JPH05216981A - 指紋検出装置 - Google Patents
指紋検出装置Info
- Publication number
- JPH05216981A JPH05216981A JP4054332A JP5433292A JPH05216981A JP H05216981 A JPH05216981 A JP H05216981A JP 4054332 A JP4054332 A JP 4054332A JP 5433292 A JP5433292 A JP 5433292A JP H05216981 A JPH05216981 A JP H05216981A
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- JP
- Japan
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- fingerprint
- face
- lens
- image formation
- light
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- Pending
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- Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】歪みを生じることのない指紋検出装置を提供す
る。 【構成】複数の光学レンズ１，２よりなる光学系によっ
て構成され、該光学系の第１レンズ１の第１面１ａを指
紋検査面３となし、該指紋検査面３から前記光学系の結
像面４に至る光線６ａ，６ｂの指紋検査面３における射
出角度θが前記第１レンズ１の臨界角以上となるように
形成したことを特徴とする。
る。 【構成】複数の光学レンズ１，２よりなる光学系によっ
て構成され、該光学系の第１レンズ１の第１面１ａを指
紋検査面３となし、該指紋検査面３から前記光学系の結
像面４に至る光線６ａ，６ｂの指紋検査面３における射
出角度θが前記第１レンズ１の臨界角以上となるように
形成したことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は光学的に指紋を検出す
る指紋検出装置に関する。
る指紋検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】電子計算機室の入室管理などに利用する
ために、指紋を検出して同一人の同定を図る技術の開発
が進められているが、従来の指紋検出装置としては例え
ば、電子通信学会論文誌 ’８４／５ Ｖｏｌ．Ｊ６７
−Ｄ Ｎｏ．５ ｐｐ６２７−６２８に開示されたもの
がある。この指紋検出装置はプリズムを用いたものであ
り、プリズムへの指紋の非接触部からの光が到達しない
領域に検出器を設置し、接触部からの光のみを検出する
ものである。
ために、指紋を検出して同一人の同定を図る技術の開発
が進められているが、従来の指紋検出装置としては例え
ば、電子通信学会論文誌 ’８４／５ Ｖｏｌ．Ｊ６７
−Ｄ Ｎｏ．５ ｐｐ６２７−６２８に開示されたもの
がある。この指紋検出装置はプリズムを用いたものであ
り、プリズムへの指紋の非接触部からの光が到達しない
領域に検出器を設置し、接触部からの光のみを検出する
ものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の指紋検出装
置はプリズムを用いたものであるから、同論文誌にも記
載されているように台形歪みを生じ、この歪みを除去す
るためにシリンドリカルレンズを用いるなどの処置を講
じる必要があった。したがって本発明は歪みを生じるこ
とのない指紋検出装置を提供することを目的とする。
置はプリズムを用いたものであるから、同論文誌にも記
載されているように台形歪みを生じ、この歪みを除去す
るためにシリンドリカルレンズを用いるなどの処置を講
じる必要があった。したがって本発明は歪みを生じるこ
とのない指紋検出装置を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数の光学レ
ンズよりなる光学系によって構成され、該光学系の第１
レンズの第１面を指紋検査面となし、該指紋検査面から
前記光学系の結像面に至る光線の指紋検査面における射
出角度が前記第１レンズの臨界角以上となるように形成
した指紋検出装置によって、上記目的を達成したもので
ある。
ンズよりなる光学系によって構成され、該光学系の第１
レンズの第１面を指紋検査面となし、該指紋検査面から
前記光学系の結像面に至る光線の指紋検査面における射
出角度が前記第１レンズの臨界角以上となるように形成
した指紋検出装置によって、上記目的を達成したもので
ある。
【０００５】
【作用】本発明による指紋検出装置は光学レンズ系によ
って構成されており、すなわち各レンズの各面の曲率中
心（無限遠点のときを含む）はすべて同一の光軸上にあ
るから、台形歪みを生じることがない。他方、指紋検査
面は第１レンズの第１面にあるが、この指紋検査面にお
いて結像面に至る光線の射出角度は臨界角以上となって
いるから、指紋の非接触部を通る光線、すなわち外部か
らの光線は結像面に到達することができず、指紋の接触
