JP3257651B2 - メタル担体用ハニカム体の製造方法 - Google Patents
メタル担体用ハニカム体の製造方法Info
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- Catalysts (AREA)
- Exhaust Gas After Treatment (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、排気ガス浄化触媒など
に用いられるメタル担体の主構成要素であるハニカム体
の製造方法に関する。
に用いられるメタル担体の主構成要素であるハニカム体
の製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】メタル担体の主構成要素であるハニカム
体は、例えば、箔状の平板とその平板からコルゲート加
工などにより形成された波板を用い、両者を重ねてロー
ル状に巻回することで製造されている。通常、このハニ
カム体は金属製外筒に圧入され、ロウ付け接合あるいは
拡散接合により一体化されてメタル担体とされる。
体は、例えば、箔状の平板とその平板からコルゲート加
工などにより形成された波板を用い、両者を重ねてロー
ル状に巻回することで製造されている。通常、このハニ
カム体は金属製外筒に圧入され、ロウ付け接合あるいは
拡散接合により一体化されてメタル担体とされる。
【０００３】ここで、外筒への圧入時にはハニカム体の
直径の精度が重要となる。すなわちハニカム体の直径が
外筒の内径に比べて小さ過ぎると、接合強度が不十分と
なり、ハニカム体の直径が外筒の内径に比べて大き過ぎ
ると、ハニカム体に変形が生じたり、被覆してあるロウ
箔が剥がれたりする不具合が生じる。そこでハニカム体
の直径の精度を出すために従来は、所定長さに切断され
た平板及び波板を用い所定の張力を付与しながら巻回す
る方法、あるいは巻回時に平板又は波板の使用量を計測
し、所定の使用量に達するまで巻回する方法が一般的に
用いられている。
直径の精度が重要となる。すなわちハニカム体の直径が
外筒の内径に比べて小さ過ぎると、接合強度が不十分と
なり、ハニカム体の直径が外筒の内径に比べて大き過ぎ
ると、ハニカム体に変形が生じたり、被覆してあるロウ
箔が剥がれたりする不具合が生じる。そこでハニカム体
の直径の精度を出すために従来は、所定長さに切断され
た平板及び波板を用い所定の張力を付与しながら巻回す
る方法、あるいは巻回時に平板又は波板の使用量を計測
し、所定の使用量に達するまで巻回する方法が一般的に
用いられている。
【０００４】また変位センサなどを用いて巻回中のハニ
カム体の直径を計測し、所定の直径に達するまで巻回す
る方法なども利用されている。例えば巻取り中心から所
定距離隔てた位置に接触センサを配置しておき、そのセ
ンサにハニカム体の表面が当接するまで巻回する方法が
ある。
カム体の直径を計測し、所定の直径に達するまで巻回す
る方法なども利用されている。例えば巻取り中心から所
定距離隔てた位置に接触センサを配置しておき、そのセ
ンサにハニカム体の表面が当接するまで巻回する方法が
ある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところが一定長さの平
板及び波板を用いたり、平板又は波板の使用量を計測す
ることで直径を一定に制御する方法では、板厚のばらつ
き及び波板の波高さのばらつきにより、得られるハニカ
ム体の直径が変動し精度が低い。また、巻き締め力の変
動によっても得られるハニカム体の直径が変動する。
板及び波板を用いたり、平板又は波板の使用量を計測す
ることで直径を一定に制御する方法では、板厚のばらつ
き及び波板の波高さのばらつきにより、得られるハニカ
ム体の直径が変動し精度が低い。また、巻き締め力の変
動によっても得られるハニカム体の直径が変動する。
【０００６】例えば、ハニカム体の直径の必要精度は、
