JPH05244568A - Time base correction circuit - Google Patents

Time base correction circuit

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JPH05244568A
JPH05244568A JP4041183A JP4118392A JPH05244568A JP H05244568 A JPH05244568 A JP H05244568A JP 4041183 A JP4041183 A JP 4041183A JP 4118392 A JP4118392 A JP 4118392A JP H05244568 A JPH05244568 A JP H05244568A
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time
circuit
delay line
fluctuation
sawtooth wave
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Yoshichika Hirao
義周 平尾
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Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To provide the time base correction circuit with high accuracy in which number of adjustment positions is less. CONSTITUTION:Sawtooth wave generating circuits 7, 20 provided to input and output sides of a CCD delay line 10 respectively and sample-and-hold circuits 6, 19 detect a holding component of a time axis fluctuation and a residual time base fluctuation, LPFs 15, 16 detect a DC component of the time base fluctuation and the residual time base fluctuation and they are compared to detect a delay from a prescribed mean delay time, then the slope of the sawtooth wave is changed accordingly to keep a mean delay time to a prescribed time. Furthermore, the holding value of the time base fluctuation is inputted to an adder 23, and full-wave-rectified and the DC component is detected via an LPF 22, and the result is amplified by an amplifier 27 on the other hand and the amplified signal is inputted to the adder 23, its output is full-wave- rectified and the rectified signal is given to an LPF 25 to detect the DC component, the deviation from an optimum value is detected by comparing them to change the gain of a variable gain circuit 8 thereby controlling the delay time in the CCD delay line 10.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ビデオディスクプレー
ヤ、ビデオテープレコーダ等を再生する際に発生する時
間軸変動を補正するための時間軸補正回路(以後TBC
回路と略す)に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a time axis correction circuit (hereinafter TBC) for correcting a time axis fluctuation which occurs when a video disk player, a video tape recorder or the like is reproduced.
Abbreviated as a circuit).

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のフィード・フォワード型TBC回
路を図3、図4に示す。
2. Description of the Related Art A conventional feed-forward TBC circuit is shown in FIGS.

【0003】図3は遅延線としてCCDを用いた例、図
4は遅延線としてCMOSインバータディレイラインを
用いた例を示す。
FIG. 3 shows an example using a CCD as a delay line, and FIG. 4 shows an example using a CMOS inverter delay line as a delay line.

【0004】図3において、入力端子aに入力された映
像信号(若しくは輝度信号)は、CCD遅延線10に入
力されるとともに同期分離回路1にも入力され、前記信
号から水平同期信号が抜き出される。そして、抜き出さ
れた水平同期信号は、サンプルホールド回路6と、比較
器2、LPF3、VCO4、及び分周器5から構成され
るPLL回路に入力される。ここで、LPF3の時定数
は非常に大きく設定されているため、このPLL回路で
は同期信号に含まれる高周波域の時間軸変動(例えば、
ヘッドが磁気テープと接触して起こる磁気テープの振動
に起因して発生するジッタ)に追従しないように制御さ
れることとなる。
In FIG. 3, the video signal (or luminance signal) input to the input terminal a is input to the CCD delay line 10 and also to the sync separation circuit 1, and the horizontal sync signal is extracted from the signal. Be done. Then, the extracted horizontal synchronizing signal is input to the sample hold circuit 6, and the PLL circuit including the comparator 2, the LPF 3, the VCO 4, and the frequency divider 5. Here, since the time constant of the LPF 3 is set to be extremely large, in this PLL circuit, the time base fluctuation of the high frequency range included in the synchronization signal (for example,
The head is controlled so as not to follow the jitter generated due to the vibration of the magnetic tape caused by the contact with the magnetic tape.

【0005】また、分周器5から出力された信号は、基
準信号としてのこぎり波発生回路7にも入力され、この
信号を基準としてのこぎり波が作成される。
The signal output from the frequency divider 5 is also input to the sawtooth wave generation circuit 7 as a reference signal, and a sawtooth wave is generated with this signal as a reference.

