JPH05242846A - 電子顕微鏡等の試料装置 - Google Patents
電子顕微鏡等の試料装置Info
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- JPH05242846A JPH05242846A JP4044370A JP4437092A JPH05242846A JP H05242846 A JPH05242846 A JP H05242846A JP 4044370 A JP4044370 A JP 4044370A JP 4437092 A JP4437092 A JP 4437092A JP H05242846 A JPH05242846 A JP H05242846A
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- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 試料ホルダを小型化かつチップ化し、試料受
台に超高真空中で搬送、装着できると共に、回転かつ加
熱可能にする。 【構成】 押し棒により駆動されるテコ、ローラにより
支持され、テコにより押されて回転する試料取付台、試
料取付台に接続されて回転した試料取付台を復帰させる
ためのスプリング、試料取付台に接続され、試料取付台
の回転を吸収可能な電極により試料ホルダを小型化、チ
ップ化して構成し、チップ化した試料ホルダはゴニオメ
ータ先端に設けられた試料受台に取り付けられ、操作棒
の直線動により試料取付台が回転し、さらに試料受台の
電気的接点を通して試料が通電加熱される。
台に超高真空中で搬送、装着できると共に、回転かつ加
熱可能にする。 【構成】 押し棒により駆動されるテコ、ローラにより
支持され、テコにより押されて回転する試料取付台、試
料取付台に接続されて回転した試料取付台を復帰させる
ためのスプリング、試料取付台に接続され、試料取付台
の回転を吸収可能な電極により試料ホルダを小型化、チ
ップ化して構成し、チップ化した試料ホルダはゴニオメ
ータ先端に設けられた試料受台に取り付けられ、操作棒
の直線動により試料取付台が回転し、さらに試料受台の
電気的接点を通して試料が通電加熱される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電子顕微鏡等の試料装置
に係わり、特に試料受台のシャフトを直線動させること
により試料取付台を回転することができる試料装置に関
するものである。
に係わり、特に試料受台のシャフトを直線動させること
により試料取付台を回転することができる試料装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のサイドエントリータイプのゴニオ
メータは、球面軸受された試料操作軸の外周部に電子線
光軸方向、および電子線光軸に直角方向に試料操作軸を
駆動させる駆動装置が取り付けられると共に、試料操作
軸を軸方向に移動可能にし、試料ホルダをゴニオメータ
側から装着する構造のものが使用されている。
メータは、球面軸受された試料操作軸の外周部に電子線
光軸方向、および電子線光軸に直角方向に試料操作軸を
駆動させる駆動装置が取り付けられると共に、試料操作
軸を軸方向に移動可能にし、試料ホルダをゴニオメータ
側から装着する構造のものが使用されている。
【0003】このようなゴニオメータを超高真空装置に
使用すると、ゴニオメータ、試料ホルダの真空シール用
にどうしてもOリングを使用しなくてはならず、Oリン
グからのガス放出が大きいため、真空焼だし温度は最大
で100〜120℃であり、またガスの透過等のために
超高真空の達成は困難であった。
使用すると、ゴニオメータ、試料ホルダの真空シール用
にどうしてもOリングを使用しなくてはならず、Oリン
グからのガス放出が大きいため、真空焼だし温度は最大
で100〜120℃であり、またガスの透過等のために
超高真空の達成は困難であった。
【0004】そこで、本出願人は超高真空用ゴニオメー
タとして全てメタルシール化した試料装置を既に出願し
ている(特願平2−292633)。このメタルシール
化した試料装置について図3、図4により説明する。
タとして全てメタルシール化した試料装置を既に出願し
