JPH05223879A - 被測定コイルのショート検出方法及びその検出装置 - Google Patents
被測定コイルのショート検出方法及びその検出装置Info
- Publication number
- JPH05223879A JPH05223879A JP4059107A JP5910792A JPH05223879A JP H05223879 A JPH05223879 A JP H05223879A JP 4059107 A JP4059107 A JP 4059107A JP 5910792 A JP5910792 A JP 5910792A JP H05223879 A JPH05223879 A JP H05223879A
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- coil
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 絶縁被覆された導体を巻回してなるコイルの
ショート状態を非接触にて検出する被測定コイル６のシ
ョート検出方法において、上記被測定コイル６と巻線を
巻回してなるコイル２とを非接触状態で対向配置し、該
巻線を巻回してなるコイル２の損失率により被測定コイ
ル６のショート状態を検出する。 【効果】 被測定コイルのショート状態を非接触にて簡
単に且つ正確に検出することができる。
ショート状態を非接触にて検出する被測定コイル６のシ
ョート検出方法において、上記被測定コイル６と巻線を
巻回してなるコイル２とを非接触状態で対向配置し、該
巻線を巻回してなるコイル２の損失率により被測定コイ
ル６のショート状態を検出する。 【効果】 被測定コイルのショート状態を非接触にて簡
単に且つ正確に検出することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、絶縁被覆された導体を
巻回してなるコイルのショート状態を非接触にて検出す
る被測定コイルのショート検出方法及びその検出装置に
関する。
巻回してなるコイルのショート状態を非接触にて検出す
る被測定コイルのショート検出方法及びその検出装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、断面略円形状をなす銅線をウレ
タン等からなる絶縁膜で被覆してなる導線を円筒体に高
さ方向で所定間隔に複数回巻き付けて形成される，いわ
ゆる空芯コイルのショート状態は、以下のような装置を
用いて次のように検出されている。すなわち、空芯コイ
ルのショート状態を測定するには、ＬＣＲメータを用
い、このＬＣＲメータのプローブを該空芯コイルの両端
子に接触させ、１ＫＨｚ若しくは１ＭＨｚでのインダク
タンスＬとＱを測定する。かかるインダクタンス及びＱ
の変化が小さい場合には、空芯コイルがショートしてい
ないことを示し、インダクタンスＬ及びＱの変化が急激
に低下している場合にはショートしていることを示す。
タン等からなる絶縁膜で被覆してなる導線を円筒体に高
さ方向で所定間隔に複数回巻き付けて形成される，いわ
ゆる空芯コイルのショート状態は、以下のような装置を
用いて次のように検出されている。すなわち、空芯コイ
ルのショート状態を測定するには、ＬＣＲメータを用
い、このＬＣＲメータのプローブを該空芯コイルの両端
子に接触させ、１ＫＨｚ若しくは１ＭＨｚでのインダク
タンスＬとＱを測定する。かかるインダクタンス及びＱ
の変化が小さい場合には、空芯コイルがショートしてい
ないことを示し、インダクタンスＬ及びＱの変化が急激
に低下している場合にはショートしていることを示す。
【０００３】ところが、断面平角状をなす銅線の外周囲
を絶縁膜によって被覆してなる，いわゆる平角線を円筒
体にそれぞれの平角線が重なるように複数回巻き付けて
形成した空芯コイルのショート状態を上記の方法によっ
て検出した場合、該空芯コイルの端子電極がリード線に
よって引き出されていないために、プローブと端子電極
との接触が外れ易く、検査に多大なる時間がかかる。ま
た、プローブと端子電極間の接触抵抗が大きくなること
があり、正確なショート状態を検出することが困難とな
る。
を絶縁膜によって被覆してなる，いわゆる平角線を円筒
体にそれぞれの平角線が重なるように複数回巻き付けて
形成した空芯コイルのショート状態を上記の方法によっ
