JP3133455B2 - Time axis correction circuit - Google Patents

Time axis correction circuit

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JP3133455B2
JP3133455B2 JP04041183A JP4118392A JP3133455B2 JP 3133455 B2 JP3133455 B2 JP 3133455B2 JP 04041183 A JP04041183 A JP 04041183A JP 4118392 A JP4118392 A JP 4118392A JP 3133455 B2 JP3133455 B2 JP 3133455B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ビデオディスクプレー
ヤ、ビデオテープレコーダ等を再生する際に発生する時
間軸変動を補正するための時間軸補正回路(以後TBC
回路と略す)に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a time axis correction circuit (hereinafter referred to as a TBC) for correcting a time axis fluctuation generated when reproducing a video disk player, a video tape recorder or the like.
Circuit).

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のフィード・フォワード型TBC回
路を図3、図4に示す。
2. Description of the Related Art A conventional feed-forward TBC circuit is shown in FIGS.

【0003】図3は遅延線としてCCDを用いた例、図
4は遅延線としてCMOSインバータディレイラインを
用いた例を示す。
FIG. 3 shows an example using a CCD as a delay line, and FIG. 4 shows an example using a CMOS inverter delay line as a delay line.

【0004】図3において、入力端子aに入力された映
像信号(若しくは輝度信号)は、CCD遅延線10に入
力されるとともに同期分離回路1にも入力され、前記信
号から水平同期信号が抜き出される。そして、抜き出さ
れた水平同期信号は、サンプルホールド回路6と、比較
器2、LPF3、VCO4、及び分周器5から構成され
るPLL回路に入力される。ここで、LPF3の時定数
は非常に大きく設定されているため、このPLL回路で
は同期信号に含まれる高周波域の時間軸変動(例えば、
ヘッドが磁気テープと接触して起こる磁気テープの振動
に起因して発生するジッタ)に追従しないように制御さ
れることとなる。
In FIG. 3, a video signal (or luminance signal) input to an input terminal a is input to a CCD delay line 10 and also to a sync separation circuit 1, and a horizontal sync signal is extracted from the signal. It is. Then, the extracted horizontal synchronizing signal is input to a sample / hold circuit 6 and a PLL circuit including a comparator 2, an LPF 3, a VCO 4, and a frequency divider 5. Here, since the time constant of the LPF 3 is set to be very large, in this PLL circuit, the time axis fluctuation (for example,
The control is performed so as not to follow jitter (jitter generated due to the vibration of the magnetic tape caused by the contact of the head with the magnetic tape).

【0005】また、分周器5から出力された信号は、基
準信号としてのこぎり波発生回路7にも入力され、この
信号を基準としてのこぎり波が作成される。
[0005] The signal output from the frequency divider 5 is also input to a saw-tooth wave generating circuit 7 as a reference signal, and a saw-tooth wave is created based on this signal.

【0006】一方、サンプルホールド回路6には、のこ
ぎり波発生回路7により作成されたのこぎり波と同期分
離回路1により分離された水平同期信号とが入力され、
この水平同期信号を基準信号として作成されたサンプリ
ングパルスによりのこぎり波のサンプルホールドが行わ
れる。ここで、高周波域の時間軸変動に応じてサンプリ
ングパルスの位置が異なるため、ホールドされた値は異
なることになり、映像信号中に含まれる高周波域の時間
軸変動分が抽出される。そして、抽出された高周波域の
時間軸変動分は可変利得回路8に入力され、この可変利
得回路8をVCOの特性に応じて最適に調整することに
よりVCO9が制御され、CCD遅延線10の遅延時間
を制御する。この結果、CCD遅延線10の出力側には
高周波域の時間軸変動が除去された映像信号もしくは輝
度信号が現れる。次に、CCD遅延線を通過した映像信
号若しくは輝度信号は、同期差し替え回路11により分
周器5で作成された基準信号(疑似水平同期信号)と差
し替えられた後、出力端子bに出力される。
On the other hand, the sample and hold circuit 6 receives the sawtooth wave generated by the sawtooth wave generation circuit 7 and the horizontal synchronizing signal separated by the sync separation circuit 1,
Sampling of the sawtooth wave is performed by a sampling pulse created using the horizontal synchronization signal as a reference signal. Here, since the position of the sampling pulse is different depending on the time axis variation in the high frequency range, the held value is different, and the time axis variation in the high frequency range included in the video signal is extracted. Then, the extracted time axis fluctuation in the high frequency range is input to the variable gain circuit 8, and the variable gain circuit 8 is optimally adjusted according to the characteristics of the VCO to control the VCO 9 and delay the CCD delay line 10. Control the time. As a result, on the output side of the CCD delay line 10, a video signal or a luminance signal from which the time axis fluctuation in a high frequency region has been removed appears. Next, the video signal or the luminance signal that has passed through the CCD delay line is replaced by the reference signal (pseudo horizontal synchronization signal) generated by the frequency divider 5 by the synchronization replacement circuit 11, and then output to the output terminal b. .