ている(特願平2−292633)。このメタルシール
化した試料装置について図3、図4により説明する。
【0005】図3は試料装置の電子線光軸に垂直な断面
図、図4試料装置の電子線光軸方向における断面図であ
る。図3において、試料装置の先端部は試料室壁35を
通して試料室36に挿入され、電子線光軸に垂直な軸心
を持つ中空パイプ状フレーム31内にはマグネット12
により、回転駆動されるX軸傾斜用パイプ26が設けら
れ、さらにパイプ26内にはY軸試料傾斜用シャフト2
5が設けられている。フレーム31はX,Y,Z動等の
動きを許容するメタル製ベローズ2の一端に取り付けら
れた基本フレームであり、ベローズ2の他端は試料装置
に固定されて試料室内と試料装置の大気側との真空シー
ルを行っている。また、フレーム31と一体にその周囲
に設けられたフレーム8には球面状膨出部が設けられ、
球面軸受27により転動可能に支持されている。この軸
受部はY,Z動の中心となっており、軸受面にはベロー
ズ2にかかる大気圧分とスプリング28で常に軸受部2
7にフレーム8の球面が押し付けられている。
図、図4試料装置の電子線光軸方向における断面図であ
る。図3において、試料装置の先端部は試料室壁35を
通して試料室36に挿入され、電子線光軸に垂直な軸心
を持つ中空パイプ状フレーム31内にはマグネット12
により、回転駆動されるX軸傾斜用パイプ26が設けら
れ、さらにパイプ26内にはY軸試料傾斜用シャフト2
5が設けられている。フレーム31はX,Y,Z動等の
動きを許容するメタル製ベローズ2の一端に取り付けら
れた基本フレームであり、ベローズ2の他端は試料装置
に固定されて試料室内と試料装置の大気側との真空シー
ルを行っている。また、フレーム31と一体にその周囲
に設けられたフレーム8には球面状膨出部が設けられ、
球面軸受27により転動可能に支持されている。この軸
受部はY,Z動の中心となっており、軸受面にはベロー
ズ2にかかる大気圧分とスプリング28で常に軸受部2
7にフレーム8の球面が押し付けられている。
【0006】フレーム31の外周部材の外側にはフレー
ム8が取り付けられ、フレーム8と31とは同時に同じ
方向に動かすことができるようになっており、フレーム
8をネジ7でY軸方向に押すことによりY動が得られ
る。
ム8が取り付けられ、フレーム8と31とは同時に同じ
方向に動かすことができるようになっており、フレーム
8をネジ7でY軸方向に押すことによりY動が得られ
る。
【0007】Z動については、図4に示すように、Z軸
駆動用モータ(図示せず)によりギヤ42が回転駆動さ
れ、その結果ネジ43が駆動されてスライダ44がスラ
イドし、Z軸用テコ44が支点を中心に回転して、フレ
ーム8をZ軸方向に変位させるようになっている。反対
側への移動はスプリング22によって行われ、試料をZ
軸方向に動かせるようになっている。
駆動用モータ(図示せず)によりギヤ42が回転駆動さ
れ、その結果ネジ43が駆動されてスライダ44がスラ
イドし、Z軸用テコ44が支点を中心に回転して、フレ
ーム8をZ軸方向に変位させるようになっている。反対
側への移動はスプリング22によって行われ、試料をZ
軸方向に動かせるようになっている。
【0008】また、ブロック5(図3)にはベアリング
3が取り付けられ、X軸傾斜用の軸受になっているとと
もに、ネジ4でブロック5を押すことにより、ゴニオメ
ータ全体の軸合わせ(ユーセントリック合わせ)ができ
るようになっている。
3が取り付けられ、X軸傾斜用の軸受になっているとと
もに、ネジ4でブロック5を押すことにより、ゴニオメ
ータ全体の軸合わせ(ユーセントリック合わせ)ができ
るようになっている。
【0009】X軸傾斜については、X軸傾斜用ガイド9
に傾斜用ギヤ6が取り付けられていて、X軸傾斜用モー
タ60によりウォームギヤ61と傾斜用ギヤ6が回転駆
動され、その結果フレーム62を介してガイド9がガイ
ド10に案内されて回転し、傾斜用カバー11が回転駆
動される。傾斜用カバー11にはマグネット12が取り
付けられており、このマグネットと磁気結合するマグネ
ット12がフレーム31内に設けられ、ガイド9の回転
によりマグネット12が回転し、その結果パイプ26が
回転して試料をX軸の周りに傾斜させることができる。
このときベアリング13がマグネット12、パイプ26
