JPH05198643A - Ｉｃリードピンの屈曲検査機構 - Google Patents
Ｉｃリードピンの屈曲検査機構Info
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- JPH05198643A JPH05198643A JP2892392A JP2892392A JPH05198643A JP H05198643 A JPH05198643 A JP H05198643A JP 2892392 A JP2892392 A JP 2892392A JP 2892392 A JP2892392 A JP 2892392A JP H05198643 A JPH05198643 A JP H05198643A
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- Japan
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- plate
- lead pin
- bending
- pressing
- air cylinder
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- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 ＩＣデバイスのリードピンの屈曲検査装置に
おいて、押圧力を１０ｇ程度に微小制御できる屈曲検査
機構を提供する。 【構成】 第１のエアシリンダ73により昇降し、ストッ
パ74の位置に停止する昇降板72を具備し、昇降板に設け
た支持板721 に軸支され、平行した等長の２本のリンク
アーム751,752 と、各リンクアームの両端をそれぞれ軸
支して連結した第１および第２の連結具755,756 とより
なる平行リンク機構75を設ける。第１の連結具755 に押
圧部材77を固定し、ベース部材78に載置されたＩＣデバ
イス１に対して、スプリング762 を介して押圧部材を弾
性的に押圧する第２のエアシリンダ761 と、第２の連結
具756 の上端面に対応した昇降板の位置に間隔検出部79
を設けて構成される。
おいて、押圧力を１０ｇ程度に微小制御できる屈曲検査
機構を提供する。 【構成】 第１のエアシリンダ73により昇降し、ストッ
パ74の位置に停止する昇降板72を具備し、昇降板に設け
た支持板721 に軸支され、平行した等長の２本のリンク
アーム751,752 と、各リンクアームの両端をそれぞれ軸
支して連結した第１および第２の連結具755,756 とより
なる平行リンク機構75を設ける。第１の連結具755 に押
圧部材77を固定し、ベース部材78に載置されたＩＣデバ
イス１に対して、スプリング762 を介して押圧部材を弾
性的に押圧する第２のエアシリンダ761 と、第２の連結
具756 の上端面に対応した昇降板の位置に間隔検出部79
を設けて構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＩＣデバイスのリー
ドピンの不当な屈曲に対する検査装置に関する。
ドピンの不当な屈曲に対する検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣデバイスは、その側面より配線基板
に対するリードピンが引き出される。リードピンの形状
には各種のものがあり、形状によりＩＣデバイスは分類
されている。図２の(a) はＤＩＰ型とよばれ、リードピ
ン１1 の先端11a が細くされて下方に向いており、これ
が基板のスルーホールに挿入されて半田付される挿入型
である。(b) は先端11b が内側に曲げられたＳＯＪ型、
(c) は先端11c が外方に曲がったＳＯＰ型であって、そ
れぞれの先端11b,11c を基板の配線パターンに接触させ
て半田付けする面付け型である。このほかに種々の形状
のものが散見される。ＩＣデバイスは、リードピンが正
規の状態と異なる曲がり（ここでは不当な屈曲、または
単に屈曲という）をなしていると、挿入型では先端がス
ルーホールに挿入されず、また面付け型では配線パター
ンに接触しない場合があり、いずれも半田付けが不完全
または不能となって製品不良の原因となる。これに対し
て検査がなされている。従来、屈曲の検査方法には光学
