JPH05215824A - Acceleration service life testing device - Google Patents
Acceleration service life testing deviceInfo
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- JPH05215824A JPH05215824A JP4020825A JP2082592A JPH05215824A JP H05215824 A JPH05215824 A JP H05215824A JP 4020825 A JP4020825 A JP 4020825A JP 2082592 A JP2082592 A JP 2082592A JP H05215824 A JPH05215824 A JP H05215824A
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- Japan
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- switch
- power supply
- service life
- resistor
- testing device
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は加速寿命試験装置に関す
る。FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to an accelerated life test apparatus.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来の加速寿命試験装置においては、図
４の様に、電源と集積回路（ＩＣ）素子とが直結されて
いて、さらに１つの電源入力１０に複数のＩＣの電源端
子６０が接続されている。2. Description of the Related Art In a conventional accelerated life test apparatus, a power source and an integrated circuit (IC) element are directly connected to each other as shown in FIG. 4, and one power source input 10 is provided with power source terminals 60 of a plurality of ICs. It is connected.
【０００３】そのため、どれか１つのＩＣが異常となっ
て大電流を流した場合、電源のカレントリミットが作動
して、全てのＩＣに電圧がかからなくなってしまう。ま
た、異常となったＩＣは、こわれるまで大電流が流れて
しまう。Therefore, when any one of the ICs becomes abnormal and a large current flows, the current limit of the power supply is activated and no voltage is applied to all the ICs. Further, a large current flows through the abnormal IC until it is broken.
【０００４】これに対処するため、図５のように、電源
入力１０とＩＣの電源端子６０との間にそれぞれ抵抗２
０を入れる事が行なわれているが、抵抗２０により電圧
降下が生じる等の問題点がある。In order to deal with this, as shown in FIG. 5, a resistor 2 is provided between the power source input 10 and the power source terminal 60 of the IC.
Although 0 is inserted, there is a problem that a voltage drop occurs due to the resistor 20.
【０００５】加速寿命試験を行なう場合は、図６に示す
ＢＴボード７０を高温度の環境下において行なう。ＢＴ
ボード７０上には、４つのＩＣソケット４０がのってお
り、ＩＣソケット４０と端子コネクタ接続部７１とはＢ
Ｔボード７０下部等で配線接続されている。これによ
り、ＩＣソケット４０に挿入されたＩＣの試験を行な
う。When performing the accelerated life test, the BT board 70 shown in FIG. 6 is performed in a high temperature environment. BT
Four IC sockets 40 are mounted on the board 70, and the IC socket 40 and the terminal connector connecting portion 71 are B
Wiring is connected at the bottom of the T board 70 and the like. Thus, the IC inserted in the IC socket 40 is tested.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】このような従来の加速
寿命試験装置は、電源を共有しているＩＣの１つが異常
となって大電流を流すと、他のＩＣに正常なストレスが
印加されないという問題点があった。また、抵抗を入れ
た場合、抵抗による電圧降下が生じるという問題点があ
った。In such a conventional accelerated life test apparatus, when one of the ICs sharing the power supply becomes abnormal and a large current is passed, normal stress is not applied to the other ICs. There was a problem. Further, when a resistor is inserted, there is a problem that a voltage drop occurs due to the resistor.
【０００７】本発明の目的は、前記問題点を解決し、正
常なＩＣにもストレスが印加されるようにし、かつ抵抗
による電圧降下が生じないようにした加速寿命試験装置
を提供することにある。An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to provide an accelerated life test apparatus in which a stress is applied to a normal IC and a voltage drop due to resistance does not occur. .
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明の加速寿命試験装
置の構成は、電源入力と集積回路の電源端子との間に、
抵抗と、温度によりスイッチングスルスイッチとを設け
たことを特徴とする。The structure of the accelerated life test apparatus according to the present invention is provided between a power input and a power terminal of an integrated circuit.
A resistor and a switching switch depending on temperature are provided.