て検出した場合、該空芯コイルの端子電極がリード線に
よって引き出されていないために、プローブと端子電極
との接触が外れ易く、検査に多大なる時間がかかる。ま
た、プローブと端子電極間の接触抵抗が大きくなること
があり、正確なショート状態を検出することが困難とな
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】そこで本発明は、かか
る従来の技術的な課題に鑑みて提案されたものであっ
て、被測定コイルのショート状態を非接触にて簡単に且
つ正確に検出することができる被測定コイルのショート
検出方法を提供することを目的とする。さらに本発明
は、被測定コイルのショート状態を非接触にて簡単に且
つ正確に検出できる信頼性の高い被測定コイルのショー
ト検出装置を提供することを目的とする。
る従来の技術的な課題に鑑みて提案されたものであっ
て、被測定コイルのショート状態を非接触にて簡単に且
つ正確に検出することができる被測定コイルのショート
検出方法を提供することを目的とする。さらに本発明
は、被測定コイルのショート状態を非接触にて簡単に且
つ正確に検出できる信頼性の高い被測定コイルのショー
ト検出装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明は、絶縁被覆された導体を巻回してなるコ
イルのショート状態を非接触にて検出する被測定コイル
のショート検出方法において、上記被測定コイルと巻線
を巻回してなるコイルとを非接触状態で対向配置し、該
巻線を巻回してなるコイルの損失率により被測定コイル
のショート状態を検出することを特徴とするものであ
る。
めに、本発明は、絶縁被覆された導体を巻回してなるコ
イルのショート状態を非接触にて検出する被測定コイル
のショート検出方法において、上記被測定コイルと巻線
を巻回してなるコイルとを非接触状態で対向配置し、該
巻線を巻回してなるコイルの損失率により被測定コイル
のショート状態を検出することを特徴とするものであ
る。
【０００６】さらに本発明は、絶縁被覆された導体を巻
回してなるコイルのショート状態を非接触にて検出する
被測定コイルのショート検出装置において、上記被測定
コイルと巻線を巻回してなるコイルとを非接触状態で対
向配置し、該巻線を巻回してなるコイルの損失率により
被測定コイルのショート状態を検出してなるものであ
る。
回してなるコイルのショート状態を非接触にて検出する
被測定コイルのショート検出装置において、上記被測定
コイルと巻線を巻回してなるコイルとを非接触状態で対
向配置し、該巻線を巻回してなるコイルの損失率により
被測定コイルのショート状態を検出してなるものであ
る。
【０００７】
【作用】本発明の方法においては、巻線を巻回してなる
コイルと非接触状態で被測定コイルを対向配置させ、上
記巻線を巻回してなるコイルの損失率を求めることによ
り、該被測定コイルのショート状態が非接触状態で正確
に検出される。また、本発明の装置においては、巻線を
巻回してなるコイルと非接触状態で被測定コイルを対向
配置し、上記巻線を巻回してなるコイルの損失率を求め
ることにより、該被測定コイルのショート状態が非接触
にて判るので、検査時間の大幅な短縮が図れる。
コイルと非接触状態で被測定コイルを対向配置させ、上
記巻線を巻回してなるコイルの損失率を求めることによ
り、該被測定コイルのショート状態が非接触状態で正確
に検出される。また、本発明の装置においては、巻線を
巻回してなるコイルと非接触状態で被測定コイルを対向
配置し、上記巻線を巻回してなるコイルの損失率を求め
ることにより、該被測定コイルのショート状態が非接触
にて判るので、検査時間の大幅な短縮が図れる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明を適用した被測定コイルのショ
ート検出方法及びその検出装置の具体的な実施例につい
て図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例のショ
ート検出装置は、図１及び図２に示すように、フェライ
トよりなるコア１と、このコア１に巻回されるコイル２
と、このコイル２の両端子に接続されるＱメータ３とを
主たる構成とするものである。
ート検出方法及びその検出装置の具体的な実施例につい
て図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例のショ