【0007】このようにして、高周波域の時間軸変動分
が除去された映像信号若しくは輝度信号が出力される。
[0007] In this manner, a video signal or a luminance signal from which the time-axis fluctuation in the high-frequency range has been removed is output.

【0008】次に、図4の従来例について説明する。Next, the conventional example shown in FIG. 4 will be described.

【0009】図4は、可変遅延線としてCMOSインバ
ータ9を使用した例で、CMOSインバータの遅延時間
はVDD電圧により変化し、必要とされる可変範囲に応
じてCMOSインバータを接続する段数が決められる。
FIG. 4 shows an example in which a CMOS inverter 9 is used as a variable delay line. The delay time of the CMOS inverter changes according to the VDD voltage, and the number of stages for connecting the CMOS inverter is determined according to a required variable range. .

【0010】尚、図4の従来例につても基本的制御は図
3と同じためその説明を省略する。
The basic control of the conventional example of FIG. 4 is the same as that of FIG.

【0011】この従来例では、可変遅延線としてCMO
Sインバータを使用しているため、このCMOSインバ
ータは振幅方向にその情報を持たないため、通常の映像
信号若しくは輝度信号を直接入力することができず、F
M変調器10でFM変調した後に入力することになる。
そして、FM変調された映像信号若しくは輝度信号は、
CMOSインバータディレイライン9を通過した後にF
M復調器11で復調される。次に、抽出された高周波域
の時間軸変動分は、可変利得回路8によりCMOSイン
バータディレイライン9の特性に応じて適当に調整さ
れ、制御電圧となり、映像信号若しくは輝度信号の遅延
時間が制御される。
In this conventional example, a CMO is used as a variable delay line.
Since the S inverter is used, this CMOS inverter does not have the information in the amplitude direction, so that a normal video signal or luminance signal cannot be directly input, and
The signal is input after FM modulation by the M modulator 10.
Then, the FM-modulated video signal or luminance signal is
After passing through the CMOS inverter delay line 9, F
The signal is demodulated by the M demodulator 11. Next, the extracted time-axis fluctuation in the high-frequency range is appropriately adjusted by the variable gain circuit 8 according to the characteristics of the CMOS inverter delay line 9 to become a control voltage, and the delay time of the video signal or the luminance signal is controlled. You.

【0012】従って、FM復調器11により復調された
映像信号若しくは輝度信号は高周波域の時間軸変動分が
除去されてることとなる。
Therefore, the video signal or the luminance signal demodulated by the FM demodulator 11 has a time-axis variation in a high frequency region removed.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】ところで、図3の従来
例では、可変利得回路8によりVCO9の発振周波数を
制御し、このVCO9の発振周波数によりCCD遅延線
10の遅延時間を制御している。しかしながら、CCD
遅延線10の遅延時間を制御するには、可変利得回路8
の直流電圧の調整、及び可変利得回路の8の振幅値の調
整が必要となり、合計の2ケ所の調整が必要であった。
そればかりか上記の調整をした後に温度特性や経時変化
によりVCO9の特性が変化して時間軸変動分の振幅が
適切でなくなり、変動が充分に除去できなかったり、平
均遅延時間の擦れにより同期差替え回路11で差替える
同期信号と映像信号若しくは輝度信号の位相がずれてく
る問題がある。
In the prior art shown in FIG. 3, the oscillation frequency of the VCO 9 is controlled by the variable gain circuit 8, and the delay time of the CCD delay line 10 is controlled by the oscillation frequency of the VCO 9. However, CCD
To control the delay time of the delay line 10, the variable gain circuit 8
It is necessary to adjust the DC voltage and to adjust the amplitude value of the variable gain circuit 8, and a total of two adjustments are required.
In addition, after the above adjustment, the characteristics of the VCO 9 change due to temperature characteristics and changes over time, so that the amplitude of the time axis fluctuation is not appropriate, and the fluctuation cannot be sufficiently removed, or the synchronous replacement due to friction of the average delay time. There is a problem that the phase of the synchronization signal to be replaced by the circuit 11 and the phase of the video signal or the luminance signal are shifted.

【0014】また、図4においても同様でCMOSイン
バータディレイライン9の特性に応じて、上記従来例と
同様2ケ所の調整と調整後のCMOSインバータディレ
イライン9の特性変化に伴う問題点がある。
In FIG. 4 as well, there is a problem in accordance with the characteristics of the CMOS inverter delay line 9 in accordance with the characteristics of the CMOS inverter delay line 9 in the same manner as in the above-described conventional example, which involves two adjustments and a change in the characteristics of the CMOS inverter delay line 9 after the adjustment.

