JPH05216222A - ポジ型フオトレジスト組成物 - Google Patents

ポジ型フオトレジスト組成物

Info

Publication number
JPH05216222A
JPH05216222A JP2019692A JP2019692A JPH05216222A JP H05216222 A JPH05216222 A JP H05216222A JP 2019692 A JP2019692 A JP 2019692A JP 2019692 A JP2019692 A JP 2019692A JP H05216222 A JPH05216222 A JP H05216222A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bis
compound
acid
benzene
alkali
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2019692A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasumasa Kawabe
保雅 河辺
Tadayoshi Kokubo
忠嘉 小久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP2019692A priority Critical patent/JPH05216222A/ja
Publication of JPH05216222A publication Critical patent/JPH05216222A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 高感度で、プリベーキング条件によつてレジ
スト性能が低下することがなく、しかもハレーシヨン防
止効果が高く解像力の高いレジストパターンを形成する
ことのできるポジ型フオトレジスト組成物を提供する。 【構成】 ポジ型フオトレジスト組成物が、アルカリ可
溶性樹脂、1,2−ナフトキノン ジアジド基を含む化合
物、及び下記一般式(I)で表される基を1分子中に少
なくとも1個有する化合物を全固形分の0. 1〜10重
量%含む。 【化1】 ここで、 X:−C(=O)−、もしくは−S(=O)2−、 R:水素原子、水酸基、もしくはジ(低級アルキル)ア
ミノ基、 n:1〜3の整数、 を表す。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、アルカリ可溶性樹脂及
び1,2−ナ フトキノンジアジド化合物を配合して成る
ポジ型フオトレジスト組成物の改良に関するものであつ
て、特に凹凸を有する基板や反射率の高い基板において
も微細パターンの形成能力に優れたポジ型フオトレジス
ト組成物に関するものである。本発明によるポジ型フオ
トレジスト組成物は、半導体ウエハー、又はガラス、セ
ラミツクス、金属等の基板上にスピン塗布法又はローラ
ー塗布法で0.5〜3μmの厚みに塗布される。その
後、 加熱、乾燥し、露光マスクを介して回路パターン
等を紫外線照射などにより焼き付け、現像してポジ画像
が得られる。更にこのポジ画像をマスクとしてエツチン
グする事により基板にパターン状の加工を施すことがで
きる。代表的な応用分野はIC等の半導体製造工程、更
にその他のフオトフアブリケーシヨン工程である。
【0002】
【従来の技術】ポジ型フオトレジスト組成物としては、
一般にアルカリ可溶性樹脂と感光物としてのナフトキノ
ンジアジド化合物とを含む組成物が用いられている。例
えば、「ノボラツク型フエノール樹脂/ナフトキノンジ
アジド置換化合物」としてUSP−3,666,473
号、USP−4,115,128号及びUSP−4,17
3,470号等に、また最も典型的な組成物として「ク
レゾールーホルムアルデヒドより成るノボラツク樹脂/
トリヒドロキシベンゾフエノン−1,2−ナフトキノン
ジアジ ドスルホン酸エステル」の例がトンプソン「イ
ントロダクシヨン・トウー・マイクロリソグラフイー」
(L.F.Thompson「Introduction
to Microlitho−graphy」)(A
CS出版、No.219号、P112〜121)に記載
されている。
【0003】結合剤としてのノボラツク樹脂は、膨潤す
ることなくアルカリ水溶液に溶解可能であり、また生成
した画像をエツチングのマスクとして使用する際に特に
プラズマエツチングに対して高い耐性を与えるが故に本
用途に特に有用である。また、感光物に用いるナフトキ
ノンジアジド化合物は、それ自身ノボラツク樹脂のアル
カリ溶解性を低下せしめる溶解阻止剤として作用する
が、光照射を受けて分解するとアルカリ可溶性物質を生
じてむしろノボラツク樹脂のアルカリ溶解度を高める働
きをする点で特異であり、この光に対する大きな性質変
化の故にポジ型フオトレジストの感光物として特に有用
である。
【0004】これまで、かかる観点からノボラツク樹脂
とナフトキノンジアジド系感光物を含有する数多くのポ
ジ型フオトレジストが開発、実用化されている。 しか
しながら、この様に高い解像力を誇るポジ型フオトレジ
ストであるが、例えばアルミニウムのような反射率の高
い基板上にパターンニングすると基板からの反射光(ハ
レーシヨン)の影響を受け、像がぼやけたり線幅のコン
トロールが著しく困難になる。この現象は基板に段差が
ある場合、一層顕著になる。
【0005】このような問題点を解決する(ハレーシヨ
ンを防止する)ために、吸光性材料を添加することは公
知である。例えば、特公昭51−37562号には、紫
外線領域に吸光特性を有する染料・オイルイエロー
【0006】
【化2】
【0007】を吸光剤として含有させてフオトレジスト
層の光透過性を減少させ、基板表面で反射してフオトレ
ジスト層を透過する光を低減させ、紫外光線を照射すべ
きでない領域への光の回り込みを少なくし、解像度低下
を防止する方法が開示されている。しかし、この染料を
用いる場合には、フオトレジスト組成物溶液を基板上に
塗布後、残留溶媒を除去し、同時に、基板との密着性を
向上させるために行われるプリベーキングの際に吸光性
材料の一部がフオトレジスト膜中から昇華するために、
ハレーシヨン防止効果が著しく低下したり、プリベーキ
ング条件の影響を大きく受け、感度等のレジスト性能が
ばらつくという欠点がある。
【0008】特開昭55−36838号には、プリベー
キング時の昇華性の改良された吸光剤(1−アルコキシ
−4−(4'−N,N−ジアルキルアミノフエニルアゾ)
ベンゼン)誘導体が開示されているが、この吸光剤を通
常のポジ型フオトレジストに配合した場合、感度が著し
く低下するという欠点があつた。
【0009】また、特開昭59−142538号に開示
されているアルカリ可溶性アゾ化合物を用いる場合に
は、感度低下や吸光性材料による感度のばらつきは少な
いが、ハレーシヨン防止作用という点では十分に満足し
うるものではなく、これを改良するために、他のアルカ
リ可溶性染料の研究が近年特に活発であり、例えば、特
開昭62−295044、同63−159839、同6
3−173042、同63−159839、同63−2
74945、同63−303344、同63−2827
34、同64−2034、同64−20540、特開平
1−109323、同1−241546、同2−118
