KR20000034530A

KR20000034530A - Performance board for testing semi-conductor device

Info

Publication number: KR20000034530A
Application number: KR1019980051869A
Authority: KR
Inventors: 지준수
Original assignee: 윤종용; 삼성전자 주식회사
Priority date: 1998-11-30
Filing date: 1998-11-30
Publication date: 2000-06-26

Abstract

PURPOSE: A performance board is provided so as to be able to test easily the operating states of the performance board by using only a tester, when controlling a connecting state of every leads in semi-conductor device, and so as to be able to shorten the testing time without connecting the semi-conductor device. CONSTITUTION: A performance board for testing semi-conductor device consists of the following functions: in the performance board to interface the data testing semi- conductor device and its functions of the above semi-conductor device, a lot of the pins contacting electrically with a lot of the above pins; a lot of the resistance of which the capacities are different because of being connected individually to a lot of the above pins; and the control unit to connect selectively a lot of the above resistance to the above tester.

Description

Performance Boards for Testing Semiconductor Devices

본 발명은 전기 회로에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 반도체 장치의 전기적 특성을 테스트하기 위하여 테스터와 반도체 장치 사이에 연결되어 반도체 장치의 각 리드들의 연결 상태를 제어하는 퍼포먼스 보드에 관한 것이다.The present invention relates to an electrical circuit, and more particularly, to a performance board connected between a tester and a semiconductor device to test electrical characteristics of the semiconductor device to control a connection state of each lead of the semiconductor device.

전기를 이용한 시스템을 제어하기 위하여 반도체 장치를 많이 이용하고 있다. 이와 같은 시스템의 구조가 복잡해지고 그 기능이 다양해지면서 이러한 시스템을 제어하는 반도체 장치의 기능도 다양화 및 복잡화되고 있다. 반도체 장치가 제조되면 상기 반도체 장치가 정상적으로 제 기능을 발휘하는지를 테스트해야만 한다. 반도체 장치를 테스트하기 위해서는 테스터(tester)가 필요하다. 그런데, 테스터가 직접 반도체 장치에 연결되는 것이 아니라 반도체 장치의 각 리드와 테스터 사이에는 퍼포먼스 보드가 있어서 필요에 따라 반도체 장치의 각 리드를 선택적으로 테스터에 연결해준다.BACKGROUND Many semiconductor devices are used to control an electric system. As the structure of such a system is complicated and its functions are diversified, the functions of semiconductor devices controlling such a system are also diversified and complicated. Once a semiconductor device is manufactured, it must be tested for normal functionality. Testers are needed to test semiconductor devices. However, the tester is not directly connected to the semiconductor device, but there is a performance board between each lead of the semiconductor device and the tester, thereby selectively connecting each lead of the semiconductor device to the tester as needed.

상기 퍼포먼스 보드에는 상기 반도체 장치의 각 리드와 테스터를 연결해주기 위하여 다수개의 저항들이 구비되는데, 상기 저항들이 종래의 퍼포먼스 보드에서는 대부분 동일한 저항값들로 구성되어있어서 상기 퍼포먼스 보드가 정상적으로 동작하는지를 확인하기 위해서는 특정 반도체 장치를 연결하여야만 가능했다. 그러다보니 상기 퍼포먼스 보드의 동작 상태를 확인하는데 많은 시간이 소요되었다.The performance board is provided with a plurality of resistors for connecting each lead of the semiconductor device and the tester. The resistors are composed of the same resistance values in the conventional performance board, so that the performance board operates normally. It was only possible to connect certain semiconductor devices. Therefore, it took a lot of time to check the operation status of the performance board.

따라서, 본 발명이 이루고자하는 기술적 과제는 그 동작 상태가 간단하게 확인될 수 있는 퍼포먼스 보드를 제공하는 것이다.Accordingly, the technical problem to be achieved by the present invention is to provide a performance board in which the operation state thereof can be easily confirmed.

도 1은 본 발명에 따른 퍼포먼스 보드(Performance Board)를 도시한 도면.1 shows a Performance Board in accordance with the present invention.

도 2는 상기 도 1에 도시된 퍼포먼스 보드의 동작 상태를 테스트하는 방법을 설명하기 위한 도면.2 is a view for explaining a method of testing the operating state of the performance board shown in FIG.

상기 기술적 과제를 이루기 위하여 본 발명은,The present invention to achieve the above technical problem,

다수개의 리드들을 갖는 반도체 장치와 상기 반도체 장치의 기능을 테스트하는 테스터를 인터페이스하는 퍼포먼스 보드에 있어서, 상기 다수개의 핀들과 전기적으로 접촉되는 다수개의 핀들, 상기 다수개의 핀들에 각각 연결되며 그 값이 각기 다른 다수개의 저항들, 및 상기 다수개의 저항들을 상기 테스터에 선택적으로 연결시켜주는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치를 테스트하기 위한 퍼포먼스 보드를 제공한다.A performance board for interfacing a semiconductor device having a plurality of leads and a tester for testing the function of the semiconductor device, the performance board comprising: a plurality of pins in electrical contact with the plurality of pins, each of which is connected to the plurality of pins And a plurality of other resistors, and a controller for selectively connecting the plurality of resistors to the tester.

