JPH05224219A - Etching method for thin film, production of substrate for liquid crystal display element and etching device - Google Patents
Etching method for thin film, production of substrate for liquid crystal display element and etching deviceInfo
- Publication number
- JPH05224219A JPH05224219A JP5598792A JP5598792A JPH05224219A JP H05224219 A JPH05224219 A JP H05224219A JP 5598792 A JP5598792 A JP 5598792A JP 5598792 A JP5598792 A JP 5598792A JP H05224219 A JPH05224219 A JP H05224219A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- etching
- substrate
- thin film
- pure water
- liquid crystal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、薄膜のエッチング方
法、特に液晶表示素子の電極パターニングの際のエッチ
ング方法、液晶表示素子用基板の製造方法およびエッチ
ング装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for etching a thin film, and more particularly to an etching method for patterning electrodes of a liquid crystal display element, a method for manufacturing a substrate for a liquid crystal display element and an etching apparatus.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、フォトリソ工程により基板上にパ
ターンを形成する技術は広く知られている。その従来例
として、液晶パネルの金属電極を例にして説明すると、
ガラス基板上にほぼ全面に金属薄膜を成膜した上に、U
V(紫外線)硬化型のレジスト膜を約1μmの厚さに塗
布する。2. Description of the Related Art Conventionally, a technique for forming a pattern on a substrate by a photolithography process is widely known. As a conventional example, a metal electrode of a liquid crystal panel will be described as an example,
After forming a metal thin film on almost the entire surface of the glass substrate, U
A V (ultraviolet) curable resist film is applied to a thickness of about 1 μm.
【0003】次に、レジスト膜を仮乾燥後に所望のパタ
ーンを有するマスクを介してUV光で露光した後、現像
液にて現像し、さらに本硬化を行った後、エッチング工
程へ移行する。エッチング工程は、一般的にエッチング
液が上部ノズルからスプレーされている中を前記ガラス
基板が通過していくスプレー方式が用いられており、こ
のスプレー方式は生産用エッチング装置において、装置
化が簡単で生産性に優れているために有利である。次
に、電極上のレジスト膜を除去して電極パターンを形成
する。Next, after the resist film is tentatively dried, it is exposed to UV light through a mask having a desired pattern, developed with a developing solution, and then main-cured. Then, the process proceeds to an etching step. In the etching process, a spray method is generally used in which the glass substrate passes through while the etching liquid is being sprayed from the upper nozzle, and this spray method is easy to implement in a production etching apparatus. It is advantageous because it is excellent in productivity. Next, the resist film on the electrodes is removed to form an electrode pattern.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例のエッチング工程において、特に大型の基板で、且
つ微細パターンをエッチングする際には、前記レジスト
のパターンが正常に形成されているにもかかわらず、金
属膜の一部の箇所にエッチング残りが発生する。However, in the etching process of the conventional example described above, when the fine pattern is etched particularly on a large-sized substrate, the resist pattern is normally formed. The etching residue occurs at a part of the metal film.
【0005】このエッチング残りは、通常はレーザ等で
除去するか、あるいは複数回エッチングを行う等の方法
で除去するが、この様な方法では工程が複雑化し、特に
大型の基板に微細パターンを形成する際には、大量のエ
ッチング残りの箇所が発生するため、その除去は非常に
困難であった。The etching residue is usually removed by a laser or the like or a method of etching a plurality of times. However, such a method complicates the process, and a fine pattern is formed especially on a large substrate. In doing so, a large amount of etching residue is generated, and it is very difficult to remove it.
