波を発生させるレーザー光発生装置
を用い、また、前記圧力波検出装置として、前記圧力波
を検出して電圧信号に変換する圧電トランスデューサー
を用いることを特徴としている。
【0022】本請求項5の超音波計測装置では、圧力波
発生装置にレーザー光発生装置を用いることで、指向性
に優れたレーザー光によって圧力波の発生位置ないしは
複数の各圧力波の発生位置が特定もしくはほぼ特定され
る。
【0023】本発明の請求項6に記載の超音波計測装置
は、請求項2の超音波計測装置において、前記圧力波検
出装置として、少なくとも4個以上の各圧力波検出装置
を設け、該各圧力波検出装置で検出される圧力波のうち
で、検出レベルの高い少なくとも3つの検出信号を前記
演算装置による各圧力波の発生位置の測定演算に用いる
ことを特徴としている。
【0024】本請求項6の超音波計測装置では、圧力波
検出装置として、少なくとも4個以上の各圧力波検出装
置を設け、検出される圧力波のうちで、検出レベルの高
い少なくとも3つの検出信号を演算装置による各圧力波
の発生位置の測定に用いることで、測定精度の向上がな
される。
【0025】本発明の請求項7に記載の超音波計測装置
は、請求項2の超音波計測装置において、前記各圧力波
検出装置には、指向性の高い装置構成をそれぞれに用
い、該各高指向性の圧力波検出装置によって高レベルの
各圧力波信号を検出し、該高レベルの各圧力波信号を前
記演算装置による各圧力波位置の測定演算に用いること
を特徴としている。
【0026】本請求項7の超音波計測装置では、各圧力
波検出装置として、それぞれに高指向性の圧力波検出装
置を用いることで、高レベルの各圧力波信号が検出さ
れ、これによって各圧力波の発生位置の測定精度が向上
される。
【0027】本発明の請求項8に記載の超音波計測装置
は、請求項2の超音波計測装置において、前記伝播時間
測定装置は、測定した各伝播時間によって対応する各圧
力波の検出レベルおよび/または位置データを補正する
機能を有することを特徴としている。
【0028】本請求項8の超音波計測装置では、伝播時
間測定装置によって測定される各圧力波の各伝播時間に
より、対応する各圧力波の検出レベルおよび/または位
置データを補正することで、圧力波の発生位置の同定が
正確になされる。
【0029】本発明の請求項9に記載の超音波計測装置
は、請求項2の超音波計測装置において、前記伝播時間
測定装置は、前記圧力波検出装置の指向性に対応して前
記圧力波の検出信号を補正する機能を有することを特徴
としている。
【0030】本請求項9の超音波計測装置では、伝播時
間測定装置が圧力波検出装置の指向性に対応して圧力波
の検出信号を補正することで、圧力波の発生位置の同定
が正確になされる。
【0031】本発明の請求項10に記載の超音波計測装
置は、請求項2の超音波計測装置において、前記演算装
置の出力側には、該演算装置によって測定された各圧力
波検出装置の位置、および各圧力波の検出レベルをリア
ルタイムで表示する表示装置を設けたことを特徴として
いる。
【0032】本請求項10の超音波計測装置では、演算
装置の出力側に設けた表示装置により、該演算装置によ
って測定された各圧力波検出装置の位置、および各圧力
波の検出レベルがリアルタイムで表示される。
【0033】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る超音波計測装
置の各別例による実施の形態につき、図1ないし図6を
参照して詳細に説明する。なお、これらの実施形態例の
各図において上記従来例の各図と同一符号は該当部分を
示している。
【0034】(第1の実施形態)図1は本発明の第1の
実施形態を適用した超音波計測装置の概要を示す構成説
明図である。
【0035】この図1に示す第1の実施形態において、
超音波計測装置は、計測対象の表面1の各特定部分(既
知の複数の圧力波発生位置)にレーザー光4を照射して
圧力波を発生させるレーザー光発生装置(圧力波発生装