式が行われているが、光学式は価格が高価であるばかり
でなく、リードピンの表面がコーティングなどにより反
射状態が変化して虚報率が高く、信頼性の点でも問題が
ある。これに対してこの発明の発明者により、挿入型と
面付け型の双方に有効な機械式の検査装置が考案され、
「平2-412852、ＩＣデバイスのリード曲がり検査装置」
が特許出願されている。
に対するリードピンが引き出される。リードピンの形状
には各種のものがあり、形状によりＩＣデバイスは分類
されている。図２の(a) はＤＩＰ型とよばれ、リードピ
ン１1 の先端11a が細くされて下方に向いており、これ
が基板のスルーホールに挿入されて半田付される挿入型
である。(b) は先端11b が内側に曲げられたＳＯＪ型、
(c) は先端11c が外方に曲がったＳＯＰ型であって、そ
れぞれの先端11b,11c を基板の配線パターンに接触させ
て半田付けする面付け型である。このほかに種々の形状
のものが散見される。ＩＣデバイスは、リードピンが正
規の状態と異なる曲がり（ここでは不当な屈曲、または
単に屈曲という）をなしていると、挿入型では先端がス
ルーホールに挿入されず、また面付け型では配線パター
ンに接触しない場合があり、いずれも半田付けが不完全
または不能となって製品不良の原因となる。これに対し
て検査がなされている。従来、屈曲の検査方法には光学
式が行われているが、光学式は価格が高価であるばかり
でなく、リードピンの表面がコーティングなどにより反
射状態が変化して虚報率が高く、信頼性の点でも問題が
ある。これに対してこの発明の発明者により、挿入型と
面付け型の双方に有効な機械式の検査装置が考案され、
「平2-412852、ＩＣデバイスのリード曲がり検査装置」
が特許出願されている。
【０００３】図３は上記した特許出願にかかるリード曲
がり検査装置の概略の構成を示し、(a) は正面図、(b)
は側面図、(c) は一部斜視図である。図３において、ベ
ース盤２に固定板31と２本のスライド棒321,322 、およ
び昇降板33よりなる押圧部３を設け、固定板31にベース
部材41を、昇降板33に押圧部材42をそれぞれ着脱可能に
固定する。ベース部材41の表面には各リードピン11に対
応した位置に、その先端の形状とほぼ同一の形状の凹穴
411 が設けられ、また、押圧部材42には複数のリードピ
ンの上端を一様に押圧する２枚の押圧板421,422 が取り
付けられている。次にベース盤２に固定された支持板51
に、エアシリンダ53とこれにより駆動される駆動アーム
52を軸支して駆動機構５を構成し、駆動アーム52の一端
を昇降板33に結合する。また、ベース盤２にスライド棒
62を立て、これに沿って昇降する移動子61と、スライド
棒の上端に固定された間隔検出器63よりなる間隔検出部
６を設け、駆動アーム52の他端を移動子61に結合する。
支持板51の支持点に対する駆動アーム52の両端のそれぞ
れの長さをほぼ１：２とし、該軸支点と間隔検出器の間
にバランス錘り54を取り付けて検出精度を向上してあ
る。なお間隔検出器63にはエア式のものが使用されてお
り、その検出精度は１ｍｍ以下の間隔変化を良好に検出
できるものである。
がり検査装置の概略の構成を示し、(a) は正面図、(b)
は側面図、(c) は一部斜視図である。図３において、ベ
ース盤２に固定板31と２本のスライド棒321,322 、およ
び昇降板33よりなる押圧部３を設け、固定板31にベース
部材41を、昇降板33に押圧部材42をそれぞれ着脱可能に
固定する。ベース部材41の表面には各リードピン11に対
応した位置に、その先端の形状とほぼ同一の形状の凹穴
411 が設けられ、また、押圧部材42には複数のリードピ
ンの上端を一様に押圧する２枚の押圧板421,422 が取り
付けられている。次にベース盤２に固定された支持板51
に、エアシリンダ53とこれにより駆動される駆動アーム
52を軸支して駆動機構５を構成し、駆動アーム52の一端
を昇降板33に結合する。また、ベース盤２にスライド棒
62を立て、これに沿って昇降する移動子61と、スライド
棒の上端に固定された間隔検出器63よりなる間隔検出部
６を設け、駆動アーム52の他端を移動子61に結合する。
支持板51の支持点に対する駆動アーム52の両端のそれぞ