【0015】本発明は上述の欠点に鑑みなされたもので
あり、精度の良い時間軸補正回路を提供するものであ
る。
The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks, and has as its object to provide an accurate time axis correction circuit.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】本発明は、可変遅延線に
入力される映像信号から時間軸変動成分を抽出するため
の第1のこぎり波発生回路、及び第1サンプルホールド
回路を有する第1時間軸変動検出手段と、前記可変遅延
線を制御するために前記時間軸変動成分を増幅または減
衰させる可変利得回路と、可変遅延線から出力される映
像信号の残留時間軸変動成分を抽出するための第2のこ
ぎり波発生回路、及び第2サンプルホールド回路を有す
る第2時間軸変動検出手段と、前記第1及び第2時間軸
変動検出手段に接続された可変利得回路制御手段とから
なり、前記第1時間軸変動検出手段と前記第2時間軸変
動検出手段からの出力を前記可変利得回路制御手段に供
給して可変利得回路制御信号を作成し、該可変利得回路
制御信号により前記可変利得回路を制御することにより
前記可変遅延線の遅延時間を制御した時間軸補正回路で
ある。
According to the present invention, there is provided a first time saw having a first sawtooth wave generating circuit for extracting a time axis fluctuation component from a video signal input to a variable delay line, and a first sample and hold circuit. Axis fluctuation detecting means, a variable gain circuit for amplifying or attenuating the time axis fluctuation component for controlling the variable delay line, and a residual time axis fluctuation component for extracting a video signal output from the variable delay line. A second time axis fluctuation detecting means having a second sawtooth wave generating circuit and a second sample and hold circuit; and a variable gain circuit controlling means connected to the first and second time axis fluctuation detecting means. The outputs from the first time axis fluctuation detection means and the second time axis fluctuation detection means are supplied to the variable gain circuit control means to generate a variable gain circuit control signal, and the variable gain circuit control signal A time base correction circuit which controls the delay time of the variable delay line by controlling the variable gain circuit.

【0017】[0017]

【作用】本発明は、上述の構成とすることにより、遅延
線の入出力側に設けられたのこぎり波発生回路とサンプ
ルホールド回路とにより時間軸変動分及び残留時間軸変
動分のホールド値を検出する。そして、LPFにより前
記残留時間軸変動分及び時間軸変動分の直流成分を検出
し、これらの直流成分を比較することにより所定の平均
遅延時間からの擦れを検出する。次に、この擦れに従
い、入出力側ののこぎり波発生手段により作成されるの
こぎり波の傾斜を変化させ、平均遅延時間を所定値に保
つ。この時、両のこぎり波発生回路により作成されたの
こぎり波の傾斜の比は、あらかじめ平均遅延時間の値に
よって決められているため、この比を保ったまま傾斜が
変化する。
According to the present invention, a hold value for a time-axis variation and a residual time-axis variation is detected by a saw-tooth wave generating circuit and a sample-and-hold circuit provided on the input / output side of the delay line. I do. Then, the DC component of the residual time axis fluctuation and the time axis fluctuation are detected by the LPF, and a rub from a predetermined average delay time is detected by comparing these DC components. Next, in accordance with the rubbing, the slope of the sawtooth wave generated by the sawtooth wave generating means on the input / output side is changed, and the average delay time is kept at a predetermined value. At this time, since the ratio of the slope of the sawtooth wave created by both sawtooth wave generation circuits is determined in advance by the value of the average delay time, the slope changes while maintaining this ratio.

【0018】更に、時間軸変動分のホールド値は加算器
に入力されるとともに全波整流された後にLPFを介し
て直流成分が検出される。一方、残留時間軸変動のホー
ルド値はアンプにより増幅された後に加算器に入力さ
れ、この加算器の出力が全波整流された後にLPFを通
過することにより直流成分が検出される。次に、これら
の直流成分を比較して最適値からの擦れを検出し、可変
利得回路の利得を変化させ、可変遅延線の遅延時間の制
御を行う。
Further, the hold value corresponding to the time axis fluctuation is input to the adder, and after full-wave rectification, a DC component is detected via the LPF. On the other hand, the hold value of the residual time axis variation is amplified by an amplifier and then input to an adder. The output of the adder is subjected to full-wave rectification and then passes through an LPF, whereby a DC component is detected. Next, these DC components are compared to detect friction from the optimum value, change the gain of the variable gain circuit, and control the delay time of the variable delay line.

【0019】[0019]

【実施例】以下、図面に従い、本発明の第1実施例、及
び第2実施例を説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A first embodiment and a second embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0020】尚、図3と同一箇所は同じ図番を付してそ
の説明は省略する。
The same parts as those shown in FIG. 3 are assigned the same reference numerals and their explanation is omitted.