外筒への圧入時にロウ箔が剥離しない範囲として±０．
１ｍｍの幅内に納めることが要求されている。平板及び
波板の板厚を０．０５ｍｍとし、波板の波高さを１．２
５ｍｍ、波ピッチを２．５ｍｍとすると、直径９０ｍｍ
のハニカム体を形成するのに必要な巻回数は、９０÷
｛（１．２５＋０．０５）×２｝＝３４．６層となる。
ここで板厚のばらつきを±０．００５ｍｍとすると、ハ
ニカム体の直径のばらつきは、±０．００５×２×３
４．６＝±０．３４６ｍｍとなり、板厚のばらつきだけ
で上記直径の必要精度を満たさない場合があることがわ
かる。したがってこれに波高さのばらつきなどを加える
と、直径のばらつきは一層大きなものとなってしまう。
外筒への圧入時にロウ箔が剥離しない範囲として±０．
１ｍｍの幅内に納めることが要求されている。平板及び
波板の板厚を０．０５ｍｍとし、波板の波高さを１．２
５ｍｍ、波ピッチを２．５ｍｍとすると、直径９０ｍｍ
のハニカム体を形成するのに必要な巻回数は、９０÷
｛（１．２５＋０．０５）×２｝＝３４．６層となる。
ここで板厚のばらつきを±０．００５ｍｍとすると、ハ
ニカム体の直径のばらつきは、±０．００５×２×３
４．６＝±０．３４６ｍｍとなり、板厚のばらつきだけ
で上記直径の必要精度を満たさない場合があることがわ
かる。したがってこれに波高さのばらつきなどを加える
と、直径のばらつきは一層大きなものとなってしまう。
【０００７】また、巻回中の巻取り体の直径を計測しな
がら巻回する方法では、巻取り体の真円度が著しく低い
ため、センサを複数個設けても精度良く測定することが
困難であった。そのため得られたハニカム体の直径にも
ばらつきが見られ、精度が良いとはいえなかった。この
ように従来のハニカム体の製造方法では、得られたハニ
カム体の直径の精度が低く、所定径より小さい場合はそ
のまま不良品となり、所定径より大きい場合は検査後多
大な工数をかけて手直しを行っている。さらに、手直し
の場合には余分な平板及び波板を切断除去しているが、
そのため素材の歩留りが悪いという不具合もある。
がら巻回する方法では、巻取り体の真円度が著しく低い
ため、センサを複数個設けても精度良く測定することが
困難であった。そのため得られたハニカム体の直径にも
ばらつきが見られ、精度が良いとはいえなかった。この
ように従来のハニカム体の製造方法では、得られたハニ
カム体の直径の精度が低く、所定径より小さい場合はそ
のまま不良品となり、所定径より大きい場合は検査後多
大な工数をかけて手直しを行っている。さらに、手直し
の場合には余分な平板及び波板を切断除去しているが、
そのため素材の歩留りが悪いという不具合もある。
【０００８】すなわち従来のハニカム体の製造工程は、
多大な工数がかかり不良率も高いという問題があり、こ
の問題を解決できるハニカム体の製造方法の確立が切望
されている。本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、得られるハニカム体の直径の精度をさらに
向上させることを目的とする。
多大な工数がかかり不良率も高いという問題があり、こ
の問題を解決できるハニカム体の製造方法の確立が切望
されている。本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、得られるハニカム体の直径の精度をさらに
向上させることを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する第１
発明のメタル担体用ハニカム体の製造方法は、平板と波
板を重ねてロール状に巻回するハニカム体の製造方法で
あって、平板又は波板の巻回通算角度を測定する角度測
定装置と、平板の巻回通算使用量を測定する使用量測定
装置を設け、巻回途中の所定時点における巻回通算角度
θと巻回通算使用量Ｄ（θ）をｎ＋１回測定し、次
（１）式及び（２）式から目的周長Ｌとなるまでに必要
な目的巻回通算角度γを演算し、巻回通算角度θが目的
