JPH05209929A - 時定数の誤差検出回路 - Google Patents
時定数の誤差検出回路Info
- Publication number
- JPH05209929A JPH05209929A JP4042015A JP4201592A JPH05209929A JP H05209929 A JPH05209929 A JP H05209929A JP 4042015 A JP4042015 A JP 4042015A JP 4201592 A JP4201592 A JP 4201592A JP H05209929 A JPH05209929 A JP H05209929A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time constant
- filter
- lsi
- output
- circuit
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 フィルタの時定数を調整するための大規模な
環境を不要とする。 【構成】 LSI内に予めダミーの1次ローパス・フィ
ルタ3を搭載し、フィルタ3の抵抗と容量の積(時定
数)のバラツキを検出する。 【効果】 LSI内の抵抗と容量の時定数を検出する回
路を設けることで、フィルタの時定数を調整するための
大規模な環境が必要なく、外付抵抗を必要とせず、LS
Iと、それを搭載するパッケージのコストを下げる効果
がある。
環境を不要とする。 【構成】 LSI内に予めダミーの1次ローパス・フィ
ルタ3を搭載し、フィルタ3の抵抗と容量の積(時定
数)のバラツキを検出する。 【効果】 LSI内の抵抗と容量の時定数を検出する回
路を設けることで、フィルタの時定数を調整するための
大規模な環境が必要なく、外付抵抗を必要とせず、LS
Iと、それを搭載するパッケージのコストを下げる効果
がある。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、LSI内に抵抗と容量
で構成したフィルタの時定数の誤差を検出する回路に関
する。
で構成したフィルタの時定数の誤差を検出する回路に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来、図示していないがLSI内に抵抗
と容量で構成したフィルタの時定数(又はカットオフ周
波数)は、抵抗と容量の製造バラツキが大きく、精度が
出ないことから、時定数の調整用としてフィルタの入出
力及び抵抗の両端を端子としてLSIの外部に出してい
る。
と容量で構成したフィルタの時定数(又はカットオフ周
波数)は、抵抗と容量の製造バラツキが大きく、精度が
出ないことから、時定数の調整用としてフィルタの入出
力及び抵抗の両端を端子としてLSIの外部に出してい
る。
【0003】時定数の調整方法は、フィルタの入力に発
振器、出力にレベルメータを接続し、外部に出した抵抗
の両端に外付抵抗をつけて、外付抵抗をトリミングする
機能トリミング方法が一般的である。
振器、出力にレベルメータを接続し、外部に出した抵抗
の両端に外付抵抗をつけて、外付抵抗をトリミングする
機能トリミング方法が一般的である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のLSI
内に抵抗と容量で構成したフィルタの時定数を調整しよ
うとすると、多種多用の測定器を用意し、調整するため
に大規模な環境が必要になる。
内に抵抗と容量で構成したフィルタの時定数を調整しよ
うとすると、多種多用の測定器を用意し、調整するため
に大規模な環境が必要になる。
【0005】さらに、調整用の外付抵抗は、フィルタの
規模によるが、多数必要になる。従って、LSIと、そ
れを搭載するパッケージのコストが高くなるという欠点
があった。
規模によるが、多数必要になる。従って、LSIと、そ
れを搭載するパッケージのコストが高くなるという欠点
があった。
【0006】本発明の目的は、フィルタの時定数を調整
するための大規模な環境を不要とした時定数の誤差検出
回路を提供することにある。
するための大規模な環境を不要とした時定数の誤差検出
回路を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る時定数の誤差検出回路は、単位ステッ
プ波形の入力信号を入力とする抵抗と容量で構成したフ
ィルタを有するLSI内に、該入力信号をリセット信号
とし、該フィルタの時定数(抵抗と容量の積)よりパル
ス巾が狭いクロックを入力とするカウンターと、該フィ
ルタのステップ応答を入力とするレベル比較器と、該レ
ベル比較器の出力をラッチパルス信号とし、該カウンタ
ーの出力を入力とするラッチ回路とを有し、該ラッチ回
路の出力をフィルタの時定数の誤差検出信号としたもの
である。
め、本発明に係る時定数の誤差検出回路は、単位ステッ
プ波形の入力信号を入力とする抵抗と容量で構成したフ
ィルタを有するLSI内に、該入力信号をリセット信号
とし、該フィルタの時定数(抵抗と容量の積)よりパル
ス巾が狭いクロックを入力とするカウンターと、該フィ
ルタのステップ応答を入力とするレベル比較器と、該レ
ベル比較器の出力をラッチパルス信号とし、該カウンタ
ーの出力を入力とするラッチ回路とを有し、該ラッチ回
路の出力をフィルタの時定数の誤差検出信号としたもの
である。
【0008】
【作用】LSI内に予めダミーの1次ローパス・フィル
タを搭載し、その抵抗と容量の時定数のバラツキを検出
する。
タを搭載し、その抵抗と容量の時定数のバラツキを検出
する。
【0009】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図1は、本発明の一実施例を示すブロック図であ
る。
る。図1は、本発明の一実施例を示すブロック図であ
る。
【0010】図において、1は、単位ステップ波形入力
信号端子、2は、1次のローパス・フィルタ3の時定数
よりパルス巾が狭いクロックを入力とするクロック端
子、3は、単位ステップ波形を入力とする1次のダミー
・ローパス・フィルタ、4は、1次のローパス・フィル
タのステップ応答を入力とするレベル比較器、5は、単
位ステップ波形入力信号をリセット信号とするカウン
タ、6はカウンタの出力を入力とし、レベル比較器の出
力をラッチパルス信号とするラッチ回路、7はラッチパ
ルスによりラッチした時のカウンタ出力を出力させる誤
差検出信号出力端子である。
信号端子、2は、1次のローパス・フィルタ3の時定数
よりパルス巾が狭いクロックを入力とするクロック端
子、3は、単位ステップ波形を入力とする1次のダミー
・ローパス・フィルタ、4は、1次のローパス・フィル
タのステップ応答を入力とするレベル比較器、5は、単
位ステップ波形入力信号をリセット信号とするカウン
タ、6はカウンタの出力を入力とし、レベル比較器の出
力をラッチパルス信号とするラッチ回路、7はラッチパ