【０００９】[0009]
【実施例】図１は本発明の一実施例の加速寿命試験装置
を示す回路図である。図１において、本発明の一実施例
は、電源入力１０とＩＣの電源端子６０との間に、スイ
ッチ３０と抵抗２０との並列体が接続されている。ＢＴ
ボードの電源入力１０に、電源電圧が印加される。スイ
ッチ３０は温度によりスイッチングするスイッチで、こ
のスイッチ３０は通常はＯＮで、ａとつながっており、
入力１０に印加された電源電圧は、スイッチ３０を介し
て、抵抗を介さず、ＩＣの電源端子６０に直結される。1 is a circuit diagram showing an accelerated life test apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, in one embodiment of the present invention, a parallel body of a switch 30 and a resistor 20 is connected between a power supply input 10 and a power supply terminal 60 of an IC. BT
A power supply voltage is applied to the power supply input 10 of the board. The switch 30 is a switch that switches depending on the temperature. This switch 30 is normally ON and is connected to a,
The power supply voltage applied to the input 10 is directly connected to the power supply terminal 60 of the IC through the switch 30 and not through the resistor.
【００１０】図２において、ＢＴボード上のＩＣソケッ
ト４０が示されており、図１のスイッチ３０は図２にお
いてはスイッチ配置部５０に配置される。これにより、
ＩＣソケットに挿入されたＩＣに異常は生じて大電流が
流れて発熱した場合、ＩＣの直下に配置された３０スイ
ッチが発熱を感知して切り換わる事により、スイッチ３
０はＯＦＦして、電源電圧は抵抗２０を介してＩＣに印
加され、抵抗２０がカレントリミッタとして働くので、
ＩＣの破壊を防ぐ事ができる。FIG. 2 shows the IC socket 40 on the BT board, and the switch 30 of FIG. 1 is arranged in the switch arrangement portion 50 in FIG. This allows
When an abnormality occurs in the IC inserted in the IC socket and a large current flows and heat is generated, the switch 30 located immediately below the IC detects heat generation and switches.
0 is turned off, the power supply voltage is applied to the IC through the resistor 20, and the resistor 20 acts as a current limiter.
It is possible to prevent the destruction of the IC.
【００１１】さらに、発熱したＩＣに対しては、抵抗２
０を介して電源が供給されるが、他のＩＣは電源と直結
されたままである。Further, a resistance 2 is applied to the IC that generates heat.
Power is supplied through 0, but the other ICs remain directly connected to the power supply.
【００１２】図３は本発明の他の実施例を示す回路図で
ある。FIG. 3 is a circuit diagram showing another embodiment of the present invention.
【００１３】図３において、本実施例は、抵抗２０とス
イッチ３１とが接続されているが、スイッチ３１は温度
によりスイッチングするが、双極スイッチであり、通常
はａ側と接続しているが、ＩＣの発熱を感知してスイッ
チングすると、ｂ側と接続される。In FIG. 3, in the present embodiment, the resistor 20 and the switch 31 are connected. The switch 31 switches depending on the temperature, but it is a bipolar switch and is normally connected to the a side. When the heat generation of the IC is detected and switching is performed, it is connected to the b side.
【００１４】通常は、電源入力１０に印加された電源電
圧は、スイッチ３１がａ側と接続されているため、ＩＣ
の電源端子６０と直結される。もし、ＩＣが異常に発熱
した場合において、スイッチ３１も図２のスイッチ配置
部５０に配置されており、発熱を感知してスイッチ３１
がスイッチングしで、ｂ側と接続される。これにより、
電源電圧は、抵抗を介して、ＩＣに印加される事とな
る。Normally, the power supply voltage applied to the power supply input 10 is the IC because the switch 31 is connected to the side a.
Is directly connected to the power supply terminal 60. If the IC heats up abnormally, the switch 31 is also placed in the switch placement unit 50 of FIG.
Is switched and is connected to the b side. This allows
The power supply voltage is applied to the IC via the resistor.