【0021】サンプルホールド回路6から時間軸変動分
が出力されるまでの動作は従来技術の図3と同様であ
る。
The operation until the time axis fluctuation is output from the sample hold circuit 6 is the same as that of the prior art shown in FIG.

【0022】図1において、CCD遅延線10を通過し
た映像信号若しくは輝度信号は、同期分離回路18に入
力され、水平同期信号が抜き出される。この抜き出され
た水平同期信号を基準信号として作成されたパルスは、
サンプリングパルスとしてサンプリングホールド回路1
9に入力される。一方、分周器5からの出力はのこぎり
波発生回路20に入力され、のこぎり波発生回路20に
よりのこぎり波が作成され、こののこぎり波がサンプル
ホールド回路19へ出力される。そして、サンプルホー
ルド回路19では、上述のサンプリングパルスに基づい
てのこぎり波がサンプリングホールドされ、このホール
ド値がLPF16に入力される。
In FIG. 1, a video signal or a luminance signal that has passed through the CCD delay line 10 is input to a sync separation circuit 18, and a horizontal sync signal is extracted. The pulse created using the extracted horizontal synchronization signal as a reference signal is:
Sampling hold circuit 1 as sampling pulse
9 is input. On the other hand, the output from the frequency divider 5 is input to the sawtooth wave generating circuit 20, which generates a sawtooth wave, and outputs the sawtooth wave to the sample and hold circuit 19. Then, in the sample and hold circuit 19, the sawtooth wave is sampled and held based on the above-described sampling pulse, and the held value is input to the LPF 16.

【0023】LPF13では、上述のホールド値を積分
し、比較器17に入力する。ところで、比較器17に
は、サンプルホールド回路6で抽出された時間軸変動分
がLPF15を介して入力されており、両LPF15、
16の出力を比較してその差電圧をのこぎり波発生回路
7、20へ供給し、のこぎり波の傾斜をその比を保った
まま変化させ、CCD遅延線の平均遅延時間をあらかじ
め定められた時間に固定する。サンプルホールド回路
6,19からの時間軸変動分と残留時間軸変動分は加算
回路23で加算された後、整流回路24で全波整流さ
れ、LPF25により直流成分を抜き出し、比較器26
に入力する。この時、残留時間軸変動をAMP27で増
幅した後に、加算回路23に入力することによって、制
御感度を上げてもよい。また、本実施例ではサンプルホ
ールド回路6、19からの出力を加算したが、上述のサ
ンプルホールド回路6、19からの出力が逆極性の場
合、減算回路により構成される。一方、サンプルホール
ド回路6の出力は整流回路21及びLPF22を介して
比較器26へ入力される。
The LPF 13 integrates the above hold value and inputs it to the comparator 17. By the way, the time-axis variation extracted by the sample-and-hold circuit 6 is input to the comparator 17 via the LPF 15.
The outputs of 16 are supplied to the saw-tooth wave generating circuits 7 and 20 to change the slope of the saw-tooth wave while maintaining the ratio, and the average delay time of the CCD delay line is set to a predetermined time. Fix it. The time-axis fluctuations and the residual time-axis fluctuations from the sample-and-hold circuits 6 and 19 are added by an adder 23, then full-wave rectified by a rectifier 24, and a DC component is extracted by an LPF 25.
To enter. At this time, the control sensitivity may be increased by amplifying the residual time axis fluctuation by the AMP 27 and then inputting the amplified signal to the addition circuit 23. In this embodiment, the outputs from the sample and hold circuits 6 and 19 are added. However, when the outputs from the sample and hold circuits 6 and 19 have opposite polarities, the output is constituted by a subtraction circuit. On the other hand, the output of the sample and hold circuit 6 is input to the comparator 26 via the rectifier circuit 21 and the LPF 22.

【0024】比較器26では、上述の両直流を比較して
得られた電圧差により可変利得回路8を制御してVCO
9発振周波数を調整することにより、CCD遅延線10
の遅延時間を制御し、高周波の間軸変動分を除去する。
The comparator 26 controls the variable gain circuit 8 based on the voltage difference obtained by comparing the two direct currents, and
9 By adjusting the oscillation frequency, the CCD delay line 10
, And removes axial fluctuations during high frequency.

【0025】上記の構成とすることにより、高周波域の
時間軸変動が除去され、平均遅延時間があらかじめ決め
られた時間の映像信号もしくは輝度信号がCCD遅延線
10から出力され、同期差替え回路11で分周器5から
作成された水平同期信号に差替えられた後、出力端子b
に出力される。
With the above arrangement, the fluctuation of the time axis in the high frequency range is removed, and a video signal or a luminance signal having a predetermined average delay time is output from the CCD delay line 10. After being replaced by the horizontal synchronizing signal generated from the frequency divider 5, the output terminal b
Is output to

【0026】次に、本発明の動作について説明する。Next, the operation of the present invention will be described.