【0006】本発明は、上記の従来技術の問題点を解決
し、スプレー式エッチング装置を使用し、エッチング残
りの発生を防止し、パターニング工程の歩留りを著しく
向上させることができる薄膜のエッチング方法、液晶表
示素子用基板の製造方法およびそれらの方法に使用する
エッチング装置を提供することを目的とするものであ
る。The present invention solves the above-mentioned problems of the prior art, uses a spray-type etching apparatus, prevents the occurrence of etching residues, and significantly improves the yield of the patterning process. It is an object of the present invention to provide a method of manufacturing a substrate for a liquid crystal display element and an etching apparatus used in those methods.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】即ち、本発明の第一の発
明は、基板上に薄膜を成膜し、フォトリソグラフィーに
よりパタ−ンを形成する際のエッチング工程において、
フォトレジストパターンが形成された基板表面にエッチ
ング液をかけてエッチングする直前に基板表面を水また
は純水でリンスすることを特徴とする薄膜のエッチング
方法である。That is, the first invention of the present invention is to perform a step of forming a thin film on a substrate and performing an etching step when forming a pattern by photolithography.
It is a thin film etching method characterized in that the substrate surface is rinsed with water or pure water immediately before etching by applying an etching solution to the substrate surface on which a photoresist pattern is formed.
【0008】また、本発明の第二の発明は、基板上に薄
膜を成膜し、その上にフォトレジストパターンを形成し
た後にエッチングするフォトリソグラフィーによりパタ
−ンを形成する液晶表示素子用基板の製造方法におい
て、フォトレジストパターンが形成された基板表面にエ
ッチング液をかけてエッチングする直前に基板表面を水
または純水でリンスすることを特徴とする液晶表示素子
用基板の製造方法である。A second aspect of the present invention is a substrate for a liquid crystal display element, wherein a thin film is formed on a substrate, a photoresist pattern is formed on the thin film, and then a pattern is formed by photolithography for etching. In the manufacturing method, a method for manufacturing a substrate for a liquid crystal display device is characterized in that the substrate surface is rinsed with water or pure water immediately before etching by applying an etching liquid to the substrate surface on which the photoresist pattern is formed.
【0009】さらに、本発明の第三の発明は、基板上に
薄膜を成膜し、その上にフォトレジストパターンを形成
した基板表面を水または純水でリンスする純水プレリン
ス室と、水または純水でリンスした基板表面にエッチン
グ液をかけてエッチングするエッチング液スプレー室
と、エッチングした基板表面に純水をスプレーして洗浄
する純水スプレー室と、洗浄した基板の水切りをするエ
アーナイフ室からなることを特徴とするエッチング装置
である。Further, a third invention of the present invention is to form a thin film on a substrate, and a pure water pre-rinsing chamber for rinsing the surface of the substrate having a photoresist pattern formed thereon with water or pure water; An etching solution spray chamber that sprays an etching solution onto the substrate surface rinsed with pure water to etch it, a pure water spray chamber that sprays and cleans the etched substrate surface with pure water, and an air knife chamber that drains the cleaned substrate. It is an etching apparatus characterized by comprising.
【0010】本発明においては、基板表面にエッチング
液をかけて薄膜をエッチングする直前に基板表面を水又
は純水でリンスするが、水には純水以外の通常の水を用
いることができる。リンスする方法は、特に制限する必
要はなく基板の表面を濡らすことができれば良く、例え
ばスプレー,ディップ,スピンナー塗布等により行うこ
とができる。基板上に成膜される薄膜は、Al,Mo,
Cr,Ta,Cu,Niまたはこれらの合金からなる金
属膜か、或いは透明導電膜が用いられる。In the present invention, the substrate surface is rinsed with water or pure water immediately before the thin film is etched by applying the etching liquid to the substrate surface, but normal water other than pure water can be used as the water. The rinsing method is not particularly limited as long as it can wet the surface of the substrate, and for example, spraying, dipping, spinner coating or the like can be performed. The thin film formed on the substrate is made of Al, Mo,
A metal film made of Cr, Ta, Cu, Ni or an alloy thereof, or a transparent conductive film is used.
【0011】[0011]
【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明
する。EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples.