574、同2−73880、同2−179642、同2
−226250、同2−248951、同2−2229
52、同2−269348、同2−269346、同2
−275453、同2−269347、同2−2962
45、同3−23453、同3−44642、同3−4
4643、同3−44640、同3−44641、同3
−25446、同3−45953、同3−12264
5、同3−15554、USP4828960等に例が
見られる様に、感度低下とハレーシヨン防止作用につい
ては、かなり改良されてきてはいるが、まだ決して十分
とは言えず、近年の半導体産業における急速な加工寸法
の微細化に対応できていないのが実状である。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、半導
体素子製造分野において急速に進行している加工寸法の
微細化に対応するために、前記したような従来の感光性
組成物における欠点を克服し、寸法安定性に極めて優れ
たレジストパターンを形成しうるポジ型フオトレジスト
組成物を提供することある。即ち、本発明の目的は、高
感度で、プリベーキング条件によつてレジスト性能が低
下することがなく、しかもハレーシヨン防止効果が高く
解像力の高いレジストパターンを形成することのできる
ポジ型フオトレジスト組成物を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、鋭意検討
の結果、キノンジアジド化合物及びアルカリ可溶性ノボ
ラツク樹脂を含むポジ型感光性樹脂組成物に、特定の構
造を有する化合物を添加すると上記目的を達成できるこ
とを見いだし、この知見に基づいて本発明を完成するに
至った。すなわち、本発明の目的は、アルカリ可溶性樹
脂及び1,2−ナフトキノン ジアジド基を含む化合物か
ら成るポジ型組成物において、更に、下記一般式(I)
で表される基を1分子中に少なくとも1個有する化合物
を全固形分の0.1〜10重量%含むことを特徴とする
ポジ型フオトレジスト組成物により達成された。
【0012】
【化3】
【0013】ここで、 X:−C(=O)−、もしくは−S(=O)2−、 R:水素原子、水酸基、もしくはジ(低級アルキル)ア
ミノ基、 n:1〜3の整数、 を表す。以下に、本発明を詳細に説明する。
【0014】一般式(I)で表される基を1分子中に少
なくとも1個有する化合物は、(ポリ)ヒドロキシ芳香
族化合物を下記一般式(II)で表される酸クロリドと
反応させることにより得られる。
【0015】
【化4】
【0016】ここで、 X:−C(=O)−、もしくは−S(=O)2−、 R:水素原子、水酸基、もしくはジ(低級アルキル)ア
ミノ基、 n:1〜3の整数、 を表す。
【0017】上記反応に用いられる酸クロリドの具体例
としては、p−フエニルアゾベンゼンスルホニルクロリ
ド、p−フエニルアゾベンゾイルクロリド、4−ジメチ
ルアミノアゾベンゼン−4’−スルホニルクロリド、
2,4−ジヒドロキシアゾベン−4’−スルホニルクロ
リド、4−ヒドロキシアゾベンゼン−4’−スルホニル
クロリド等を挙げることができる。
【0018】上記反応に用いられる(ポリ)ヒドロキシ
芳香族化合物の具体例としては、m−ヒドロキシ安息香
酸、p−ヒドロキシ安息香酸、2,3−ジヒドロキシ安
息香酸、2,4−ジヒドロキシ安息香酸、2,5−ジヒ
ドロキシ安息香酸、2,6−ジヒドロキシ安息香酸、
3,4−ジヒドロキシ安息香酸、4−ヒドロキシ−3−
メトキシ安息香酸、3−ヒドロキシ−4−ニトロ安息香
酸、3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシ安
息香酸、2−(p−ヒドロキシベンゾイル)安息香酸、
2−(2,4−ジヒドロキシベンゾイル)安息香酸、
2’−カルボキシ−2−ヒドロキシ−4−メトキシ安息
香酸、4’−ヒドロキシビフエニル−4−カルボン酸、
4’−ヒドロキシアゾベンゼン−2’−カルボン酸、ガ
リツク酸、ジガリツク酸、メチレンジガリツク酸、シリ
ンガ酸、1−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸、2−ヒドロ
キシ−1−ナフトエ酸、3−ヒドロキシ−2−ナフトエ
酸、3,5−ジヒドロキシナフトエ酸、4,4’−メチ
レンビス(3−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸)、
【0019】2,4−ジヒドロキシベンゾフエノン、
2,4,4'−トリヒドロキシベンゾフエノン、2,4,6
−トリヒド ロキシベンゾフエノン、2,3,4−トリヒ
ドロキシ−2'−メチルベンゾフエノ ン、2,3,4,4'
−テトラヒドロキシベンゾフエノン、2,2',4,4'−
テトラ ヒドロキシベンゾフエノン、2,4,6,3',4'
−ペンタヒ ドロキシベンゾフエノン、2,3,4,2',
4'−ペンタヒドロキシベンゾフエノン、2,3,4,2',
5'−ペンタヒドロキシベンゾフエノン、2,4,6,3',
4',5'−ヘキサヒドロキシベンゾフエノン、2,3,4,
3',4',5'−ヘキサヒドロキシベンゾフエノン等のポ
リヒドロキシベンゾフエノン類、
【0020】2,3,4−トリヒドロキシアセトフエノ
ン、2,3,4−トリヒドロキシフエニルペンチルケト
ン、2,3,4−トリヒドロキシフエニルヘキシルケトン
等のポリヒドロキシフエニルアルキルケトン類、
【0021】ビス(2,4−ジヒドロキシフエニル)メ
タン、ビス(2,3,4−トリヒドロキシフエニ ル )メ
タン、ビス(2,4−ジヒドロキシフエニル)プロパン
−1、ビス(2, 3,4−トリヒドロキシフエニル)プ
ロパン−1、ノルジヒドログアイアレチン 酸等のビス
((ポリ)ヒドロキシフエニル)アルカン類、
【0022】3,4,5−トリヒドロキシ安息香酸プロピ
ル、2,3,4−トリヒドロキシ安息香酸フエニル、3,
4,5−トリヒドロキシ安息香酸フエニル等のポリヒド
ロキシ安息香酸エステル類、
【0023】ビス(2,3,4−トリヒドロキシベンゾイ
ル)メタン、ビス(3−アセチル−4, 5,6−トリヒ
ドロキシフエニル)ーメタン、ビス(2,3,4−トリヒ
ドロキシ ベンゾイル)ベンゼン、ビス(2,4,6−ト
リヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、ビス(2,5−ジ
ヒドロキシベンゾイル)メタン、ビス(2,3,5−トリ
ヒドロキシベンゾイル)メタン等のビス(ポリヒドロキ
シベンゾイル)アルカン又はビス(ポリヒドロキシベン
ゾイル)アリール類、
【0024】エチレングリコール−ジ(3,5−ジヒド
ロキシベンゾエ ート)、エチレングリコール−ジ(3,
4,5−トリヒドロキシベンゾエート)エチレングリコ
ール−ジ(2−ヒドロキシベンゾエート)、エチレング
リコール−ジ(3−ヒドロキシベンゾエート)、エチレ
ングリコール−ジ(4−ヒドロキシベンゾエート)、エ
チレングリコール−ジ(2,3−ジヒドロキシベンゾエ
ート)、エチレングリコール−ジ(2,6−ジヒドロキ
シベンゾエート)、エチレングリコー ル−ジ(3,4,
5−トリヒドロキシベンゾエート)、エチレングリコー
ル−ジ(2−ニトロ−3,4,5−トリヒドロキシベンゾ
エート)、エチレングリコール−ジ(2−シアノ−3,
4,5−トリヒドロキシベンゾエート)、エチレングリ
コール−ジ(2,4,6−トリヒドロキシベンゾエー