置)2、および該レーザー光発生装置2からのレーザー
光4の照射位置を制御する照射位置制御装置3と、計測
対象の表面1の各特定部分に対して相応の距離だけ離間
した未知の位置で矢印方向へ移動可能に設置され、レー
ザー光4の照射によって該各特定部分毎に発生したそれ
ぞれの各圧力波5を検出し、かつ該検出信号を電圧に変
換して出力する圧電トランスデューサー(圧力波検出装
置)6と、各圧力波5の伝播時間を測定するための伝播
時間測定装置としての、該検出信号電圧をディジタル信
号に変換するA/D変換器7、および該ディジタル信号
を処理する信号処理装置8と、該処理された信号に基づ
いて計測対象の表面1までの距離を演算するディジタル
計算機(演算装置)10とで構成されている。
【0036】上記第1の実施形態による装置構成では、
計測対象の表面1の各特定部分にレーザー光発生装置2
からレーザー光4を照射することにより、該各照射部分
に局所的なエネルギーが加えられてプラズマが生成さ
れ、かつ該プラズマ振動によって対応する各圧力波5が
発生する。本第1の実施形態においては、照射位置制御
装置3の制御により、それぞれの各トリガー信号に基づ
き、表面1の3個所に時間差をおいてレーザー光4を照
射する。
【0037】これらの時間差をおいて発生した各圧力波
5は、それぞれに圧電トランスデューサー6が受波して
検出され、個々に対応する各電圧信号に変換される。ま
た、該各電圧信号は、A/D変換器7に入力されてディ
ジタル信号に変換される。信号処理装置8には、各レー
ザー光4の照射時刻(各トリガー信号)と、これに対応
する各ディジタル信号とが入力される。
【0038】ここで、信号処理装置8に入力される各信
号の態様を図2に示す。この図2において、レーザー光
4をi番目に照射した時刻をtri、i番目の圧力波5を
受波した時刻をtaiとする。また、レーザー光4の伝播
速度は、光速に及び圧力波5の伝播速度に比較して極め
て速いことから、この場合は、レーザー光4を照射した
時刻tr を圧力波5の発生した時刻とする。
【0039】従って、圧力波5の伝播時間9(tri:i
=1〜3)は、tai−triによって求められる。さら
に、この値をディジタル計算機10に入力することによ
り、該ディジタル計算機10では、このときの媒質中を
伝播する圧力波4の速度vp から、その伝播距離
(Lti:i=1〜3)を、 Lti=vp ×tti によって求めることができる。そして、各圧力波5の発
生位置を(ai .bi .ci :i=1〜3)とし、かつ
圧電トランスデューサー6の位置を(x,y,z)とす
ると、伝播距離との関係式は、 Lti={(x−ai 2 +(y−bi 2 +(z−
i 2 1/2 のようになる。
【0040】すなわち、このようにして計測対象の表面
1の3個所に時間差でレーザー光4を照射し、該当する
表面の3点に圧力波5を発生させることで、上記関係式
がそれぞれに得られ、これをディジタル計算機10で解
くことにより、各圧力波5の発生位置、ひいては矢印方
向へ移動可能な圧電トランスデューサー6の設定位置な
らびに移動位置を容易に同定できるのである。
【0041】(第2の実施形態)図3は本発明の第2の
実施形態を適用した超音波計測装置の概要を示す構成説
明図である。
【0042】この図3に示す第2の実施形態において、
超音波計測装置は、計測対象としての金属壁面11と、
該金属壁面11の特定部分にレーザー光4を照射して圧
力波を発生させるレーザー光発生装置2と、既知の各位
置にそれぞれ設置され、レーザー光4の照射によって金
属壁面11の特定部分に発生した圧力波5を該当位置で
それぞれに検出し、かつ電圧信号に変換して出力する複
数、この場合、3個の圧電トランスデューサー6と、以
下、第1の実施形態の場合と同様に、各圧力波5の伝播
時間を測定するために設けられるところの、検出電圧信
号をディジタル信号に変換するA/D変換器7、および
該ディジタル信号を処理する信号処理装置8と、該処理