ート検出装置は、図１及び図２に示すように、フェライ
トよりなるコア１と、このコア１に巻回されるコイル２
と、このコイル２の両端子に接続されるＱメータ３とを
主たる構成とするものである。
【０００９】上記コア１は、フェライトより形成されて
なるもので、円柱状となされたコイル巻装部４と、この
コイル巻装部４の基端側に設けられ、該コイル巻装部４
よりも大径寸法とされた円盤状のフランジ部５とを有し
てなっている。上記コイル巻装部４は、直径Ｄ1 が４．
５ｍｍ，高さＨ1 が６ｍｍの円柱体として形成され、そ
の外周面に巻線を巻回してなるコイル２を巻装するよう
になっている。一方、フランジ部５は、直径Ｄ2 が８ｍ
ｍ，高さＨ2 が１．５ｍｍの円盤として形成され、上記
コイル巻装部４の基端側に設けられて、当該コイル巻装
部４を支えるようになっている。
なるもので、円柱状となされたコイル巻装部４と、この
コイル巻装部４の基端側に設けられ、該コイル巻装部４
よりも大径寸法とされた円盤状のフランジ部５とを有し
てなっている。上記コイル巻装部４は、直径Ｄ1 が４．
５ｍｍ，高さＨ1 が６ｍｍの円柱体として形成され、そ
の外周面に巻線を巻回してなるコイル２を巻装するよう
になっている。一方、フランジ部５は、直径Ｄ2 が８ｍ
ｍ，高さＨ2 が１．５ｍｍの円盤として形成され、上記
コイル巻装部４の基端側に設けられて、当該コイル巻装
部４を支えるようになっている。
【００１０】上記コイル２は、断面円形状をなす直径
０．１ｍｍの導体よりなる巻線をコイル巻装部４の外周
囲に高さ方向で所定間隔となるように複数回（本実施例
では２４回）巻き付けて形成されるものである。このコ
イル２の巻始めと巻終わりの両端子部２ａ，２ｂは、上
記コイル２に高周波電流を流したときの該コイル２のＱ
値を検出するＱメータ３に接続されている。
０．１ｍｍの導体よりなる巻線をコイル巻装部４の外周
囲に高さ方向で所定間隔となるように複数回（本実施例
では２４回）巻き付けて形成されるものである。このコ
イル２の巻始めと巻終わりの両端子部２ａ，２ｂは、上
記コイル２に高周波電流を流したときの該コイル２のＱ
値を検出するＱメータ３に接続されている。
【００１１】ところで、上記のようにして構成されたシ
ョート検出装置を用いて被測定コイルのショート状態を
検出するには、以下のようにして行うが、その前に被測
定コイルについて簡単に説明する。被測定コイル６は、
図３に示すように、断面平角状をなす導体７をウレタン
やポリウレタン或いはアミド，イミド等からなる絶縁膜
及び自己融着剤層よりなる絶縁被膜８によって被覆して
なる平角線９を、図４に示す円柱状の巻取り軸１０に巻
き付け、上記自己融着剤層を硬化させながら巻き取るこ
とにより形成されるものである。本実施例では、厚み３
０μｍの導体７に絶縁膜を片側５μｍ，自己融着剤層を
片側５μｍとなるように形成し、これを巻き取って内径
寸法が２．６ｍｍ，外径寸法が４．６ｍｍ，高さが１．
５ｍｍのドーナツ状の被測定コイル６を形成した。な
お、平角線９を巻き取る際には、端子となる部分６ａ，
６ｂの絶縁被覆８を剥離した後に巻き取る。本実施例で
は、その内外周部分に設けられる端子部６ａ，６ｂの幅
を２ｍｍとなるようにした。
ョート検出装置を用いて被測定コイルのショート状態を
検出するには、以下のようにして行うが、その前に被測
定コイルについて簡単に説明する。被測定コイル６は、
図３に示すように、断面平角状をなす導体７をウレタン
やポリウレタン或いはアミド，イミド等からなる絶縁膜
及び自己融着剤層よりなる絶縁被膜８によって被覆して
なる平角線９を、図４に示す円柱状の巻取り軸１０に巻
き付け、上記自己融着剤層を硬化させながら巻き取るこ
とにより形成されるものである。本実施例では、厚み３
０μｍの導体７に絶縁膜を片側５μｍ，自己融着剤層を
片側５μｍとなるように形成し、これを巻き取って内径
寸法が２．６ｍｍ，外径寸法が４．６ｍｍ，高さが１．
５ｍｍのドーナツ状の被測定コイル６を形成した。な
お、平角線９を巻き取る際には、端子となる部分６ａ，
６ｂの絶縁被覆８を剥離した後に巻き取る。本実施例で
は、その内外周部分に設けられる端子部６ａ，６ｂの幅
を２ｍｍとなるようにした。
【００１２】このようにして形成された被測定コイル６
においては、図５に示すように、導体７が断面平角状を
なすことから、この導体７のエッジ部で平角線９を巻き
