JPH05248859A - 波箔の山高さ測定方法 - Google Patents
波箔の山高さ測定方法Info
- Publication number
- JPH05248859A JPH05248859A JP34508791A JP34508791A JPH05248859A JP H05248859 A JPH05248859 A JP H05248859A JP 34508791 A JP34508791 A JP 34508791A JP 34508791 A JP34508791 A JP 34508791A JP H05248859 A JPH05248859 A JP H05248859A
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- JP
- Japan
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- corrugated foil
- foil
- height
- crest
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、波箔の山高さ測定において個人的
な測定バラツキを無くし、品質の安定した波箔材の評価
を可能とし、自動で効率良く測定できる方法を提供する
ものである。 【構成】 重りを備えた昇降自在な測定子を波箔の上に
載せ、その状態で波箔を移動させ、測定子の上下移動量
により波箔の山高さを測定することを特徴とする波箔の
山高さ測定方法。
な測定バラツキを無くし、品質の安定した波箔材の評価
を可能とし、自動で効率良く測定できる方法を提供する
ものである。 【構成】 重りを備えた昇降自在な測定子を波箔の上に
載せ、その状態で波箔を移動させ、測定子の上下移動量
により波箔の山高さを測定することを特徴とする波箔の
山高さ測定方法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は自動車の排ガスを浄化す
る触媒用金属製担体の製造において、金属帯の平箔をコ
ルゲート加工した波箔の山高さを測定するのに好適な波
箔の山高さ測定方法に関するものである。
る触媒用金属製担体の製造において、金属帯の平箔をコ
ルゲート加工した波箔の山高さを測定するのに好適な波
箔の山高さ測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】金属製担体は平箔と図３に示す波箔１を
交互に配置した層でハニカム状に成形されたものであ
る。この波箔１の山高さは、平箔と波箔を重ね合わせな
がら巻き取るハニカム体製造上、巻き取り品質および平
箔と波箔の接合品質に影響するため、非常に重要なもの
である。
交互に配置した層でハニカム状に成形されたものであ
る。この波箔１の山高さは、平箔と波箔を重ね合わせな
がら巻き取るハニカム体製造上、巻き取り品質および平
箔と波箔の接合品質に影響するため、非常に重要なもの
である。
【０００３】そのため、波箔の幅方向と長さ方向の山高
さを測定し、品質管理をしている。従来、この山高さを
測定する方法として、図４の如くマイクロメータ測定具
２により波箔１をはさみ込んで測定する方法が用いられ
ていた。しかし、人手作業のため低能率で測定の個人的
なバラツキが発生する問題があった。
さを測定し、品質管理をしている。従来、この山高さを
測定する方法として、図４の如くマイクロメータ測定具
２により波箔１をはさみ込んで測定する方法が用いられ
ていた。しかし、人手作業のため低能率で測定の個人的
なバラツキが発生する問題があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は以上のような
個人的な測定バラツキを無くし、品質の安定した波箔材
の評価を可能とし、自動で効率良く測定できる波箔の山
高さ測定方法の提供を目的とする。
個人的な測定バラツキを無くし、品質の安定した波箔材
の評価を可能とし、自動で効率良く測定できる波箔の山
高さ測定方法の提供を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を有
利に達成するために成したものであり、その要旨とする
ところは、重りを備えた昇降自在な測定子を波箔の上に
のせ、その状態で波箔を移動させ、測定子の上下移動量
により波箔の山高さを測定することを特徴とする波箔の
山高さ測定方法にある。
利に達成するために成したものであり、その要旨とする
ところは、重りを備えた昇降自在な測定子を波箔の上に
のせ、その状態で波箔を移動させ、測定子の上下移動量
により波箔の山高さを測定することを特徴とする波箔の
山高さ測定方法にある。