の軸受となっている。
に傾斜用ギヤ6が取り付けられていて、X軸傾斜用モー
タ60によりウォームギヤ61と傾斜用ギヤ6が回転駆
動され、その結果フレーム62を介してガイド9がガイ
ド10に案内されて回転し、傾斜用カバー11が回転駆
動される。傾斜用カバー11にはマグネット12が取り
付けられており、このマグネットと磁気結合するマグネ
ット12がフレーム31内に設けられ、ガイド9の回転
によりマグネット12が回転し、その結果パイプ26が
回転して試料をX軸の周りに傾斜させることができる。
このときベアリング13がマグネット12、パイプ26
の軸受となっている。
【0010】また、ガイド10を外して傾斜用カバー1
1を回転させると、パイプ26を360°エンドレスで
回転させることもできるので、ガイド10というストッ
パーを外すと、任意に試料ホルダーをX軸に対して回転
することができる。
1を回転させると、パイプ26を360°エンドレスで
回転させることもできるので、ガイド10というストッ
パーを外すと、任意に試料ホルダーをX軸に対して回転
することができる。
【0011】X動については、フレーム8にギヤ18が
取り付けられ、ギヤ18の内面側はフレーム8とネジ結
合しており、X軸駆動用モータ19によりギヤ17、1
8を回転させることにより、ネジ駆動によりフレーム
8、傾斜用カバー11をX軸方向に移動できるようにな
っており、これと一体にフレーム31が移動し、試料を
X軸方向に移動させることができる。
取り付けられ、ギヤ18の内面側はフレーム8とネジ結
合しており、X軸駆動用モータ19によりギヤ17、1
8を回転させることにより、ネジ駆動によりフレーム
8、傾斜用カバー11をX軸方向に移動できるようにな
っており、これと一体にフレーム31が移動し、試料を
X軸方向に移動させることができる。
【0012】フレーム31には試料をY軸の周りに傾斜
させるために、パイプ26内部に一端がメタルベローズ
14に接続されたシャフト25が設けられている。図示
しないモータによりつまみ16を回すとネジ15が前後
し、これによってシャフト25が前後する。シャフト2
5の前後動は金属製ベローズ14によって許容されると
ともに、この部分の真空シールが行われる。シャフト2
5の前後動により、シャフト25の先端部に設けられた
操作棒20が前後し、操作棒20でテコ21を軸21a
を中心にして回動させることにより、試料ホルダ23を
Y軸の周りに回転させる。試料ホルダ23のY軸周りの
復帰はバネ38によって行われる。
させるために、パイプ26内部に一端がメタルベローズ
14に接続されたシャフト25が設けられている。図示
しないモータによりつまみ16を回すとネジ15が前後
し、これによってシャフト25が前後する。シャフト2
5の前後動は金属製ベローズ14によって許容されると
ともに、この部分の真空シールが行われる。シャフト2
5の前後動により、シャフト25の先端部に設けられた
操作棒20が前後し、操作棒20でテコ21を軸21a
を中心にして回動させることにより、試料ホルダ23を
Y軸の周りに回転させる。試料ホルダ23のY軸周りの
復帰はバネ38によって行われる。
【0013】なお、試料ホルダ23は受台支え24によ
って支持された試料ホルダ受台29によって反対側を支
えられており、試料ホルダの動きにつれて動けるように
支持されている。そして、試料ホルダ受台側を冷却され
ることにより、試料ホルダを冷却することができる。
って支持された試料ホルダ受台29によって反対側を支
えられており、試料ホルダの動きにつれて動けるように
支持されている。そして、試料ホルダ受台側を冷却され
ることにより、試料ホルダを冷却することができる。
【0014】次に試料台ホルダを動かす操作方法につい
て説明すると、ゴニオメータ全体の軸合わせ、即ちユー
セントリック合わせはスクリュー4を調節し、ブロック
5を押すことより行う。X動は、モータ19を駆動する
ことによりギヤ18を回転させると、このギヤに対して
フレーム8がネジ結合をしているので、フレーム8と一
体のフレーム31がX軸方向に移動する。Y動について
はY軸駆動用のネジ7を調節することにより反対側のス
プリング22の力に抗してY軸方向への移動を行うこと
ができる。Z動についてはモータによりギヤを介してテ