巻回通算角度γに達したときに所定位置で平板及び波板
を切断して巻回を停止することを特徴とする。Ｄ（θ）＝Ａ n θ n ＋Ａ n-1 θ n-1 ＋・・・＋Ａ 2 θ 2 ＋Ａ 1 θ＋Ａ 0 （１） Ｌ＝Ｄ（γ）−Ｄ（γ−２π） ＝Ａ n γ n ＋Ａ n-1 γ n-1 ＋・・・＋Ａ 2 γ 2 ＋Ａ 1 γ＋Ａ 0 −｛Ａ n （γ−２π） n ＋Ａ n-1 （γ−２π） n-1 ＋・・・ ・・・＋Ａ 2 （γ−２π） 2 ＋Ａ 1 （γ−２π）＋Ａ 0 ｝ （２）
発明のメタル担体用ハニカム体の製造方法は、平板と波
板を重ねてロール状に巻回するハニカム体の製造方法で
あって、平板又は波板の巻回通算角度を測定する角度測
定装置と、平板の巻回通算使用量を測定する使用量測定
装置を設け、巻回途中の所定時点における巻回通算角度
θと巻回通算使用量Ｄ（θ）をｎ＋１回測定し、次
（１）式及び（２）式から目的周長Ｌとなるまでに必要
な目的巻回通算角度γを演算し、巻回通算角度θが目的
巻回通算角度γに達したときに所定位置で平板及び波板
を切断して巻回を停止することを特徴とする。Ｄ（θ）＝Ａ n θ n ＋Ａ n-1 θ n-1 ＋・・・＋Ａ 2 θ 2 ＋Ａ 1 θ＋Ａ 0 （１） Ｌ＝Ｄ（γ）−Ｄ（γ−２π） ＝Ａ n γ n ＋Ａ n-1 γ n-1 ＋・・・＋Ａ 2 γ 2 ＋Ａ 1 γ＋Ａ 0 −｛Ａ n （γ−２π） n ＋Ａ n-1 （γ−２π） n-1 ＋・・・ ・・・＋Ａ 2 （γ−２π） 2 ＋Ａ 1 （γ−２π）＋Ａ 0 ｝ （２）
【００１０】また第２発明のメタル担体用ハニカム体の
製造方法は、平板と波板を重ねてロール状に巻回するハ
ニカム体の製造方法であって、平板又は波板の巻回数を
測定する巻回数測定装置と、平板の１回の巻回分の巻回
使用量を測定する使用量測定装置を設け、巻回途中の所
定時点における巻回数ｉと巻回使用量Ｌ（ｉ）をｎ＋１
回測定し、次（３）式及び（４）式から目的周長Ｌとな
るまでに必要な目的巻回数ｘを演算し、巻回数ｉが目的
巻回数ｘに達したときに所定位置で平板及び波板を切断
して巻回を停止することを特徴とする。Ｌ（ｉ）＝Ｂ n ｉ n ＋Ｂ n-1 ｉ n-1 ＋・・・＋Ｂ 2 ｉ 2 ＋Ｂ 1 ｉ＋Ｂ 0 （３） Ｌ＝Ｂ n ｘ n ＋Ｂ n-1 ｘ n-1 ＋・・・＋Ｂ 2 ｘ 2 ＋Ｂ 1 ｘ＋Ｂ 0 （４）
製造方法は、平板と波板を重ねてロール状に巻回するハ
ニカム体の製造方法であって、平板又は波板の巻回数を
測定する巻回数測定装置と、平板の１回の巻回分の巻回
使用量を測定する使用量測定装置を設け、巻回途中の所
定時点における巻回数ｉと巻回使用量Ｌ（ｉ）をｎ＋１
回測定し、次（３）式及び（４）式から目的周長Ｌとな
るまでに必要な目的巻回数ｘを演算し、巻回数ｉが目的
巻回数ｘに達したときに所定位置で平板及び波板を切断
して巻回を停止することを特徴とする。Ｌ（ｉ）＝Ｂ n ｉ n ＋Ｂ n-1 ｉ n-1 ＋・・・＋Ｂ 2 ｉ 2 ＋Ｂ 1 ｉ＋Ｂ 0 （３） Ｌ＝Ｂ n ｘ n ＋Ｂ n-1 ｘ n-1 ＋・・・＋Ｂ 2 ｘ 2 ＋Ｂ 1 ｘ＋Ｂ 0 （４）
【００１１】
【作用】第１発明では、巻回途中の所定時点における巻
回通算角度θと、その時の巻回通算使用量Ｄ（θ）が測
定される。ここでＤ（θ）は通算角度θだけ巻回された
ハニカム体の通算（積算）周長に等しい。したがってＤ
（θ）とθとは（１）式のｎ次式で近似的に表される。 Ｄ（θ）＝Ａn θn ＋Ａn-1 θn-1 ＋・・・＋Ａ2 θ2 ＋Ａ1 θ＋Ａ0 （１） また目的とする目的巻回通算角度をγとすると、目的と
するハニカム体の周長である目的周長Ｌは（２）式で表
される。 Ｌ＝Ｄ（γ）−Ｄ（γ−２π） ＝Ａn γn ＋Ａn-1 γn-1 ＋・・・＋Ａ2 γ2 ＋Ａ1 γ＋Ａ0 −｛Ａn （γ−２π）n ＋Ａn-1 （γ−２π）n-1 ＋・・・ ・・・＋Ａ2 （γ−２π）2 ＋Ａ1 （γ−２π）＋Ａ0 ｝ （２） そしてθとＤ（θ）を（ｎ＋１）回測定して演算するこ