されたディジタル信号に基づいて計測対象の金属壁面1
1までの距離を算出するディジタル計算機10とで構成
されている。
【0043】この場合、先に述べた第1の実施形態によ
る構成が、複数の既知の位置で発生する圧力波を未知の
位置に単独に設けた圧電トランスデューサーで検出し、
未知である該圧電トランスデューサーの位置を演算によ
って同定するための装置であるのに対して、本第2の実
施形態による構成では、未知の圧力波の発生位置を既知
の位置に設けた複数の圧電トランスデューサーで検出
し、未知である圧力波の発生位置を演算によって同定す
るための装置である。
【0044】すなわち、上記第2の実施形態による装置
構成では、計測対象の金属表面11の特定部分にレーザ
ー光4を照射した場合、該特定部分で発生する圧力波5
を各別位置に配置させた3個の圧電トランスデューサー
6によって検出し、それぞれの各圧電トランスデューサ
ー6から個々に変換された各電圧信号を出力する。これ
らの検出された各電圧信号は、上記の場合と同様に、A
/D変換器7によってそれぞれにディジタル信号に変換
されると共に、信号処理装置8に入力されて各圧力波5
の伝播時間を求める。その後、該信号処理装置8内に設
けた遅延回路を用いることで、得られた各伝播時間を順
次にディジタル計算機10へ入力して演算する。
【0045】ここでも、信号処理装置8に入力される各
信号の態様を図4に示す。この図4においても明らかな
ように、本第2の実施形態においては、上記第1の実施
形態の場合と同様に、それぞれの各信号の伝播時間9か
ら、対応する伝播距離、ひいては金属表面11上の圧力
波5の発生位置と各圧電トランスデューサー6の設置位
置との間の距離が分かる。また、既知の位置に設置した
各圧電トランスデューサー6の位置を(ai .bi .c
i :i=1〜3)とし、かつ圧力波5の発生位置を
(x,y,z)とするときは、上記第1の実施形態の場
合と同様な関係式が得られて、ここでは、圧力波5の発
生位置を容易に同定できるのである。
【0046】この場合、圧電トランスデューサー6とし
て、少なくとも4個以上の圧電トランスデューサー6を
設け、これらの各圧電トランスデューサー6で検出され
るそれぞれの各圧力波のうちで、比較的検出レベルの高
い少なくとも3つの検出信号をディジタル計算機10へ
入力して各圧力波の発生位置の測定に用いるときは、該
測定結果の精度を一層高めることができる。
【0047】(第3の実施形態)図5は本発明の第3の
実施形態を適用した超音波計測装置の概要を示す構成説
明図である。
【0048】この図5に示す第3の実施形態において、
超音波計測装置は、計測対象の表面1の各特定部分にレ
ーザー光4を照射して圧力波を発生させるレーザー光発
生装置2、および該レーザー光発生装置2からのレーザ
ー光4の照射位置を各別に制御する照射位置制御装置3
と、レーザー光4の照射によって計測対象の表面1の各
特定部分にそれぞれに発生させた各圧力波5を検出し、
かつ電圧信号に変換して出力するための、この場合、2
個の圧電トランスデューサー6と、以下、第1および第
2の各実施形態の場合と同様に、各圧力波5の伝播時間
を測定するために設けられるところの、検出電圧信号を
ディジタル信号に変換するA/D変換器7、および該デ
ィジタル信号を処理する信号処理装置8と、該処理され
たディジタル信号に基づいて計測対象の表面1までの距
離を算出するディジタル計算機10とで構成されてい
る。
【0049】すなわち、本第3の実施形態による装置の
構成は、上記第1の実施形態の場合の装置構成とほぼ同
様であるが、各圧力波5を受信するそれぞれの圧電トラ
ンスデューサー6の設置位置が既知である点で異なって
いる。
【0050】この第3の実施形態の場合には、各圧力波
5の発生位置と、該各圧力波5を検出するそれぞれの圧
電トランスデューサー6の設置位置とが既知であるこ
と、つまり、両者間の距離が確定されているため、これ