コ45を支点を中心に回動させることにより、スプリン
グ22の力に抗してフレーム31をZ軸方向に移動させ
ることができる。
て説明すると、ゴニオメータ全体の軸合わせ、即ちユー
セントリック合わせはスクリュー4を調節し、ブロック
5を押すことより行う。X動は、モータ19を駆動する
ことによりギヤ18を回転させると、このギヤに対して
フレーム8がネジ結合をしているので、フレーム8と一
体のフレーム31がX軸方向に移動する。Y動について
はY軸駆動用のネジ7を調節することにより反対側のス
プリング22の力に抗してY軸方向への移動を行うこと
ができる。Z動についてはモータによりギヤを介してテ
コ45を支点を中心に回動させることにより、スプリン
グ22の力に抗してフレーム31をZ軸方向に移動させ
ることができる。
【0015】X軸周りの傾斜はモータ60を回転させる
ことにより、ウォームギヤ61、フレーム62を介して
傾斜用カバー11を回転させ、これに結合された磁石1
2を回転させることによりフレーム31内に設けられた
磁石を回転させ、これによってパイプ26を回転させる
ことにより行う。また、Y軸周りの試料傾斜はつまみ1
6を回転させることによりねじ15を前後させ、パイプ
26内に設けられたシャフト25を前後させることによ
り行う。
ことにより、ウォームギヤ61、フレーム62を介して
傾斜用カバー11を回転させ、これに結合された磁石1
2を回転させることによりフレーム31内に設けられた
磁石を回転させ、これによってパイプ26を回転させる
ことにより行う。また、Y軸周りの試料傾斜はつまみ1
6を回転させることによりねじ15を前後させ、パイプ
26内に設けられたシャフト25を前後させることによ
り行う。
【0016】このようにしてX,Y,Z動、X軸周り傾
斜、Y軸周り傾斜の5軸ユーセントリックに試料移動さ
せることができ、これらの動きは金属製ベローズを用い
ることにより、超真空を保持したまま行うことができ
る。
斜、Y軸周り傾斜の5軸ユーセントリックに試料移動さ
せることができ、これらの動きは金属製ベローズを用い
ることにより、超真空を保持したまま行うことができ
る。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】図3、図4で示したメ
タルシール化した超高真空用ゴニオメータにおいては、
従来タイプの試料ホルダ構造を用いることができず、試
料ホルダを受ける受台を設定し、試料ホルダを小型化し
てチップ交換式にする必要があった。また、従来の試料
装置では試料傾斜を行うことはできるものの、試料を回
転することは不可能であった。
タルシール化した超高真空用ゴニオメータにおいては、
従来タイプの試料ホルダ構造を用いることができず、試
料ホルダを受ける受台を設定し、試料ホルダを小型化し
てチップ交換式にする必要があった。また、従来の試料
装置では試料傾斜を行うことはできるものの、試料を回
転することは不可能であった。
【0018】本発明は上記課題を解決するためのもの
で、試料ホルダを小型化かつチップ化し、試料受台に超
高真空中で搬送、装着できると共に、回転することがで
きる電子顕微鏡等の試料装置を提供することを目的とす
る。
で、試料ホルダを小型化かつチップ化し、試料受台に超
高真空中で搬送、装着できると共に、回転することがで
きる電子顕微鏡等の試料装置を提供することを目的とす
る。
【0019】
【課題を解決するための手段】本発明は、球面軸受で支
持されると共に、一端が試料室と大気とをシールする金
属ベローに接続された中空フレームを有し、中空フレー
ム外周部に設けられた駆動手段により中空フレーム自体
を駆動すると共に、磁気結合により中空フレーム内に設
けられた中空パイプを駆動して試料を動かすようにした
サイドエントリーゴニオメータであって、前記中空パイ
プ先端に取り付けられた押し棒により駆動されるテコ、
テコにより押されて回転する試料取付台、試料取付台に
接続されて回転した試料取付台を復帰させるためのスプ
リングを備え、押し棒の直線動により試料を回転するこ
とができる構造としたことを特徴とする。
持されると共に、一端が試料室と大気とをシールする金
属ベローに接続された中空フレームを有し、中空フレー
ム外周部に設けられた駆動手段により中空フレーム自体