取る際に隣の巻線の絶縁被膜８を傷付け、導体７同士が
接触する或いは接触はしないが絶縁性が確保できない，
いわゆる簡易接触する可能性が高い。また、平角線９を
巻き取るときに異物を挾み込みながら巻き込む虞れがあ
る。したがって、平角線９を巻回した時点で被測定コイ
ル６のショート状態を検査する必要がある。
においては、図５に示すように、導体７が断面平角状を
なすことから、この導体７のエッジ部で平角線９を巻き
取る際に隣の巻線の絶縁被膜８を傷付け、導体７同士が
接触する或いは接触はしないが絶縁性が確保できない，
いわゆる簡易接触する可能性が高い。また、平角線９を
巻き取るときに異物を挾み込みながら巻き込む虞れがあ
る。したがって、平角線９を巻回した時点で被測定コイ
ル６のショート状態を検査する必要がある。
【００１３】上記被測定コイル６のショート状態を非接
触で検出するには、次のようにして行う。先ず、測定す
べき被測定コイル６を、図１及び図２に示すように、コ
イル巻装部４の上端面４ａに載置した絶縁板１１上に上
記コイル２と相対向するように配置する。
触で検出するには、次のようにして行う。先ず、測定す
べき被測定コイル６を、図１及び図２に示すように、コ
イル巻装部４の上端面４ａに載置した絶縁板１１上に上
記コイル２と相対向するように配置する。
【００１４】上記絶縁板１１は、被測定コイル６とコイ
ル２とを非接触となすために使用するものであり、例え
ば絶縁性に優れたフェノールや紙或いはプラスチック等
からなる。本実施例では、上記絶縁板７には、０．５ｍ
ｍ厚のフェノール板を使用した。なお、上記被測定コイ
ル６をコイル巻装部４と非接触なものとなして上記コイ
ル２に対し対向配置できれば、上記絶縁板１１は必ずし
も必要ではない。
ル２とを非接触となすために使用するものであり、例え
ば絶縁性に優れたフェノールや紙或いはプラスチック等
からなる。本実施例では、上記絶縁板７には、０．５ｍ
ｍ厚のフェノール板を使用した。なお、上記被測定コイ
ル６をコイル巻装部４と非接触なものとなして上記コイ
ル２に対し対向配置できれば、上記絶縁板１１は必ずし
も必要ではない。
【００１５】次に、上記コイル２に数１０ＭＨｚの周波
数で発振させた高周波数電流を通電する。すると、上記
コイル２には、当該コイル２の中心を通る磁束が発生す
る。このとき、被測定コイル６にショートがない場合に
は、Ｑメータ３に検出されるコイル２のＱが変化しない
が、被測定コイル６にショートがある場合には、上記被
測定コイル６に渦電流で流れ、上記Ｑメータ３に検出さ
れるコイル２のＱが落ちる。したがって、本実施例のシ
ョート検出装置においては、コイル２のＱの変化，つま
り損失率を検出することにより、被測定コイル６を非接
触状態で簡単に且つ正確に検出することができる。
数で発振させた高周波数電流を通電する。すると、上記
コイル２には、当該コイル２の中心を通る磁束が発生す
る。このとき、被測定コイル６にショートがない場合に
は、Ｑメータ３に検出されるコイル２のＱが変化しない
が、被測定コイル６にショートがある場合には、上記被
測定コイル６に渦電流で流れ、上記Ｑメータ３に検出さ
れるコイル２のＱが落ちる。したがって、本実施例のシ
ョート検出装置においては、コイル２のＱの変化，つま
り損失率を検出することにより、被測定コイル６を非接
触状態で簡単に且つ正確に検出することができる。
【００１６】このように本発明では、被測定コイル６の
端子部６ａ，６ｂにプローブ等を接触させる必要がない
ために、簡単に検査することができ、その検査作業時間
を大幅に短縮することができる。また、接触抵抗が大き
くなることもないため、正確なショート状態を把握する
ことができ、より一層の信頼性が高まる。また、被測定
コイル６を絶縁板１１上に載置することのみで簡単にシ
ョート状態を検出できるため、ロボット等を使用して連
続的に被測定コイル６のショート状態を自動検査するこ
とも可能である。
端子部６ａ，６ｂにプローブ等を接触させる必要がない
ために、簡単に検査することができ、その検査作業時間
を大幅に短縮することができる。また、接触抵抗が大き
くなることもないため、正確なショート状態を把握する
ことができ、より一層の信頼性が高まる。また、被測定
コイル６を絶縁板１１上に載置することのみで簡単にシ
ョート状態を検出できるため、ロボット等を使用して連
続的に被測定コイル６のショート状態を自動検査するこ