【0006】一方、サンプルホールド回路6には、のこ
ぎり波発生回路7により作成されたのこぎり波と同期分
離回路1により分離された水平同期信号とが入力され、
この水平同期信号を基準信号として作成されたサンプリ
ングパルスによりのこぎり波のサンプルホールドが行わ
れる。ここで、高周波域の時間軸変動に応じてサンプリ
ングパルスの位置が異なるため、ホールドされた値は異
なることになり、映像信号中に含まれる高周波域の時間
軸変動分が抽出される。そして、抽出された高周波域の
時間軸変動分は可変利得回路8に入力され、この可変利
得回路8をVCOの特性に応じて最適に調整することに
よりVCO9が制御され、CCD遅延線10の遅延時間
を制御する。この結果、CCD遅延線10の出力側には
高周波域の時間軸変動が除去された映像信号もしくは輝
度信号が現れる。次に、CCD遅延線を通過した映像信
号若しくは輝度信号は、同期差し替え回路11により分
周器5で作成された基準信号(疑似水平同期信号)と差
し替えられた後、出力端子bに出力される。
On the other hand, the sample-hold circuit 6 receives the saw-tooth wave created by the saw-tooth wave generating circuit 7 and the horizontal synchronizing signal separated by the sync separating circuit 1,
The sawtooth wave is sampled and held by the sampling pulse created using the horizontal synchronizing signal as a reference signal. Here, since the position of the sampling pulse differs depending on the time base fluctuation in the high frequency region, the held value is different, and the time base fluctuation component in the high frequency region included in the video signal is extracted. Then, the extracted time axis fluctuation of the high frequency region is input to the variable gain circuit 8, and the VCO 9 is controlled by optimally adjusting the variable gain circuit 8 according to the characteristics of the VCO, and the delay of the CCD delay line 10 is delayed. Control the time. As a result, on the output side of the CCD delay line 10, a video signal or a luminance signal from which the time base fluctuation in the high frequency region is removed appears. Next, the video signal or the luminance signal that has passed through the CCD delay line is replaced with the reference signal (pseudo horizontal sync signal) created by the frequency divider 5 by the sync replacement circuit 11, and then output to the output terminal b. ..

【0007】このようにして、高周波域の時間軸変動分
が除去された映像信号若しくは輝度信号が出力される。
In this way, the video signal or the luminance signal from which the time-axis fluctuation in the high frequency range is removed is output.

【0008】次に、図4の従来例について説明する。Next, the conventional example of FIG. 4 will be described.

【0009】図4は、可変遅延線としてCMOSインバ
ータ9を使用した例で、CMOSインバータの遅延時間
はVDD電圧により変化し、必要とされる可変範囲に応
じてCMOSインバータを接続する段数が決められる。
FIG. 4 shows an example in which the CMOS inverter 9 is used as the variable delay line. The delay time of the CMOS inverter changes according to the VDD voltage, and the number of stages to connect the CMOS inverter is determined according to the required variable range. ..

【0010】尚、図4の従来例につても基本的制御は図
3と同じためその説明を省略する。
Since the basic control of the conventional example of FIG. 4 is the same as that of FIG. 3, the description thereof will be omitted.

【0011】この従来例では、可変遅延線としてCMO
Sインバータを使用しているため、このCMOSインバ
ータは振幅方向にその情報を持たないため、通常の映像
信号若しくは輝度信号を直接入力することができず、F
M変調器10でFM変調した後に入力することになる。
そして、FM変調された映像信号若しくは輝度信号は、
CMOSインバータディレイライン9を通過した後にF
M復調器11で復調される。次に、抽出された高周波域
の時間軸変動分は、可変利得回路8によりCMOSイン
バータディレイライン9の特性に応じて適当に調整さ
れ、制御電圧となり、映像信号若しくは輝度信号の遅延
時間が制御される。
In this conventional example, a CMO is used as a variable delay line.
Since the S inverter is used, this CMOS inverter does not have that information in the amplitude direction, and therefore a normal video signal or luminance signal cannot be directly input.
It is input after being FM-modulated by the M modulator 10.
The FM-modulated video signal or luminance signal is
F after passing through the CMOS inverter delay line 9
It is demodulated by the M demodulator 11. Next, the extracted time-axis variation in the high frequency range is appropriately adjusted by the variable gain circuit 8 according to the characteristics of the CMOS inverter delay line 9 to become a control voltage, and the delay time of the video signal or the luminance signal is controlled. It

【0012】従って、FM復調器11により復調された
映像信号若しくは輝度信号は高周波域の時間軸変動分が
除去されてることとなる。
Therefore, the video signal or the luminance signal demodulated by the FM demodulator 11 has the time axis fluctuation in the high frequency range removed.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】ところで、図3の従来
例では、可変利得回路8によりVCO9の発振周波数を
制御し、このVCO9の発振周波数によりCCD遅延線
10の遅延時間を制御している。しかしながら、CCD
遅延線10の遅延時間を制御するには、可変利得回路8
の直流電圧の調整、及び可変利得回路の8の振幅値の調
整が必要となり、合計の2ケ所の調整が必要であった。
そればかりか上記の調整をした後に温度特性や経時変化
によりVCO9の特性が変化して時間軸変動分の振幅が
適切でなくなり、変動が充分に除去できなかったり、平
均遅延時間の擦れにより同期差替え回路11で差替える
同期信号と映像信号若しくは輝度信号の位相がずれてく
る問題がある。
In the conventional example shown in FIG. 3, the variable gain circuit 8 controls the oscillation frequency of the VCO 9, and the oscillation frequency of the VCO 9 controls the delay time of the CCD delay line 10. However, CCD
To control the delay time of the delay line 10, the variable gain circuit 8
It was necessary to adjust the DC voltage and the amplitude value of 8 of the variable gain circuit, and a total of two adjustments were necessary.
Not only that, but after the above adjustment, the characteristics of the VCO 9 change due to temperature characteristics and changes over time, the amplitude of the fluctuation on the time axis becomes inadequate, fluctuations cannot be removed sufficiently, and synchronization replacement is performed due to rubbing of the average delay time. There is a problem that the phase of the synchronizing signal and the video signal or the luminance signal which are replaced by the circuit 11 are out of phase.