【0027】まず、平均遅延時間の自動調整について説
明する。
First, the automatic adjustment of the average delay time will be described.

【0028】図5及び図6は設定した平均遅延時間の自
動調整を説明するための図であり、図5は遅延時間が所
定値よりも少ない場合の自動調整、図6は遅延時間が所
定値よりも大きい場合の自動調整を示す図である。
FIGS. 5 and 6 are diagrams for explaining automatic adjustment of the set average delay time. FIG. 5 shows automatic adjustment when the delay time is smaller than a predetermined value, and FIG. It is a figure showing automatic adjustment when it is larger than.

【0029】図5、図6において、AはCCD遅延線1
0の入力側の映像信号波形、Bは遅延線10の出力側の
映像信号波形を示す。
5 and 6, A denotes a CCD delay line 1.
0 indicates a video signal waveform on the input side, and B indicates a video signal waveform on the output side of the delay line 10.

【0030】尚、波形1、3はのこぎり波発生回路7、
20で作成されるのこぎり波を示し、波形2、4、6、
8は同期分離回路1、18により分離された水平同期信
号を基準信号として作成されるサンプリングパルスを示
す。また、波形5、7は振幅がbである基準のこぎり波
を示す。
The waveforms 1 and 3 are represented by a sawtooth wave generating circuit 7,
20 shows the sawtooth wave created at 20, waveforms 2, 4, 6,
Reference numeral 8 denotes a sampling pulse created by using the horizontal synchronization signal separated by the synchronization separation circuits 1 and 18 as a reference signal. Waveforms 5 and 7 show reference sawtooth waves whose amplitude is b.

【0031】上述ののこぎり波1、3は、分周器5の出
力を基準信号としてして作成されるが、両のこぎり波の
傾斜比は平均遅延時間によりあらかじめ決定されてい
る。尚、平均遅延時間とはCCD遅延線10の入出力間
の遅延時間を示す。従って、両のこぎり波1、3が立上
がる地点を基準にすると、Aではτ2 後にサンプリング
されるように設定しておき、また、Bではτ3 後にサン
プリングされるように設定することにより、CCD遅延
線10の平均遅延時間を(τ3 −τ2 )とすることがで
きる。尚、このためには初期状態でBののこぎり波の傾
斜をAに比べて常にτ2/τ3としておく必要がある。
The above-mentioned sawtooth waves 1 and 3 are created using the output of the frequency divider 5 as a reference signal, and the inclination ratio of both sawtooth waves is determined in advance by the average delay time. The average delay time indicates a delay time between input and output of the CCD delay line 10. Therefore, when the reference point both sawtooth 1,3 rises, may be set so as to be sampled after the A tau 2, also by setting to be sampled in tau after 3 B, CCD The average delay time of the delay line 10 can be (τ 3 −τ 2 ). For this purpose, in the initial state, the slope of the sawtooth wave of B needs to be always τ 2 / τ 3 as compared with A.

【0032】今、図5に示すように遅延時間が所定値よ
りも少ない場合、のこぎり波の振幅aは基準のこぎり波
の振幅bより小さくなる。従って、波形1で示されるの
こぎり波の傾斜をa/τ1 とすると、τ2 後に波形2で
示すサンプリングパルスでサンプリングされる電圧R1
は電圧Rより低くなる。尚、Rは平均遅延時間が(τ3
τ2 )となる電圧である。ここで、上記サンプリング電
圧R1 は基準電圧Rより低いため、遅延時間が短くな
り、B側では波形4で示されるサンプリングパルスの遅
延時間τ3’は基準パルスの遅延時間τ3 より短くな
る。
When the delay time is shorter than a predetermined value as shown in FIG. 5, the amplitude a of the sawtooth wave becomes smaller than the amplitude b of the reference sawtooth wave. Therefore, assuming that the slope of the sawtooth wave shown by the waveform 1 is a / τ 1 , the voltage R 1 sampled by the sampling pulse shown by the waveform 2 after τ 2
Becomes lower than the voltage R. Note that R is the average delay time (τ 3
τ 2 ). Since the sampling voltage R 1 is lower than the reference voltage R, the delay time is shortened, shorter than the delay time tau 3 of the delay time of the sampling pulse tau 3 'is a reference pulse represented by the waveform 4 in the B side.