とにより、（１）式から定数Ａn ，Ａn-1 ，・・・
Ａ2 ，Ａ1 ，Ａ0 が求められる。またＬは予め決められ
ているのだから、それらを（２）式に代入・演算するこ
とによりγを求めることができる。
回通算角度θと、その時の巻回通算使用量Ｄ（θ）が測
定される。ここでＤ（θ）は通算角度θだけ巻回された
ハニカム体の通算（積算）周長に等しい。したがってＤ
（θ）とθとは（１）式のｎ次式で近似的に表される。 Ｄ（θ）＝Ａn θn ＋Ａn-1 θn-1 ＋・・・＋Ａ2 θ2 ＋Ａ1 θ＋Ａ0 （１） また目的とする目的巻回通算角度をγとすると、目的と
するハニカム体の周長である目的周長Ｌは（２）式で表
される。 Ｌ＝Ｄ（γ）−Ｄ（γ−２π） ＝Ａn γn ＋Ａn-1 γn-1 ＋・・・＋Ａ2 γ2 ＋Ａ1 γ＋Ａ0 −｛Ａn （γ−２π）n ＋Ａn-1 （γ−２π）n-1 ＋・・・ ・・・＋Ａ2 （γ−２π）2 ＋Ａ1 （γ−２π）＋Ａ0 ｝ （２） そしてθとＤ（θ）を（ｎ＋１）回測定して演算するこ
とにより、（１）式から定数Ａn ，Ａn-1 ，・・・
Ａ2 ，Ａ1 ，Ａ0 が求められる。またＬは予め決められ
ているのだから、それらを（２）式に代入・演算するこ
とによりγを求めることができる。
【００１２】したがって巻回通算角度がγとなった時点
で巻回を停止し、巻回された分だけをハニカム体とする
ことで、所定周長をもち寸法精度の高いハニカム体を製
造することができる。なお、定数Ａn ，Ａn-1 ，・・・
Ａ2 ，Ａ1 ，Ａ0 を求める際には、（１）・（２）式の
近似をより正確に行うために、できるだけ巻回終盤で測
定されたθとＤ（θ）を用いるのが好ましい。
で巻回を停止し、巻回された分だけをハニカム体とする
ことで、所定周長をもち寸法精度の高いハニカム体を製
造することができる。なお、定数Ａn ，Ａn-1 ，・・・
Ａ2 ，Ａ1 ，Ａ0 を求める際には、（１）・（２）式の
近似をより正確に行うために、できるだけ巻回終盤で測
定されたθとＤ（θ）を用いるのが好ましい。
【００１３】第２発明では、巻回途中の所定時点におけ
る巻回数（ｉ）と，その１回の巻回で使用された平板の
長さである巻回使用量Ｌ（ｉ）が測定される。このＬ
（ｉ）はその時点でのハニカム体の周長に等しい。した
がってＬ（ｉ）とｉとは（３）式のｎ次式で近似的に表
される。 Ｌ（ｉ）＝Ｂn ｉn ＋Ｂn-1 ｉn-1 ＋・・・＋Ｂ2 ｉ2 ＋Ｂ1 ｉ＋Ｂ0 （３） また目的とする巻回数をｘとすると、ｘ回巻回した時の
周長は目的周長Ｌであるから、 Ｌ＝Ｂn ｘn ＋Ｂn-1 ｘn-1 ＋・・・＋Ｂ2 ｘ2 ＋Ｂ1 ｘ＋Ｂ0 （４） となる。
る巻回数（ｉ）と，その１回の巻回で使用された平板の
長さである巻回使用量Ｌ（ｉ）が測定される。このＬ
（ｉ）はその時点でのハニカム体の周長に等しい。した
がってＬ（ｉ）とｉとは（３）式のｎ次式で近似的に表
される。 Ｌ（ｉ）＝Ｂn ｉn ＋Ｂn-1 ｉn-1 ＋・・・＋Ｂ2 ｉ2 ＋Ｂ1 ｉ＋Ｂ0 （３） また目的とする巻回数をｘとすると、ｘ回巻回した時の
周長は目的周長Ｌであるから、 Ｌ＝Ｂn ｘn ＋Ｂn-1 ｘn-1 ＋・・・＋Ｂ2 ｘ2 ＋Ｂ1 ｘ＋Ｂ0 （４） となる。
【００１４】そしてｉとＬ（ｉ）を（ｎ＋１）回測定し
て演算することにより、（３）式から定数Ｂn ，
Ｂn-1 ，・・・Ｂ2 ，Ｂ1 ，Ｂ0 が求められる。またＬ
は予め決められているのだから、それらを（４）式に代
入することによりｘを求めることができる。したがって
巻回数がｘとなった時点で巻回を停止し、巻回された分
だけをハニカム体とすることで、所定周長をもち寸法精
度の高いハニカム体を製造することができる。なお、定
数Ｂn ，Ｂn-1 ，・・・Ｂ2 ，Ｂ1 ，Ｂ0 を求める際に
は、（３）・（４）式の近似をより正確に行うために、
できるだけ巻回終盤で測定されたｉとＬ（ｉ）を用いる
のが好ましい。
て演算することにより、（３）式から定数Ｂn ，