상기 본 발명에 의하면, 퍼포먼스 보드의 동작 상태를 점검하는데 소요되는 시간이 대폭적으로 감소된다.According to the present invention, the time required to check the operating state of the performance board is greatly reduced.

본 발명과 본 발명의 동작 상의 잇점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.In order to fully understand the present invention, the operational advantages of the present invention, and the objects achieved by the practice of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings illustrating preferred embodiments of the present invention and the contents described in the accompanying drawings.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference numerals in the drawings denote like elements.

도 1은 본 발명에 따른 퍼포먼스 보드를 도시한 도면이다. 도 1을 참조하면, 퍼포먼스 보드(101)는 다수개의 핀들(P1∼Pn), 다수개의 저항들(R1∼Rn), 제어부(121), 릴레이(Relay)(121) 및 다이오드(Diode)를 구비한다. 제어부(111)는 다수개의 스위치들(S1∼Sn)을 구비한다. 다수개의 핀들(P1∼Pn)에 다수개의 저항들(R1∼Rn)이 서로 하나씩 연결되고, 다수개의 저항들(R1∼Rn)에 다수개의 스위치들(S1∼Sn)이 서로 하나씩 연결된다. 저항들(R1∼Rn)의 일단들과 다수개의 핀들(P1∼Pn)은 노드(N1)를 통해서 다이오드(125) 및 릴레이(121)에 모두 연결된다. 저항들(R1∼Rn)의 값은 모두 다르게 구성한다.1 is a view showing a performance board according to the present invention. Referring to FIG. 1, the performance board 101 includes a plurality of pins P1 to Pn, a plurality of resistors R1 to Rn, a controller 121, a relay 121, and a diode. do. The control unit 111 includes a plurality of switches S1 to Sn. A plurality of resistors R1 to Rn are connected to each other to the plurality of pins P1 to Pn, and a plurality of switches S1 to Sn are connected to each other to the plurality of resistors R1 to Rn. One end of the resistors R1 to Rn and the plurality of pins P1 to Pn are connected to both the diode 125 and the relay 121 through the node N1. The values of the resistors R1 to Rn are all configured differently.

다수개의 핀들(P1∼Pn)에 측정하고자하는 반도체 장치(도시안됨)의 리드들이 연결되고, 다수개의 스위치들(S1∼Sn)에 상기 반도체 장치의 기능을 테스트하기 위한 테스터(도시안됨)가 연결된다. 상기 테스터를 이용하여 상기 반도체 장치의 기능을 테스트하기 위해서는 상기 테스터와 상기 반도체 장치의 리드들이 하나씩 또는 소정 개수씩 연결된다. 상기 테스터와 상기 반도체 장치의 리드들을 전기적으로 연결하기 위하여 스위치들(S1∼Sn) 이용된다. 스위치들(S1∼Sn)은 상기 테스터로부터 출력되는 제어 신호(PS)에 의해 선택적으로 온(on)된다. 상기 반도체 장치를 테스트하는 동안에는 릴레이(121)는 오프(off) 상태로 유지되며, 퍼포먼스 보드(101)를 테스트할 때에는 릴레이(121)가 온되어 저항들(R1∼Rn)을 통해 흐르는 전류는 다이오드(125)와 릴레이(121)를 통해서 접지단(GND)으로 흐르게 된다. 릴레이(121)가 동작하기 위해서는 릴레이(121)에 인가되는 제어 신호(DGC)가 전원 전압(9.5볼트)보다 소정 레벨 낮아야 한다. 즉, 제어 신호가 인에이블(enable)되어야 한다. 제어 신호(DGC)가 인에이블되면 릴레이(121)에 구비되는 스위치(123)가 온되어 노드(N1)로부터 접지단(GND)으로 전류가 흐르게 된다.Leads of a semiconductor device (not shown) to be measured are connected to the plurality of pins P1 to Pn, and a tester (not shown) to test the function of the semiconductor device is connected to the plurality of switches S1 to Sn. do. In order to test the function of the semiconductor device using the tester, the tester and leads of the semiconductor device are connected one by one or a predetermined number. Switches S1 to Sn are used to electrically connect the tester and leads of the semiconductor device. The switches S1 to Sn are selectively turned on by the control signal PS output from the tester. The relay 121 remains off during the test of the semiconductor device, and when the performance board 101 is tested, the relay 121 is turned on so that the current flowing through the resistors R1 to Rn is a diode. Through 125 and relay 121 flows to the ground terminal (GND). In order for the relay 121 to operate, the control signal DGC applied to the relay 121 must be lower than a power supply voltage of 9.5 volts. In other words, the control signal must be enabled. When the control signal DGC is enabled, the switch 123 provided in the relay 121 is turned on so that a current flows from the node N1 to the ground terminal GND.