【0014】また、図4においても同様でCMOSイン
バータディレイライン9の特性に応じて、上記従来例と
同様2ケ所の調整と調整後のCMOSインバータディレ
イライン9の特性変化に伴う問題点がある。
Also in FIG. 4, similarly, there are problems associated with the characteristics of the CMOS inverter delay line 9 in the same manner as in the above-described conventional example, in which two adjustments are made and the characteristics of the CMOS inverter delay line 9 after adjustment are changed.

【0015】本発明は上述の欠点に鑑みなされたもので
あり、精度の良い時間軸補正回路を提供するものであ
る。
The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks, and provides an accurate time axis correction circuit.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】本発明は、可変遅延線に
入力される映像信号から時間軸変動成分を抽出するため
の第1のこぎり波発生回路、及び第1サンプルホールド
回路を有する第1時間軸変動検出手段と、前記可変遅延
線を制御するために前記時間軸変動成分を増幅または減
衰させる可変利得回路と、可変遅延線から出力される映
像信号の残留時間軸変動成分を抽出するための第2のこ
ぎり波発生回路、及び第2サンプルホールド回路を有す
る第2時間軸変動検出手段と、前記第1及び第2時間軸
変動検出手段に接続された可変利得回路制御手段とから
なり、前記第1時間軸変動検出手段と前記第2時間軸変
動検出手段からの出力を前記可変利得回路制御手段に供
給して可変利得回路制御信号を作成し、該可変利得回路
制御信号により前記可変利得回路を制御することにより
前記可変遅延線の遅延時間を制御した時間軸補正回路で
ある。
According to the present invention, there is provided a first time period having a first sawtooth wave generating circuit for extracting a time axis fluctuation component from a video signal inputted to a variable delay line, and a first sample and hold circuit. Axis variation detecting means, a variable gain circuit for amplifying or attenuating the time axis variation component for controlling the variable delay line, and a residual time axis variation component of the video signal output from the variable delay line. A second sawtooth wave generating circuit and a second time base fluctuation detecting means having a second sample and hold circuit; and a variable gain circuit control means connected to the first and second time base fluctuation detecting means. The outputs from the 1-time-axis fluctuation detecting means and the second time-axis fluctuation detecting means are supplied to the variable gain circuit control means to create a variable gain circuit control signal, which is preceded by the variable gain circuit control signal. A time base correction circuit which controls the delay time of the variable delay line by controlling the variable gain circuit.

【0017】[0017]

【作用】本発明は、上述の構成とすることにより、遅延
線の入出力側に設けられたのこぎり波発生回路とサンプ
ルホールド回路とにより時間軸変動分及び残留時間軸変
動分のホールド値を検出する。そして、LPFにより前
記残留時間軸変動分及び時間軸変動分の直流成分を検出
し、これらの直流成分を比較することにより所定の平均
遅延時間からの擦れを検出する。次に、この擦れに従
い、入出力側ののこぎり波発生手段により作成されるの
こぎり波の傾斜を変化させ、平均遅延時間を所定値に保
つ。この時、両のこぎり波発生回路により作成されたの
こぎり波の傾斜の比は、あらかじめ平均遅延時間の値に
よって決められているため、この比を保ったまま傾斜が
変化する。
According to the present invention, with the above configuration, the hold value for the time axis fluctuation and the residual time axis fluctuation are detected by the sawtooth wave generation circuit and the sample hold circuit provided on the input / output side of the delay line. To do. Then, the LPF detects the DC components of the residual time axis variation and the time axis variation, and compares these DC components to detect rubbing from a predetermined average delay time. Next, in accordance with this rubbing, the slope of the sawtooth wave generated by the sawtooth wave generating means on the input / output side is changed to keep the average delay time at a predetermined value. At this time, since the ratio of the slopes of the sawtooth waves created by the two sawtooth wave generation circuits is determined in advance by the value of the average delay time, the slope changes while maintaining this ratio.

【0018】更に、時間軸変動分のホールド値は加算器
に入力されるとともに全波整流された後にLPFを介し
て直流成分が検出される。一方、残留時間軸変動のホー
ルド値はアンプにより増幅された後に加算器に入力さ
れ、この加算器の出力が全波整流された後にLPFを通
過することにより直流成分が検出される。次に、これら
の直流成分を比較して最適値からの擦れを検出し、可変
利得回路の利得を変化させ、可変遅延線の遅延時間の制
御を行う。
Further, the hold value corresponding to the fluctuation of the time axis is input to the adder and full-wave rectified, and then the DC component is detected via the LPF. On the other hand, the hold value of the residual time axis fluctuation is amplified by an amplifier and then input to an adder. The output of the adder is full-wave rectified and then passes through an LPF to detect a DC component. Next, these DC components are compared to detect rubbing from the optimum value, the gain of the variable gain circuit is changed, and the delay time of the variable delay line is controlled.