【0012】実施例1 図1は本発明の薄膜のッチング方法に使用するエッチン
グ装置の一例を示す説明図である。同図において、第一
室Aは、基板上に薄膜を成膜し、その上にフォトレジス
トパターンを形成した基板表面を水または純水でリンス
する純水プレリンス室であり、第二室Bは、水または純
水でリンスした基板表面にエッチング液をかけてエッチ
ングするエッチング液スプレー室であり、第三室Cは、
エッチングした基板表面に純水をスプレーして洗浄する
純水スプレー室であり、第四室Dは、洗浄した基板の水
切りをするエアーナイフ室であり、本発明のエッチング
装置は第一室A〜第四室Dを連続して組合わせたものか
らなる。Embodiment 1 FIG. 1 is an explanatory view showing an example of an etching apparatus used in the thin film etching method of the present invention. In the figure, a first chamber A is a pure water pre-rinsing chamber in which a thin film is formed on a substrate and a substrate surface having a photoresist pattern formed thereon is rinsed with water or pure water. The third chamber C is an etching liquid spray chamber in which an etching liquid is applied to the substrate surface rinsed with water or pure water to perform etching.
A pure water spray chamber for spraying pure water onto the surface of the etched substrate for cleaning, a fourth chamber D is an air knife chamber for draining the cleaned substrate, and the etching apparatus of the present invention includes first chambers A to It consists of a combination of the fourth chamber D in series.
【0013】図1のエッチング装置を用いて薄膜のッチ
ングを以下の方法により行なった。たて300mm,よ
こ300mm,厚さ1.0mmのガラス基板上にMoを
1500Åの厚さにスパッタ法にて成膜し、ロールコー
ターでフォトレジストを約1μmの厚さに塗布した後、
プリベーク,露光,現像,ポストベーク工程を行ないラ
インピッチ:200μm,ライン巾:197μm,ライ
ン間:3μm,ライン長さ:250mmのストライプ状
電極1200本のフォトレジストパターンを形成した基
板4を、本発明における図1に示す方法でエッチングを
行った。The etching of the thin film was carried out by the following method using the etching apparatus shown in FIG. Mo is deposited on a glass substrate having a length of 300 mm, a width of 300 mm, and a thickness of 1.0 mm to a thickness of 1500 Å by a sputtering method, and a photoresist is applied to a thickness of about 1 μm by a roll coater.
Pre-baking, exposure, development, and post-baking steps are performed, and a substrate 4 on which a photoresist pattern of 1200 stripe electrodes having a line pitch: 200 μm, a line width: 197 μm, a line interval: 3 μm, and a line length: 250 mm is formed according to the present invention. Etching was performed by the method shown in FIG.
【0014】エッチング工程では、図1に示すエッチン
グ装置に、基板4を0.6m/minのスピードで搬送
しながら、第一室Aで純水をスプレーし基板表面全体を
濡らす。次に、第二室Bでエッチング液(リン酸(85
wt%):硝酸(60wt%):酢酸(98wt%):
水=16:2:1:1(vol%)の混合溶液、液温は
室温)を90秒間スプレーして、エッチングを行い、第
三室Cで再び純水を90秒間スプレーして、第四室Dで
エアーナイフにて水切りした。その後、フォトレジスト
を剥離して、Moのパターン付基板を形成した。このM
oパターン付基板にエッチング残りの発生は全く無かっ
た。In the etching step, while the substrate 4 is conveyed to the etching apparatus shown in FIG. 1 at a speed of 0.6 m / min, pure water is sprayed in the first chamber A to wet the entire substrate surface. Next, in the second chamber B, an etching solution (phosphoric acid (85
wt%): nitric acid (60 wt%): acetic acid (98 wt%):
A mixed solution of water = 16: 2: 1: 1 (vol%), the liquid temperature is room temperature) is sprayed for 90 seconds to perform etching, and pure water is sprayed again in the third chamber C for 90 seconds to make the fourth Drained with an air knife in the chamber D. Then, the photoresist was peeled off to form a Mo patterned substrate. This M
o There was no etching residue on the patterned substrate.