れの長さをほぼ１：２とし、該軸支点と間隔検出器の間
にバランス錘り54を取り付けて検出精度を向上してあ
る。なお間隔検出器63にはエア式のものが使用されてお
り、その検出精度は１ｍｍ以下の間隔変化を良好に検出
できるものである。
【０００４】上記の検査装置の動作を説明すると、エア
シリンダ53の作動により、駆動アーム52が駆動されて昇
降板33とともに押圧部材42が下降し、ベース部材41に載
置されたＩＣデバイス１の各リードピン11が押圧板421,
422 により押圧され、対応した凹穴411 に挿入される。
もし、いずれかのリードピンが不当に屈曲していると、
これが凹穴411 に挿入されないためにＩＣデバイス１が
浮き上がり、従って押圧部材42と昇降板33が所定位置よ
り高くなり、その反対に移動子61が低くなる。これによ
る移動子61との間隔の変化を間隔検出器63により検出し
てリードピンの屈曲が検出されるものである。
シリンダ53の作動により、駆動アーム52が駆動されて昇
降板33とともに押圧部材42が下降し、ベース部材41に載
置されたＩＣデバイス１の各リードピン11が押圧板421,
422 により押圧され、対応した凹穴411 に挿入される。
もし、いずれかのリードピンが不当に屈曲していると、
これが凹穴411 に挿入されないためにＩＣデバイス１が
浮き上がり、従って押圧部材42と昇降板33が所定位置よ
り高くなり、その反対に移動子61が低くなる。これによ
る移動子61との間隔の変化を間隔検出器63により検出し
てリードピンの屈曲が検出されるものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記の検査装置におい
て、ＩＣデバイス１に対して押圧部材42をつねに正しく
押圧するために、押圧部３としてプレス加工用の頑丈な
ダイセットを使用して試行したところ、ダイセットの場
合は昇降板33がかなりの重量で、またスライド棒32の摩
擦抵抗などにより、押圧部材42の押圧力は５００ｇ（グ
ラム）程度に制御することが可能であった。しかしなが
らリードピン11は微細なもので、その先端を凹部411 に
挿入するとき押圧力が過大であると、先端が却って有害
無用に屈曲する危険があり、せいぜい１０ｇ程度の微弱
な押圧力が好ましいことが判明した。このような微弱な
押圧力とするには、昇降板を押圧に利用せず、軽量で摩
擦抵抗の小さい押圧部を別に設けることが必要である。
この発明は以上の考え方により、押圧力を１０ｇ程度に
微小制御できる押圧部を有する屈曲検査機構を提供する
ことを目的とする。
て、ＩＣデバイス１に対して押圧部材42をつねに正しく
押圧するために、押圧部３としてプレス加工用の頑丈な
ダイセットを使用して試行したところ、ダイセットの場
合は昇降板33がかなりの重量で、またスライド棒32の摩
擦抵抗などにより、押圧部材42の押圧力は５００ｇ（グ
ラム）程度に制御することが可能であった。しかしなが
らリードピン11は微細なもので、その先端を凹部411 に
挿入するとき押圧力が過大であると、先端が却って有害
無用に屈曲する危険があり、せいぜい１０ｇ程度の微弱
な押圧力が好ましいことが判明した。このような微弱な
押圧力とするには、昇降板を押圧に利用せず、軽量で摩
擦抵抗の小さい押圧部を別に設けることが必要である。
この発明は以上の考え方により、押圧力を１０ｇ程度に
微小制御できる押圧部を有する屈曲検査機構を提供する
ことを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成するＩＣリードピンの屈曲検査機構であって、第１
のエアシリンダにより駆動されてスライド棒に沿って昇
降し、ストッパにより所定の高さ位置に停止する昇降板
を具備する。昇降板に設けた支持板に軸支され、平行し
た等長の２本のリンクアームと、各リンクアームの両端
をそれぞれ軸支して連結した第１および第２の連結具と
よりなる平行リンク機構を設ける。第１の連結具に押圧
部材を固定する。第２の連結具の上端面に対応した昇降
板の位置に間隔検出器を設けて構成される。上記におい
て、リンクアームを軽量で強靱な金属により製作し、２
本１組のリンクアームを２組並列に設けて平行リンク機
構を構成する。また、平行リンク機構に対する支持板の
支持点と、第１および第２の連結具のそれぞれの距離を