【0033】従って、CCD遅延線10の出力側では波
形3の傾斜が(a/τ1 )×(τ2/τ3 )であるのこ
ぎり波がサンプリングされ、B側ではRよりも低いサン
プリング電圧R2 となる。そして、上述のサンプリング
電圧差がのこぎり波発生回路7、20に帰還され、両の
こぎり波の傾斜がτ2/τ3の比を保ったまま変化する。
Accordingly, on the output side of the CCD delay line 10, a sawtooth wave having a waveform 3 having a slope of (a / τ 1 ) × (τ 2 / τ 3 ) is sampled, and a sampling voltage R lower than R is sampled on the B side. It becomes 2 . Then, the above-described sampling voltage difference is fed back to the sawtooth wave generating circuits 7 and 20, and the slope of both sawtooth waves changes while maintaining the ratio of τ 2 / τ 3 .

【0034】このようにして、のこぎり波1、3の傾斜
は波形1の場合は傾斜がb/τ1 、波形3の場合は傾斜
が(b/τ1 )×(τ2/τ3)となるように制御され、
波形1、3のサンプリング電圧にRと等しくなり、設定
した平均遅延時間に固定される。
In this manner, the slopes of the sawtooth waves 1 and 3 are b / τ 1 in the case of the waveform 1 , and (b / τ 1 ) × (τ 2 / τ 3 ) in the case of the waveform 3. Is controlled to be
The sampling voltage of the waveforms 1 and 3 becomes equal to R, and is fixed to the set average delay time.

【0035】また、図6に示すように遅延時間が所定値
よりも大きい場合、のこぎり波の振幅cは基準のこぎり
波の振幅bより大きくなる。従って、波形1で示される
のこぎり波の傾斜をc/τ1 とすると、τ2 後に波形2
で示すサンプリングパルスでサンプリングされる電圧R
3 は電圧Rより高くなる。ここで、上記サンプリング電
圧R3 は基準電圧Rより高いため、遅延時間が長くな
り、B側では波形4で示されるサンプリングパルスの遅
延時間τ3’は基準パルスの遅延時間τ3 より長くな
る。
When the delay time is longer than a predetermined value as shown in FIG. 6, the amplitude c of the sawtooth wave becomes larger than the amplitude b of the reference sawtooth wave. Therefore, when the slope of the sawtooth wave shown by the waveform 1 and c / tau 1, the waveform after tau 2 2
The voltage R sampled by the sampling pulse shown by
3 is higher than voltage R. Here, higher than the sampling voltage R 3 is the reference voltage R, the delay time becomes long, longer than the delay time tau 3 of the delay time of the sampling pulse tau 3 'is a reference pulse represented by the waveform 4 in the B side.

【0036】従って、CCD遅延線10の出力側では波
形3の傾斜が(c/τ1 )×(τ2/τ3 )であるのこ
ぎり波がサンプリングされ、B側ではRよりも高いサン
プリング電圧R4 となる。そして、上述のサンプリング
電圧差がのこぎり波発生回路7、20に帰還され、両の
こぎり波の傾斜がτ2/τ3の比を保ったまま変化する。
Therefore, on the output side of the CCD delay line 10, a sawtooth wave having a waveform (c / τ 1 ) × (τ 2 / τ 3 ) is sampled, and the sampling voltage R higher than R is sampled on the B side. It becomes 4 . Then, the above-described sampling voltage difference is fed back to the sawtooth wave generating circuits 7 and 20, and the slope of both sawtooth waves changes while maintaining the ratio of τ 2 / τ 3 .

【0037】このようにして、のこぎり波1、3の傾斜
は波形1の場合は傾斜がb/τ1 、波形3の場合は傾斜
が(b/τ1 )×(τ2/τ3)となるように制御され、
波形1、3のサンプリング電圧にRと等しくなり、設定
した平均遅延時間に固定される。
As described above, the slope of the sawtooth waves 1 and 3 is b / τ 1 in the case of the waveform 1 , and (b / τ 1 ) × (τ 2 / τ 3 ) in the case of the waveform 3. Is controlled to be
The sampling voltage of the waveforms 1 and 3 becomes equal to R, and is fixed to the set average delay time.

【0038】次に、入力側で抽出された時間軸変動分の
振幅の自動調整を説明する。
Next, automatic adjustment of the amplitude of the time-axis fluctuation extracted on the input side will be described.

【0039】図7において、波形1は入力で抽出された
時間軸変動分であるC点での波形、波形2は出力側で抽
出された残留時間軸変動分であるD点での波形である。
In FIG. 7, a waveform 1 is a waveform at point C which is a time-axis variation extracted at the input, and a waveform 2 is a waveform at point D which is a remaining time-axis variation extracted at the output side. .

【0040】尚、波形1、2ともその直流成分は上述の
平均遅延時間自動調整により電圧Rに一致している。
The DC component of each of the waveforms 1 and 2 coincides with the voltage R by the above-described automatic adjustment of the average delay time.