【０００６】次に本発明を図１，図２を用いて詳細に説
明する。先ず、波箔１を移動する点について述べると、
３は基準座、４は測定枠体でこの間に波箔１を通すもの
である。基準座３は波箔１の幅に合わせて、幅方向の位
置ずれを防止するガイド機構を内蔵（図示せず）せし
め、波箔１の測定の基準面となる。また、波箔１を矢印
Ｃ方向に移動せしめる機構（図示せず）を具備してい
る。次に測定方法について述べると、５は測定子、６は
重り、７は測定子ガイドである。即ち、測定子５に重り
６を取り付けることで、一定荷重で波箔１を押さえるも
のである。測定子５のガイド部はスプライン形状をなし
回転の動きを拘束し、昇降自在にしたものである。重り
６の重量は波箔１を基準座３に安定して倣わすことので
きる、最小重量とする。測定子５の先端の傾斜部ａは波
箔１の山が移動せしめる時に、スムーズに通過可能なら
しめるものである。
明する。先ず、波箔１を移動する点について述べると、
３は基準座、４は測定枠体でこの間に波箔１を通すもの
である。基準座３は波箔１の幅に合わせて、幅方向の位
置ずれを防止するガイド機構を内蔵（図示せず）せし
め、波箔１の測定の基準面となる。また、波箔１を矢印
Ｃ方向に移動せしめる機構（図示せず）を具備してい
る。次に測定方法について述べると、５は測定子、６は
重り、７は測定子ガイドである。即ち、測定子５に重り
６を取り付けることで、一定荷重で波箔１を押さえるも
のである。測定子５のガイド部はスプライン形状をなし
回転の動きを拘束し、昇降自在にしたものである。重り
６の重量は波箔１を基準座３に安定して倣わすことので
きる、最小重量とする。測定子５の先端の傾斜部ａは波
箔１の山が移動せしめる時に、スムーズに通過可能なら
しめるものである。
【０００７】測定子先端部ｂの寸法は波箔１の山ピッチ
寸法より小さい場合は、波材の通過時による飛び跳ね現
象が発生するため、真の波山高さが得にくくなる。従っ
て、ｂの寸法は波箔１の山が常に２山以上接触している
ことが望ましい。測定子５は測定子ガイド７に沿って昇
降自在である。即ち、波箔１が矢印Ｃ方向に移動する
と、測定子５が波山の高低変化に倣いながら上下移動な
らしめる。８はセンサー、９は変換器で測定子５、重り
６の上下移動量を測定するものである。本測定器を波箔
幅方向に数箇所配置し、同時に測定可能である。
寸法より小さい場合は、波材の通過時による飛び跳ね現
象が発生するため、真の波山高さが得にくくなる。従っ
て、ｂの寸法は波箔１の山が常に２山以上接触している
ことが望ましい。測定子５は測定子ガイド７に沿って昇
降自在である。即ち、波箔１が矢印Ｃ方向に移動する
と、測定子５が波山の高低変化に倣いながら上下移動な
らしめる。８はセンサー、９は変換器で測定子５、重り
６の上下移動量を測定するものである。本測定器を波箔
幅方向に数箇所配置し、同時に測定可能である。
【０００８】次に本発明方法の操業例について述べる。
先ず、基準座３を所定幅に合わせ、測定子５を基準座３
に接地させ、センサー８、変換器９の原点をあわせる。
次いで、波箔１を基準座３と測定枠体４の間を通した
後、測定子５を波箔１の上に位置させる。波箔１が矢印
Ｃ方向に引かれると、自動的に測定子５、重り６の移動
量をセンサー８で検出し波山高さが測定可能である。こ
の測定は、連続的なオンライン製造工程中の測定および
オフラインでのサンプル材による任意ピッチ毎の測定も
可能である。
先ず、基準座３を所定幅に合わせ、測定子５を基準座３
に接地させ、センサー８、変換器９の原点をあわせる。
次いで、波箔１を基準座３と測定枠体４の間を通した
後、測定子５を波箔１の上に位置させる。波箔１が矢印
Ｃ方向に引かれると、自動的に測定子５、重り６の移動
量をセンサー８で検出し波山高さが測定可能である。こ
の測定は、連続的なオンライン製造工程中の測定および
オフラインでのサンプル材による任意ピッチ毎の測定も
可能である。
【０００９】次に本発明の実施例について述べる。厚み
が５０μｍ、幅１００mm、山高さ１．２５mmの波箔を３
００mmの長さの間を２０mmピッチで本発明の測定子を用
いて山高さを測定した。その測定値のバラツキは２μｍ
以下であった。同時に同じ波箔を用いて人手によりマイ
クロメータで山高さを測定した。その結果、測定値のバ
ラツキは２０μｍであった。このように本発明方法を用
いると安定した測定が得られ測定値のバラツキは従来法
に比べると１／１０となった。
が５０μｍ、幅１００mm、山高さ１．２５mmの波箔を３
００mmの長さの間を２０mmピッチで本発明の測定子を用
いて山高さを測定した。その測定値のバラツキは２μｍ
以下であった。同時に同じ波箔を用いて人手によりマイ
クロメータで山高さを測定した。その結果、測定値のバ