【0019】[0019]

【実施例】以下、図面に従い、本発明の第1実施例、及
び第2実施例を説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The first and second embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0020】尚、図3と同一箇所は同じ図番を付してそ
の説明は省略する。
The same parts as those in FIG. 3 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

【0021】サンプルホールド回路6から時間軸変動分
が出力されるまでの動作は従来技術の図3と同様であ
る。
The operation until the time-axis fluctuation component is output from the sample hold circuit 6 is the same as in FIG. 3 of the prior art.

【0022】図1において、CCD遅延線10を通過し
た映像信号若しくは輝度信号は、同期分離回路18に入
力され、水平同期信号が抜き出される。この抜き出され
た水平同期信号を基準信号として作成されたパルスは、
サンプリングパルスとしてサンプリングホールド回路1
9に入力される。一方、分周器5からの出力はのこぎり
波発生回路20に入力され、のこぎり波発生回路20に
よりのこぎり波が作成され、こののこぎり波がサンプル
ホールド回路19へ出力される。そして、サンプルホー
ルド回路19では、上述のサンプリングパルスに基づい
てのこぎり波がサンプリングホールドされ、このホール
ド値がLPF16に入力される。
In FIG. 1, the video signal or the luminance signal that has passed through the CCD delay line 10 is input to the sync separation circuit 18, and the horizontal sync signal is extracted. The pulse created with this extracted horizontal synchronization signal as the reference signal is
Sampling and holding circuit 1 as sampling pulse
9 is input. On the other hand, the output from the frequency divider 5 is input to the sawtooth wave generation circuit 20, the sawtooth wave generation circuit 20 creates a sawtooth wave, and this sawtooth wave is output to the sample hold circuit 19. Then, in the sample hold circuit 19, the sawtooth wave is sampled and held based on the above-mentioned sampling pulse, and this hold value is input to the LPF 16.

【0023】LPF13では、上述のホールド値を積分
し、比較器17に入力する。ところで、比較器17に
は、サンプルホールド回路6で抽出された時間軸変動分
がLPF15を介して入力されており、両LPF15、
16の出力を比較してその差電圧をのこぎり波発生回路
7、20へ供給し、のこぎり波の傾斜をその比を保った
まま変化させ、CCD遅延線の平均遅延時間をあらかじ
め定められた時間に固定する。サンプルホールド回路
6,19からの時間軸変動分と残留時間軸変動分は加算
回路23で加算された後、整流回路24で全波整流さ
れ、LPF25により直流成分を抜き出し、比較器26
に入力する。この時、残留時間軸変動をAMP27で増
幅した後に、加算回路23に入力することによって、制
御感度を上げてもよい。また、本実施例ではサンプルホ
ールド回路6、19からの出力を加算したが、上述のサ
ンプルホールド回路6、19からの出力が逆極性の場
合、減算回路により構成される。一方、サンプルホール
ド回路6の出力は整流回路21及びLPF22を介して
比較器26へ入力される。
The LPF 13 integrates the above hold value and inputs it to the comparator 17. By the way, the time axis fluctuation component extracted by the sample hold circuit 6 is input to the comparator 17 via the LPF 15, and both LPFs 15,
The outputs of 16 are compared and the difference voltage is supplied to the sawtooth wave generation circuits 7 and 20, the slope of the sawtooth wave is changed while maintaining the ratio, and the average delay time of the CCD delay line is set to a predetermined time. Fix it. The time-axis fluctuation component and the residual time-axis fluctuation component from the sample and hold circuits 6 and 19 are added by the adding circuit 23, then full-wave rectified by the rectifying circuit 24, and the DC component is extracted by the LPF 25, and the comparator 26
To enter. At this time, the control sensitivity may be increased by amplifying the residual time axis fluctuation by the AMP 27 and then inputting it to the adder circuit 23. Further, in the present embodiment, the outputs from the sample hold circuits 6 and 19 are added, but when the outputs from the sample hold circuits 6 and 19 have the opposite polarities, the subtraction circuit is used. On the other hand, the output of the sample hold circuit 6 is input to the comparator 26 via the rectifier circuit 21 and the LPF 22.

【0024】比較器26では、上述の両直流を比較して
得られた電圧差により可変利得回路8を制御してVCO
9発振周波数を調整することにより、CCD遅延線10
の遅延時間を制御し、高周波の間軸変動分を除去する。
In the comparator 26, the variable gain circuit 8 is controlled by the voltage difference obtained by comparing the above-mentioned two direct currents to control the VCO.
9 CCD delay line 10 by adjusting the oscillation frequency
The delay time is controlled to remove the axial fluctuation during high frequency.