도 2는 상기 도 1에 도시된 퍼포먼스 보드(101)의 동작 상태를 테스트하는 방법을 설명하기 위한 도면이다. 퍼포먼스 보드(101)가 정상적으로 동작하는 지를 테스트하기 위해서는 노드(N2)에 전압 측정기(211)가 연결되어야 한다. 그리고 릴레이(121)도 온 상태로 유지되어야 한다. 이 상태에서 스위치들(S1∼Sn)을 하나씩 연결하게 되면 스위치들(S1∼Sn)과 저항들(R1∼Rn)의 기능을 모두 테스트할 수가 있다. 이 때, 저항들(R1∼Rn)의 값이 모두 다르므로 노드(N2)와 접지단(GND) 사이에 발생하는 전압은 스위치들(S1∼Sn)이 선택적으로 온됨에 따라 서로 다르게 나타난다.FIG. 2 is a diagram for describing a method of testing an operating state of the performance board 101 illustrated in FIG. 1. In order to test whether the performance board 101 operates normally, the voltage meter 211 should be connected to the node N2. And the relay 121 must also be kept on. In this state, if the switches S1 to Sn are connected one by one, the functions of the switches S1 to Sn and the resistors R1 to Rn can be tested. At this time, since the values of the resistors R1 to Rn are all different, voltages generated between the node N2 and the ground terminal GND appear differently as the switches S1 to Sn are selectively turned on.

예컨대, 저항(R1)과 스위치(S1)의 기능을 테스트한다고 하자. 그러면, 전압 측정기(211)에서 발생한 전류(IM)는 스위치(S1), 저항(R1), 다이오드 및 릴레이(121)에 스위치(123)를 통해서 접지단(GND)으로 흐른다. 따라서, 저항(R1)과 다이오드(125)에는 전압이 발생하게 된다. 전압 측정기(211)는 저항(R1)과 다이오드(125)에 발생하는 전압을 측정한다. 예컨대, 저항(R1)이 3옴(ohm)이고 전류(IM)가 100[mA]이며 다이오드(125) 양단에 발생하는 전압이 0.47[V]라면, 노드(N2)와 접지단(GND) 사이에 발생하는 전압(V)은 다음 수학식 1과 같다.For example, suppose the function of the resistor R1 and the switch S1 is tested. Then, the current IM generated by the voltage meter 211 flows to the ground terminal GND through the switch 123 through the switch S1, the resistor R1, the diode, and the relay 121. Therefore, voltage is generated in the resistor R1 and the diode 125. The voltage meter 211 measures the voltage generated at the resistor R1 and the diode 125. For example, if the resistor R1 is 3 ohms, the current IM is 100 [mA], and the voltage generated across the diode 125 is 0.47 [V], the node N2 and the ground terminal GND are in between. The voltage V generated in Equation 1 is as follows.

V = V1 + V2V = V1 + V2

= (100[mA]×R1) + 0.47[V]= (100 [mA] × R1) + 0.47 [V]

= (100[mA]×3[Ω]) + 0.47[V]= (100 [mA] × 3 [Ω]) + 0.47 [V]

여기서, V1은 저항(R1) 양단에 발생하는 전압이고, V2는 다이오드(125) 양단에 발생하는 전압이다.Here, V1 is a voltage generated across the resistor R1 and V2 is a voltage generated across the diode 125.

상기 수학식 1에 따르면, 저항들(R1∼Rn)의 양단에 발생하는 각 전압은 저항들(R1∼Rn)의 값에 따라 달라지므로, 스위치들(S1∼Sn)의 연결 상태에 따라 저항들(R1∼Rn)에 발생하는 전압을 측정할 수 있기 때문에 퍼포먼스 보드(101)의 기능을 쉽게 테스트할 수가 있다.According to Equation 1, since each voltage generated across the resistors R1 to Rn varies according to the values of the resistors R1 to Rn, the resistors are changed according to the connection states of the switches S1 to Sn. Since the voltage generated at (R1 to Rn) can be measured, the function of the performance board 101 can be easily tested.

도면과 명세서에서 최적 실시예들이 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.The best embodiments have been disclosed in the drawings and the specification. Although specific terms have been used herein, they are used only for the purpose of describing the present invention and are not intended to limit the scope of the invention as defined in the claims or the claims. Therefore, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible from this. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.

상술한 바와 같이 본 발명에 따르면, 퍼포먼스 보드(101)에 구비되는 저항들의 값을 서로 다르게 구성함으로써 퍼포먼스 보드의 동작 상태를 테스터만을 이용하여 간단하게 테스트할 수가 있다. 또한, 퍼포먼스 보드(101)를 테스트하는데 있어서 반도체 장치를 연결하지 않게 됨으로써 퍼포먼스 보드(101)를 테스트하는데 걸리는 시간이 많이 단축된다.According to the present invention as described above, by configuring the values of the resistors provided in the performance board 101 differently, it is possible to simply test the operation state of the performance board using only the tester. In addition, since the semiconductor device is not connected in the test of the performance board 101, the time taken to test the performance board 101 is greatly shortened.

Claims

A performance board for interfacing a semiconductor device having a plurality of leads and a tester for testing the function of the semiconductor device,

A plurality of pins in electrical contact with the plurality of pins;

A plurality of resistors each connected to the plurality of pins and different in value; And

And a controller for selectively connecting the plurality of resistors to the tester.