部を通る光線のみが結像面に到達し、こうして歪みを生
じることなく指紋を検出することができる。
って構成されており、すなわち各レンズの各面の曲率中
心（無限遠点のときを含む）はすべて同一の光軸上にあ
るから、台形歪みを生じることがない。他方、指紋検査
面は第１レンズの第１面にあるが、この指紋検査面にお
いて結像面に至る光線の射出角度は臨界角以上となって
いるから、指紋の非接触部を通る光線、すなわち外部か
らの光線は結像面に到達することができず、指紋の接触
部を通る光線のみが結像面に到達し、こうして歪みを生
じることなく指紋を検出することができる。
【０００６】
【実施例】本発明を図面によって説明する。図１は本発
明の一実施例を示し、この指紋検出装置は複数の光学レ
ンズ１，２よりなる光学系によって構成されており、第
１レンズ１の第１面１ａが指紋検査面３となっている。
指紋検査面３を通る光線は、第１レンズ１及び第２〜ｎ
レンズ２を通過して結像面４に結像し、結像面４上の結
像は検出器５によって検出される。指紋検査面３より結
像面４に至る光線の指紋検査面３における射出角度θ
は、指紋検査面３のいずれの場所においても第１レンズ
１の臨界角以上となっており、換言すれば第１レンズの
第１面１ａから結像面４に至る光線の、第１レンズの第
１面１ａにおける射出角度θが、第１レンズ１の臨界角
以上となる部分に、指紋検査面３が設けられている。し
たがって指紋検査面３に指１０を接触させていない状態
では、指紋検査面３より結像面４に至る光線６ａは第１
レンズの第１面１ａ側外界より入射するものではなく、
指紋検査面３で反射するものであり、この光線６ａの指
紋検査面３への入射経路側は遮光板７によって遮光され
ている。また第１レンズの第２面１ｂ側には指紋検査面
３を照射する光源８が設けられている。
明の一実施例を示し、この指紋検出装置は複数の光学レ
ンズ１，２よりなる光学系によって構成されており、第
１レンズ１の第１面１ａが指紋検査面３となっている。
指紋検査面３を通る光線は、第１レンズ１及び第２〜ｎ
レンズ２を通過して結像面４に結像し、結像面４上の結
像は検出器５によって検出される。指紋検査面３より結
像面４に至る光線の指紋検査面３における射出角度θ
は、指紋検査面３のいずれの場所においても第１レンズ
１の臨界角以上となっており、換言すれば第１レンズの
第１面１ａから結像面４に至る光線の、第１レンズの第
１面１ａにおける射出角度θが、第１レンズ１の臨界角
以上となる部分に、指紋検査面３が設けられている。し
たがって指紋検査面３に指１０を接触させていない状態
では、指紋検査面３より結像面４に至る光線６ａは第１
レンズの第１面１ａ側外界より入射するものではなく、
指紋検査面３で反射するものであり、この光線６ａの指
紋検査面３への入射経路側は遮光板７によって遮光され
ている。また第１レンズの第２面１ｂ側には指紋検査面
３を照射する光源８が設けられている。
【０００７】本実施例は以上のように構成されており、
すなわちプリズムとは異なって各レンズ１，２の各面の
曲率中心はすべて同一の光軸９上にあるから、この指紋
検出装置では台形歪みを生じない。また指紋検査面３に
おいて結像面４に至る光線の射出角度θは臨界角以上と
なっているから、指紋の非接触部１１ａを通る光線は結
像面４に到達することができず、指紋の非接触部１１ａ
の方向には結像面４からは遮光板７が見え、したがって
暗く見える。他方指紋の接触部１１ｂについては、光源
８を発して指紋検査面３を照射した光線６ｂは指紋の接
触部１１ｂによって乱反射して結像面４に到達し、した
がって結像面４からは指紋の接触部１１ｂの方向が明る
く見え、こうして歪みを生じることなく、また外光によ
る外乱を受けることなく指紋を検出することができる。
すなわちプリズムとは異なって各レンズ１，２の各面の
曲率中心はすべて同一の光軸９上にあるから、この指紋
検出装置では台形歪みを生じない。また指紋検査面３に
おいて結像面４に至る光線の射出角度θは臨界角以上と
なっているから、指紋の非接触部１１ａを通る光線は結
像面４に到達することができず、指紋の非接触部１１ａ
の方向には結像面４からは遮光板７が見え、したがって
暗く見える。他方指紋の接触部１１ｂについては、光源
８を発して指紋検査面３を照射した光線６ｂは指紋の接
触部１１ｂによって乱反射して結像面４に到達し、した
がって結像面４からは指紋の接触部１１ｂの方向が明る
く見え、こうして歪みを生じることなく、また外光によ
る外乱を受けることなく指紋を検出することができる。
【０００８】なお本実施例では指紋検査面３、すなわち
第１レンズの第１面１ａは光軸９と直交する平面として
いるが、これを曲率中心が光軸９上にある曲面とするこ
ともできる。また遮光板７を撤去して該遮光板７の位置
に光源を配置すれば、指紋の非接触部１１ａの方向には
光源８が明るく見え、指紋の接触部１１ｂの方向には指
紋の接触部１１ｂによって乱反射されて照度の落ちた光
線が暗く見えるから、上記と同様に指紋を検出すること
ができるが、コントラストの点で上記実施例の方が勝
る。
第１レンズの第１面１ａは光軸９と直交する平面として
いるが、これを曲率中心が光軸９上にある曲面とするこ
ともできる。また遮光板７を撤去して該遮光板７の位置
に光源を配置すれば、指紋の非接触部１１ａの方向には