ト)、ジエチレングリコール−ジ(2,3−ジヒドロキ
シベンゾエート)、1,3−プロパンジオール−ジ(3,
4,5−トリヒドロキシベンゾエート)、ポリテトラヒ
ドロフラングリコール−ジ(3,4,5−トリヒドロキシ
ベンゾエート)、ネオペンチルグリコール−ジ(3,
4,5−トリヒドロキシベンゾエート)、1,2−ベンゼ
ンジメタノール−ジ(3,4,5−トリヒドロキシベンゾ
エート)、1,3−ベンゼンジメタノール−ジ( 3,4,
5−トリヒドロキシベンゾエート)、等のアルキレン−
ジ(ポリヒドロキシベンゾエート)類、
【0025】2,3,4−ビフエニルトリオール、3,4,
5−ビフエニルトリオール、3,5,3',5'−ビフエニ
ルテト ロール、2,4,2',4'−ビフエニルテトロー
ル、2,4,6,3',5'−ビフエニ ルペントール、2,
4,6,2',4',6'−ビフエニルヘキソール、2,3,4,
2',3',4'−ビフエニルヘキソール等のポリヒドロキ
シビフエニル類、
【0026】4,4'−チ オビス(1,3−ジヒドロキ
シ)ベンゼン等のビス(ポリヒドロキシ)スルフイド
類、
【0027】2,2',4,4'−テトラヒドロキシジフエ
ニルエーテル等のビス(ポリヒドロキシフエニル)エー
テル類、
【0028】2,2',4,4'−テトラヒドロキシジフエ
ニル スルフオキシド等のビス(ポリヒドロキシフエニ
ル)スルフオキシド類、
【0029】2,2',4,4'−ジフエニルスルフオン等
のビス(ポリヒドロキシフエニル)スルフオン類、
【0030】4,4',3'',4''−テトラヒドロキシ−
3,5,3',5'−テトラメチルト リフエニルメタン、
4,4',2'',3'',4''−ペンタヒドロキシ−3,5,
3',5'−テトラメチルトリフエニルメタン、2,3,4,
2',3',4'−ヘキサヒドロキシ−5,5'−ジアセチル
トリフエニルメタン、2,3,4,2',3',4',3'',4''
−オクタヒドロキシ−5,5'−ジアセチルトリフエニル
メタン、2,4,6,2',4',6'−ヘキサヒドロキシ−
5,5'−ジプロピオニルトリフエニルメタン、2,4,
6,2',4',6'−ヘキサヒドロキシ−トリフエニルメタ
ン、2,4,6,2',4',6',2",3",4"−ノナヒドロキ
シ−5,5'−ジプロピオニルトリフエニルメタン、2,
4,2',4',2",3",4"−ヘプタヒドロキシトリフエニ
ルメタン等のポリヒドロキシトリフエニルメタン類、
【0031】3,3,3',3'−テトラメチル−1,1'−
ス ピロビ−インダン−5,6,5',6'−テトロール、
3,3,3',3'−テトラメチル−1,1'−スピロビ−イ
ンダン−5,6,7,5',6',7'−ヘキソオール、3,3,
3',3'−テトラメチル−1,1'−スピロビ−インダン
−4,5,6,4',5',6' −ヘキソオール、3,3,3',
3'−テトラメチル−1,1'−スピロビ−インダン −
4,5,6,5',6',7'−ヘキソオール等のポリヒドロキ
シスピロビ−インダン類、
【0032】3,3−ビス(3,4−ジヒドロキシフエニ
ル)フタリド、3,3−ビス(2,3,4−トリヒドロキ
シフエニル)フタリド、3',4',5',6'−テトラヒド
ロキシスピロ [フタリド−3,9'−キサンテン]等のポ
リヒドロキシフタリド類、
【0033】モリン、ケルセチン、ルチン等のフラボノ
色素類、
【0034】トリス−(3−メチル−4−ヒドロキシベ
ンジル)イソシアヌレート、トリス−(3,5−ジメチ
ル−4−ヒドロキシベンジル)イソシアヌレート、ビス
−(3−メチル−4−ヒドロキシベンジル)イソシアヌ
レート、ビス−(3−t−ブチル−4−ヒドロキシベン
ジル)イソシアヌレート、3,5−ジメチル−4−ヒド
ロキシベンジルイソシアヌレート、トリス−(2,4−
ジヒドロキシベンジル)イソシアヌレート、トリス−
(2,3,4−トリヒドロキシベンジル)イソシアヌレー
ト、ビス−(2,4−ジヒドロキシベンジル)イソシア
ヌレート、2,4−ジヒドロキシベンジルイソシアヌレ
ート等の(ポリヒドロキシベンジル)イソシアヌレート
類、
【0035】2,6−ビス−(3,5−ジメチル−4−ヒ
ドロキシベンジル)シクロヘキサノン、2,6−ビス−
(3,5−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシベン
ジル)シクロヘキサノン、2,6−ビス−(3,5−ジメ
チル−4−ヒドロキシベンジル)シクロペンタノン、
2,6−ビス−(2,4−ジヒドロキシベンジル)シクロ
ヘキサノン、2,6−ビス−(2,4−ジヒドロキシベン
ジル)シクロペンタノン、2,6−ビス−(3,4,5−
トリヒドロキシベンジル)シクロヘキサノン、2,6−
ビス−(3,4,5−トリヒドロキシベンジル)シクロペ
ンタノン等のビス(ヒドロキシベンジル)シクロアルカ
ン類、
【0036】α,α',α"−トリス(4−ヒドロキシフエ
ニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,α',
α"−トリス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフエニ
ル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,α',α"
−トリス(3,5−ジエチル−4−ヒドロキシフエニ
ル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,α',α"
−トリス(3,5−ジn−プロピル−4−ヒドロキシフ
エニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,
α',α"−トリス(3,5−ジイソプロピル−4−ヒドロ
キシフエニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、
α,α',α"−トリス(3,5−ジn−ブチル−4−ヒド
ロキシフエニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼ
ン、α,α',α"−トリス(3−メチル−4−ヒドロキシ
フエニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,
α',α"−トリス(3−メトキシ−4−ヒドロキシフエ
ニル)1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、α,α',
α"−トリス(2,4−ジヒドロキシフエニル)1,3,5
−トリイソプロピルベンゼン、1,3,5−トリス(3,
5−ジメチル−4−ヒドロキシフエニル)ベンゼン、
1,3,5−トリス(5−メチル−2−ヒドロキシフエニ
ル)ベンゼン、2,4,6−トリス(3,5−ジメチル−
4−ヒドロキシフエニルチオメチル)メシチレン、1−
[α−メチル−α−(4'−ヒドロキシフエニル)エチ
ル]−4−[α,α'−ビス(4"−ヒドロキシフエニ
ル)エチル]ベンゼン、1−[α−メチル−α−(4'
−ヒドロキシフエニル)エチル]−3−[α,α'−ビス
(4"−ヒドロキシフエニル)エチル]ベンゼン、1−
[α−メチル−α−(3',5'−ジメチル−4'− ヒド
ロキシフエニル)エチル]−4−[α,α'−ビス(3",
5"−ジメチル−4"−ヒドロキシフエニル)エチル]ベ