【0025】上記の構成とすることにより、高周波域の
時間軸変動が除去され、平均遅延時間があらかじめ決め
られた時間の映像信号もしくは輝度信号がCCD遅延線
10から出力され、同期差替え回路11で分周器5から
作成された水平同期信号に差替えられた後、出力端子b
に出力される。
With the above configuration, the time base fluctuation in the high frequency range is eliminated, and the video signal or the luminance signal of the average delay time which is a predetermined time is output from the CCD delay line 10 and the sync exchange circuit 11 is provided. After being replaced with the horizontal synchronizing signal generated from the frequency divider 5, the output terminal b
Is output to.

【0026】次に、本発明の動作について説明する。Next, the operation of the present invention will be described.

【0027】まず、平均遅延時間の自動調整について説
明する。
First, the automatic adjustment of the average delay time will be described.

【0028】図5及び図6は設定した平均遅延時間の自
動調整を説明するための図であり、図5は遅延時間が所
定値よりも少ない場合の自動調整、図6は遅延時間が所
定値よりも大きい場合の自動調整を示す図である。
5 and 6 are diagrams for explaining the automatic adjustment of the set average delay time. FIG. 5 is an automatic adjustment when the delay time is less than a predetermined value, and FIG. 6 is a delay time of a predetermined value. It is a figure which shows automatic adjustment in the case of larger than.

【0029】図5、図6において、AはCCD遅延線1
0の入力側の映像信号波形、Bは遅延線10の出力側の
映像信号波形を示す。
In FIGS. 5 and 6, A is the CCD delay line 1.
0 shows the video signal waveform on the input side, and B shows the video signal waveform on the output side of the delay line 10.

【0030】尚、波形1、3はのこぎり波発生回路7、
20で作成されるのこぎり波を示し、波形2、4、6、
8は同期分離回路1、18により分離された水平同期信
号を基準信号として作成されるサンプリングパルスを示
す。また、波形5、7は振幅がbである基準のこぎり波
を示す。
Waveforms 1 and 3 are sawtooth wave generating circuits 7,
20 shows a sawtooth wave created by 20 and has waveforms 2, 4, 6,
Reference numeral 8 denotes a sampling pulse created with the horizontal synchronizing signal separated by the synchronizing separation circuits 1 and 18 as a reference signal. Waveforms 5 and 7 represent reference sawtooth waves having an amplitude of b.

【0031】上述ののこぎり波1、3は、分周器5の出
力を基準信号としてして作成されるが、両のこぎり波の
傾斜比は平均遅延時間によりあらかじめ決定されてい
る。尚、平均遅延時間とはCCD遅延線10の入出力間
の遅延時間を示す。従って、両のこぎり波1、3が立上
がる地点を基準にすると、Aではτ2 後にサンプリング
されるように設定しておき、また、Bではτ3 後にサン
プリングされるように設定することにより、CCD遅延
線10の平均遅延時間を(τ3 −τ2 )とすることがで
きる。尚、このためには初期状態でBののこぎり波の傾
斜をAに比べて常にτ2/τ3としておく必要がある。
The sawtooth waves 1 and 3 described above are created by using the output of the frequency divider 5 as a reference signal, and the slope ratio of both sawtooth waves is predetermined by the average delay time. The average delay time means the delay time between the input and output of the CCD delay line 10. Therefore, based on the point where both sawtooth waves 1 and 3 rise, the CCD is set to be sampled after τ 2 in A and to be sampled after τ 3 in B. The average delay time of the delay line 10 can be (τ 3 −τ 2 ). For this purpose, in the initial state, the slope of the sawtooth wave of B must be set to τ 2 / τ 3 as compared with A.

【0032】今、図5に示すように遅延時間が所定値よ
りも少ない場合、のこぎり波の振幅aは基準のこぎり波
の振幅bより小さくなる。従って、波形1で示されるの
こぎり波の傾斜をa/τ1 とすると、τ2 後に波形2で
示すサンプリングパルスでサンプリングされる電圧R1
は電圧Rより低くなる。尚、Rは平均遅延時間が(τ3
τ2 )となる電圧である。ここで、上記サンプリング電
圧R1 は基準電圧Rより低いため、遅延時間が短くな
り、B側では波形4で示されるサンプリングパルスの遅
延時間τ3’は基準パルスの遅延時間τ3 より短くな
る。
Now, as shown in FIG. 5, when the delay time is shorter than a predetermined value, the amplitude a of the sawtooth becomes smaller than the amplitude b of the reference sawtooth. Therefore, assuming that the slope of the sawtooth wave represented by the waveform 1 is a / τ 1 , the voltage R 1 sampled by the sampling pulse represented by the waveform 2 after τ 2
Becomes lower than the voltage R. R is the average delay time (τ 3
τ 2 ). Here, since the sampling voltage R 1 is lower than the reference voltage R, the delay time becomes shorter, and the delay time τ 3 ′ of the sampling pulse shown by the waveform 4 becomes shorter than the delay time τ 3 of the reference pulse on the B side.