１：ｎ（２≦ｎ≦３）とする。支持板の支持点と、各連
結具のそれぞれの軸支を摩擦の少ないピポット方式とす
るものである。
達成するＩＣリードピンの屈曲検査機構であって、第１
のエアシリンダにより駆動されてスライド棒に沿って昇
降し、ストッパにより所定の高さ位置に停止する昇降板
を具備する。昇降板に設けた支持板に軸支され、平行し
た等長の２本のリンクアームと、各リンクアームの両端
をそれぞれ軸支して連結した第１および第２の連結具と
よりなる平行リンク機構を設ける。第１の連結具に押圧
部材を固定する。第２の連結具の上端面に対応した昇降
板の位置に間隔検出器を設けて構成される。上記におい
て、リンクアームを軽量で強靱な金属により製作し、２
本１組のリンクアームを２組並列に設けて平行リンク機
構を構成する。また、平行リンク機構に対する支持板の
支持点と、第１および第２の連結具のそれぞれの距離を
１：ｎ（２≦ｎ≦３）とする。支持板の支持点と、各連
結具のそれぞれの軸支を摩擦の少ないピポット方式とす
るものである。
【０００７】
【作用】上記の構成の屈曲検査機構においては、まず被
検査のＩＣデバイスをベース部材に載置する。ついで第
１のエアシリンダにより、昇降板をスライド棒に沿って
下降してストッパの位置に停止する。第２のエアシリン
ダにより、ＩＣデバイスに対して第１の連結具に固定さ
れた押圧部材を、スプリングを介して弾性的に押圧す
る。この押圧によりＩＣデバイスの各リードピンは、不
当に屈曲したものがない限り、ベース部材の凹穴に揃っ
て挿入される。これと同時に、平行リンク機構は支持点
を中心として回動し、その他端に軸支された第２の連結
具が上昇し、その上端面と間隔検出器との間隔が所定の
値となるように設定される。もし、いずれかのリードピ
ンが不当に屈曲しているときは、これが凹穴に挿入され
ないため、ＩＣデバイスは浮き上がるか、または傾斜
し、その表面と間隔検出器との間隔が所定の値に対して
変化する。この変化は間隔検出器により検出され、これ
によりリードピンの屈曲が検査される。以上において、
リンクアームを軽量で強靱な金属により製作し、２本１
組のリンクアームを２組並列に設けて平行リンク機構を
構成する。また、平行リンク機構に対する支持板の支持
点と、第１および第２の連結具のそれぞれの距離が１：
ｎ（３≧ｎ≧２）とされ、さらに支持板の支持点と各連
結具のそれぞれの軸支を、摩擦の少ないピポット方式と
することにより、ＩＣデバイスに対して１ｇ程度の微小
な押圧力の制御が可能となり、リードピンの有害な屈曲
が回避されるものである。
検査のＩＣデバイスをベース部材に載置する。ついで第
１のエアシリンダにより、昇降板をスライド棒に沿って
下降してストッパの位置に停止する。第２のエアシリン
ダにより、ＩＣデバイスに対して第１の連結具に固定さ
れた押圧部材を、スプリングを介して弾性的に押圧す
る。この押圧によりＩＣデバイスの各リードピンは、不
当に屈曲したものがない限り、ベース部材の凹穴に揃っ
て挿入される。これと同時に、平行リンク機構は支持点
を中心として回動し、その他端に軸支された第２の連結
具が上昇し、その上端面と間隔検出器との間隔が所定の
値となるように設定される。もし、いずれかのリードピ
ンが不当に屈曲しているときは、これが凹穴に挿入され
ないため、ＩＣデバイスは浮き上がるか、または傾斜
し、その表面と間隔検出器との間隔が所定の値に対して
変化する。この変化は間隔検出器により検出され、これ
によりリードピンの屈曲が検査される。以上において、
リンクアームを軽量で強靱な金属により製作し、２本１
組のリンクアームを２組並列に設けて平行リンク機構を
構成する。また、平行リンク機構に対する支持板の支持
点と、第１および第２の連結具のそれぞれの距離が１：
ｎ（３≧ｎ≧２）とされ、さらに支持板の支持点と各連
結具のそれぞれの軸支を、摩擦の少ないピポット方式と
することにより、ＩＣデバイスに対して１ｇ程度の微小
な押圧力の制御が可能となり、リードピンの有害な屈曲
が回避されるものである。
【０００８】
【実施例】図１はこの発明の一実施例を示す。ベース盤
２に２本のスライド棒711,712 を立て、これに沿って昇
降する昇降板72を設ける。昇降板72を駆動する第１のエ
アシリンダ73とストッパ74とを設ける。ストッパは昇降
