JPH05232142A - 隆起したコンタクト用の弾性ガスケット支持体を備えた電気回路 - Google Patents

隆起したコンタクト用の弾性ガスケット支持体を備えた電気回路

Info

Publication number
JPH05232142A
JPH05232142A JP4227160A JP22716092A JPH05232142A JP H05232142 A JPH05232142 A JP H05232142A JP 4227160 A JP4227160 A JP 4227160A JP 22716092 A JP22716092 A JP 22716092A JP H05232142 A JPH05232142 A JP H05232142A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
gasket
trace
layer
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4227160A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH087234B2 (ja
Inventor
Robert K Betz
ローバート・ケー・ベッツ
Blake F Woith
ブレイク・エフ・ウォイス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Raytheon Co
Original Assignee
Hughes Aircraft Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hughes Aircraft Co filed Critical Hughes Aircraft Co
Publication of JPH05232142A publication Critical patent/JPH05232142A/ja
Publication of JPH087234B2 publication Critical patent/JPH087234B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/0735Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card arranged on a flexible frame or film

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Contacts (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、回路カードと接続パッドとの間の
接触を接続パッドの高さが一定していない場合に確実に
行うことのできる試験プロ−ブを提供することを目的と
する。 【構成】 試験薄膜14を支持し、薄膜上の薄膜トレ−ス
80と接続された複数の接続パッド82を有する薄膜環状体
12と、試験薄膜14と分離可能な接続を行う多層回路カー
ド24とを備え、回路カ−ド24は、剛性誘電体層50と、こ
の誘電体層50上に配置されてそのエッジを越えて延在し
接続部56と突出するコンタクト58とを備えた複数の回路
カ−ドトレ−ス52と、誘電体層50のエッジで接続部56と
コンタクト58の下に位置し、誘電体層50と積層されてい
る弾性体ガスケット44と、突出するコンタクト58が接続
パッド82に対して圧力を加えるように回路カ−ド24を薄
膜環状体12に対して押し付ける手段とを備えていること
を特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電気回路の相互接続、
特に隆起したコンタクトの位置づけおよび、弾性的支持
体の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】特有の印刷回路は応用範囲が広がり、構
造が変化を続けながら開発が進んでいる。柔軟および剛
性の印刷回路は種々のタイプの接続装置により同様の回
路および他の構成部品に接続されている。試験プロ−ブ
の多くは試験薄膜の周囲に複数のコンタクトを有する構
造を具備し、このコンタクトは試験装置に取付けられた
試験プロ−ブカ−ドに電気的に接続しなければならな
い。平坦でフレキシブルな接続ケ−ブルが同様に構成さ
れた接続装置を使用し、このような一方の印刷回路ケ−
ブルと他方の回路との間の接続が複数の突出した金属相
互接続部で形成される地点まで延ばされており、この金
属相互接続部は他の回路の構成部分上の同様の部分また
は結合金属接続パッドのいずれかに押付けられる。この
タイプのフレキシブル回路端子または接続ウェ−ハはPa
trick A. Reardon, II他による米国特許第4,125,310 号
明細書、Gerald J. Selvin他による米国特許第4,116,51
7 号明細書、Norbert L. Moulin 他による米国特許第4,