【0015】比較例1 図3の従来のエッチング装置を用いて薄膜のッチングを
以下の方法により行なった。たて300mm,よこ30
0mm,厚さ1.0mmのガラス基板上にMoを150
0Åの厚さにスパッタ法にて成膜し、実施例1と全く同
じ方法で、全く同じストライプ状電極:1200本(ラ
インピッチ:200μm,ライン巾:197μm,スペ
ース巾:3μm,ライン長さ:250μm)のレジスト
パターンを形成した後、図3に示す様に、実施例1と同
様に、第一室でエッチング液をスプレーして、エッチン
グを行い、第二室で純水をスプレーして、第三室でエア
ーナイフにて水切りした。Comparative Example 1 Using the conventional etching apparatus shown in FIG. 3, a thin film was etched by the following method. Vertical 300 mm, horizontal 30
Mo on a glass substrate with a thickness of 0 mm and a thickness of 1.0 mm.
A film having a thickness of 0 Å was formed by a sputtering method, and exactly the same method as in Example 1, the same stripe electrodes: 1200 electrodes (line pitch: 200 μm, line width: 197 μm, space width: 3 μm, line length: After forming a resist pattern of 250 μm), as shown in FIG. 3, as in Example 1, the etching solution was sprayed in the first chamber to perform etching, and pure water was sprayed in the second chamber. Drained with an air knife in the third chamber.
【0016】上記の方法でエッチングを行なった後、レ
ジストを剥離してMoのパターン付基板を形成したとこ
ろ、基板全面で1000ヶ所以上のエッチング残りが発
生し、ほとんどがライン間ショート欠陥になってしまっ
た。After etching by the above method, the resist was peeled off to form a Mo patterned substrate. As a result, 1000 or more etching residues were generated on the entire surface of the substrate, and most of them were short-circuit defects between lines. Oops.
【0017】実施例2 図2は本発明の薄膜のッチング方法に使用するエッチン
グ装置の他の例を示す説明図である。同図は、第一室A
が、ポンプ3から純水2を供給した純水槽1に基板を浸
漬することにより、基板表面をリンスする純水プレリン
ス室からなることを特徴とする。Embodiment 2 FIG. 2 is an explanatory view showing another example of the etching apparatus used in the thin film etching method of the present invention. The figure shows the first room A
However, it is characterized by comprising a pure water pre-rinse chamber for rinsing the substrate surface by immersing the substrate in the pure water tank 1 to which the pure water 2 is supplied from the pump 3.
【0018】図2のエッチング装置を用いて薄膜のッチ
ングを以下の方法により行なった。たて300mm,よ
こ300mm,厚さ1.0mmのガラス基板にAlを1
500Åの厚さに成膜し、前述の実施例1と同じ方法で
全く同じストライプ状電極:1200本(ラインピッ
チ:200μm,ライン巾:197μm,スペース巾:
3μm,ライン長さ:250μm)のフォトレジストパ
ターンを形成した後、図2に示す方法でエッチングを行
った。A thin film was etched by the following method using the etching apparatus shown in FIG. Al on a glass substrate of vertical 300 mm, width 300 mm, thickness 1.0 mm
A film having a thickness of 500 Å was formed, and exactly the same stripe electrodes as in Example 1 were used: 1200 electrodes (line pitch: 200 μm, line width: 197 μm, space width:
After forming a photoresist pattern of 3 μm, line length: 250 μm), etching was performed by the method shown in FIG.
【0019】エッチング工程では、図2に示すエッチン
グ装置に、基板4を0.6m/minのスピードで搬送
しながら第一室Aで純水に浸漬し、基板表面全体を濡ら
す。第二室Bでエッチング液(リン酸(85wt%):
硝酸(60wt%):酢酸(98wt%):水=16:
2:1:1(vol%)の混合溶液、液温は40℃)を
90秒間スプレーしてエッチングを行い、第三室Cで再
び純水を90秒間スプレーして、第四室Dでエアーナイ
フにて水切りした。その後、フォトレジストを剥離し
て、Alのパターン付基板を形成した所、前述の実施例
1と同様にエッチング残りの発生は、ほとんど無かっ
た。In the etching step, the substrate 4 is transported to the etching apparatus shown in FIG. 2 at a speed of 0.6 m / min, and is immersed in pure water in the first chamber A to wet the entire substrate surface. In the second chamber B, the etching solution (phosphoric acid (85 wt%):
Nitric acid (60 wt%): Acetic acid (98 wt%): Water = 16:
Etching is performed by spraying a 2: 1: 1 (vol%) mixed solution at a liquid temperature of 40 ° C for 90 seconds, spraying pure water again in the third chamber C for 90 seconds, and airing in the fourth chamber D. Drained with a knife. Then, when the photoresist was peeled off to form an Al patterned substrate, almost no etching residue was generated as in Example 1 described above.