板に取り付けたストップピン741 とベース盤２に固定し
たストップ板742 により構成する。それぞれ２本のリン
クアーム751,752 と753,754 の２組が並列し、これらの
両端を軸支する第１のよび第２の連結具755,756 よりな
る平行リンク機構75を設け、これを昇降板72の中央部に
固定された２枚の支持板721,721 に軸支する。支持板72
1 の支持点と第１および第２の連結具との間の長さを
１：ｎ（２≦ｎ≦３）とする。第１の連結具755 の下面
に、図示の形状でその下面がＩＣデバイス１の表面と同
一形状の平面をなす押圧部材77を固定し、各種のＩＣデ
バイスに共通使用できるものとする。また、昇降板72に
エア式間隔検出部79のエアパイプ792 を固定し、その先
端と第２の連結具756 の上端面との間隔Ｇを、良品のＩ
Ｃデバイスに対する所定の値に設定する。またエアパイ
プの後端を間隔検出器791 に接続する。以上において、
各リンクアーム751 〜754 は軽量で強靱な金属棒により
製作し、さらに支持板721 と各連結具755,756 の軸支は
摩擦の少ないピポット方式とし、１ｇ程度の微小な押圧
力の制御が可能な平行リンク機構75を構成する。次に、
第１の連結具755 の上方に第２のエアシリンダ761 とス
プリング762 よりなる押圧機構76を設け、エアシリンダ
を昇降板72に固定してそのロッドにより第１の連結具75
5 を弾性的に押圧する。押圧部材77の真下に支持台２a
を設け、これにベース部材78を着脱自由に固定する。ベ
ース部材78は前記の図３(c) に示した従来のベース部材
411 と全く同一のものを使用する。
２に２本のスライド棒711,712 を立て、これに沿って昇
降する昇降板72を設ける。昇降板72を駆動する第１のエ
アシリンダ73とストッパ74とを設ける。ストッパは昇降
板に取り付けたストップピン741 とベース盤２に固定し
たストップ板742 により構成する。それぞれ２本のリン
クアーム751,752 と753,754 の２組が並列し、これらの
両端を軸支する第１のよび第２の連結具755,756 よりな
る平行リンク機構75を設け、これを昇降板72の中央部に
固定された２枚の支持板721,721 に軸支する。支持板72
1 の支持点と第１および第２の連結具との間の長さを
１：ｎ（２≦ｎ≦３）とする。第１の連結具755 の下面
に、図示の形状でその下面がＩＣデバイス１の表面と同
一形状の平面をなす押圧部材77を固定し、各種のＩＣデ
バイスに共通使用できるものとする。また、昇降板72に
エア式間隔検出部79のエアパイプ792 を固定し、その先
端と第２の連結具756 の上端面との間隔Ｇを、良品のＩ
Ｃデバイスに対する所定の値に設定する。またエアパイ
プの後端を間隔検出器791 に接続する。以上において、
各リンクアーム751 〜754 は軽量で強靱な金属棒により
製作し、さらに支持板721 と各連結具755,756 の軸支は
摩擦の少ないピポット方式とし、１ｇ程度の微小な押圧
力の制御が可能な平行リンク機構75を構成する。次に、
第１の連結具755 の上方に第２のエアシリンダ761 とス
プリング762 よりなる押圧機構76を設け、エアシリンダ
を昇降板72に固定してそのロッドにより第１の連結具75
5 を弾性的に押圧する。押圧部材77の真下に支持台２a
を設け、これにベース部材78を着脱自由に固定する。ベ
ース部材78は前記の図３(c) に示した従来のベース部材
411 と全く同一のものを使用する。
【０００９】以上により構成された屈曲検査機構の動作
を説明すると、まず第１のエアシリンダ73を作動して昇
降板72を上昇し、被検査のＩＣデバイス１をベース部材
78に載置し、ついで下降してストッパ74により所定の高
さに停止する。つぎに、第２のエアシリンダ761 を作動
して第１の連結具755 を押圧し、押圧部材77をＩＣデバ
イス１に接触させてスプリング762 の作用により弾性押
圧する。ＩＣデバイス１の各リードピン11の形状が正常
であれば、ベース部材78の凹穴にそれぞれ挿入され、こ
れにより第２の連結具756 が上昇してエアパイプ792 と
の間隔が所定の値となり、各リードピンは正常と判定さ
れる。もし、ＩＣデバイス１が浮き上がって押圧部材77
が所定より高い位置に停止したときは、その位置変化が