を駆動すると共に、磁気結合により中空フレーム内に設
けられた中空パイプを駆動して試料を動かすようにした
サイドエントリーゴニオメータであって、前記中空パイ
プ先端に取り付けられた押し棒により駆動されるテコ、
テコにより押されて回転する試料取付台、試料取付台に
接続されて回転した試料取付台を復帰させるためのスプ
リングを備え、押し棒の直線動により試料を回転するこ
とができる構造としたことを特徴とする。
【0020】
【作用】本発明は、押し棒により駆動されるテコ、ロー
ラにより支持され、テコにより押されて回転する試料取
付台、試料取付台に接続されて回転した試料取付台を復
帰させるためのスプリング、試料取付台に接続され、試
料取付台の回転を吸収可能な電極により試料ホルダを構
成し、試料ホルダを小型化、かつチップ化してゴニオメ
ータ先端に設けられた試料受台に取り付けられるように
したものであり、操作棒の直線動によりローラで支持さ
れた試料取付台が回転できる。また、ゴニオメータは3
60°傾斜可能であり、試料ホルダを試料受台に装着
後、90°回転させて試料面を電子線光軸にほぼ平行と
し、この状態で電子ビームを試料面に平行に当てて、試
料表面の反射像を見ることができ、この時試料を回転さ
せることによりいろいろな角度からの反射像をみること
が可能となる。
ラにより支持され、テコにより押されて回転する試料取
付台、試料取付台に接続されて回転した試料取付台を復
帰させるためのスプリング、試料取付台に接続され、試
料取付台の回転を吸収可能な電極により試料ホルダを構
成し、試料ホルダを小型化、かつチップ化してゴニオメ
ータ先端に設けられた試料受台に取り付けられるように
したものであり、操作棒の直線動によりローラで支持さ
れた試料取付台が回転できる。また、ゴニオメータは3
60°傾斜可能であり、試料ホルダを試料受台に装着
後、90°回転させて試料面を電子線光軸にほぼ平行と
し、この状態で電子ビームを試料面に平行に当てて、試
料表面の反射像を見ることができ、この時試料を回転さ
せることによりいろいろな角度からの反射像をみること
が可能となる。
【0021】
【実施例】図1は本発明の試料装置の全体図、図2は本
発明の試料装置の詳細を示す図である。図中、29は試
料受台、71は操作棒、72は接点、74は加熱用リー
ド線、80は試料ホルダ、81は電極、82a,82
b,82cはローラ、83は試料取付台、85はバネ、
86はテコ、87は絶縁碍子、88は試料、90a,9
0bは分割片、91a,91bは試料押さえである。な
お、図2(a)は試料ホルダの蓋を取った時の平面図、
図2(b)は横断面図、図2(c)は裏面図である。
発明の試料装置の詳細を示す図である。図中、29は試
料受台、71は操作棒、72は接点、74は加熱用リー
ド線、80は試料ホルダ、81は電極、82a,82
b,82cはローラ、83は試料取付台、85はバネ、
86はテコ、87は絶縁碍子、88は試料、90a,9
0bは分割片、91a,91bは試料押さえである。な
お、図2(a)は試料ホルダの蓋を取った時の平面図、
図2(b)は横断面図、図2(c)は裏面図である。
【0022】図1において、試料ホルダ80はゴニオメ
ータの先端に設けられた試料受台29に取り付けられ、
図3、図4で説明した中空パイプの先端に接続された操
作棒71によってX方向に押されるようになっている。
試料受台29には加熱用リード線74が接続された電気
的接点72が設けられており、試料ホルダ80を試料受
台29に取り付けると、後述するように試料ホルダの電
極がこれらの接点と接続し、試料を通電加熱することが
できるようになっている。
ータの先端に設けられた試料受台29に取り付けられ、
図3、図4で説明した中空パイプの先端に接続された操
作棒71によってX方向に押されるようになっている。
試料受台29には加熱用リード線74が接続された電気
的接点72が設けられており、試料ホルダ80を試料受
台29に取り付けると、後述するように試料ホルダの電
極がこれらの接点と接続し、試料を通電加熱することが
できるようになっている。
【0023】図2(a)は試料ホルダ80の蓋を取った
状態であり、円形の試料取付台83が3つのローラ82
a,82b,82cで支持され、操作棒71を押した時
にテコ86により試料取付台83と一体の分割片90b