らの両者間での各圧力波5の伝播時間9を測定して、そ
の平均速度を求めることができる。一方、圧力波5の速
度は温度に依存し、かつその伝播空間の温度分布の情報
を有しているから、同図5に見られるように、これを多
点(この場合、3点)で測定することにより、CT法を
用いて温度の空間分布を容易に求め得るのである。
【0051】(第4の実施形態)図6は本発明の第4の
実施形態を適用した超音波計測装置の概要を示す構成説
明図である。
【0052】この図6に示す第4の実施形態において、
超音波計測装置は、計測対象としての金属壁面11と、
該金属壁面11の特定部分にレーザー光4を照射して圧
力波を発生させるレーザー光発生装置2と、既知の各位
置にそれぞれ設置され、レーザー光4の照射によって金
属壁面11の特定部分に発生した圧力波5を個別に検出
し、かつ電圧に変換してそれぞれに出力する複数、この
場合、3個の圧電トランスデューサー6と、ここでも同
様に、該個別に検出された各圧力波5の伝播時間と各圧
電トランスデューサー6の最大出力値とを測定するため
の、検出電圧信号をディジタル信号に変換するA/D変
換器7、および該各ディジタル信号を処理する信号処理
装置8と、該処理された各ディジタル信号に基づいて圧
力波5の発生位置を算出すると共に、この場合にはレー
ザー光4の強度の補正計算を行うディジタル計算機10
と、演算結果の圧力波5の発生位置と強度とをそれぞれ
に表示する表示装置12とで構成されている。
【0053】ここで、圧力波5の強度は、伝播距離(あ
るいは伝播時間)に対応して減衰することが知られてい
る。このときの減衰の程度の関数をf(tp )とし
(l:伝播時間)、f(0)=1、f(∞)=0とす
る。また、ディジタル計算機10においては、圧電トラ
ンスデューサー6の最大出力値と圧力波5の伝播時間を
入力して、上記第2の実施形態の場合と同様に伝播距離
を求め、さらに、最大出力値P(i)(i=1〜3)を
減衰の程度の関数f(tp )と伝播時間とから、次の式
によってレーザー光4の強度を補正する。
【0054】Pr(i)=P(i)/f(tp ) また、上記補正方法としては、別に圧電トランスデュー
サー6の指向性を減衰の程度の関数f(tp )に代えて
用いることも可能である。
【0055】以上の結果から、本第4の実施形態におい
ては、ディジタル計算機10で求めた圧力波5の発生位
置および強度をリアルタイムで表示装置12に表示させ
ることにより、金属壁面11の何れの位置にどのような
強度で圧力波5が発生したかを容易に監視できるのであ
る。
【0056】従って、ここでは、本第4の実施形態の場
合を含んで上記第2の実施形態においては、各圧電トラ
ンスデューサー6として、それぞれに比較的指向性の高
い圧電トランスデューサー6を用い、これらの各高指向
性の圧電トランスデューサー6によって高レベルの各圧
力波5を検出し、該高レベルの各圧力波5の信号をディ
ジタル計算機10による圧力波の発生位置の演算に用い
ることによっても、同様に測定結果の精度を一層高める
ことができる。
【0057】また、信号処理装置8によって求めた各圧
力波5の伝播時間を用い、それぞれに対応の各圧力波5
の検出レベルおよび/または位置データの補正をなすよ
うにすることで、圧力波の発生位置の同定を正確に行い
得る。
【0058】さらに、信号処理装置8に関しては、圧電
トランスデューサー6の指向性に対応して各圧力波5の
検出信号を補正する機能を与えることによっても、圧力
波の発生位置の同定に効果的である。
【0059】
【発明の効果】以上、各実施形態例によって詳述したよ
うに、請求項1に記載の超音波計測装置によれば、計測
対象の既知の複数位置に圧力波発生装置で圧力波を発生
させ、該各発生位置から伝播される各圧力波を未知の位
置に設置して移動可能にされた圧力波検出装置によって
個別に検出でき、かつ各圧力波の伝播時間を伝播時間測
定装置を用いてそれぞれに測定した後、各伝播時間に基
づき、演算装置によって圧力波検出装置の設定位置を算