Ｂn-1 ，・・・Ｂ2 ，Ｂ1 ，Ｂ0 が求められる。またＬ
は予め決められているのだから、それらを（４）式に代
入することによりｘを求めることができる。したがって
巻回数がｘとなった時点で巻回を停止し、巻回された分
だけをハニカム体とすることで、所定周長をもち寸法精
度の高いハニカム体を製造することができる。なお、定
数Ｂn ，Ｂn-1 ，・・・Ｂ2 ，Ｂ1 ，Ｂ0 を求める際に
は、（３）・（４）式の近似をより正確に行うために、
できるだけ巻回終盤で測定されたｉとＬ（ｉ）を用いる
のが好ましい。
【００１５】
【実施例】以下、実施例により具体的に説明する。 （実施例１）図１に本実施例で用いた製造装置の概略図
を示す。平板１と波板２は、波板２が内側、平板１が外
側となるように巻取り用モータ３にて巻き取られる。巻
取り用モータにはエンコーダ４が取り付けられ、巻回通
算角度θ（ラジアン）が検出される。また平板１の供給
側には使用量測定ユニット５が設けられ、平板１の巻回
通算使用量Ｄ（θ）を検出する。使用量測定ユニット５
の前方には、平板１と波板２を切断する切断カッター６
が設けられている。
を示す。平板１と波板２は、波板２が内側、平板１が外
側となるように巻取り用モータ３にて巻き取られる。巻
取り用モータにはエンコーダ４が取り付けられ、巻回通
算角度θ（ラジアン）が検出される。また平板１の供給
側には使用量測定ユニット５が設けられ、平板１の巻回
通算使用量Ｄ（θ）を検出する。使用量測定ユニット５
の前方には、平板１と波板２を切断する切断カッター６
が設けられている。
【００１６】使用量測定ユニット５としては、図２に示
すレーザなどの変位センサ５０、図３及び図４に示すエ
ンコーダ５１，５２などを利用できる。図４では、変位
センサ５３によりリール５４に巻かれた平板１の直径を
計測し、エンコーダ５２の計測値との演算により平板１
の使用量を測定することができる。そしてエンコーダ４
と使用量測定ユニット５の信号は制御装置７に入力さ
れ、制御装置７はその入力信号を演算し、その結果に基
づいて切断カッター６を駆動して平板１と波板２を切断
するとともに、巻取り用モータ３の駆動を停止する。な
お、平板１の巻き取り位置と切断位置は、ｄの距離だけ
離間している。
すレーザなどの変位センサ５０、図３及び図４に示すエ
ンコーダ５１，５２などを利用できる。図４では、変位
センサ５３によりリール５４に巻かれた平板１の直径を
計測し、エンコーダ５２の計測値との演算により平板１
の使用量を測定することができる。そしてエンコーダ４
と使用量測定ユニット５の信号は制御装置７に入力さ
れ、制御装置７はその入力信号を演算し、その結果に基
づいて切断カッター６を駆動して平板１と波板２を切断
するとともに、巻取り用モータ３の駆動を停止する。な
お、平板１の巻き取り位置と切断位置は、ｄの距離だけ
離間している。
【００１７】実際の製造に当たり、先ず目的とするハニ
カム体の周長（目的周長）Ｌを決めて制御装置７に入力
しておく。そして巻取り用モータ３を駆動し、平板１と
波板２を重ねて巻き取る。巻取りと同時にエンコーダ４
と使用量測定ユニット５を駆動し、巻回通算角度θと巻
回通算使用量Ｄ（θ）が逐次制御装置７に入力される。
カム体の周長（目的周長）Ｌを決めて制御装置７に入力
しておく。そして巻取り用モータ３を駆動し、平板１と
波板２を重ねて巻き取る。巻取りと同時にエンコーダ４
と使用量測定ユニット５を駆動し、巻回通算角度θと巻
回通算使用量Ｄ（θ）が逐次制御装置７に入力される。
【００１８】制御装置７は、巻取り後半においてθとＤ
（θ）を（ｎ＋１）回計測し、（１）式に代入し演算し
て定数Ａn ，Ａn-1 ，・・・Ａ2 ，Ａ1 ，Ａ0 をそれぞ
れ求める。 Ｄ（θ）＝Ａn θn ＋Ａn-1 θn-1 ＋・・・＋Ａ2 θ2 ＋Ａ1 θ＋Ａ0 （１） 次に、得られた定数Ａn ，Ａn-1 ，・・・Ａ2 ，Ａ1 ，
Ａ0 と予め与えられた目的周長Ｌを（２）式に代入し、