【００１５】本実施例は前記一実施例と異なるのは、ス
イッチ３１がスイッチングする際にＩＣに印加される電
圧がわずかの時間とぎれる事で、この時間を調整する事
により、ＩＣをリセットする事が可能となる。The present embodiment is different from the above-mentioned one embodiment in that the voltage applied to the IC when the switch 31 is switched is interrupted for a short time, and the IC is reset by adjusting this time. Is possible.
【００１６】このように、本実施例によれば、電源入力
と試験対象となるＩＣの電源端子との間に、抵抗と温度
によりスイッチングするスイッチを有し、通常動作時は
電源と試験対象となるＩＣの電源端子はスイッチを介し
て直結されているが、試験対象のＩＣが規定以上の発熱
をした場合は、その温度を感知してスイッチがスイッチ
ングをして、電源と試験対象となるＩＣの電源端子が抵
抗を介してつながる事を特徴とする。As described above, according to this embodiment, the switch for switching between resistance and temperature is provided between the power source input and the power source terminal of the IC to be tested. The power supply terminal of the IC is directly connected via a switch. However, if the IC under test generates more heat than specified, the switch senses the temperature and switches to the power supply and the IC under test. The power supply terminal of is connected through a resistor.
【００１７】[0017]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の加速寿命
試験装置は、通常は電源電圧を抵抗を介さずに直接ＩＣ
に印加し、試験中にＩＣが異常となり発熱した場合、そ
のＩＣに対してのみ抵抗を介して電圧を印加するので、
異常に際して、その影響が他のＩＣに及ばすことがな
く、正常なＩＣは抵抗を介さず電源を直結されたままで
あるという効果を有する。As described above, in the accelerated life test apparatus of the present invention, normally, the power supply voltage is directly applied to the IC without using a resistor.
When the IC becomes abnormal and heat is generated during the test, the voltage is applied to the IC only through the resistor.
In the event of an abnormality, the effect does not affect other ICs, and a normal IC has an effect that the power supply is directly connected without a resistor.
【図１】本発明の一実施例の加速寿命試験装置を示す回
路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing an accelerated life test apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図２】本発明の一実施例のスイッチ配置位置を示す上
面図である。FIG. 2 is a top view showing a switch arrangement position according to an embodiment of the present invention.
【図３】本発明の他の実施例を示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram showing another embodiment of the present invention.
【図４】従来のＩＣの試験回路の一例を示す回路図であ
る。FIG. 4 is a circuit diagram showing an example of a conventional IC test circuit.
【図５】従来のＩＣの試験回路の他例を示す回路図であ
る。FIG. 5 is a circuit diagram showing another example of a conventional IC test circuit.
【図６】ＢＴボードを示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing a BT board.
１０ 電源入力 ２０ 抵抗 ３０，３１ 温度によりスイッチングするスイッチ ４０ ＩＣソケット ５０ スイッチ配置部 ６０ ＩＣの電源端子 ７０ ＢＴボード ７１ 端子コネクタ接続部 10 power input 20 resistance 30, 31 switch for switching according to temperature 40 IC socket 50 switch arrangement 60 power supply terminal of IC 70 BT board 71 terminal connector connection
Claims (1)
に、抵抗と、温度によりスイッチングスルスイッチとを
設けたことを特徴とする加速寿命試験装置。1. An accelerated life test apparatus comprising a resistor and a switching switch depending on temperature between a power input and a power terminal of an integrated circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4020825A JPH05215824A (en) | 1992-02-06 | 1992-02-06 | Acceleration service life testing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4020825A JPH05215824A (en) | 1992-02-06 | 1992-02-06 | Acceleration service life testing device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05215824A true JPH05215824A (en) | 1993-08-27 |
Family
ID=12037819
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4020825A Withdrawn JPH05215824A (en) | 1992-02-06 | 1992-02-06 | Acceleration service life testing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05215824A (en) |
-
1992
- 1992-02-06 JP JP4020825A patent/JPH05215824A/en not_active Withdrawn
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Legal Events
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990518 |