出するようにしたので、未知であった圧力波検出装置の
設定位置ならびに移動位置を精度よく容易に測定でき
る。
【0060】また、本発明の請求項2に記載の超音波計
測装置によれば、計測対象の未知の位置に圧力波発生装
置で圧力波を発生させ、該発生位置から伝播される各圧
力波を既知の複数位置に設置した各圧力波検出装置によ
って個々に検出でき、かつ各圧力波の伝播時間を伝播時
間測定装置を用いてそれぞれに測定した後、各伝播時間
に基づき、演算装置によって圧力波の発生位置を算出す
るようにしたので、未知であった圧力波の発生位置を精
度よく容易に測定できる。
【0061】また、本発明の請求項3に記載の超音波計
測装置によれば、計測対象の既知の位置に圧力波発生装
置で圧力波を発生させ、該発生位置から伝播される圧力
波を既知の位置に設置した圧力波検出装置によって検出
でき、かつ圧力波の伝播時間を伝播時間測定装置を用い
て複数箇所対応の相当分測定した後、各伝播時間に基づ
き、演算装置によって圧力波の発生位置と圧力波検出装
置間での各圧力波の伝播速度を算出できるようにしたの
で、これらの各圧力波の伝播速度から、CT法によって
伝播空間中における温度分布を容易に計測することがで
きる。
【0062】また、本発明の請求項4に記載の超音波計
測装置によれば、計測対象の既知の位置に圧力波発生装
置で圧力波を発生させ、該発生位置から伝播される圧力
波を既知の位置に設置した圧力波検出装置によって検出
でき、かつ圧力波の伝播時間を伝播時間測定装置を用い
て複数箇所対応の相当分測定した後、各伝播時間に基づ
き、演算装置によって圧力波の発生位置と圧力波検出装
置間の各距離を算出できるようにしたので、これらの算
出される各距離によって、圧力波の発生位置に対応する
部分の表面形状を容易に計測することができる。
【0063】また、本発明の請求項5に記載の超音波計
測装置によれば、請求項1ないし4の何れか1項の超音
波計測装置において、圧力波発生装置にレーザー光発生
装置を用いるようにしたので、指向性に優れたレーザー
光によって圧力波の発生位置ないしは複数の各圧力波の
発生位置を特定もしくはほぼ特定することができ、この
結果、測定精度の向上を効果的かつ容易に図り得る。
【0064】また、本発明の請求項6に記載の超音波計
測装置によれば、請求項2の超音波計測装置において、
圧力波検出装置として、少なくとも4個以上の各圧力波
検出装置を設け、該各圧力波検出装置で検出される圧力
波のうちで、検出レベルの高い少なくとも3つの検出信
号を演算装置による各圧力波の発生位置の測定に用いる
ようにしたので、ここでも結果的に測定精度の向上を効
果的かつ容易に図り得る。
【0065】また、本発明の請求項7に記載の超音波計
測装置によれば、請求項2の超音波計測装置において、
各圧力波検出装置として、それぞれに高指向性の圧力波
検出装置を用いるようにしたので、高レベルの各圧力波
信号を容易に検出することができ、この結果、同様に測
定精度の向上を効果的かつ容易に図り得る。
【0066】また、本発明の請求項8に記載の超音波計
測装置によれば、請求項2の超音波計測装置において、
伝播時間測定装置によって測定される各圧力波の各伝播
時間により、対応する各圧力波の検出レベルおよび/ま
たは位置データを補正するようにしたので、この場合
は、圧力波の発生位置の同定を一層正確に行い得る。
【0067】また、本発明の請求項9に記載の超音波計
測装置によれば、請求項2の超音波計測装置において、
伝播時間測定装置が圧力波検出装置の指向性に対応して
圧力波の検出信号を補正するようにしたので、この場合
にも、圧力波の発生位置の同定を一層正確に行い得る。
【0068】さらに、本発明の請求項10に記載の超音
波計測装置によれば、請求項2の超音波計測装置におい
て、演算装置の出力側に設けた表示装置により、該演算
装置によって測定された各圧力波検出装置の位置、およ
び各圧力波の検出レベルをリアルタイムで表示するよう