453,795 号明細書に記載されている。これらの特許明細
書の接続装置は隆起した複数の金属部品に化学的に加工
したトレ−スを有する基体を使用し、この隆起した複数
の金属部品は後に回路トレ−スの平面から突出するよう
に形成されている。従って、位置合せされている隆起部
分を備えたこのような2つのコネクタが向い合わせに配
置され、互いに接触するとき、エッチングした電気回路
の平面は部品の突出のために互いに適切に分離される。
2つの回路は物理的に互いにクランプされており、互い
に圧縮しあっている。従って、2つの回路の間に強固で
緊密な電気的接続が形成される。
【0003】化学的加工なしで電着技術によるこのよう
な隆起したコンタクトを備えた回路を製造する方法はWi
lliam R. Crumly, Christopher M. Schreiber, Haim Fe
igenbaumによる1990年9月11日出願の米国特許第07/58
0,758(PD-90102,76-174-D )号明細書に記載されてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このような隆起したコ
ンタクト(隆起部の金メッキは「金ドット接続装置」と
も呼ばれる)により接続された回路の使用では、1群の
隆起した金属ボタン部分が向い合った回路の接続パッド
または同様の部分に対して圧接され、回路面を越える高
さのために2つの向い合った回路は互いに分離される。
装置のあらゆる隆起部における最適接続をするには、両
回路上の全ての接続部またはパッドは平面でなければな
らない。その結果、2つの回路を共に押付けることは各
接続点における均等な接触圧力を効率的に生じさせる。
このような接続部に完全な平面を維持することが難しい
ので、Reardon による米国特許第4,125,310 号明細書の
ような変形可能のコンタクトまたはSelvin他による米国
特許第4,116,517 号明細書のような弾性材料の連続層の
使用が提案されている。このような方法は比較的複雑で
組立て困難であり、装置の1つ以上の接続部の平面から
実際にずれることを考慮していない。さらに、このよう
な装置では2つの回路は互いにきわめて接近し、クラン
プされており、隆起部の高さによってのみ離れており、
この隆起部は互いに接触し、向い合う回路板の間の空間
の大きさを実効的に限定する。1つ以上のこれらの隆起
部が十分な高さを有さないと、回路板が互いに接触する
ことは不可能である。弾性体の完全なシ−トが使用され
ているSelvinによる米国特許明細書で示されている装置
では、弾性体は各隆起部分の中空の後部に入るように正
確に位置づけられている突出部分を有し、従って、複数
の層の積層中の組立ておよび位置づけが極めて困難であ
る。さらに従来技術の装置の問題は、試験プロ−ブ回路
の使用にあたってこれらが容易に適合しないことであ
る。従って、本発明の目的は前述の問題を回避或いは最
小限にする隆起部の中間接続を与えることである。
【0005】
【課題を解決するための手段】好ましい実施例に従った
本発明の原理の実行において、複合多重層回路板は剛性
の基体層と回路トレ−スの積層によって形成され、この
回路トレ−ス層は接続パッドおよびパッドから突出する
隆起したコンタクトを有する。モ−ルドされた弾性体ガ
スケットは接続パッドおよび突出したコンタクトの下部
の剛性の基体層中に位置されており、複合多重層板の積
層中に圧縮され、ガスケットは弾性的に剛性の回路板部
分においてまたは回路板平面の上方で接続パッドおよび
突出部分を支持する。
【0006】
【実施例】本発明はフレキシブル回路板、剛性の回路板
またはフレキシブルと剛性板とを組合わせた回路板、フ
レキシブルケ−ブル接続、試験プロ−ブ装置を含む多く
の異なったタイプの回路板およびそれらの間の電気接続
に応用できる。説明の都合上、本発明は回路ウェ−ハ試
験プロ−ブで使用されているものとして示されている。
この試験プロ−ブの説明は他のタイプの回路接続に対す
る本発明の特徴および応用を容易に示唆している。
【0007】簡単な断面図の図1および分解図の図2で
示されているように、通常、円形の試験プロ−ブ10は薄
くてフレキシブルで透明な薄膜14を支持する剛性の薄膜
環状体12を含む。薄膜14は下面(図1で示されている方
向で)上に複数の回路トレ−ス80(図3)を装着してお
り、この回路トレ−ス80は薄膜の中心部16で接続パッド
(図1では図示せず)まで延在している。回路トレ−ス
は薄膜の下面に沿って、剛性の薄膜環状体12の下面へ延
在し、さらに環状体を通過して、剛性の環状体12の上部
表面上の接続パッド82(図3)へ延在している。試験さ
れるウェ−ハ18(図1)はその上面に複数の集積回路チ
ップを含んでおり、これらの各チップは薄膜中心部16の
下面上の接続パッドと適合するパタ−ンで形成されてい
る試験接続パッドを有する。試験プロ−ブ10は剛性の薄
膜環状体の上面の内方部分に固定されている薄膜クラン
プリング20を固定して装着し、ボルト22のようなボルト
を受けるねじを切った複数の孔を円周方向に間隔を有し
て設けられている。