【0041】検出された時間軸変動分、及び残留時間軸
変動分である波形1、2は、加算器23で加算されてE
点では波形3となり、その後に整流回路24によりF点
では波形5に示す如く全波整流され、LPF25により
積分されて比較器26に入力される。また、波形1は整
流回路21により全波整流され、G点では波形4に示す
波形となる。この波形4は、LPF22により積分さ
れ、比較器26の他方に入力される。そして、前述の波
形4、及び波形5が比較器26により比較され、その電
圧差(ΔV)が可変利得回路8へ出力され、可変利得回
路8の振幅を制御する。
The waveforms 1 and 2, which are the detected time axis fluctuation and the remaining time axis fluctuation, are added by an adder 23 and E
The waveform becomes a waveform 3 at the point, and thereafter is subjected to full-wave rectification as shown by a waveform 5 at the point F by the rectifier circuit 24, integrated by the LPF 25 and input to the comparator 26. Further, the waveform 1 is full-wave rectified by the rectifier circuit 21, and becomes the waveform shown in the waveform 4 at the point G. This waveform 4 is integrated by the LPF 22 and input to the other of the comparator 26. Then, the waveforms 4 and 5 are compared by the comparator 26, and the voltage difference (ΔV) is output to the variable gain circuit 8 to control the amplitude of the variable gain circuit 8.

【0042】従って、波形1と波形2が同相である場合
は、可変利得回路8の利得が足りないことを示し、上記
ΔVの電圧差によって利得があげられ、やがて波形2で
示す残留時間軸変動分が抽出されなくなり、波形4と波
形5の直流成分が一致し、収束する。
Accordingly, when the waveforms 1 and 2 are in phase, it indicates that the gain of the variable gain circuit 8 is insufficient, and the gain is increased by the voltage difference ΔV. No more components are extracted, and the DC components of waveform 4 and waveform 5 match and converge.

【0043】一方、図8に示すように波形1と波形2が
逆相である場合、可変利得回路8の利得が高すぎること
を示し、上記ΔVの電圧差によって利得が下げられ、波
形2で示す残留時間軸変動分が抽出されなくなり、波形
4と波形5の直流成分が一致して収束する。
On the other hand, when the waveform 1 and the waveform 2 are out of phase as shown in FIG. 8, it indicates that the gain of the variable gain circuit 8 is too high, and the gain is reduced by the voltage difference ΔV. The residual time axis fluctuation shown is not extracted, and the DC components of the waveform 4 and the waveform 5 match and converge.

【0044】このようにして、時間軸変動分の振幅の自
動制御が行われる。
In this manner, the automatic control of the amplitude of the time axis fluctuation is performed.

【0045】次に、図2に可変遅延線としてCMOSイ
ンバータディレイラインを用いた例を説明する。
Next, an example in which a CMOS inverter delay line is used as a variable delay line will be described with reference to FIG.

【0046】尚、回路動作は図1と同様なためその説明
は省略する。
Since the circuit operation is the same as that of FIG. 1, the description is omitted.

【0047】本実施例が図1と異なる点は、LPF3の
時定数を大きくし、入力端子aに入力される映像信号も
しくは輝度信号に含まれる時間軸変動(例えば、メカ系
の偏心に代表される低周波域の時間軸変動、再生時のテ
ープ等の振動等によるインパクトエラーに代表される高
周波域の時間軸変動)のうち、低周波域の時間軸変動の
みに追従するようにした点である。このため、サンプル
ホールド回路6で抽出される時間軸変動分も高周波域の
時間軸変動だけになる。一般に、低周波域の時間軸変動
と高周波域の時間軸変動ではその変動量が異なり、高周
波域の時間軸変動の変動量のほうがかなり少ない。従っ
て、図2では遅延線としてCMOSインバータディレイ
ライン12を使用し、インバータの段数を制御すること
により可変範囲を少なくしている。
The difference of this embodiment from FIG. 1 is that the time constant of the LPF 3 is increased, and the time axis fluctuation (for example, eccentricity of the mechanical system) included in the video signal or the luminance signal input to the input terminal a. (The time axis fluctuation in the low frequency region, and the time axis fluctuation in the high frequency region typified by the impact error caused by vibration of the tape or the like during reproduction), only the time axis fluctuation in the low frequency region is tracked. is there. Therefore, the time axis fluctuation extracted by the sample hold circuit 6 is also only the time axis fluctuation in the high frequency range. In general, the amount of fluctuation differs between the time axis fluctuation in the low frequency region and the time axis fluctuation in the high frequency region, and the amount of fluctuation in the time axis fluctuation in the high frequency region is much smaller. Therefore, in FIG. 2, a CMOS inverter delay line 12 is used as a delay line, and the variable range is reduced by controlling the number of inverter stages.