ンゼン、1−[α−メチル−α−(3'−メチル−4'−
ヒドロキシフエニル)エチル]−4−[α',α'−ビス
( 3"−メチル−4"−ヒドロキシフエニル)エチル]
ベンゼン、1−[α−メチル−α−(3'−メトキシ−
4'−ヒドロキシフエニル)エチル]−4−[α' ,α'
−ビス(3"−メトキシ−4"−ヒドロキシフエニル)エ
チル]ベンゼン、1−[α−メチル−α−(2',4'−
ジヒドロキシフエニル)エチル]−4−[α',α'−ビ
ス(4"−ヒドロキシフエニル)エチル]ベンゼン、1
−[α−メチル−α−(2',4'−ジヒドロキシフエニ
ル)エチル]−3−[α''α'−ビス(4"−ヒドロキシ
フエニル)エチル]ベンゼン等の特願平3−26733
に記載のポリヒドロキシ化合物、
【0037】3,3−ビス(4−ヒドロキシフエニル)
−1(3H)−イソベンゾフラノン、3,3−ビス[4
−ヒドロキシ−2−メチル−5−(1−メチルエチル)
フエニ ル]−1(3H)−イソベンゾフラノン、N,
N'−{(3−オキソ−1(3H)−イソベンゾフラニ
リデン)ビス[[6−ヒドロキシ−2−メチル−5−
(1−メチルエチル)−3,1−フエニレン]メチレ
ン]}ビス[N−(カルボキシメ チル)−グリシ
ン]、3,3−ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフエ
ニル)− 1(3H)−イソベンゾフラノン、4,4'−
(3H−2,1−ベンゾオキサチオ ール−3−イリデ
ン)ビスフエノールS,S−ジオキシド、4,4'−(3
H−2,1−ベンゾオキサチオール−3−イリデン)ビ
ス[5−メチル−2−(1−メチルエチル)フエノー
ル]S,S−ジオキシド、4,4'−(3H−2,1−ベン
ゾオキサチオール−3−イリデン)ビス[3−メチルフ
エノール]S,S−ジオキシ ド、4,4'−(3H−2,
1−ベンゾオキサチオール−3−イリデン)ビス(2
−メチルフエノール)S,S−ジオキシド、4,4'−
(3H−2,1−ベンゾオキサチオール−3−イリデ
ン)ビス[2−クロロフエノール]S,S−ジオキシ
ド、4,4'−(3H−2,1−ベンゾオキサチオール−
3−イリデン)ビス[2,6−ジブロモ−3−メチルフ
エノール]S,S−ジオキシド、4,4'−(3H−2,1
−ベンゾオキサチオール−3−イリデン)ビス[2−ブ
ロモ−6−クロロフエノール]S,S−ジオキシド、4,
4'−(3H−2,1−ベンゾオキサチオール−3−イリ
デン)ビス[2−ブロモ−3−メチル−6−(1−メチ
ルエチル)フエノール]S,S−ジオキシド、4,4'−
(3H−2,1−ベンゾオキサチオール−3−イリデ
ン)ビス[2,6−ジブロモフエノール]S,S−ジオキ
シド、4,4'−(3H−2,1−ベンゾオキサチオール
−3−イリデン)ビス[2−ブロモフエ ノール]S,S
−ジオキシド、4,4'−(3H−2,1−ベンゾオキサ
チオール−3−イリデン)ビス[3,4−ジヒドロキシ
フエニル]S,S−ジオキシド、3, 3−ビス(3,4−
ジヒドロキシフエニル)−1(3H)−イソベンゾフラ
ノン、3,3−ビス(2,3,4−トリヒドロキシフエニ
ル)−1(3H)−イソベンゾ フラノン、3',4',
5',6'−テトラヒドロキシスピロ[イソベンゾフラン
−1 (3H),9'−キサンテン]−3−オン等の特願
平3−62150記載の化合物、
【0038】p−ビス(2,3,4−トリヒドロキシベン
ゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,4,6−トリヒドロキ
シベンゾイル)ベンゼン、m−ビス(2,3,4−トリヒ
ドロキシベンゾイル)ベンゼン、m−ビス(2,4,6−
トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,
5−ジヒドロキシ−3−ブロムベンゾイル)ベンゼン、
p−ビス(2,3,4−トリヒドロキシ−5−メチルベン
ゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,3,4−トリヒドロキ
シ−5−メトキシベンゾイル)ベンゼン、p−ビス
(2,3,4−トリヒドロキシ−5−ニトロベンゾイル)
ベンゼン、p−ビス(2,3,4−トリヒドロキシ−5−
シアノベンゾイル)ベンゼン、1,3,5−トリス(2,
5−ジヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、1,3,5−ト
リス(2,3,4 −トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼ
ン、1,2,3−トリス(2,3,4−トリヒドロキシベン
ゾイル)ベンゼン、1,2,4−トリス(2,3,4−トリ
ヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、1,2,4,5−テト
ラキス(2,3,4−トリヒドロキシ ベンゾイル)ベン
ゼン、α,α'−ビス(2,3,4−トリヒドロキシベンゾ
イル)−p−キシレン、α,α',α'−トリス(2,3,4
−トリヒドロキシベンゾイル)メシチレン、
【0039】2,3,4,2',3',4'−ヘキサヒドロキシ
−ジフエニルシクロヘキサン−(1,1)、2,3,4,
2',3',4'−ヘキサヒドロキシ−ジフエニル−4−オ
キサシクロヘキサン−(1,1)、2,3,4,2',3',
4'−ヘキサヒドロキシトリフエニルメタン、2,4,6,
2',4',6'−ヘキサヒドロキシ−ジフエニ ル−n−ブ
タン、2,4,6,2',4',6'−ヘキサヒドロキシ−ジフ
エニル− n−ペンタン、2,4,6,2',4',6'−ヘキ
サヒドロキシジフエニルシクロ ヘキサン−(1,1)、
ビス(3−ベンゾイル−4,5,6−トリヒドロキシフエ
ニル)メタン、ビス(3−アセチル−4,5,6−トリヒ
ドロキシフエニル)メタン、ビス(3−プロピオニル−
4,5,6−トリヒドロキシフエニル)メタン、ビス(3
−ブチリル−4,5,6−トリヒドロキシフエニル)メタ
ン、ビス(3−ヘキサノイル−4,5,6−トリヒドロキ
シフエニル)メタン、ビス(3−ヘプタノイル−4,5,
6−トリヒドロキシフエニル)メタン、ビス(3−デカ
ノイル−4,5,6−トリヒドロキシフエニル)メタン、
ビス(3−オクタデカノイル−4,5,6−トリヒドロキ
シフエニル)メタン、
【0040】1,10−ビス−(2,4−ジヒドロキシフ
エニル)−デカン−1,10−ジオン、1,14−ビス−
(2,4−ジヒドロキシフエニル)−テトラデカン−1,
14−ジオン、1,8−ビス−(2,4−ジヒドロキシフ
エニル)−オクタン−1,8−ジオン、1,10−ビス−
(2,3,4−トリヒドロキシフエニル)−デカン−1,
10−ジオン、1,12−ビス−(2,4−ジヒドロキシ
フエニル)−ドデカン−1,12−ジオン、1,4−ビス
−(2,4−ジヒドロキシフエニル)−ブタン−1,4−
ジオン、
【0041】1,1−(5,5'−ジアセチル−2,3,4,
2',3',4'−ヘキサヒドロキ シ)ジフエニルエタン、
1,1−(5−アセチル−2,3,4,2',3',4'−ヘキ
サヒドロキシ)ジフエニル−2−メトキシエタン、1,
1−(5−アセチル− 2,3,4,2',4',6'−ヘキサ
ヒドロキシ)ジフエニル−2−ヒドロキシエ タン、1,
1−(2,4,6,2',4'−ペンタヒドロキシ−3−プロ
パノイル) ジフエニルエタノール、