【0008】通常、環状体状のプロ−ブカ−ド24はボル
ト26により試験固定装置フレ−ム28(図1、2)に固定
される。環状体状ロ−ブカ−ド28の内周に沿って、プロ
−ブカ−ドクランプ環30が位置づけられ、このクランプ
リングを通ってボルト22が薄膜環状体12とプロ−ブカ−
ドクランプリング30の間に環状体状プロ−ブカ−ド24の
内部端縁を固定して、分離可能の状態で留めるように延
在している。プロ−ブカ−ドクランプリング30はOリン
グ36の手段により薄膜クランプリング20に密封されてお
り、内周でガラス窓38を支持し、このガラス窓を通して
透明の薄膜14および試験コンタクトが試験される回路チ
ップ上の接続パッドとの整合を容易にするように見るこ
とができる。空気器具40はプロ−ブカ−ドクランプ環30
に取付けられ、圧力下の空気をガラス窓38と薄膜14の間
に形成された密封チャンバへ導入し、フレキシブルな透
明の薄膜14を試験される回路の試験パッドに押し付けて
それらの間の適切な接続を確実にさせる。
【0009】電気回路トレ−ス52(図3)はプロ−ブカ
−ド24の下面に沿って内部端まで延在し、ここで電気回
路トレ−ス52には接続パッド56および隆起したコンタク
ト58が設けられており、隆起したコンタクト58は薄
膜の剛性の環状体12上の接続パッド82と接触している。
プロ−ブカ−ド24の下面上の回路トレ−スは回路板を通
過して延在する接続貫通孔53を経て、他の試験固定回路
(図示せず)に接続している。
【0010】本発明の原理によると、弾性体ガスケット
44は多重層プロ−ブカ−ド24の一部として形成され、プ
ロ−ブカ−ドの下面の隆起接続の列に沿って下に位置
し、または延在している。「下に位置する」「上に位置
する」「上に」「下に」という語は相対的な位置を示す
ことに使用されるが、絶対的な方向ではなく、示されて
いる回路および回路板は2つの接続された部分の一方が
他方の上にある位置、水平または他方向に延在する並ん
だ位置等の任意の位置で使用されることができる。
【0011】図3はプロ−ブカ−ドの構造および隆起し
たコンタクトが薄膜の接続パッドに接続される方法を詳
細に示している。プロ−ブカ−ドは実質上、剛性の誘電
体環状中間層50を有する剛性の多重層回路板である。中
間層50はカ−ドの内周端に環状ガスケット44を備えてい
る。回路トレ−ス52の層は中間層50上に形成され、カプ
トン、アクリルのような絶縁体で接着力のある薄手のフ
レキシブルな層により固定され、参照数字54により総称
的に示されている。回路トレ−ス52は端部近辺で一体に
形成された接続パッド部分またはコネクタ領域56を有
し、この端部から隆起したコンタクトまたは接続ボタン
58が突出する。1つの形態では、隆起したコンタクト58
は中空で固体の形態に硬化される補強エポキシ60で充鎮
されている。回路トレ−ス層およびコネクタ領域56はコ
ンタクト58の自由端が突出可能できるようにする絶縁体
被覆層または絶縁体62で覆われている。必要または所望
であるならば、コンタクト58の自由端は金でメッキされ
る。
【0012】ガスケット44の隣接面(図3の下面)は下
にあるコネクタ領域56および隆起したコンタクト58に直
接近接している。弾性体ガスケット44の反対側の面を支
持するため、中間の剛性の誘電体または他の剛性の支持
体は剛性の誘電体端部部分のエッジ66を越えて、ガスケ
ットの末端面に沿って延在しなければならない。図3に
示されている装置では、剛性の誘電体50はリベ−トエッ
ジまたは溝を形成され、剛性の誘電体ガスケット支持部
70を与え、この剛性の誘電体ガスケット支持部70はガス
ケット44の端面まで延在し、これを支持する。ガスケッ
トはこの溝に取付けられ、接続パッド部分56およびコン
タクト58を支持するために剛性の誘電体50の延長部分を
形成する。銅の接地層74は剛性の誘電体層50の反体面に
形成され、絶縁体層76により被覆される。
【0013】弾性体ガスケット44は圧縮されていない状
態で剛性の誘電体50より大きい厚みを有し、後述するよ
うに積層過程中に圧縮される。積層過程の圧縮を緩める
と、ガスケットは膨脹する傾向になり、カプトン/アク
リル層54による大きさに決定される範囲まで膨脹する。
このような膨脹は回路トレ−スのパッド部分56をトレ−
ス52の平面の外部へ圧力をかける。パッド部分の外部へ
の変位は隆起したコンタクトが回路トレ−スの外部へ十
分な距離をもって突出することを確実にし、所望の接触
の形成と接続される回路間の所望の空間を提供する。さ
らに、隆起したコンタクトの基体面自体が隆起(例えば
外部に変位)しているため、突出部は回路トレ−ス全体
の所望の高さに必要とされる他の物より低くすることが
できる。
【0014】図3は薄膜14の最外部面上の回路トレ−ス
80を示しており、この薄膜は環状体12の内部面上の接続
パッド82まで延在する。これらのパッド82はボルト22お
よびクランプ20,30 のクランプ動作によりプロ−ブカ−
ドの隆起したコンタクト58の自由端と圧縮接触する。こ
こで示しているタイプの試験プロ−ブではプロ−ブカ−