を通して回転力が与えられ、時計方向に回転されるよう
になっており、同時に試料取付台にはバネ85が接続さ
れ、そのバネ力により反時計方向に復帰できるようにな
っている。また、試料取付台83と一体の分割片90a
には波型の電極81が取り付けられ、試料取付台83が
回転した時にその回転を吸収できるようになっていると
共に、図2(b)に示すように、この電極が接点72に
接触している。分割片90aは絶縁碍子87で電気的に
浮いており、一方分割片90bはアースレベルに落ちて
おり、この分割片を通して試料に通電し過熱されるよう
になっている。
状態であり、円形の試料取付台83が3つのローラ82
a,82b,82cで支持され、操作棒71を押した時
にテコ86により試料取付台83と一体の分割片90b
を通して回転力が与えられ、時計方向に回転されるよう
になっており、同時に試料取付台にはバネ85が接続さ
れ、そのバネ力により反時計方向に復帰できるようにな
っている。また、試料取付台83と一体の分割片90a
には波型の電極81が取り付けられ、試料取付台83が
回転した時にその回転を吸収できるようになっていると
共に、図2(b)に示すように、この電極が接点72に
接触している。分割片90aは絶縁碍子87で電気的に
浮いており、一方分割片90bはアースレベルに落ちて
おり、この分割片を通して試料に通電し過熱されるよう
になっている。
【0024】このような構造の試料ホルダは小型化、か
つチップ化して構成されており、試料受台29に取り付
けられる。試料受台29の接点72,73は、試料ホル
ダをセットした状態で波型の電極81と接触し、電極8
1を通して試料ホルダ全体を操作棒71側に押さえつ
け、試料ホルダががたつくのを防止している。
つチップ化して構成されており、試料受台29に取り付
けられる。試料受台29の接点72,73は、試料ホル
ダをセットした状態で波型の電極81と接触し、電極8
1を通して試料ホルダ全体を操作棒71側に押さえつ
け、試料ホルダががたつくのを防止している。
【0025】このような構成において、小型化、かつチ
ップ化した試料ホルダ80を試料受台29にセットする
と、絶縁碍子87で浮いている電極81が接点72に接
触し、試料に通電して加熱することができる。また、前
述した軸廻りの回転により試料を電子線光軸にほぼ平行
にした状態で試料に電子ビームを当て、操作棒71を押
して試料を回転させながら試料表面の反射像を見ること
が可能である。また、試料ホルダは小型化、かつチップ
化されているので、単に試料受台にセットするだけで試
料室へ搬送することが可能である。
ップ化した試料ホルダ80を試料受台29にセットする
と、絶縁碍子87で浮いている電極81が接点72に接
触し、試料に通電して加熱することができる。また、前
述した軸廻りの回転により試料を電子線光軸にほぼ平行
にした状態で試料に電子ビームを当て、操作棒71を押
して試料を回転させながら試料表面の反射像を見ること
が可能である。また、試料ホルダは小型化、かつチップ
化されているので、単に試料受台にセットするだけで試
料室へ搬送することが可能である。
【0026】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、試料ホル
ダを小型化、かつチップ化して試料受台に超高真空中で
搬送して装着することが可能であり、受台のシャフトを
直線動させることにより試料ホルダのテコを動かして試
料取付台を回転させることにより試料を回転することが
可能となる。
ダを小型化、かつチップ化して試料受台に超高真空中で
搬送して装着することが可能であり、受台のシャフトを
直線動させることにより試料ホルダのテコを動かして試
料取付台を回転させることにより試料を回転することが
可能となる。
【図1】 本発明の試料装置の全体図である。
【図2】 本発明の試料装置の詳細を示す図である。
【図3】 従来のメタルシール化した試料装置を示す図
である。
である。
【図4】 従来のメタルシール化した試料装置を示す図
である。
である。
29…試料受台、71…操作棒、72…接点、74…加
熱用リード線、75…高圧用リード線、80…試料ホル
ダ、81…電極、82a,82b,82c…ローラ、8
3…試料取付台、85…バネ、86…テコ、87…絶縁