演算して目的巻回通算角度γを求める。 Ｌ＝Ｄ（γ）−Ｄ（γ−２π） ＝Ａn γn ＋Ａn-1 γn-1 ＋・・・＋Ａ2 γ2 ＋Ａ1 γ＋Ａ0 −｛Ａn （γ−２π）n ＋Ａn-1 （γ−２π）n-1 ＋・・・ ・・・＋Ａ2 （γ−２π）2 ＋Ａ1 （γ−２π）＋Ａ0 ｝ （２） ここで巻取り位置と切断位置の間にはｄの距離が存在す
るため、目的巻回通算角度γとなった時点で切断すると
ｄの分だけ余分に巻回されることとなる。したがって実
際に切断する指標となる巻回通算角度δはγよりも小さ
く、（５）式の関係がある。 δ＝γ−２πｄ／Ｌ （５） 制御装置７は、巻回通算角度θがδと等しくなると切断
カッター６を駆動し、平板１と波板２を切断する。そし
て巻取りモータ３はそれよりやや遅れ、距離ｄの部分の
平板１及び波板２を巻き取ってから停止される。平板１
及び波板２の巻取り端部は、スポット・レーザー溶接な
どにより固定され、ハニカム体が得られる。
（θ）を（ｎ＋１）回計測し、（１）式に代入し演算し
て定数Ａn ，Ａn-1 ，・・・Ａ2 ，Ａ1 ，Ａ0 をそれぞ
れ求める。 Ｄ（θ）＝Ａn θn ＋Ａn-1 θn-1 ＋・・・＋Ａ2 θ2 ＋Ａ1 θ＋Ａ0 （１） 次に、得られた定数Ａn ，Ａn-1 ，・・・Ａ2 ，Ａ1 ，
Ａ0 と予め与えられた目的周長Ｌを（２）式に代入し、
演算して目的巻回通算角度γを求める。 Ｌ＝Ｄ（γ）−Ｄ（γ−２π） ＝Ａn γn ＋Ａn-1 γn-1 ＋・・・＋Ａ2 γ2 ＋Ａ1 γ＋Ａ0 −｛Ａn （γ−２π）n ＋Ａn-1 （γ−２π）n-1 ＋・・・ ・・・＋Ａ2 （γ−２π）2 ＋Ａ1 （γ−２π）＋Ａ0 ｝ （２） ここで巻取り位置と切断位置の間にはｄの距離が存在す
るため、目的巻回通算角度γとなった時点で切断すると
ｄの分だけ余分に巻回されることとなる。したがって実
際に切断する指標となる巻回通算角度δはγよりも小さ
く、（５）式の関係がある。 δ＝γ−２πｄ／Ｌ （５） 制御装置７は、巻回通算角度θがδと等しくなると切断
カッター６を駆動し、平板１と波板２を切断する。そし
て巻取りモータ３はそれよりやや遅れ、距離ｄの部分の
平板１及び波板２を巻き取ってから停止される。平板１
及び波板２の巻取り端部は、スポット・レーザー溶接な
どにより固定され、ハニカム体が得られる。
【００１９】ｎを２以上に設定して得られたハニカム体
は、周長の精度が±０．１ｍｍの範囲となり、不良品の
発生は皆無となった。 （実施例２）この実施例２でも、図１の製造装置を用い
た。実際の製造に当たり、先ず目的とするハニカム体の
周長（目的周長）Ｌを決めて制御装置７に入力してお
く。そして巻取り用モータ３を駆動し、平板１と波板２
を重ねて巻き取る。巻取りと同時にエンコーダ４と使用
量測定ユニット５を駆動し、巻回数ｉと巻回通算使用量
が制御装置７に逐次入力される。
は、周長の精度が±０．１ｍｍの範囲となり、不良品の
発生は皆無となった。 （実施例２）この実施例２でも、図１の製造装置を用い
た。実際の製造に当たり、先ず目的とするハニカム体の
周長（目的周長）Ｌを決めて制御装置７に入力してお
く。そして巻取り用モータ３を駆動し、平板１と波板２
を重ねて巻き取る。巻取りと同時にエンコーダ４と使用
量測定ユニット５を駆動し、巻回数ｉと巻回通算使用量
が制御装置７に逐次入力される。
【００２０】制御装置７は、巻取り後半において内部カ
ウンタによりエンコーダ４から入力される巻回数ｉを記
憶する。そして使用量測定ユニット５から入力された巻
回通算使用量の差より、ｉ−１周目からｉ周目までの１
周分に使用された平板１の長さである巻回使用量Ｌ
（ｉ）が算出される。これを（ｎ＋１）回行い、（３）
式に代入・演算して定数Ｂn ，Ｂn-1 ，・・・Ｂ2 ，Ｂ
1 ，Ｂ0 を求める。 Ｌ（ｉ）＝Ｂn ｉn ＋Ｂn-1 ｉn-1 ＋・・・＋Ｂ2 ｉ2 ＋Ｂ1 ｉ＋Ｂ0 （３） 次に（４）式を利用して目的巻回数ｘを求めるのである