【0042】10,15−ジヒドロ−2,3,7,8,12,
13−ヘキサヒドロキシ−5H−トリベンゾ 〔a,d,
g〕シクロノネン、10,15−ジヒドロ−3,8,13
−トリメトキシ−2,7,12−トリス(メトキシd3
−5H−トリベンゾ 〔a,d,g〕シクロノネン、10,
15−ジヒドロ−1,6,11−トリヒドロキシ−2,7,
12−トリメトキシ−4,9,14−トリメチル−5H−
トリベンゾ 〔a,d,g〕 シクロノネン、10,15−
ジヒドロ−1,6,11−トリヒドロキシ−2,7,1 2
−トリメトキシ−4,9,14−トリプロピル−5H−ト
リベンゾ 〔a,d,g〕シクロノネン、2,8,14,20
−テトラメチルペンタシクロ 〔19.3.1.13,7
9,13.115,19〕オクタコサ−1(25),3,5,7
(28),9,11,13(27),15,17,19(2
6),21,23−ドデカエン−4,6,10, 12,16,
18,22,24−オクトール、
【0043】マグネソン、クルクミン、2,2’−ジヒ
ドロキシアゾベンゼン、フエノールフタリン、2,4−
ジヒドロキシアゾベンゼン、ジバニラルシクロペンタ
ン、ジバニラルシクロヘキサン、バニリナジン、サマロ
ンゴールデンオレンジ2GSL、オーリン、HABA、
2−(p−メチルフエニル)−5−ジエチルアミノベン
ズトリアゾール、4−ヒドロキシ−4’−ジメチルアミ
ノアゾベンゼン、4−(2−チアゾリルアゾ)レゾルシ
ノール、4−(2−ピリジルアゾ)レゾルシノール、フ
エノール、m−クレゾール、p−クレゾール、o−クレ
ゾール、2,5−キシ レノール、3,5−キシレノー
ル、3,4−キシレノール、2,3−キシレノール、m−
エチルフエノール、p−エチルフエノール、o−エチル
フエノール、p−t−ブチルフエノール、p−メトキシ
フエノール、m−メトキシフエノール、3, 5−ジメト
キシフエノール、2−メトキシ−4−メチルフエノール
、m−エト キシフエノール、p−エトキシフエノー
ル、m−プロポキシフエノール、p−プロポキシフエノ
ール、m−ブトキシフエノール、p−ブトキシフエノー
ル、2−メチル−4−イソプロピルフエノール、ジヒド
ロキシビフエニル、ビスフエノールA、フエニルフエノ
ール、レゾルシノール、ナフトール、等のヒドロキシ芳
香族化合物を単独もしくは2種以上混合して使用するこ
とができるが、これらに限定されるものではない。
【0044】これらの(ポリ)ヒドロキシ化合物及び酸
クロリドをアセトン、ジオキサン、テトラヒドロフラ
ン、メチルエチルケトン等の溶剤に溶解後、塩基性触媒
の存在下で反応させ、水酸基の一部もしくは全部をアシ
ル化もしくはスルホニル化することにより、本発明の化
合物を合成することができる。なお、上記アシル化もし
くはスルホニル化反応において使用できる触媒として
は、水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸水素ナト
リウム、トリエチルアミン、ジメチルアミノピリジン等
を挙げることができ、反応温度は通常−20℃〜60
℃、好ましくは0℃〜40℃である。
【0045】このようにして合成される本発明の化合物
は、吸光剤として、単独でもしくは2種以上の組み合わ
せで、全固形分の0.1〜10重量%、好まし くは0.
3〜5重量%添加することができる。添 加量がこれよ
り少ないとハレーシヨン防止効果が十分でなく、またこ
れより多いと析出等を起こすので好ましくない。
【0046】本発明に用いるアルカリ可溶性樹脂として
はノボラツク樹脂、アセトンーピロガロール樹脂、ポリ
ヒドロキシスチレン及びその誘導体を挙げることができ
る。特にノボラツク樹脂が好ましく、所定のモノマーを
主成分として、酸性触媒の存在下、アルデヒド類と縮合
させることにより得られる。
【0047】所定のモノマーとしては、フエノール、m
−クレゾール、p−クレゾール、o−クレゾール等のク
レゾール類、2,5−キシレノール、3,5−キシレノー
ル、3,4−キシレノール、2,3−キシレノール等のキ
シレノール類、m−エチルフエノール、p−エチルフエ
ノール、o−エチルフエノール、p−t−ブチルフエノ
ール等のアルキルフエノール類、p−メトキシフエノー
ル、m−メトキシフエノール、3,5−ジメトキシフエ
ノール、2−メトキシ−4−メチルフエノール、m−エ
トキシフエノール、p−エトキシフエノール、m−プロ
ポキシフエノール、p−プロポキシフエノール、m−ブ
トキシフエノール、p−ブトキシフエノール等のアルコ
キシフエノール類、2−メチル−4−イソプロピルフエ
ノール等のビスアルキルフエノール類、m−クロロフエ
ノール、p−クロロフエノール、o−クロロフエノー
ル、ジヒドロキシビフエニル、ビスフエノールA、フエ
ニルフエノール、レゾルシノール、ナフトール等のヒド
ロキシ芳香族化合物を単独もしくは2種以上混合して使
用することができるが、これらに限定されるものではな
い。
【0048】アルデヒド類としては、例えばホルムアル
デヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プ
ロピルアルデヒド、ベンズアルデヒド、フエニルアセト
アルデヒド、α−フエニルプロピルアルデヒド、β−フ
エニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアル
デヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロ
キシベンズアルデヒド、o−クロロベンズアルデヒド、
m−クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデ
ヒド、o−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズ
アルデヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メチル
ベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−
メチルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒ
ド、p−n−ブチルベンズアルデヒド、フルフラール、
クロロアセトアルデヒド及びこれらのアセタール体、例
えばクロロアセトアルデヒドジエチルアセタール等を使
用することができるが、これらの中で、ホルムアルデヒ
ドを使用するのが好ましい。これらのアルデヒド類は、
単独でもしくは2種以上組み合わせて用いられる。酸性
触媒としては塩酸、硫酸、ギ酸、酢酸及びシユウ酸等を
使用することができる。こうして得られたノボラツク樹
脂の重量平均分子量は、2000〜30000の範囲で
あることが好ましい。2000未満では未露光部の現像
後の膜減りが大きく、30000を越えると現像速度が
小さくなつてしまう。特に好適なのは6000〜200
00の範囲である。ここで、重量平均分子量はゲルパー
ミエーシヨンクロマトグラフイーのポリスチレン換算値
をもつて定義される。
【0049】本発明で用いられる感光物は、以下に示す
ポリヒドロキシ化合物の1,2−ナフトキノンジアジド
−5−(及び/又は−4−)スルホニルクロリドとのエ
ステル化物を用いることができる。ポリヒドロキシ化合
物の例としては、例えば、2,3,4−トリヒドロキシベ