平行リンク機構75によりｎ倍されて、エアパイプ792 に
対する第２の連結具756 の上端面の間隔が所定のＧより
大きくなる。この間隔変化が間隔検出器791 により検出
され、いずれかのリードピンが不当に屈曲しているもの
と判定される。
を説明すると、まず第１のエアシリンダ73を作動して昇
降板72を上昇し、被検査のＩＣデバイス１をベース部材
78に載置し、ついで下降してストッパ74により所定の高
さに停止する。つぎに、第２のエアシリンダ761 を作動
して第１の連結具755 を押圧し、押圧部材77をＩＣデバ
イス１に接触させてスプリング762 の作用により弾性押
圧する。ＩＣデバイス１の各リードピン11の形状が正常
であれば、ベース部材78の凹穴にそれぞれ挿入され、こ
れにより第２の連結具756 が上昇してエアパイプ792 と
の間隔が所定の値となり、各リードピンは正常と判定さ
れる。もし、ＩＣデバイス１が浮き上がって押圧部材77
が所定より高い位置に停止したときは、その位置変化が
平行リンク機構75によりｎ倍されて、エアパイプ792 に
対する第２の連結具756 の上端面の間隔が所定のＧより
大きくなる。この間隔変化が間隔検出器791 により検出
され、いずれかのリードピンが不当に屈曲しているもの
と判定される。
【００１０】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明による屈
曲検査機構においては、軽量で強靱なリンクアームと、
ピポットにより軸支された平行リンク機構により、ＩＣ
デバイスに対する押圧部材の押圧力を微弱な１０ｇ程度
に制御するもので、従来の屈曲測定装置における有害な
屈曲の発生問題が解消されて安全な検査がなされ、リー
ドピンの屈曲検査に寄与するところには大きいものがあ
る。
曲検査機構においては、軽量で強靱なリンクアームと、
ピポットにより軸支された平行リンク機構により、ＩＣ
デバイスに対する押圧部材の押圧力を微弱な１０ｇ程度
に制御するもので、従来の屈曲測定装置における有害な
屈曲の発生問題が解消されて安全な検査がなされ、リー
ドピンの屈曲検査に寄与するところには大きいものがあ
る。
【図１】 この発明の一実施例に対する構造図を示す。
【図２】 ＩＣデバイスの各種のリードピンの形状を示
し、(a) はＤＩＰ型、(b) はＳＯＪ型、(c) はＳＯＰ型
を示す。
し、(a) はＤＩＰ型、(b) はＳＯＪ型、(c) はＳＯＰ型
を示す。
【図３】 特許出願にかかるリードピン曲がり検査装置
の概略の構成図を示す。
の概略の構成図を示す。
１…ＩＣデバイス、11…リードピン、11a,11b,11c …リ
ードピンの先端、２…ベース盤、２a …支持台、３…押
圧部、31…固定板、321,322 …スライド棒、33…昇降
板、41…ベース部材、411 …凹穴、42…押圧部材、421,
422 …押圧板、５…駆動機構、51…支持板、52…駆動ア
ーム、53…エアシリンダ、54…バランス錘り、６…間隔
検出部、61…移動子、62…スライド棒、63…間隔検出
器、７…この発明の屈曲検査機構、711,712 …スライド
棒、72…昇降板、721 …支持板、73…第１のエアシリン
ダ、74…ストッパ、75…平行リンク機構 751 〜754 …リンクアーム、755 …第１の連結具、756
…第２の連結具、76…押圧機構、761 …第２のエアシリ
ンダ、762 …スプリング、77…押圧部材、78…ベース部
材、79…エア式間隔検出部、791 …エアパイプ、792 …
間隔検出器。
ードピンの先端、２…ベース盤、２a …支持台、３…押
圧部、31…固定板、321,322 …スライド棒、33…昇降
板、41…ベース部材、411 …凹穴、42…押圧部材、421,
422 …押圧板、５…駆動機構、51…支持板、52…駆動ア
ーム、53…エアシリンダ、54…バランス錘り、６…間隔
検出部、61…移動子、62…スライド棒、63…間隔検出
器、７…この発明の屈曲検査機構、711,712 …スライド
棒、72…昇降板、721 …支持板、73…第１のエアシリン
ダ、74…ストッパ、75…平行リンク機構 751 〜754 …リンクアーム、755 …第１の連結具、756
…第２の連結具、76…押圧機構、761 …第２のエアシリ
ンダ、762 …スプリング、77…押圧部材、78…ベース部