ド上の薄膜接続パッドおよび隆起したコンタクトは薄膜
環状体の外周およびプロ−ブカ−ドの内周の周辺で1つ
以上の同心円形の列で延在している。図面を明瞭にする
ため図3ではこのような列は1つのみを示している。接
続パッドと隆起したコンタクトの形態は、少なくとも対
応する隆起したコンタクトのパタ−ンに整合した接続パ
ッドパタ−ン部分の一部分を有する選択された構造であ
る。
【0015】図3より回路トレ−ス52とパッド部分56は
剛性の誘電体50の端部66を越えて放射状に内部へ延在
し、その結果、誘電体のエッジ66に沿って位置している
ガスケット44の表面はコネクタ領域56および突出したコ
ンタクト58に延在し、これを支持している。この装置の
剛性の誘電体は斜めに切り取られて延在しているリップ
70を有し、このリップはコンタクト58と反対側の弾性体
ガスケットの面を支える要素を形成する。
【0016】突出した接続パッドと隆起したコンタクト
を有するプロ−ブカ−ドは当業者に明白なように多くの
異なった方法で形成される。回路トレ−スおよび隆起部
はReardon IIその他諸々による米国特許第4,125,310 号
明細書、Moulinによる第4,453,795 号明細書に示めされ
ている過程により形成され、ここでは化学的に加工され
た回路は隆起部またはメッキボタンを有する。プロ−ブ
カ−ドを形成する方法の別の例が図4、5、6に示され
ており、ここで回路トレ−スと隆起したコンタクトの付
加的な形成方法の段階が示されている。この付加的な方
法の段階は前述の米国特許出願(Crumly, Schreiber, F
eigenbaum のThree-Dimensional Electroformed Circui
try )に記載されている。
【0017】ステンレス鋼マンドレル90(図4のa)に
凹部92が形成され、テフロン(図示せず)のような非導
電性材料のパタ−ンで被覆されている。パタ−ン化され
たテフロン被覆はマンドレルの露出した鋼鉄の形態を限
定し、このマンドレル上に回路トレ−スは付加的に形成
される。マンドレルは図4のbに示すように電気メッキ
され、銅52のような導電性材料の層をテフロンパタ−ン
で被覆されていないマンドレル表面の領域に付着させ
る。銅メッキは凹部92に入り、やや中空の突出部58を形
成し、この突出部はエポキシ60のような固体で満たされ
ている。部分的構造は剛性誘電体50から形成され、弾性
体ガスケット44を有し、この弾性体ガスケットは図4の
cで示されているように誘電体端部または誘電体端部に
形成された溝に位置している。圧縮されていない状態
(図4のcで示されているように)の弾性体ガスケット
は例えば0.125 インチの厚さの誘電体50より約5ミル厚
く、隆起したコンタクトを越えて延在している。それぞ
れ1〜2ミルの厚さのカプトンのようなポリイミド層と
アクリル接着層(集合的に54で示されている)は剛性の
誘電体50に供給される。適切な弾性体ガスケットを備え
て、剛性の誘電体のガスケット、カプトン/アクリルの
部分的構造はガスケットを圧縮するのに十分な熱、圧力
でマンドレル上の銅トレ−ス52に対して押付けられ、表
面55が剛性の誘電体50の表面51と同一平面になる。それ
から、ポリイミドおよび接着剤は硬化される。この積層
段階は誘電体を銅トレ−スおよびパッドに固定し、誘電
体とマンドレルの間の弾性体ガスケットを圧縮する。弾
性体ガスケットの圧縮を緩めると、或程度の圧縮は圧縮
状態が残り、表面55を剛性の誘電体50の表面51と同一平
面に維持する。ある装置ではガスケットは完全に圧縮さ
れた位置(剛性の誘電体と同一平面)から僅かに膨脹し
ているが、この膨脹は薄くてフレキシブルなカプトン/
アクリル層54によりある程度抑制され、この層はガスケ
ットが完全に圧迫または圧縮されない状態に戻ることを
防止する役目をする。それにもかかわらず、弾性体ガス
ケットの膨脹ははある装置における前述の積層段階の圧
縮の緩和後、パッド部分および突出したコンタクト58を
含む回路トレ−ス部分が剛性の誘電体に直接存在するト
レ−ス52の面を越える変位に十分である。このような変
位は図3に示されている。
【0018】銅接地面74およびカバ−用の絶縁体76はプ
ロ−ブカ−ドに設けられる。後者はマンドレル90から分
離され、回路トレ−ス52と突出部58を支持するプロ−ブ
カ−ド表面を露出する。トレ−ス52とパッド部分56は絶
縁体カバ−層62(図3)に覆われ、多重層プロ−ブカ−
ドの組立てにおけるこの形態を完成する。
【0019】完成したプロ−ブカ−ドは試験固定フレ−
ム28に固定される。ウェ−ハ18上の所定の集積回路チッ
プを試験するための試験コンタクトの適切な構造を有す
る試験薄膜10はねじ22によりプロ−ブカ−ドと試験固定
装置に固定され、接続パッド82が突出したコンタクト58
の先端に対して圧力を加えさせる。接触圧力は弾性体ガ
スケット44の僅かな圧縮により弾性的に阻止され、従っ
て、それぞれの線または突出部58の線の異なった高さに
適応し、また薄膜接続パッド82の平面からのずれに適応