ンゾフエノン、2,4,4'−トリヒドロキシベンゾフエ
ノン、2,4,6−トリヒドロキシベンゾフエノン、2,
3,4−トリヒドロキシ−2'−メチルベンゾフエノン、
2,3,4,4'−テトラヒドロキシベンゾフエノン、2,
2',4,4'−テトラヒドロキシベンゾフエノン、2,4,
6,3',4'−ペンタヒドロキシベンゾフエノン、2,3,
4,2',4'−ペンタヒドロキシベンゾフエノン、2,3,
4,2',5'−ペンタヒドロキシベンゾフエノン、2,4,
6,3',4',5'−ヘキサヒドロキシベンゾフエノン、
2,3,4,3',4',5'−ヘキサヒドロキシベンゾフエノ
ン等のポリヒドロキシベンゾフエノン類、2,3,4−ト
リヒドロキシアセトフエノン、2,3,4−トリヒドロキ
シフエニルペンチルケトン、2,3,4−トリヒドロキシ
フエニルヘキシルケトン等のポリヒドロキシフエニルア
ルキルケトン類、ビス(2,4−ジヒドロキシフエニ
ル)メタン、ビス(2,3,4−トリヒドロキシフエニル
)メタン、ビス(2,4−ジヒドロキシフエニル)プロ
パン−1、ビス(2,3,4−トリヒドロキシフエニル)
プロパン−1、ノルジヒドログアイアレチン酸等のビス
((ポリ)ヒドロキシフエニル)アルカン類、3,4,5
−トリヒドロキシ安息香酸プロピル、2,3,4−トリヒ
ドロキシ安息香酸フエニル、3,4,5−トリヒドロキシ
安息香酸フエニル等のポリヒドロキシ安息香酸エステル
類、ビス(2,3,4−トリヒドロキシベンゾイル)メタ
ン、ビス(3−アセチル−4,5,6−トリヒドロキシフ
エニル)ーメタン、ビス(2,3,4−トリヒドロキシベ
ンゾイル)ベンゼン、ビス(2,4,6−トリヒドロキシ
ベンゾイル)ベンゼン等のビス(ポリヒドロキシベンゾ
イル)アルカン又はビス(ポリヒドロキシベンゾイル)
アリール類、エチレングリコール−ジ(3,5−ジヒド
ロキシベンゾエート)、エチレングリコール−ジ(3,
4,5−トリヒドロキシベンゾエート)等のアルキレン
−ジ(ポリヒドロキシベンゾエート)類、2,3,4−ビ
フエニルトリオール、3,4,5−ビフエニルトリオー
ル、3,5,3',5'−ビフエニルテトロール、2,4,
2',4'−ビフエニルテトロール、2,4,6,3',5'−
ビフエニルペントール、2,4,6,2',4',6'−ビフエ
ニルヘキソール、2,3,4,2',3',4'−ビフエニルヘ
キソール等のポリヒドロキシビフエニル類、4,4'−チ
オビス(1,3−ジヒドロキシ)ベンゼン等のビス(ポ
リヒドロキシ)スルフイド類、2,2',4,4'−テトラ
ヒドロキシジフエニルエーテル等のビス(ポリヒドロキ
シフエニル)エーテル類、2,2',4,4'−テトラヒド
ロキシジフエニルスルフオキシド等のビス(ポリヒドロ
キシフエニル)スルフオキシド類、2,2',4,4'−ジ
フエニルスルフオン等のビス(ポリヒドロキシフエニ
ル)スルフオン類、4,4',3'',4''−テトラヒドロキ
シ−3,5,3',5'−テトラメチルトリフエニルメタ
ン、4,4',2'',3'',4''−ペンタヒドロキシ−3,
5,3',5'−テトラメチルトリフエニルメタン、2,3,
4,2',3',4'−ヘキサヒドロキシ−5,5'−ジアセチ
ルトリフエニルメタン、2,3,4,2',3',4',3'',
4''−オクタヒドロキシ−5,5'−ジアセチルトリフエ
ニルメタン、2,4,6,2',4',6'−ヘキサヒドロキシ
−5,5'−ジプロピオニルトリフエニルメタン等のポリ
ヒドロキシトリフエニルメタン類、3,3,3',3'−テ
トラメチル−1,1'−スピロビ−インダン−5,6,5',
6'−テトロール、3,3,3',3'−テトラメチル−1,
1'−スピロビ−インダン−5,6,7,5',6',7'−ヘ
キソオール、3,3,3',3'−テトラメチル−1,1'−
スピロビ−インダン−4,5,6,4',5',6'−ヘキソオ
ール、3,3,3',3'−テトラメチル−1,1'−スピロ
ビ−インダン−4,5,6,5',6',7'−ヘキソオール等
のポリヒドロキシスピロビ−インダン類、3,3−ビス
(3,4−ジヒドロキシフエニル)フタリド、3,3−ビ
ス(2,3,4−トリヒドロキシフエニル)フタリド、
3',4',5',6'−テトラヒドロキシスピロ [フタリド
−3,9'−キサンテン]等のポリヒドロキシフタリド
類、あるいはモリン、ケルセチン、ルチン等のフラボノ
色素類を用いることができる。 また、ノボラツク樹脂
等フエノール樹脂の低核体を用いる事もできる。これら
のポリヒドロキシ化合物のナフトキノンジアジドエステ
ル感光物は単独で、もしくは2種以上の組み合わせで用
いられる。感光物とアルカリ可溶性樹脂の使用比率は、
樹脂100重量部に対し、感光物5〜100重量部、好
ましくは10〜50重量部である。この使用比率が5重
量部未満では残膜率が著しく低下し、他方100重量部
を超えると感度及び溶剤への溶解性が低下する。
【0050】本発明の組成物には、更に現像液への溶解
促進のために、ポリヒドロキシ化合物を含有させること
ができる。好ましいポリヒドロキシ化合物としては、フ
エノール類、レゾルシン、フロログルシン、2,3,4−
トリヒドロキシベンゾフエノン、2,3,4,4’−テト
ラヒドロキシベンゾフエノン、2,3,4,3’,4’,
5’−ヘキサヒドロキシベンゾフエノン、アセトン−ピ
ロガロール縮合樹脂、フロログルシド、2,4,2’,
4’−ビフエニルテトロール、4,4’−チオビス(1,
3−ジヒドロキシ)ベンゼン、2,2’,4,4’−テト
ラヒドロキシジフエニルエーテル、2,2’,4,4’−
テトラヒドロキシジフエニルスルフオキシド、 2,
2’,4,4’−テトラヒドロキシジフエニルスルフオ
ン、ビス(2,4−ジヒドロキシフエニル)メタン、ビ
ス(2,3,4−トリヒドロキシフエニル)メタン、ビ
スフエノールA、ビスフエノールAF、ビスフエノール
S、ビスフエノールF等を挙げることができる。 ポリ
ヒドロキシ化合物の配合量は、キノンジアジド化合物1
00重量部に対して、通常100重量部以下、好ましく
は、5〜50重量部である。
【0051】本発明の感光物及びアルカリ可溶性ノボラ
ツク樹脂を溶解させる溶剤としては、メチルエチルケト
ン、シクロヘキサノン等のケトン類、4−エトキイ−2
−ブタノン、4−メトキシ−4−メチル−2−ペンタノ
ン等のケトエーテル類、エチレングリコールモノメチル
エーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル等の
アルコールエーテル類、ジオキサン、エチレングリコー
ルジメチルエーテル等のエーテル類、メチルセロソルブ
アセテート、エチルセロソルブアセテート等のセロソル
ブエステル類、酢酸ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル等
の脂肪酸エステル類、1,1,2−トリクロロエチレン等
のハロゲン化炭化水素類、ジメチルアセトアミド、N−
メチルピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジメチルス
ルホキシド等の高極性溶剤を例示することができる。こ
れら溶剤は単独で、もしくは複数の溶剤を混合して使用
することもできる。
【0052】本発明のポジ型フオトレジスト用組成物に
は、ストリエーシヨン等の塗布性を更に向上させるため
に、界面活性剤を配合することができる。界面活性剤と