が、巻取り位置と切断位置の間にはｄの距離が存在する
ため、（４）式は（６）式となる。 Ｌ＝Ｂn （ｘ＋ｄ／Ｌ）n ＋Ｂn-1 （ｘ＋ｄ／Ｌ）n-1 ＋・・・ ・・・＋Ｂ2 （ｘ＋ｄ／Ｌ）2 ＋Ｂ1 （ｘ＋ｄ／Ｌ）＋Ｂ0 （６） したがって（６）式にＬ，ｄ及び定数Ｂn ，Ｂn-1 ，・
・・Ｂ2 ，Ｂ1 ，Ｂ0を代入・演算することによりｘが
求められる。
ウンタによりエンコーダ４から入力される巻回数ｉを記
憶する。そして使用量測定ユニット５から入力された巻
回通算使用量の差より、ｉ−１周目からｉ周目までの１
周分に使用された平板１の長さである巻回使用量Ｌ
（ｉ）が算出される。これを（ｎ＋１）回行い、（３）
式に代入・演算して定数Ｂn ，Ｂn-1 ，・・・Ｂ2 ，Ｂ
1 ，Ｂ0 を求める。 Ｌ（ｉ）＝Ｂn ｉn ＋Ｂn-1 ｉn-1 ＋・・・＋Ｂ2 ｉ2 ＋Ｂ1 ｉ＋Ｂ0 （３） 次に（４）式を利用して目的巻回数ｘを求めるのである
が、巻取り位置と切断位置の間にはｄの距離が存在する
ため、（４）式は（６）式となる。 Ｌ＝Ｂn （ｘ＋ｄ／Ｌ）n ＋Ｂn-1 （ｘ＋ｄ／Ｌ）n-1 ＋・・・ ・・・＋Ｂ2 （ｘ＋ｄ／Ｌ）2 ＋Ｂ1 （ｘ＋ｄ／Ｌ）＋Ｂ0 （６） したがって（６）式にＬ，ｄ及び定数Ｂn ，Ｂn-1 ，・
・・Ｂ2 ，Ｂ1 ，Ｂ0を代入・演算することによりｘが
求められる。
【００２１】制御装置７は、巻回数ｉがｘと等しくなる
と切断カッター６を駆動し、平板１と波板２を切断す
る。そして巻取りモータ３はそれよりやや遅れ、距離ｄ
の部分の平板１及び波板２を巻き取ってから停止され
る。平板１及び波板２の巻取り端部は、スポット・レー
ザー溶接などにより固定され、ハニカム体が得られる。
ｎを２以上に設定して得られたハニカム体は、周長の精
度が±０．１ｍｍの範囲となり、不良品の発生は皆無と
なった。
と切断カッター６を駆動し、平板１と波板２を切断す
る。そして巻取りモータ３はそれよりやや遅れ、距離ｄ
の部分の平板１及び波板２を巻き取ってから停止され
る。平板１及び波板２の巻取り端部は、スポット・レー
ザー溶接などにより固定され、ハニカム体が得られる。
ｎを２以上に設定して得られたハニカム体は、周長の精
度が±０．１ｍｍの範囲となり、不良品の発生は皆無と
なった。
【００２２】
【発明の効果】すなわち本発明のハニカム体の製造方法
によれば、目的周長となるように演算して得られた目的
巻回通算角度及び目的巻回数を指標として巻回を停止し
ているので、周長＝直径×π 式より、直径を直接計測
する場合に比べてπ倍の精度となり、直径を直接計測す
る場合に比べて誤差が１／πとなる。
によれば、目的周長となるように演算して得られた目的
巻回通算角度及び目的巻回数を指標として巻回を停止し
ているので、周長＝直径×π 式より、直径を直接計測
する場合に比べてπ倍の精度となり、直径を直接計測す
る場合に比べて誤差が１／πとなる。
【００２３】したがって本発明のハニカム体の製造方法
によれば、安定して寸法精度高く製造できるので、歩留
りが向上するとともに、巻取り後の周長検査及び手直し
の工程が不要となり工数を大幅に削減することができ
る。
によれば、安定して寸法精度高く製造できるので、歩留
りが向上するとともに、巻取り後の周長検査及び手直し
の工程が不要となり工数を大幅に削減することができ
る。
【図１】本発明の実施例で用いた製造装置の概略構成を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図２】本発明の実施例で用いた使用量測定ユニットの
具体例を示す概略説明図である。
具体例を示す概略説明図である。
【図３】本発明の実施例で用いた使用量測定ユニットの
具体例を示す概略説明図である。
具体例を示す概略説明図である。
【図４】本発明の実施例で用いた使用量測定ユニットの
具体例を示す概略説明図である。
具体例を示す概略説明図である。
１：平板 ２：波板 ３：