する。
【0020】2つの接続された回路、薄膜10、プロ−ブ
カ−ドが異なった平面に位置し、パッド部分56より高い
突出部58の高さにより少なくともある程度決定される距
離に離れていることが明らかである。図3に示されてい
る実施例ではこの離れた距離は回路トレ−ス52の面から
のパッド部分と隆起接続装置の両者の付加的変位により
増加される。予め形成されたモ−ルドガスケット44はカ
−ドの積層期間中、多重層プロ−ブカ−ドに統合され、
複合カ−ドの一体部を形成し、剛性の板の面より上部に
十分に高く突出する。
【0021】隆起したコンタクトを支持するガスケット
装置が試験プロ−ブ装置で使用されるようにここで明ら
かにしたが、記載した構造、方法は剛性のフレキシブル
回路を含む他のタイプの回路の組立てにも使用できるこ
とが容易に明らかである。このフレキシブル回路は剛性
の基体に形成した回路と結合している薄いフレキシブル
な基体に形成された回路で構成される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を実施した試験プロ−ブ薄膜およびプロ
−ブカ−ド部品の簡単化した断面図。
【図2】図1のプロ−ブ薄膜およびプロ−ブカ−ドの部
品の分解図。
【図3】プロ−ブカ−ドと薄膜の間の電気接続を示して
いる部分的拡大断面図。
【図4】プロ−ブカ−ド製造の1実施態様の段階を示し
た図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ブレイク・エフ・ウォイス アメリカ合衆国、カリフォルニア州 92669、オーレンジ、サウス・カスリー ン・レーン 237

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の薄膜トレ−スを有する試験薄膜
    と、 前記薄膜を支持し、前記薄膜トレ−スと接続された複数
    の接続パッドを有する薄膜環状体と、 前記試験薄膜に対して分離可能な接続を行う多重層回路
    カードとを備え、 前記回路カ−ドは、 剛性の誘電体層と、 この剛性の誘電体層のエッジを越えて延在する接続部を
    有して前記剛性の誘電体層上に存在し、前記接続部から
    突出するコンタクトを具備する複数の回路カ−ドトレ−
    スと、 前記剛性の誘電体のエッジに位置し、前記接続部と突出
    したコンタクトの下に位置し、前記誘電体層と前記回路
    カ−ドトレ−スの積層されている弾性体ガスケットと、 前記突出するコンタクトが前記接続パッドに対して圧力
    を加えるように前記回路カ−ドを前記薄膜環状体に対し
    て押し付ける手段とを備えていることを特徴とする試験
    プロ−ブ。
  2. 【請求項2】 前記トレ−スが共通平面に位置し、前記
    接続部は前記ガスケットにより前記共通平面から外方に
    変位される請求項1記載のプロ−ブ。
  3. 【請求項3】 前記剛性の誘電体層の下に存在するフレ
    キシブルな誘電体層と前記ガスケットを具備し、前記ガ
    スケットは前記フレキシブルな誘電体層と前記回路カ−
    ドトレ−ス部の間で弾性的に圧縮され、前記共通平面の
    外方へ前記接続部を圧縮する請求項1記載のプロ−ブ。
  4. 【請求項4】 前記薄膜環状体の接続パッドが予め定め
    られた延在する接続路に沿って相互に空間を隔ててお
    り、前記突出したコンタクトは前記接続路に一致してい
    るカ−ド路に沿って位置しており、前記ガスケットは前
    記カ−ド路に沿って延在するモ−ルドされた弾性体のス
    トリップからなる請求項1記載のプロ−ブ。
  5. 【請求項5】 前記多重層回路カ−ドがさらに、前記弾
    性体ガスケットと前記回路トレ−スとの間に位置されて
    いる接着層を備えている請求項1記載のプロ−ブ。
  6. 【請求項6】 前記多重層回路カ−ドがさらに前記回路
    トレ−スの誘電体被覆層を備えている請求項5記載のプ
    ロ−ブ。
  7. 【請求項7】 前記多重層回路カ−ドがさらに前記剛性
    の誘電体層の反対面に形成された導電体層と前記導電体
    層上の絶縁体層とを備えている請求項6記載のプロ−
    ブ。
  8. 【請求項8】 前記パッドは前記トレ−スの端部に近接
    する前記トレ−ス平面上に延在する通路に沿って相互に
    空間を隔てており、前記ガスケットは前記パッドと隆起
    したコンタクトの下の前記線に沿って延在するモ−ルド
    された弾性体材料の狭いストリップからなる請求項1記
    載のプロ−ブ。
  9. 【請求項9】 前記ガスケットが前記基体より大きい厚
    さを有する請求項8記載のプロ−ブ。
JP4227160A 1991-08-26 1992-08-26 試験プローブ装置 Expired - Lifetime JPH087234B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US74977091A 1991-08-26 1991-08-26