【0020】実施例3 本発明を液晶表示素子基板に用いる透明電極を形成する
工程に応用した実施例を以下に示す。ここで、エッチン
グ装置としては、実施例1で示した図1と同様の装置を
用いて、以下の方法によりITO薄膜のエッチングを行
なった。Example 3 An example in which the present invention is applied to a step of forming a transparent electrode used for a liquid crystal display element substrate is shown below. Here, as the etching apparatus, the same apparatus as that shown in FIG. 1 shown in Example 1 was used to etch the ITO thin film by the following method.
【0021】たて300mm、よこ300mm、厚さ
1.0mmのガラス基板上にITOを1500Åの厚さ
にスパッタ法にて成膜し、ロールコーターでフォトレジ
ストを約1μmの厚さに塗布した後、プリベーク、露
光、現像、ポストベーク工程を行ないラインピッチ:2
00μm、ライン巾:197μm、ライン間:3μm、
ライン長さ:250mmのストライプ状電極1200本
のフォトレジストパターンを形成した基板4を、本発明
における図1に示す方法でエッチングを行なった。After ITO was formed into a film having a thickness of 1500 Å on a glass substrate having a length of 300 mm, a width of 300 mm and a thickness of 1.0 mm by a sputtering method, and a photoresist was applied to a thickness of about 1 μm by a roll coater. , Pre-bake, exposure, development, post-bake process, line pitch: 2
00 μm, line width: 197 μm, line spacing: 3 μm,
The substrate 4 on which the photoresist pattern of 1200 stripe-shaped electrodes having a line length of 250 mm was formed was etched by the method shown in FIG. 1 of the present invention.
【0022】エッチング工程では、図1に示すエッチン
グ装置に、基板4を0.6m/minのスピードで搬送
しながら、第一室Aで純水をスプレーし基板全体を濡ら
す。In the etching process, while the substrate 4 is being transported to the etching apparatus shown in FIG. 1 at a speed of 0.6 m / min, pure water is sprayed in the first chamber A to wet the entire substrate.
【0023】次に、第二室Bでエッチング液(ヨウ化水
素酸55%)を45℃に加温し、120秒間スプレーし
て、エッチングを行ない、第三室Cで再び純水をスプレ
ーして、第四室Dでエアーナイフにて水切りした。Next, in the second chamber B, an etching solution (hydroiodic acid 55%) is heated to 45 ° C. and sprayed for 120 seconds to perform etching. In the third chamber C, pure water is sprayed again. Then, it was drained with an air knife in the fourth chamber D.
【0024】その後、フォトレジストを剥離して、IT
Oの透明電極付パターンを形成した。このITOパター
ンにエッチング残りは見られず良好な結果が得られた。Then, the photoresist is peeled off, and the IT
A pattern with O transparent electrodes was formed. No etching residue was found in this ITO pattern, and good results were obtained.
【0025】[0025]
【発明の効果】以上説明した様に、薄膜の微細加工プロ
セスにおいて、本発明によるエッチング方法を用いて、
エッチング工程でエッチング液をかけてエッチングする
前に水又は純水でプレリンスを行うことにより、エッチ
ング残りの発生を無くすことが可能となり、パターニン
グ工程での歩留を著しく向上させることができる。As described above, in the thin film microfabrication process, the etching method according to the present invention is used,
By performing pre-rinsing with water or pure water before applying the etching liquid in the etching step and performing etching, it is possible to eliminate the occurrence of etching residue and significantly improve the yield in the patterning step.