にしたので、計測対象の何れの位置にどのような強度で
圧力波が発生したかを容易に監視できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態を適用した超音波計測
装置の概要を示す構成説明図
【図2】同上第1の実施形態での圧力波の伝播時間測定
を説明する説明図
【図3】本発明の第2の実施形態を適用した超音波計測
装置の概要を示す構成説明図
【図4】同上第2の実施形態での圧力波の伝播時間測定
を説明する説明図
【図5】本発明の第3の実施形態を適用した超音波計測
装置の概要を示す構成説明図
【図6】本発明の第4の実施形態を適用した超音波計測
装置の概要を示す構成説明図
【図7】従来例による超音波計測装置の概要を示す構成
説明図
【図8】同上従来例での圧力波の伝播時間測定を説明す
る説明図
【符号の説明】
1……計測対象の表面 2……レーザー光発生装置(圧力波発生装置) 3……照射位置制御装置 4……レーザー光 5……圧力波 6……圧電トランスデューサー(圧力波検出装置) 7……A/D変換器 8……信号処理装置 9……伝播時間 10……ディジタル計算機(演算装置) 11……計測対象の金属表面 12……表示装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 兼本 茂 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株 式会社東芝横浜事業所内 Fターム(参考) 2F056 VS01 VS03 VS05 VS07 VS10 2F068 AA00 AA04 AA06 AA40 BB01 BB22 DD04 DD09 EE00 FF25 GG07 HH01 KK18 LL04 LL11 LL17 QQ00 QQ05 QQ44 RR01 TT01 2G064 AB06 AB16 AB23 BD18 CC13 CC29 DD08 DD12 5J083 AA01 AC28 AD01 AD04 AE06 AG20 CA39 CB01 EA31

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 計測対象の既知の複数位置に圧力波を発
    生させる圧力波発生装置と、前記各圧力波の発生位置に
    対向する未知の位置に設置して移動可能にされ、該各発
    生位置から伝播される各圧力波を個別に検出する圧力波
    検出装置と、前記検出される各圧力波の伝播時間をそれ
    ぞれに測定する伝播時間測定装置と、前記測定される各
    伝播時間によって前記圧力波検出装置の設置位置ならび
    に移動位置を算出する演算装置とを備えることを特徴と
    する超音波計測装置。
  2. 【請求項2】 計測対象の未知の位置に圧力波を発生さ
    せる圧力波発生装置と、前記圧力波の発生位置に対向す
    る既知の複数位置に各別に設置されて、該発生位置から
    伝播される圧力波を個々に検出する各圧力波検出装置
    と、前記各別に検出される圧力波の伝播時間をそれぞれ
    に測定する伝播時間測定装置と、前記測定される各伝播
    時間によって前記圧力波の発生位置を算出する演算装置
    とを備えることを特徴とする超音波計測装置。
  3. 【請求項3】 計測対象の既知の位置に圧力波を発生さ
    せる圧力波発生装置と、前記圧力波の発生位置に対向す
    る既知の位置に設置されて、該発生位置から伝播される
    圧力波を検出する圧力波検出装置と、前記検出される圧
    力波の伝播時間を測定する伝播時間測定装置と、前記測
    定される伝播時間によって前記圧力波の発生位置と圧力
    波検出装置間での圧力波の伝播速度を算出する演算装置
    とを備え、前記圧力波の伝播速度を複数箇所対応の相当
    分算出し、該算出されるそれぞれの各圧力波の伝播速度
    により、CT法を用いて伝播空間中の温度分布を計測で