ラツキは２０μｍであった。このように本発明方法を用
いると安定した測定が得られ測定値のバラツキは従来法
に比べると１／１０となった。
【００１０】
【発明の効果】以上、詳細に述べた如く、本発明方法よ
れば一定重量の重りで波箔を押さえ、波箔の山高さ変化
に測定子が追従性ならしめることで、山高さ測定品質の
安定を図ると共に、作業が効能率であり、また、波付け
製造ラインに組み入れ、波付け製造装置との制御連結に
より自動で安定した波箔材の製造が可能であり、その効
果は極めて大きいものである。
れば一定重量の重りで波箔を押さえ、波箔の山高さ変化
に測定子が追従性ならしめることで、山高さ測定品質の
安定を図ると共に、作業が効能率であり、また、波付け
製造ラインに組み入れ、波付け製造装置との制御連結に
より自動で安定した波箔材の製造が可能であり、その効
果は極めて大きいものである。
【図１】本発明方法を実施する装置の説明図である。
【図２】図１の装置の要部説明図である。
【図３】波箔形状を示す図である。
【図４】従来の波箔高さ測定法を示す図である。
１ 波箔 ２ マイクロメータ先端 ３ 基準座 ４ 測定枠体 ５ 測定子 ６ 重り ７ 測定子ガイド ８ センサー ９ 測定変換器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山本 恭裕 愛知県東海市東海町５−３ 新日本製鐵株 式会社名古屋製鐵所内
Claims (1)
- 【請求項１】 重りを備えた昇降自在な測定子を波箔の
上にのせ、その状態で波箔を移動させ、測定子の上下移
動量により波箔の山高さを測定することを特徴とする波
箔の山高さ測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3345087A JP3012068B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 波箔の山高さ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3345087A JP3012068B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 波箔の山高さ測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05248859A true JPH05248859A (ja) | 1993-09-28 |
| JP3012068B2 JP3012068B2 (ja) | 2000-02-21 |
Family
ID=18374199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3345087A Expired - Fee Related JP3012068B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 波箔の山高さ測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3012068B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012011346A1 (ja) * | 2010-07-20 | 2012-01-26 | 株式会社ブイ・テクノロジー | カラーフィルタの突起欠陥高さ測定器及びリペア装置 |
-
1991
- 1991-12-26 JP JP3345087A patent/JP3012068B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012011346A1 (ja) * | 2010-07-20 | 2012-01-26 | 株式会社ブイ・テクノロジー | カラーフィルタの突起欠陥高さ測定器及びリペア装置 |
| JP2012026766A (ja) * | 2010-07-20 | 2012-02-09 | V Technology Co Ltd | カラーフィルタの突起欠陥高さ測定器及びリペア装置 |
| CN103003659A (zh) * | 2010-07-20 | 2013-03-27 | 株式会社V技术 | 滤色片的突起缺陷高度测量仪器以及修复装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3012068B2 (ja) | 2000-02-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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