【0026】また、本発明の液晶表示素子用基板の製造
方法により、エッチング残りの発生を無くすことが可能
となり、パターニング工程での歩留を著しく向上させる
ことができる。Further, according to the method of manufacturing a substrate for a liquid crystal display element of the present invention, it is possible to eliminate the generation of etching residue, and it is possible to remarkably improve the yield in the patterning step.
【0027】本発明のエッチング装置を用いることによ
り、エッチング工程でエッチング液をかけてエッチング
する前に水又は純水でプレリンスを行うことができ、エ
ッチング残りの発生を無くすことが可能となり、パター
ニング工程での歩留を著しく向上させることができる。By using the etching apparatus of the present invention, pre-rinsing can be performed with water or pure water before etching by applying an etching solution in the etching step, and it is possible to eliminate the occurrence of etching residue and to perform the patterning step. Yield can be significantly improved.
【図1】本発明の薄膜のッチング方法に使用するエッチ
ング装置の一例を示す説明図である。FIG. 1 is an explanatory view showing an example of an etching apparatus used in a thin film etching method of the present invention.
【図2】本発明の薄膜のッチング方法に使用するエッチ
ング装置の他の例を示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory view showing another example of an etching apparatus used in the thin film etching method of the present invention.
【図3】従来の薄膜のッチング方法に使用するエッチン
グ装置を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory view showing an etching apparatus used in a conventional thin film etching method.
1 純水槽 2 純水 3 ポンプ 4 基板 1 Pure water tank 2 Pure water 3 Pump 4 Substrate
Claims (7)
フィーによりパタ−ンを形成する際のエッチング工程に
おいて、フォトレジストパターンが形成された基板表面
にエッチング液をかけてエッチングする直前に基板表面
を水または純水でリンスすることを特徴とする薄膜のエ
ッチング方法。1. In a step of forming a thin film on a substrate and forming a pattern by photolithography, in the etching step, the surface of the substrate on which a photoresist pattern is formed is immediately before etching by applying an etching solution to the surface of the substrate. A method for etching a thin film, which comprises rinsing water with water or pure water.
u,Niまたはこれらの合金からなる金属膜である請求
項1記載の薄膜のエッチング方法。2. The thin film is made of Al, Mo, Cr, Ta, C
The method for etching a thin film according to claim 1, which is a metal film made of u, Ni or an alloy thereof.
載の薄膜のエッチング方法。3. The method for etching a thin film according to claim 1, wherein the thin film is a transparent conductive film.
レジストパターンを形成した後にエッチングするフォト
リソグラフィーによりパタ−ンを形成する液晶表示素子
用基板の製造方法において、フォトレジストパターンが
形成された基板表面にエッチング液をかけてエッチング
する直前に基板表面を水または純水でリンスすることを
特徴とする液晶表示素子用基板の製造方法。4. A method for manufacturing a substrate for a liquid crystal display device, which comprises forming a thin film on a substrate, forming a photoresist pattern on the thin film, and then forming a pattern by photolithography, wherein the photoresist pattern is formed. A method for manufacturing a substrate for a liquid crystal display element, characterized in that the substrate surface is rinsed with water or pure water immediately before etching by applying an etching solution to the substrate surface.
u,Niまたはこれらの合金からなる金属膜である請求
項4記載の液晶表示素子用基板の製造方法。5. The thin film is made of Al, Mo, Cr, Ta, C.
The method for manufacturing a substrate for a liquid crystal display element according to claim 4, which is a metal film made of u, Ni or an alloy thereof.
載の液晶表示素子用基板の製造方法。6. The method for manufacturing a liquid crystal display element substrate according to claim 4, wherein the thin film is a transparent conductive film.