材、79…エア式間隔検出部、791 …エアパイプ、792 …
間隔検出器。
Claims (3)
- 【請求項１】 ＩＣデバイスの各リードピンに対応した
位置に、その先端の形状とほぼ同一の凹穴を有するベー
ス部材と、該ＩＣデバイスを押圧する押圧部材とを具備
し、該押圧部材によりＩＣデバイスを押圧して、いずれ
かのリードピンの不当な屈曲により生じたＩＣデバイス
の表面の高さの変化を、間隔検出器により検出して該リ
ードピンの屈曲を検査する屈曲検査装置であって、第１
のエアシリンダにより駆動されてスライド棒に沿って昇
降し、ストッパにより所定の高さに停止する昇降板を具
備し、該昇降板に設けた支持板に軸支され、平行した等
長の２本のリンクアームと、各リンクアームの両端をそ
れぞれ軸支して連結した第１および第２の連結具とより
なる平行リンク機構を設け、該第１の連結具に前記押圧
部材を固定し、前記第２の連結具の上端面に対応した前
記昇降板の位置に前記間隔検出器を設けて構成されたこ
とを特徴とする、ＩＣリードピンの屈曲検査機構。 - 【請求項２】 前記リンクアームを軽量で強靱な金属に
より製作し、２本１組のリンクアームを２組並列に設け
て前記平行リンク機構を構成した、請求項１記載のＩＣ
リードピンの屈曲検査機構。 - 【請求項３】 前記平行リンク機構に対する前記支持板
の支持点と、前記第１および第２の連結具のそれぞれの
距離を１：ｎ（２≦ｎ≦３）とし、前記支持板の支持点
と、前記各連結具のそれぞれの軸支を摩擦の少ないピポ
ット方式とする、請求項１記載のＩＣリードピンの屈曲
検査機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2892392A JPH05198643A (ja) | 1992-01-20 | 1992-01-20 | Ｉｃリードピンの屈曲検査機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2892392A JPH05198643A (ja) | 1992-01-20 | 1992-01-20 | Ｉｃリードピンの屈曲検査機構 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05198643A true JPH05198643A (ja) | 1993-08-06 |
Family
ID=12261924
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2892392A Pending JPH05198643A (ja) | 1992-01-20 | 1992-01-20 | Ｉｃリードピンの屈曲検査機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05198643A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113333628A (zh) * | 2021-05-21 | 2021-09-03 | 田文勇 | 一种压敏电阻生产用引脚折角装置 |
| CN113787152A (zh) * | 2021-09-10 | 2021-12-14 | 无锡晶晟科技股份有限公司 | 一种电磁线圈针脚折弯和特性检测设备及其使用方法 |
-
1992
- 1992-01-20 JP JP2892392A patent/JPH05198643A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113333628A (zh) * | 2021-05-21 | 2021-09-03 | 田文勇 | 一种压敏电阻生产用引脚折角装置 |
| CN113787152A (zh) * | 2021-09-10 | 2021-12-14 | 无锡晶晟科技股份有限公司 | 一种电磁线圈针脚折弯和特性检测设备及其使用方法 |
| CN113787152B (zh) * | 2021-09-10 | 2024-02-13 | 无锡晶晟科技股份有限公司 | 一种电磁线圈针脚折弯和特性检测设备及其使用方法 |
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