しては、例えばポリオキシエチレンラウリルエーテル、
ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエ
チレンセチルエーテル、ポリオキシエチレンオレイルエ
ーテル等のポリオキシエチレンアルキルエーテル類、ポ
リオキシエチレンオクチルフエノールエーテル、ポリオ
キシエチレンノニルフエノールエーテル等のポリオキシ
エチレンアルキルアリルエーテル類、ポリオキシエチレ
ン・ポリオキシプロピレンブロツクコポリマー類、ソル
ビタンモノラウレート、ソルビタンモノパルミテート、
ソルビタンモノステアレート、ソルビタンモノオレエー
ト、ソルビタントリオレエート、ソルビタントリステア
レート等のソルビタン脂肪酸エステル類、ポリオキシエ
チレンソルビタンモノラウレート、ポリオキシエチレン
ソルビタンモノパルミテート、ポリオキシエチレンソル
ビタンモノステアレート、ポリオキシエチレンソルビタ
ントリオレエート、ポリオキシエチレンソルビタントリ
ステアレート等のポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸
エステル類等のノニオン系界面活性剤、エフトツプEF
301,EF303,EF352(新秋田化成(株)製)、
メガフアツクF171,F173(大日本インキ(株)
製)、フロラードFC430,FC431(住友スリー
エム(株)製)、アサヒガードAG710,サーフロンS
−382,SC101,SC102,SC103,SC10
4,SC105,SC106(旭硝子(株)製)等のフツ素
系界面活性剤、オルガノシロキサンポリマーKP341
(信越化学工業(株)製)やアクリル酸系もしくはメタク
リル酸系(共)重合ポリフローNo.75,No.95
(共栄社油脂化学工業(株)製)等を挙げることができ
る。これらの界面活性剤の配合量は、本発明の組成物中
のアルカリ可溶性樹脂及びキノンジアジド化合物100
重量部当たり、通常、2重量部以下、好ましくは1重量
部以下である。これらの界面活性剤は単独で添加しても
よいし、また、いくつかの組み合わせで添加することも
できる。
【0053】本発明のポジ型フオトレジスト用組成物の
現像液としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、
炭酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリ
ウム、アンモニア水等の無機アルカリ類、エチルアミ
ン、n−プロピルアミン等の第一アミン類、ジエチルア
ミン、ジ−n−ブチルアミン等の第二アミン類、トリエ
チルアミン、メチルジエチルアミン等の第三アミン類、
ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミン等の
アルコールアミン類、テトラメチルアンモニウムヒドロ
キシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド等の第
四級アンモニウム塩、ピロール、ピペリジン等の環状ア
ミン類、等のアルカリ類の水溶液を使用することができ
る。更に、上記アルカリ類の水溶液にアルコール類、界
面活性剤を適当量添加して使用することもできる。以
下、本発明を実施例に基づいて更に詳細に説明するが、
本発明はこれらに限定されるものではない。
【0054】
【実施例】
(1)ノボラツク樹脂(a)の合成 m−クレゾール40g、p−クレゾール60g、37%
ホルマリン水溶液54.0g及びシユウ酸0.05gを
3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら100℃まで昇
温し、7時間反応させた。反応後室温まで冷却し30m
mHgまで減圧した。次いで除々に150℃まで昇温
し、水及び未反応モノマーを除去した。得られたノボラ
ツク樹脂は平均分子量7900(ポリスチレン換算)で
あつた。
【0055】(2)ノボラツク樹脂(b)の合成 m−クレゾール50重量%、p−クレゾール50重量%
及びホルマリン水溶液を用い上記(1)と同様にして合
成したクレゾールノボラツク樹脂(ポリスチレン換算の
分子量9400)を「高分子合成の実験法」32頁(木
下雅悦、大津隆行共著:化学同人(1973))を参考
にして低分子量成分を分別し、ポリスチレン換算の分子
量10060のクレゾールノボラツク樹脂を得た。
【0056】(3)感光物aの合成 2,3,4−トリヒドロキシベンゾフエノン11.5g、
1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリ
ド30.2g及びアセトン300mlを3つ口フラスコ
に仕込み、均一に溶解した。次いでトリエチルアミン/
アセトン=11.4g/50mlの混合液を徐々に滴下
し、25℃で3時間反応させた。反応混合液を1%塩酸
水溶液1500ml中に注ぎ、生じた沈澱物を濾別し、
水洗・乾燥(40℃)を行い、2,3,4−トリヒドロキ
シベンゾフエノンの1,2−ナフトキノンジアジド−5
−スルホン酸エステル29.8gを得た。
【0057】(4)感光物bの合成 2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフエノン1
2.3g、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホ
ニルクロリド40.3g及びアセトン300mlを3つ
口フラスコに仕込み、均一に溶解した。次いでトリエチ
ルアミン/アセトン=15.2g/50mlの混合液を
徐々に滴下し、25℃で3時間反応させた。反応混合液
を1%塩酸水溶液1500ml中に注ぎ、生じた沈澱物
を濾別し、水洗・乾燥(40℃)を行い、2,3,4,
4’−テトラヒドロキシベンゾフエノンの1,2−ナフ
トキノンジアジド−5−スルホン酸エステル39.7g
を得た。
【0058】(5)化合物(I−1)の合成 m−ヒドロキシ安息香酸13.8g、4−ジメチルアミ
ノアゾベンゼン−4’−スルホニルクロリド34.0
g、及びジオキサン250mlを3つ口フラスコに仕込
み均一に溶解した。次いで、トリエチルアミン/ジオキ
サン=10.6g/50mlの混合混合液を徐々に滴下
し、25℃で4時間反応させた。反応混合液を1%塩酸
水溶液1200ml中に注ぎ、生じた沈澱物を濾別し、
水洗、乾燥(40℃)を行い、化合物(I−1)を得
た。
【0059】
【化5】
【0060】(6)化合物(I−2)の合成 HABA
【0061】
【化6】
【0062】を10.0g、p−アゾベンゼンスルホニ
ルクロリド12.2g、及び4−(クロロスルホニル)
安息香酸15.1g及びジオキサン250mlを3つ口
フラスコに仕込み均一に溶解した。次いで、トリエチル
アミン/ジオキサン=4.4g/50mlの混合混合液
を徐々に滴下し、25℃で4時間反応させた。反応混合
液を1%塩酸水溶液1300ml中に注ぎ、生じた沈澱
物を濾別し、水洗、乾燥(40℃)を行い、化合物(I
−2)を得た。
【0063】
【化7】
【0064】(7)化合物(I−3)の合成 フエノールフタリン
【0065】
【化8】
【0066】を10.0g、4−ジメチルアミノアゾベ
ンゼン−4’−スルホニルクロリド21.2g、及びジ
オキサン300mlを3つ口フラスコに仕込み均一に溶
解した。次いで、トリエチルアミン/ジオキサン=6.