    きるようにしたことを特徴とする超音波計測装置。
  4. 【請求項4】 計測対象の既知の位置に圧力波を発生さ
    せる圧力波発生装置と、前記圧力波の発生位置に対向す
    る既知の位置に設置されて、該発生位置から伝播される
    圧力波を検出する圧力波検出装置と、前記検出される圧
    力波の伝播時間を測定する伝播時間測定装置と、前記測
    定される伝播時間によって前記圧力波の発生位置と圧力
    波検出装置間の距離を算出する演算装置とを備え、前記
    圧力波の発生位置と圧力波検出装置間の距離を複数箇所
    対応の相当分算出し、該算出されるそれぞれの各距離に
    よって、圧力波の発生位置対応部分の表面形状を計測で
    きるようにしたことを特徴とする超音波計測装置。
  5. 【請求項5】 前記圧力波発生装置として、レーザー光
    を照射して照射位置に圧力波を発生させるレーザー光発
    生装置を用い、或いは前記圧力波検出装置として、前記
    圧力波を検出して電圧信号に変換する圧電トランスデュ
    ーサーを用いることを特徴とする請求項1ないし4の何
    れか1項に記載の超音波計測装置。
  6. 【請求項6】 前記圧力波検出装置として、少なくとも
    4個以上の各圧力波検出装置を設け、該各圧力波検出装
    置で検出される圧力波のうちで、検出レベルの高い少な
    くとも3つの検出信号を前記演算装置による各圧力波の
    発生位置の測定演算に用いることを特徴とする請求項2
    に記載の超音波計測装置。
  7. 【請求項7】 前記各圧力波検出装置には、指向性の高
    い装置構成をそれぞれに用い、該各高指向性の圧力波検
    出装置によって高レベルの各圧力波信号を検出し、該高
    レベルの各圧力波信号を前記演算装置による各圧力波位
    置の測定演算に用いることを特徴とする請求項2に記載
    の超音波計測装置。
  8. 【請求項8】 前記伝播時間測定装置は、測定した各伝
    播時間によって対応する各圧力波の検出レベルおよび/
    または位置データを補正する機能を有することを特徴と
    する請求項2に記載の超音波計測装置。
  9. 【請求項9】 前記伝播時間測定装置は、前記圧力波検
    出装置の指向性に対応して前記圧力波の検出信号を補正
    する機能を有することを特徴とする請求項2に記載の超
    音波計測装置。
  10. 【請求項10】 前記演算装置の出力側には、該演算装
    置によって測定された各圧力波検出装置の位置、および
    各圧力波の検出レベルをリアルタイムで表示する表示装
    置を設けたことを特徴とする請求項2に記載の超音波計
    測装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008215904A (ja) * 2007-03-01 2008-09-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 基板表面高さ測定装置および基板表面高さ測定方法、作業装置、作業方法
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JP2009139264A (ja) * 2007-12-07 2009-06-25 Synthesize Ltd 3次元位置確定システムおよび3次元位置確定方法
JP2011149839A (ja) * 2010-01-22 2011-08-04 Nagaoka Univ Of Technology 超音波を用いた温度測定方法
KR101815575B1 (ko) * 2015-08-18 2018-01-05 한국과학기술원 벽면 반사에 의한 음파의 지연 시간을 통한 온도장 측정 방법 및 시스템

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