巻取りモータ ４：エンコーダ（角度測定装置・巻回数測定装置） ５：平板使用量測定ユニット（使用量測定装置） ６：切断カッター ７：制御装置
巻取りモータ ４：エンコーダ（角度測定装置・巻回数測定装置） ５：平板使用量測定ユニット（使用量測定装置） ６：切断カッター ７：制御装置
Claims (2)
- 【請求項１】 平板と波板を重ねてロール状に巻回する
ハニカム体の製造方法であって、該平板又は該波板の巻
回通算角度を測定する角度測定装置と、該平板の巻回通
算使用量を測定する使用量測定装置を設け、 巻回途中の所定時点における該巻回通算角度θと該巻回
通算使用量Ｄ（θ）をｎ＋１回測定し、次（１）式及び
（２）式から目的周長Ｌとなるまでに必要な目的巻回通
算角度γを演算し、該巻回通算角度θが該目的巻回通算
角度γに達したときに所定位置で該平板及び該波板を切
断して巻回を停止することを特徴とするメタル担体用ハ
ニカム体の製造方法。Ｄ（θ）＝Ａ n θ n ＋Ａ n-1 θ n-1 ＋・・・＋Ａ 2 θ 2 ＋Ａ 1 θ＋Ａ 0 （１） Ｌ＝Ｄ（γ）−Ｄ（γ−２π） ＝Ａ n γ n ＋Ａ n-1 γ n-1 ＋・・・＋Ａ 2 γ 2 ＋Ａ 1 γ＋Ａ 0 −｛Ａ n （γ−２π） n ＋Ａ n-1 （γ−２π） n-1 ＋・・・ ・・・＋Ａ 2 （γ−２π） 2 ＋Ａ 1 （γ−２π）＋Ａ 0 ｝ （２） - 【請求項２】 平板と波板を重ねてロール状に巻回する
ハニカム体の製造方法であって、該平板又は該波板の巻
回数を測定する巻回数測定装置と、該平板の１回の巻回
分の巻回使用量を測定する使用量測定装置を設け、巻回
途中の所定時点における該巻回数ｉと該巻回使用量Ｌ
（ｉ）をｎ＋１回測定し、次（３）式及び（４）式から
目的周長Ｌとなるまでに必要な目的巻回数ｘを演算し、
該巻回数ｉが該目的巻回数ｘに達したときに所定位置で
該平板及び該波板を切断して巻回を停止することを特徴
とするメタル担体用ハニカム体の製造方法。Ｌ（ｉ）＝Ｂ n ｉ n ＋Ｂ n-1 ｉ n-1 ＋・・・＋Ｂ 2 ｉ 2 ＋Ｂ 1 ｉ＋Ｂ 0 （３） Ｌ＝Ｂ n ｘ n ＋Ｂ n-1 ｘ n-1 ＋・・・＋Ｂ 2 ｘ 2 ＋Ｂ 1 ｘ＋Ｂ 0 （４）
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19648293A JP3257651B2 (ja) | 1993-08-06 | 1993-08-06 | メタル担体用ハニカム体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19648293A JP3257651B2 (ja) | 1993-08-06 | 1993-08-06 | メタル担体用ハニカム体の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0747284A JPH0747284A (ja) | 1995-02-21 |
| JP3257651B2 true JP3257651B2 (ja) | 2002-02-18 |
Family
ID=16358525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19648293A Expired - Fee Related JP3257651B2 (ja) | 1993-08-06 | 1993-08-06 | メタル担体用ハニカム体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3257651B2 (ja) |
-
1993
- 1993-08-06 JP JP19648293A patent/JP3257651B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0747284A (ja) | 1995-02-21 |
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