【0033】従って、CCD遅延線10の出力側では波
形3の傾斜が(a/τ1 )×(τ2/τ3 )であるのこ
ぎり波がサンプリングされ、B側ではRよりも低いサン
プリング電圧R2 となる。そして、上述のサンプリング
電圧差がのこぎり波発生回路7、20に帰還され、両の
こぎり波の傾斜がτ2/τ3の比を保ったまま変化する。
Therefore, a sawtooth wave having a slope of (a / τ 1 ) × (τ 2 / τ 3 ) of the waveform 3 is sampled on the output side of the CCD delay line 10, and a sampling voltage R lower than R on the B side is sampled. It becomes 2 . Then, the above sampling voltage difference is fed back to the sawtooth wave generating circuits 7 and 20, and the slopes of both sawtooth waves change while maintaining the ratio of τ 2 / τ 3 .

【0034】このようにして、のこぎり波1、3の傾斜
は波形1の場合は傾斜がb/τ1 、波形3の場合は傾斜
が(b/τ1 )×(τ2/τ3)となるように制御され、
波形1、3のサンプリング電圧にRと等しくなり、設定
した平均遅延時間に固定される。
In this way, the slopes of the sawtooth waves 1 and 3 are such that the slope of the waveform 1 is b / τ 1 and the slope of the waveform 3 is (b / τ 1 ) × (τ 2 / τ 3 ). Controlled to be
The sampling voltage of the waveforms 1 and 3 becomes equal to R and is fixed to the set average delay time.

【0035】また、図6に示すように遅延時間が所定値
よりも大きい場合、のこぎり波の振幅cは基準のこぎり
波の振幅bより大きくなる。従って、波形1で示される
のこぎり波の傾斜をc/τ1 とすると、τ2 後に波形2
で示すサンプリングパルスでサンプリングされる電圧R
3 は電圧Rより高くなる。ここで、上記サンプリング電
圧R3 は基準電圧Rより高いため、遅延時間が長くな
り、B側では波形4で示されるサンプリングパルスの遅
延時間τ3’は基準パルスの遅延時間τ3 より長くな
る。
As shown in FIG. 6, when the delay time is longer than a predetermined value, the amplitude c of the sawtooth wave becomes larger than the amplitude b of the reference sawtooth wave. Therefore, when the slope of the sawtooth wave shown by the waveform 1 and c / tau 1, the waveform after tau 2 2
The voltage R sampled by the sampling pulse shown by
3 becomes higher than the voltage R. Here, since the sampling voltage R 3 is higher than the reference voltage R, the delay time becomes longer, and the delay time τ 3 ′ of the sampling pulse shown by the waveform 4 becomes longer than the delay time τ 3 of the reference pulse on the B side.

【0036】従って、CCD遅延線10の出力側では波
形3の傾斜が(c/τ1 )×(τ2/τ3 )であるのこ
ぎり波がサンプリングされ、B側ではRよりも高いサン
プリング電圧R4 となる。そして、上述のサンプリング
電圧差がのこぎり波発生回路7、20に帰還され、両の
こぎり波の傾斜がτ2/τ3の比を保ったまま変化する。
Therefore, on the output side of the CCD delay line 10, a sawtooth wave whose slope of the waveform 3 is (c / τ 1 ) × (τ 2 / τ 3 ) is sampled, and on the B side, a sampling voltage R higher than R is sampled. It becomes 4 . Then, the above sampling voltage difference is fed back to the sawtooth wave generating circuits 7 and 20, and the slopes of both sawtooth waves change while maintaining the ratio of τ 2 / τ 3 .

【0037】このようにして、のこぎり波1、3の傾斜
は波形1の場合は傾斜がb/τ1 、波形3の場合は傾斜
が(b/τ1 )×(τ2/τ3)となるように制御され、
波形1、3のサンプリング電圧にRと等しくなり、設定
した平均遅延時間に固定される。
In this way, the slopes of the sawtooth waves 1 and 3 are such that the slope of the waveform 1 is b / τ 1 and the slope of the waveform 3 is (b / τ 1 ) × (τ 2 / τ 3 ). Controlled to be
The sampling voltage of the waveforms 1 and 3 becomes equal to R and is fixed to the set average delay time.

【0038】次に、入力側で抽出された時間軸変動分の
振幅の自動調整を説明する。
Next, automatic adjustment of the amplitude of the time-axis fluctuation component extracted on the input side will be described.

【0039】図7において、波形1は入力で抽出された
時間軸変動分であるC点での波形、波形2は出力側で抽
出された残留時間軸変動分であるD点での波形である。
In FIG. 7, waveform 1 is a waveform at point C which is the time-axis variation extracted by the input, and waveform 2 is a waveform at point D which is the residual time-axis variation extracted at the output side. ..

【0040】尚、波形1、2ともその直流成分は上述の
平均遅延時間自動調整により電圧Rに一致している。
The DC components of both waveforms 1 and 2 match the voltage R by the above-mentioned automatic adjustment of the average delay time.