6g/50mlの混合混合液を徐々に滴下し、25℃で
4時間反応させた。反応混合液を1%塩酸水溶液150
0ml中に注ぎ、生じた沈澱物を濾別し、水洗、乾燥
(40℃)を行い、化合物(I−3)を得た。
【0067】
【化9】
【0068】(8)化合物(I−4)の合成 4−ヒドロキシ−iso−フタル酸10.0g、4−ジ
メチルアミノアゾベン−4’−スルホニルクロリド1
8.7g、及びジオキサン300mlを3つ口フラスコ
に仕込み均一に溶解した。次いで、トリエチルアミン/
ジオキサン=5.8g/50mlの混合混合液を徐々に
滴下し、25℃で6時間反応させた。反応混合液を1%
塩酸水溶液1500ml中に注ぎ、生じた沈澱物を濾別
し、水洗、乾燥(40℃)を行い、化合物(I−4)を
得た。
【0069】
【化10】
【0070】(9)化合物(I−5)の合成 2,3,4,3’,4’,5’−ヘキサヒドロキシベン
ゾフエノン10.0g、p−フエニルアゾベンゼンスル
ホニルクロリド37.0g、及びジオキサン350ml
を3つ口フラスコに仕込み均一に溶解した。次いで、ト
リエチルアミン/ジオキサン=13.4g/50mlの
混合混合液を徐々に滴下し、25℃で6時間反応させ
た。反応混合液を1%塩酸水溶液1500ml中に注
ぎ、生じた沈澱物を濾別し、水洗、乾燥(40℃)を行
い、化合物(I−5)を得た。
【0071】
【化11】
【0072】(10)ポジ型フオトレジスト組成物の調
製と評価 上記(1)、(2)で得られたクレゾールノボラツク樹
脂(a)もしくは(b)、上記(3)、(4)で得られ
た感光物aもしくはb、上記(5)〜(9)で得られた
化合物、または表3に示す公知の吸光剤オイルイエロ
ー、2,4−ジヒドロキシアゾベンゼン、2−ヒドロキ
シ−4−(N−エチル−N−ヒドロキシエチル)アミノ
−β,β−ジシアノスチレン、クルクミンを、表1に示
す割合でエチルセロソルブアセテート15gに溶解し、
0.2μmのミクロフイルターを用いて濾過し、フオト
レジスト組成物を調製した。このフオトレジスト組成物
をスピナーを用いてアルミ膜の付いたシリコンウエハー
に塗布し、真空ホツトプレートで90℃、90秒間乾燥
して膜厚1.2μmのレジスト膜を得た。次にキヤノン
社製縮小投影露光装置FPA−1550を用いてテスト
チヤートマスクを介して露光し、2.38%のテトラメ
チルアンモニウムヒドロキシド水溶液で1分間現像し、
30秒間水洗して乾燥した。
【0073】このようにして得られたレジストパターン
を走査型電子顕微鏡で観察し、レジストを評価した。そ
の結果を表2に示す。
【0074】
【表1】
【0075】
【表2】
【0076】
【表3】
【0077】感度は、0.70μmのマスクパターンを
再現する露光量の逆数をもつて定義し、比較例1の感度
に対する相対値で示した。残膜率は、未露光部の現像前
後の比の百分率で表した。解像力は、0.70μmのマ
スクパターンを再現する露光量における限界解像力を表
す。耐昇華性はレジスト組成物をガラスウエハーに塗布
し、対流オーブンで90℃、、30分間ベークし、分光
光度計で求めた436nmの吸光度比(プリベーク前と
の比較)を表す。ハレーシヨン防止能は、レジストパタ
ーンを走査型顕微鏡で観察し、パターン側面の様子を調
べた。耐熱性は、レジストがパターン形成されたシリコ
ンウエハーを対流オーブンで30分間ベークし、そのパ
ターンの変形が起こらない温度を示した。レジストの形
状は、0.70μmのレジストパターン断面におけるレ
ジスト壁面とシリコンウエハーの平面のなす角(Θ)で
表した。現像性については、表層剥離及び膜残渣が、観
察されず良好な場合を○、多く観察された場合を×、少
し観察された場合を△、で表した。これから、本発明の
吸光剤を用いたレジストは、感度、解像力、耐熱性、耐
昇華性、現像性が優れていることが判る。
【0078】
【発明の効果】本発明の組成物を用いると、高反射率基
板上においても線幅制御性に優れ、解像力、感度、現像
性、耐熱性、耐昇華性等の諸特性に優れたフオトレジス
トが得られ、微細加工用フオトレジストとして好適に用
いられる。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アルカリ可溶性樹脂及び1,2−ナフト
    キノン ジアジド基を含む化合物から成るポジ型組成物
    において、更に下記一般式(I)で表される基を1分子
    中に少なくとも1個有する化合物を全固形分の0. 1〜
    10重量%含むことを特徴とするポジ型フオトレジスト
    組成物。 【化1】 ここで、 X:−C(=O)−、もしくは−S(=O)2−、 R:水素原子、水酸基、もしくはジ(低級アルキル)ア
    ミノ基、 n:1〜3の整数、 を表す。
JP2019692A 1992-02-05 1992-02-05 ポジ型フオトレジスト組成物 Pending JPH05216222A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019692A JPH05216222A (ja) 1992-02-05 1992-02-05 ポジ型フオトレジスト組成物

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019692A JPH05216222A (ja) 1992-02-05 1992-02-05 ポジ型フオトレジスト組成物

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05216222A true JPH05216222A (ja) 1993-08-27

Family

ID=12020423

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019692A Pending JPH05216222A (ja) 1992-02-05 1992-02-05 ポジ型フオトレジスト組成物

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05216222A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6593238B1 (en) 2000-11-27 2003-07-15 Motorola, Inc. Method for determining an endpoint and semiconductor wafer
KR20030079542A (ko) * 2002-04-04 2003-10-10 동우 화인켐 주식회사 포토레지스트 조성물

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6593238B1 (en) 2000-11-27 2003-07-15 Motorola, Inc. Method for determining an endpoint and semiconductor wafer
KR20030079542A (ko) * 2002-04-04 2003-10-10 동우 화인켐 주식회사 포토레지스트 조성물

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0990622A (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
US5652081A (en) Positive working photoresist composition
US5324619A (en) Positive quinone diazide photoresist composition containing select polyhydroxy additive
JPH0534913A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05297582A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH06301203A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH0561193A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05297583A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05158233A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH09197667A (ja) ポジ型フォトレジスト組成物
JPH03279958A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05216222A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05303200A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH04271349A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05297581A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH0580509A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05257275A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05303197A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05341510A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH07120916A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH0534915A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05224409A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH0545869A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05323601A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物
JPH05224407A (ja) ポジ型フオトレジスト組成物