光源８が明るく見え、指紋の接触部１１ｂの方向には指
紋の接触部１１ｂによって乱反射されて照度の落ちた光
線が暗く見えるから、上記と同様に指紋を検出すること
ができるが、コントラストの点で上記実施例の方が勝
る。
【０００９】
【発明の効果】本発明はプリズムを用いることなく指紋
の検査面を光学レンズ系の一部とした指紋検出装置であ
るから、台形歪みを生じることなく指紋を検出できる指
紋検出装置である。
の検査面を光学レンズ系の一部とした指紋検出装置であ
るから、台形歪みを生じることなく指紋を検出できる指
紋検出装置である。
【図１】本発明の一実施例を示す概略縦断面図
１…第１レンズ １ａ…第１面 １
ｂ…第２面 ２…第２〜ｎレンズ ３…指紋検査面 ４
…結像面 ５…検出器 ６ａ，６ｂ…光線 ７
…遮光板 ８…光源 ９…光軸 １
０…指 １１ａ…指紋の非接触部 １１ｂ…指紋の接触部 θ
…射出角度
ｂ…第２面 ２…第２〜ｎレンズ ３…指紋検査面 ４
…結像面 ５…検出器 ６ａ，６ｂ…光線 ７
…遮光板 ８…光源 ９…光軸 １
０…指 １１ａ…指紋の非接触部 １１ｂ…指紋の接触部 θ
…射出角度
Claims (2)
- 【請求項１】複数の光学レンズよりなる光学系によって
構成され、 該光学系の第１レンズの第１面を指紋検査面となし、 該指紋検査面から前記光学系の結像面に至る光線の指紋
検査面における射出角度が前記第１レンズの臨界角以上
となるように形成した指紋検出装置。 - 【請求項２】前記第１レンズの第２面側に光源を設け、 前記光学系の結像面に至る光線の前記指紋検査面への入
射経路側を遮光した請求項１記載の指紋検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4054332A JPH05216981A (ja) | 1992-02-05 | 1992-02-05 | 指紋検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4054332A JPH05216981A (ja) | 1992-02-05 | 1992-02-05 | 指紋検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05216981A true JPH05216981A (ja) | 1993-08-27 |
Family
ID=12967646
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4054332A Pending JPH05216981A (ja) | 1992-02-05 | 1992-02-05 | 指紋検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05216981A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001011549A3 (en) * | 1999-08-04 | 2001-08-16 | Secugen Corp | Method and apparatus for reduction of trapezoidal distortion and improvement of image sharpness in an optical image capturing system |
| KR20040042727A (ko) * | 2002-11-15 | 2004-05-20 | 주식회사 씨크롭 | 광학 지문입력장치 |
| CN103020610A (zh) * | 2012-12-31 | 2013-04-03 | 清华大学 | 扭曲指纹的自动检测方法 |
-
1992
- 1992-02-05 JP JP4054332A patent/JPH05216981A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001011549A3 (en) * | 1999-08-04 | 2001-08-16 | Secugen Corp | Method and apparatus for reduction of trapezoidal distortion and improvement of image sharpness in an optical image capturing system |
| US6324020B1 (en) | 1999-08-04 | 2001-11-27 | Secugen Corporation | Method and apparatus for reduction of trapezoidal distortion and improvement of image sharpness in an optical image capturing system |
| KR20040042727A (ko) * | 2002-11-15 | 2004-05-20 | 주식회사 씨크롭 | 광학 지문입력장치 |
| CN103020610A (zh) * | 2012-12-31 | 2013-04-03 | 清华大学 | 扭曲指纹的自动检测方法 |
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