US749770 1991-08-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05232142A true JPH05232142A (ja) 1993-09-07
JPH087234B2 JPH087234B2 (ja) 1996-01-29

Family

ID=25015112

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4227160A Expired - Lifetime JPH087234B2 (ja) 1991-08-26 1992-08-26 試験プローブ装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5304922A (ja)
JP (1) JPH087234B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100359661C (zh) * 2004-11-10 2008-01-02 国际商业机器公司 用于对半导体器件进行单晶粒背面探测的装置和方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5495179A (en) * 1991-06-04 1996-02-27 Micron Technology, Inc. Carrier having interchangeable substrate used for testing of semiconductor dies
JP2606554Y2 (ja) * 1992-01-17 2000-11-27 株式会社東京精密 プロービング装置
US5550482A (en) * 1993-07-20 1996-08-27 Tokyo Electron Kabushiki Kaisha Probe device
JP3001182B2 (ja) * 1995-08-29 2000-01-24 信越ポリマー株式会社 液晶パネル検査装置およびその製造方法
US5762845A (en) * 1996-11-19 1998-06-09 Packard Hughes Interconnect Company Method of making circuit with conductive and non-conductive raised features
US6393997B1 (en) * 1999-03-18 2002-05-28 Trn Business Trust Aerator pad assembly for railway hopper cars

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4116517A (en) * 1976-04-15 1978-09-26 International Telephone And Telegraph Corporation Flexible printed circuit and electrical connection therefor
JPS63184349A (ja) * 1986-09-08 1988-07-29 テクトロニックス・インコーポレイテッド 集積回路試験ステーション用圧力検知装置
JPS644042A (en) * 1987-06-09 1989-01-09 Tektronix Inc Prober

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4645280A (en) * 1985-08-08 1987-02-24 Rogers Corporation Solderless connection technique between data/servo flex circuits and magnetic disc heads
KR870006645A (ko) * 1985-12-23 1987-07-13 로버트 에스 헐스 집적회로의 멀티플리드 프로브장치
EP0304868A3 (en) * 1987-08-28 1990-10-10 Tektronix Inc. Multiple lead probe for integrated circuits in wafer form
JPH055657Y2 (ja) * 1988-05-10 1993-02-15
US4899099A (en) * 1988-05-19 1990-02-06 Augat Inc. Flex dot wafer probe
US5059898A (en) * 1990-08-09 1991-10-22 Tektronix, Inc. Wafer probe with transparent loading member
US5148103A (en) * 1990-10-31 1992-09-15 Hughes Aircraft Company Apparatus for testing integrated circuits