とも可能である。
【００１７】なお、上述の例では、コイル２のＱの変化
（損失率）を測定することでショート状態を検出した
が、Ｑメータ３の代わりにインダクタンスメーター或い
はインピーダンスアナライザーを接続させて、当該コイ
ル２のインダクタンスの変化を検出するようにしても同
様に、前記被測定コイル６のショート状態を測定するこ
とができる。
（損失率）を測定することでショート状態を検出した
が、Ｑメータ３の代わりにインダクタンスメーター或い
はインピーダンスアナライザーを接続させて、当該コイ
ル２のインダクタンスの変化を検出するようにしても同
様に、前記被測定コイル６のショート状態を測定するこ
とができる。
【００１８】ここで実際に、前記した被測定コイル６の
ショート状態を測定してみた。本実験では、コイル２の
Ｑの変化と、インダクタンスＬをそれぞれ測定した。イ
ンダクタンスＬを測定するには、フューレットパッカー
ド社製の型番４１９４Ａのインピーダンスアナライザー
を使用した。この結果、図６に示すように、インダクタ
ンスＬの最大値の周波数がショートがないコイル（図６
中線ａで示す）では、４０ＭＨｚ近傍であったものが、
ショートがあるコイル（図６中線ｂで示す）では、５０
ＭＨｚと高くなっており、インダクタンスＬの変化が見
られる。一方、ショートがないコイル（図６中線ｃで示
す。）とショートがあるコイル（図６中線ｄで示す。）
とでは、Ｑの変化が見られる。また、Ｑの二次ピーク値
が６５ＭＨｚから不良では目はずれを起こしていること
が判る。このように、Ｑの変化及びインダクタンスＬの
変化によって、被測定コイル６のショート状態を非接触
で簡単に且つ正確に検出することができる。
ショート状態を測定してみた。本実験では、コイル２の
Ｑの変化と、インダクタンスＬをそれぞれ測定した。イ
ンダクタンスＬを測定するには、フューレットパッカー
ド社製の型番４１９４Ａのインピーダンスアナライザー
を使用した。この結果、図６に示すように、インダクタ
ンスＬの最大値の周波数がショートがないコイル（図６
中線ａで示す）では、４０ＭＨｚ近傍であったものが、
ショートがあるコイル（図６中線ｂで示す）では、５０
ＭＨｚと高くなっており、インダクタンスＬの変化が見
られる。一方、ショートがないコイル（図６中線ｃで示
す。）とショートがあるコイル（図６中線ｄで示す。）
とでは、Ｑの変化が見られる。また、Ｑの二次ピーク値
が６５ＭＨｚから不良では目はずれを起こしていること
が判る。このように、Ｑの変化及びインダクタンスＬの
変化によって、被測定コイル６のショート状態を非接触
で簡単に且つ正確に検出することができる。
【００１９】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明に係る被測定コイルのショート検出方法によれば、巻
線を巻回してなるコイルと非接触状態で被測定コイルを
対向配置させて、上記巻線を巻回してなるコイルの損失
率を求めることにより、該被測定コイルのショート状態
を非接触にて簡単に且つ正確に検出することができる。
したがって、プローブ等を被測定コイルに接触させるも
のとは異なり、検査時間の短縮化が図れるとともに、ロ
ボット等を用いた連続自動検査が可能となる。
明に係る被測定コイルのショート検出方法によれば、巻
線を巻回してなるコイルと非接触状態で被測定コイルを
対向配置させて、上記巻線を巻回してなるコイルの損失
率を求めることにより、該被測定コイルのショート状態
を非接触にて簡単に且つ正確に検出することができる。
したがって、プローブ等を被測定コイルに接触させるも
のとは異なり、検査時間の短縮化が図れるとともに、ロ
ボット等を用いた連続自動検査が可能となる。
【００２０】一方、本発明に係る被測定コイルのショー
ト検出装置においては、巻線を巻回してなるコイルのみ
の構成であるため、装置構造が極めて簡単で、しかも非
接触にて被測定コイルのショート状態を正確に測定する
ことができ、その工業的利用価値は極めて高い。
ト検出装置においては、巻線を巻回してなるコイルのみ
の構成であるため、装置構造が極めて簡単で、しかも非
接触にて被測定コイルのショート状態を正確に測定する
ことができ、その工業的利用価値は極めて高い。
【図１】本発明を適用した被測定コイルのショート検出
装置の一例を示す斜視図である。
装置の一例を示す斜視図である。