碍子、88…試料、90a,90b…分割片、91a,
91b…試料押さえ。
熱用リード線、75…高圧用リード線、80…試料ホル
ダ、81…電極、82a,82b,82c…ローラ、8
3…試料取付台、85…バネ、86…テコ、87…絶縁
碍子、88…試料、90a,90b…分割片、91a,
91b…試料押さえ。
Claims (1)
- 【請求項1】 球面軸受で支持されると共に、一端が試
料室と大気とをシールする金属ベローに接続された中空
フレームを有し、中空フレーム外周部に設けられた駆動
手段により中空フレーム自体を駆動すると共に、磁気結
合により中空フレーム内に設けられた中空パイプを駆動
して試料を動かすようにしたサイドエントリーゴニオメ
ータであって、前記中空パイプ先端に取り付けられた押
し棒により駆動されるテコ、テコにより押されて回転す
る試料取付台、試料取付台に接続されて回転した試料取
付台を復帰させるためのスプリングを備え、押し棒の直
線動により試料を回転することができる構造としたこと
を特徴とする電子顕微鏡等の試料装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4044370A JP2895673B2 (ja) | 1992-03-02 | 1992-03-02 | 電子顕微鏡等の試料装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4044370A JP2895673B2 (ja) | 1992-03-02 | 1992-03-02 | 電子顕微鏡等の試料装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05242846A true JPH05242846A (ja) | 1993-09-21 |
JP2895673B2 JP2895673B2 (ja) | 1999-05-24 |
Family
ID=12689630
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4044370A Expired - Fee Related JP2895673B2 (ja) | 1992-03-02 | 1992-03-02 | 電子顕微鏡等の試料装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2895673B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000513135A (ja) * | 1997-03-12 | 2000-10-03 | ガタン・インコーポレーテッド | 電子顕微鏡のための超高傾斜試験片低温移送ホルダ |
WO2013165158A1 (ko) * | 2012-05-02 | 2013-11-07 | 한국기초과학지원연구원 | 샘플 고정부재 및 이를 갖는 주사전자현미경의 샘플 홀더 조립체 |
-
1992
- 1992-03-02 JP JP4044370A patent/JP2895673B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000513135A (ja) * | 1997-03-12 | 2000-10-03 | ガタン・インコーポレーテッド | 電子顕微鏡のための超高傾斜試験片低温移送ホルダ |
WO2013165158A1 (ko) * | 2012-05-02 | 2013-11-07 | 한국기초과학지원연구원 | 샘플 고정부재 및 이를 갖는 주사전자현미경의 샘플 홀더 조립체 |
KR101373127B1 (ko) * | 2012-05-02 | 2014-03-14 | 한국기초과학지원연구원 | 샘플 고정부재 및 이를 갖는 주사전자현미경의 샘플 홀더 조립체 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2895673B2 (ja) | 1999-05-24 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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