レジストパターンを形成した基板表面を水または純水で
リンスする純水プレリンス室と、水または純水でリンス
した基板表面にエッチング液をかけてエッチングするエ
ッチング液スプレー室と、エッチングした基板表面に純
水をスプレーして洗浄する純水スプレー室と、洗浄した
基板の水切りをするエアーナイフ室からなることを特徴
とするエッチング装置。7. A pure water pre-rinsing chamber in which a thin film is formed on a substrate and a photoresist pattern is formed on the thin film is rinsed with water or pure water, and a substrate surface rinsed with water or pure water is etched. An etching apparatus comprising an etching liquid spray chamber for applying a liquid to etch, a pure water spray chamber for spraying pure water on the surface of an etched substrate to wash it, and an air knife chamber for draining the washed substrate. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5598792A JPH05224219A (en) | 1992-02-07 | 1992-02-07 | Etching method for thin film, production of substrate for liquid crystal display element and etching device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5598792A JPH05224219A (en) | 1992-02-07 | 1992-02-07 | Etching method for thin film, production of substrate for liquid crystal display element and etching device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05224219A true JPH05224219A (en) | 1993-09-03 |
Family
ID=13014439
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5598792A Pending JPH05224219A (en) | 1992-02-07 | 1992-02-07 | Etching method for thin film, production of substrate for liquid crystal display element and etching device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05224219A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007180304A (en) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Seiko Epson Corp | Forming method of pattern, and droplet-discharging head |
KR100798144B1 (en) * | 2006-08-24 | 2008-01-28 | 세메스 주식회사 | Apparatus for manufacturing flat panel display |
-
1992
- 1992-02-07 JP JP5598792A patent/JPH05224219A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007180304A (en) * | 2005-12-28 | 2007-07-12 | Seiko Epson Corp | Forming method of pattern, and droplet-discharging head |
KR100798144B1 (en) * | 2006-08-24 | 2008-01-28 | 세메스 주식회사 | Apparatus for manufacturing flat panel display |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6019608B2 (en) | Electrode pattern formation method | |
US6207358B1 (en) | Method of stripping a photoresist from a semiconductor substrate using dimethylacetamide or a combination of monoethanolamine and dimethylsulfoxide | |
CN101587305A (en) | Can effectively remove the developing method of developing defect in the wafer photo-etching technological process | |
JP3953600B2 (en) | Resist film remover and method of manufacturing thin film circuit element using the same | |
JPH05224219A (en) | Etching method for thin film, production of substrate for liquid crystal display element and etching device | |
JPH05326392A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
US6337174B1 (en) | Method of stripping a photoresist from a semiconductor substrate dimethylacetamide or a combination of monoethanolamine and dimethylsulfoxide | |
JP3252236B2 (en) | Method of manufacturing phase shift mask and method of manufacturing blank for phase shift mask | |
JPS63271938A (en) | Cleaning of hard surface | |
JPH05283970A (en) | High frequency band surface acoustic wave element | |
JPS62210467A (en) | Coating method for resist | |
JPH05224221A (en) | Method for etching thin film | |
JPH06148660A (en) | Method and device for etching transparent conductive film | |
KR100442452B1 (en) | Process Equipment for Wet etching | |
JP3404871B2 (en) | Color filter manufacturing method and TFT circuit manufacturing method | |
KR101406671B1 (en) | Etchant composition and method for fabricating metal pattern | |
CN110690167A (en) | Manufacturing method based on TFT array substrate | |
KR100468529B1 (en) | etchant coating apparatus and wet etching method using thereof | |
JPH01151237A (en) | Etching of transparent conductive film | |
KR100271757B1 (en) | Etching method | |
JPH06280052A (en) | Method and device for etching | |
JPH0416012B2 (en) | ||
JPH05313347A (en) | Formation of resist pattern | |
JPS6031260A (en) | Manufacture of hybrid integrated circuit | |
TW202240322A (en) | Method of manufacturing semiconductor element using metal lift-off process and semiconductor element made therefrom to shorten the cost and manufacturing time by simplifying and improving the manufacturing process |