【0048】尚、可変範囲を小さくすることにより平均
遅延時間も小さくする必要があるため、のこぎり波発生
器7,20で作成されるのこぎり波の傾斜の比をその遅
延時間に合わせてあらかじめ設定している。その他の動
作は図1と同様である。
Since it is necessary to reduce the average delay time by reducing the variable range, the ratio of the inclination of the sawtooth wave generated by the sawtooth wave generators 7 and 20 is set in advance in accordance with the delay time. ing. Other operations are the same as those in FIG.

【0049】このようにして、出力端子bには高周波域
の時間軸変動のみが除去された映像信号もしくは輝度信
号が出力される。
In this manner, a video signal or a luminance signal from which only the time axis fluctuation in the high frequency region has been removed is output to the output terminal b.

【0050】[0050]

【発明の効果】本発明上述の如く構成することにより、
フィードフォワード型時間軸補正回路では必ず行ってい
た平均遅延時間調整と、遅延線若しくは遅延線を駆動す
る回路の特性に抽出した時間軸変動分調整が不要とな
る。また、本発明は温度特性や経時変化によりその性能
が劣化しない。
According to the present invention, as described above,
The feed-forward time axis correction circuit does not require the adjustment of the average delay time, which is always performed, and the adjustment of the time axis fluctuation extracted from the characteristics of the delay line or the circuit that drives the delay line. In addition, the performance of the present invention does not deteriorate due to temperature characteristics and changes over time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing one embodiment of the present invention.

【図2】本発明の他の実施例を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing another embodiment of the present invention.

【図3】従来の一実施例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a conventional example.

【図4】従来の他の実施例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing another conventional example.

【図5】本発明の動作原理を説明するための波形図であ
る。
FIG. 5 is a waveform chart for explaining the operation principle of the present invention.

【図6】本発明の動作原理を説明するための波形図であ
る。
FIG. 6 is a waveform chart for explaining the operation principle of the present invention.

【図7】本発明の動作原理を説明するための波形図であ
る。
FIG. 7 is a waveform chart for explaining the operation principle of the present invention.

【図8】本発明の動作原理を説明するための波形図であ
る。
FIG. 8 is a waveform chart for explaining the operation principle of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 同期分離回路 2 比較器 3 LPF 4 VCO 5 分周器 6 サンプルホールド回路 7 のこぎり波発生回路 8 可変利得回路 9 VCO 10 CCD遅延線 11 同期差し替え回路 15 LPF 16 LPF 17 比較器 18 同期分離回路 19 サンプルホールド回路 20 のこぎり波発生回路 21 整流回路 22 LPF 23 加算回路 24 整流回路 25 LPF 26 比較器 27 アンプ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Synchronization separation circuit 2 Comparator 3 LPF 4 VCO 5 Divider 6 Sample hold circuit 7 Sawtooth wave generation circuit 8 Variable gain circuit 9 VCO 10 CCD delay line 11 Synchronization replacement circuit 15 LPF 16 LPF 17 Comparator 18 Synchronization separation circuit 19 Sample hold circuit 20 Saw wave generation circuit 21 Rectifier circuit 22 LPF 23 Addition circuit 24 Rectifier circuit 25 LPF 26 Comparator 27 Amplifier

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 可変遅延線に入力される映像信号から時
間軸変動成分を抽出するための第1のこぎり波発生回
路、及び第1サンプルホールド回路を有する第1時間軸
変動検出手段と、前記可変遅延線を制御するために前記
時間軸変動成分を増幅または減衰させる可変利得回路
と、可変遅延線から出力される映像信号の残留時間軸変
動成分を抽出するための第2のこぎり波発生回路、及び
第2サンプルホールド回路を有する第2時間軸変動検出
手段と、前記第1及び第2時間軸変動検出手段に接続さ
れた可変利得回路制御手段とからなり、前記第1時間軸
変動検出手段と前記第2時間軸変動検出手段からの出力
を前記可変利得回路制御手段に供給して可変利得回路制
御信号を作成し、該可変利得回路制御信号により前記可
変利得回路を制御することにより前記可変遅延線の遅延
時間を制御したことを特徴とする時間軸補正回路。
A first sawtooth wave generating circuit for extracting a time-axis fluctuation component from a video signal input to a variable delay line; a first time-axis fluctuation detection means having a first sample-and-hold circuit; A variable gain circuit for amplifying or attenuating the time axis fluctuation component to control the delay line, a second sawtooth wave generation circuit for extracting a residual time axis fluctuation component of the video signal output from the variable delay line, and A second time-axis fluctuation detecting means having a second sample-and-hold circuit; and a variable gain circuit control means connected to the first and second time-axis fluctuation detecting means. An output from the second time axis fluctuation detecting means is supplied to the variable gain circuit control means to generate a variable gain circuit control signal, and the variable gain circuit is controlled by the variable gain circuit control signal. Wherein the delay time of the variable delay line is controlled by the control circuit.
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