【0041】検出された時間軸変動分、及び残留時間軸
変動分である波形1、2は、加算器23で加算されてE
点では波形3となり、その後に整流回路24によりF点
では波形5に示す如く全波整流され、LPF25により
積分されて比較器26に入力される。また、波形1は整
流回路21により全波整流され、G点では波形4に示す
波形となる。この波形4は、LPF22により積分さ
れ、比較器26の他方に入力される。そして、前述の波
形4、及び波形5が比較器26により比較され、その電
圧差(ΔV)が可変利得回路8へ出力され、可変利得回
路8の振幅を制御する。
Waveforms 1 and 2 which are the detected time-axis fluctuation amount and the residual time-axis fluctuation amount are added by the adder 23 to obtain E.
The waveform becomes the waveform 3 at the point, and thereafter, the full-wave rectification is performed at the point F by the rectifier circuit 24 as shown in the waveform 5, and integrated by the LPF 25 and input to the comparator 26. Further, the waveform 1 is full-wave rectified by the rectifying circuit 21, and becomes a waveform 4 at the point G. The waveform 4 is integrated by the LPF 22 and input to the other side of the comparator 26. Then, the waveform 4 and the waveform 5 are compared by the comparator 26, the voltage difference (ΔV) is output to the variable gain circuit 8, and the amplitude of the variable gain circuit 8 is controlled.

【0042】従って、波形1と波形2が同相である場合
は、可変利得回路8の利得が足りないことを示し、上記
ΔVの電圧差によって利得があげられ、やがて波形2で
示す残留時間軸変動分が抽出されなくなり、波形4と波
形5の直流成分が一致し、収束する。
Therefore, when the waveform 1 and the waveform 2 are in phase, it indicates that the gain of the variable gain circuit 8 is insufficient, and the gain is increased by the voltage difference of ΔV, and eventually the residual time axis fluctuation shown by the waveform 2 is obtained. Minutes are no longer extracted, and the DC components of waveform 4 and waveform 5 match and converge.

【0043】一方、図8に示すように波形1と波形2が
逆相である場合、可変利得回路8の利得が高すぎること
を示し、上記ΔVの電圧差によって利得が下げられ、波
形2で示す残留時間軸変動分が抽出されなくなり、波形
4と波形5の直流成分が一致して収束する。
On the other hand, as shown in FIG. 8, when the waveform 1 and the waveform 2 are out of phase, it means that the gain of the variable gain circuit 8 is too high, and the gain is lowered by the voltage difference of ΔV, and the waveform 2 is obtained. The indicated residual time axis variation is no longer extracted, and the DC components of waveform 4 and waveform 5 coincide and converge.

【0044】このようにして、時間軸変動分の振幅の自
動制御が行われる。
In this way, the automatic control of the amplitude of the time axis fluctuation is performed.

【0045】次に、図2に可変遅延線としてCMOSイ
ンバータディレイラインを用いた例を説明する。
Next, an example using a CMOS inverter delay line as the variable delay line will be described with reference to FIG.

【0046】尚、回路動作は図1と同様なためその説明
は省略する。
Since the circuit operation is similar to that of FIG. 1, its explanation is omitted.

【0047】本実施例が図1と異なる点は、LPF3の
時定数を大きくし、入力端子aに入力される映像信号も
しくは輝度信号に含まれる時間軸変動(例えば、メカ系
の偏心に代表される低周波域の時間軸変動、再生時のテ
ープ等の振動等によるインパクトエラーに代表される高
周波域の時間軸変動)のうち、低周波域の時間軸変動の
みに追従するようにした点である。このため、サンプル
ホールド回路6で抽出される時間軸変動分も高周波域の
時間軸変動だけになる。一般に、低周波域の時間軸変動
と高周波域の時間軸変動ではその変動量が異なり、高周
波域の時間軸変動の変動量のほうがかなり少ない。従っ
て、図2では遅延線としてCMOSインバータディレイ
ライン12を使用し、インバータの段数を制御すること
により可変範囲を少なくしている。
The difference of this embodiment from FIG. 1 is that the time constant of the LPF 3 is increased and the time axis fluctuation contained in the video signal or the luminance signal input to the input terminal a (for example, eccentricity of the mechanical system is represented. Of the time axis fluctuations in the low frequency range, and the time axis fluctuations in the high frequency range represented by impact errors due to vibration of the tape during playback, etc.), only the time axis fluctuations in the low frequency range are tracked. is there. For this reason, the time axis fluctuations extracted by the sample hold circuit 6 are only the time axis fluctuations in the high frequency range. In general, the fluctuation amount differs between the low-frequency time axis fluctuation and the high-frequency time axis fluctuation, and the fluctuation amount of the high-frequency time axis fluctuation is considerably smaller. Therefore, in FIG. 2, the CMOS inverter delay line 12 is used as the delay line, and the variable range is reduced by controlling the number of inverter stages.