ルスによりラッチした時のカウンタ出力を出力させる誤
差検出信号出力端子である。
【0011】上記の構成によれば、ローパス・フィルタ
3を構成する抵抗Rと容量Cの積(時定数)が、設計値
と同じであれば、図2に示すL1のステップ応答になり
レベル比較器4のしきい値電圧VTを超えた場合のカウ
ンタ数は設計値での数を示す。
3を構成する抵抗Rと容量Cの積(時定数)が、設計値
と同じであれば、図2に示すL1のステップ応答になり
レベル比較器4のしきい値電圧VTを超えた場合のカウ
ンタ数は設計値での数を示す。
【0012】ここで、時定数が設計値より小さかった場
合に、図2に示すL2のステップ応答になることから、
カウンタ数は設計値より小さくなり、また時定数が設計
値より大きかったら図2に示すL3のステップ応答にな
ることから、カウンタ数は設計値より大きくなる。
合に、図2に示すL2のステップ応答になることから、
カウンタ数は設計値より小さくなり、また時定数が設計
値より大きかったら図2に示すL3のステップ応答にな
ることから、カウンタ数は設計値より大きくなる。
【0013】そのカウンタ数の変化分で、予めシミュレ
ーションしておけば、どの位い時定数がズレているかが
比率として分かる。
ーションしておけば、どの位い時定数がズレているかが
比率として分かる。
【0014】したがって、図示していないが、このカウ
ンタ数に対応したデコーダを搭載して、そのデコーダの
出力値によって調整を必要とする抵抗と容量で構成した
フィルタの抵抗値を自動的に可変するようにする。
ンタ数に対応したデコーダを搭載して、そのデコーダの
出力値によって調整を必要とする抵抗と容量で構成した
フィルタの抵抗値を自動的に可変するようにする。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、予めLS
I内にダミーの1次ローパス・フィルタを搭載し、その
抵抗と容量の積(時定数)のバラツキを検出する回路を
設けることで、従来のように多種,多用の測定器を用意
し、フィルタの時定数(カットオフ周波数)を調整する
ための大規模な環境が必要なく、外付抵抗をいっさい必
要としない効果がある。
I内にダミーの1次ローパス・フィルタを搭載し、その
抵抗と容量の積(時定数)のバラツキを検出する回路を
設けることで、従来のように多種,多用の測定器を用意
し、フィルタの時定数(カットオフ周波数)を調整する
ための大規模な環境が必要なく、外付抵抗をいっさい必
要としない効果がある。
【0016】さらに、LSIと、それを搭載するパッケ
ージのコストを低下できるという効果がある。
ージのコストを低下できるという効果がある。
【図1】本発明による時定数の誤差検出回路を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図2】図1に示した実施例における信号波形図であ
る。
る。
1 単位ステップ波形入力信号端子 2 クロック端子 3 1次のローパス・フィルタ 4 レベル比較器 5 カウンタ 6 ラッチ回路 7 誤差検出信号出力端子 R1 抵抗 C1 容量 VT レベル比較器のしきい値電圧
Claims (1)
- 【請求項1】 単位ステップ波形の入力信号を入力とす
る抵抗と容量で構成したフィルタを有するLSI内に、 該入力信号をリセット信号とし、該フィルタの時定数
(抵抗と容量の積)よりパルス巾が狭いクロックを入力
とするカウンターと、 該フィルタのステップ応答を入力とするレベル比較器
と、 該レベル比較器の出力をラッチパルス信号とし、該カウ
ンターの出力を入力とするラッチ回路とを有し、 該ラッチ回路の出力をフィルタの時定数の誤差検出信号
としたことを特徴とする時定数の誤差検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4042015A JPH05209929A (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 時定数の誤差検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4042015A JPH05209929A (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 時定数の誤差検出回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05209929A true JPH05209929A (ja) | 1993-08-20 |
Family
ID=12624352
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4042015A Pending JPH05209929A (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 時定数の誤差検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05209929A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1494038A1 (de) * | 2003-07-02 | 2005-01-05 | Micronas GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung des Verhältnisses zwischen einer RC-Zeitkonstanten in einer integrierten Schaltung und einem Sollwert |
-
1992
- 1992-01-31 JP JP4042015A patent/JPH05209929A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1494038A1 (de) * | 2003-07-02 | 2005-01-05 | Micronas GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung des Verhältnisses zwischen einer RC-Zeitkonstanten in einer integrierten Schaltung und einem Sollwert |
US7071711B2 (en) | 2003-07-02 | 2006-07-04 | Micronas Gmbh | Method and device for determining the ratio between an RC time constant in an integrated circuit and a set value |
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