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4116517A (en) * 1976-04-15 1978-09-26 International Telephone And Telegraph Corporation Flexible printed circuit and electrical connection therefor
JPS63184349A (ja) * 1986-09-08 1988-07-29 テクトロニックス・インコーポレイテッド 集積回路試験ステーション用圧力検知装置
JPS644042A (en) * 1987-06-09 1989-01-09 Tektronix Inc Prober

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100359661C (zh) * 2004-11-10 2008-01-02 国际商业机器公司 用于对半导体器件进行单晶粒背面探测的装置和方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH087234B2 (ja) 1996-01-29
US5304922A (en) 1994-04-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5274917A (en) Method of making connector with monolithic multi-contact array
US4597617A (en) Pressure interconnect package for integrated circuits
US5065282A (en) Interconnection mechanisms for electronic components
US4340860A (en) Integrated circuit carrier package test probe
US5812378A (en) Microelectronic connector for engaging bump leads
US4885126A (en) Interconnection mechanisms for electronic components
US4125310A (en) Electrical connector assembly utilizing wafers for connecting electrical cables
US5575662A (en) Methods for connecting flexible circuit substrates to contact objects and structures thereof
US5148103A (en) Apparatus for testing integrated circuits
US4026011A (en) Flexible circuit assembly
US4417170A (en) Flexible circuit interconnect for piezoelectric element
EP0558325B1 (en) Raised feature on substrate for flip chip interconnection
US5147208A (en) Flexible printed circuit with raised contacts
JP2894662B2 (ja) フレキシブルテープ構造及びフレキシブルテープ形成プロセス
EP0259163A2 (en) Semiconductor wafer probe
JP2004251910A (ja) プリント回路基板用相互接続アセンブリ及び製造方法
US5133119A (en) Shearing stress interconnection apparatus and method
US4676564A (en) Access device unit for installed pin grid array
US5497103A (en) Test apparatus for circuitized substrate
JPH05232142A (ja) 隆起したコンタクト用の弾性ガスケット支持体を備えた電気回路
US4107836A (en) Circuit board with self-locking terminals
KR20040023776A (ko) 전자 디바이스 검사용 콘택트시트 및 그 제조방법
US4187388A (en) Circuit board with self-locking terminals
US5500604A (en) Radial tensioning lamination fixture for membrane test probe
US6641406B1 (en) Flexible connector for high density circuit applications