【0048】尚、可変範囲を小さくすることにより平均
遅延時間も小さくする必要があるため、のこぎり波発生
器7,20で作成されるのこぎり波の傾斜の比をその遅
延時間に合わせてあらかじめ設定している。その他の動
作は図1と同様である。
Since it is necessary to reduce the average delay time by reducing the variable range, the slope ratio of the sawtooth wave created by the sawtooth wave generators 7 and 20 is preset according to the delay time. ing. Other operations are the same as those in FIG.

【0049】このようにして、出力端子bには高周波域
の時間軸変動のみが除去された映像信号もしくは輝度信
号が出力される。
In this way, the video signal or the luminance signal from which only the time base fluctuation in the high frequency range has been removed is output to the output terminal b.

【0050】[0050]

【発明の効果】本発明上述の如く構成することにより、
フィードフォワード型時間軸補正回路では必ず行ってい
た平均遅延時間調整と、遅延線若しくは遅延線を駆動す
る回路の特性に抽出した時間軸変動分調整が不要とな
る。また、本発明は温度特性や経時変化によりその性能
が劣化しない。
EFFECTS OF THE INVENTION The present invention is constructed as described above,
The feedforward type time axis correction circuit does not require the average delay time adjustment and the time axis variation adjustment extracted from the characteristics of the delay line or the circuit that drives the delay line, which are always performed. Moreover, the performance of the present invention does not deteriorate due to temperature characteristics and changes with time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の他の実施例を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing another embodiment of the present invention.

【図3】従来の一実施例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a conventional example.

【図4】従来の他の実施例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing another conventional example.

【図5】本発明の動作原理を説明するための波形図であ
る。
FIG. 5 is a waveform diagram for explaining the operation principle of the present invention.

【図6】本発明の動作原理を説明するための波形図であ
る。
FIG. 6 is a waveform diagram for explaining the operation principle of the present invention.

【図7】本発明の動作原理を説明するための波形図であ
る。
FIG. 7 is a waveform diagram for explaining the operation principle of the present invention.

【図8】本発明の動作原理を説明するための波形図であ
る。
FIG. 8 is a waveform diagram for explaining the operation principle of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 同期分離回路 2 比較器 3 LPF 4 VCO 5 分周器 6 サンプルホールド回路 7 のこぎり波発生回路 8 可変利得回路 9 VCO 10 CCD遅延線 11 同期差し替え回路 15 LPF 16 LPF 17 比較器 18 同期分離回路 19 サンプルホールド回路 20 のこぎり波発生回路 21 整流回路 22 LPF 23 加算回路 24 整流回路 25 LPF 26 比較器 27 アンプ 1 Sync Separation Circuit 2 Comparator 3 LPF 4 VCO 5 Frequency Divider 6 Sample Hold Circuit 7 Sawtooth Wave Generation Circuit 8 Variable Gain Circuit 9 VCO 10 CCD Delay Line 11 Sync Replacement Circuit 15 LPF 16 LPF 17 Comparator 18 Sync Separation Circuit 19 Sample hold circuit 20 Sawtooth wave generation circuit 21 Rectifier circuit 22 LPF 23 Adder circuit 24 Rectifier circuit 25 LPF 26 Comparator 27 Amplifier

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 可変遅延線に入力される映像信号から時
間軸変動成分を抽出するための第1のこぎり波発生回
路、及び第1サンプルホールド回路を有する第1時間軸
変動検出手段と、前記可変遅延線を制御するために前記
時間軸変動成分を増幅または減衰させる可変利得回路
と、可変遅延線から出力される映像信号の残留時間軸変
動成分を抽出するための第2のこぎり波発生回路、及び
第2サンプルホールド回路を有する第2時間軸変動検出
手段と、前記第1及び第2時間軸変動検出手段に接続さ
れた可変利得回路制御手段とからなり、前記第1時間軸
変動検出手段と前記第2時間軸変動検出手段からの出力
を前記可変利得回路制御手段に供給して可変利得回路制
御信号を作成し、該可変利得回路制御信号により前記可
変利得回路を制御することにより前記可変遅延線の遅延
時間を制御したことを特徴とする時間軸補正回路。
1. A first time-axis fluctuation detecting means having a first sawtooth wave generation circuit for extracting a time-axis fluctuation component from a video signal input to a variable delay line, and a first sample-and-hold circuit; A variable gain circuit for amplifying or attenuating the time axis fluctuation component for controlling the delay line; a second sawtooth wave generation circuit for extracting a residual time axis fluctuation component of the video signal output from the variable delay line; The second time-axis fluctuation detecting means having a second sample-hold circuit and the variable gain circuit control means connected to the first and second time-axis fluctuation detecting means comprise the first time-axis fluctuation detecting means and the The output from the second time axis fluctuation detecting means is supplied to the variable gain circuit control means to generate a variable gain circuit control signal, and the variable gain circuit is controlled by the variable gain circuit control signal. The time axis correction circuit is characterized in that the delay time of the variable delay line is controlled by.
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