【図２】本発明を適用した被測定コイルのショート検出
装置の断面図である。
装置の断面図である。
【図３】平角線の一部を破断して示す斜視図である。
【図４】平角線を巻回する状態を示す模式図である。
【図５】平角線を巻回してなるコイルの拡大断面図であ
る。
る。
【図６】インダクタンスＬとＱの周波数依存性を示す特
性図である。
性図である。
１・・・コア ２・・・コイル ３・・・Ｑメータ ４・・・コイル巻装部 ５・・・フランジ部 ６・・・被測定コイル ７・・・導体 ８・・・絶縁被膜 ９・・・平角線
Claims (2)
- 【請求項１】 絶縁被覆された導体を巻回してなるコイ
ルのショート状態を非接触にて検出する被測定コイルの
ショート検出方法において、 上記被測定コイルと巻線を巻回してなるコイルとを非接
触状態で対向配置し、該巻線を巻回してなるコイルの損
失率により被測定コイルのショート状態を検出すること
を特徴とする被測定コイルのショート検出方法。 - 【請求項２】 絶縁被覆された導体を巻回してなるコイ
ルのショート状態を非接触にて検出する被測定コイルの
ショート検出装置において、 上記被測定コイルと巻線を巻回してなるコイルとを非接
触状態で対向配置し、該巻線を巻回してなるコイルの損
失率により被測定コイルのショート状態を検出してなる
被測定コイルのショート検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4059107A JPH05223879A (ja) | 1992-02-14 | 1992-02-14 | 被測定コイルのショート検出方法及びその検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4059107A JPH05223879A (ja) | 1992-02-14 | 1992-02-14 | 被測定コイルのショート検出方法及びその検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05223879A true JPH05223879A (ja) | 1993-09-03 |
Family
ID=13103765
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4059107A Withdrawn JPH05223879A (ja) | 1992-02-14 | 1992-02-14 | 被測定コイルのショート検出方法及びその検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05223879A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013217704A (ja) * | 2012-04-05 | 2013-10-24 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | 巻線短絡検出方法及び巻線短絡検出装置 |
| KR101885325B1 (ko) * | 2018-02-13 | 2018-09-10 | 고해영 | 쇼트턴 검출기 및 쇼트턴 검출 방법 |
| KR101885333B1 (ko) * | 2018-02-13 | 2018-09-10 | 고해영 | 쇼트턴 검출 장치 및 검출 방법 |
-
1992
- 1992-02-14 JP JP4059107A patent/JPH05223879A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013217704A (ja) * | 2012-04-05 | 2013-10-24 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | 巻線短絡検出方法及び巻線短絡検出装置 |
| KR101885325B1 (ko) * | 2018-02-13 | 2018-09-10 | 고해영 | 쇼트턴 검출기 및 쇼트턴 검출 방법 |
| KR101885333B1 (ko) * | 2018-02-13 | 2018-09-10 | 고해영 | 쇼트턴 검출 장치 및 검출 방법 |
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