JPH05196872A - 走査型レーザー顕微鏡 - Google Patents
走査型レーザー顕微鏡Info
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- JPH05196872A JPH05196872A JP987592A JP987592A JPH05196872A JP H05196872 A JPH05196872 A JP H05196872A JP 987592 A JP987592 A JP 987592A JP 987592 A JP987592 A JP 987592A JP H05196872 A JPH05196872 A JP H05196872A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子を用い
る反射型走査型レーザー顕微鏡において、走査型レーザ
ー顕微鏡の共焦点性を厳密に実現する。 【構成】 光源1からの光が進む順に、異方ブラッグ回
折音響光学光偏向素子4とガルバノミラー7とを配置し
て、物体S上で集束光束を2次元的に走査し、物体Sか
ら散乱された光を検出する走査型レーザー顕微鏡におい
て、物体Sからの散乱光をガルバノミラー7と異方ブラ
ッグ回折音響光学光偏向素子4とを介して検出し、か
つ、異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子4を偏向通過
した物体Sからの散乱光の光路中に第3の光偏向素子1
3を配置して、異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子4
により偏向された物体Sからの散乱光を第3の光偏向素
子13により逆の方向に偏向して静止させる。
る反射型走査型レーザー顕微鏡において、走査型レーザ
ー顕微鏡の共焦点性を厳密に実現する。 【構成】 光源1からの光が進む順に、異方ブラッグ回
折音響光学光偏向素子4とガルバノミラー7とを配置し
て、物体S上で集束光束を2次元的に走査し、物体Sか
ら散乱された光を検出する走査型レーザー顕微鏡におい
て、物体Sからの散乱光をガルバノミラー7と異方ブラ
ッグ回折音響光学光偏向素子4とを介して検出し、か
つ、異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子4を偏向通過
した物体Sからの散乱光の光路中に第3の光偏向素子1
3を配置して、異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子4
により偏向された物体Sからの散乱光を第3の光偏向素
子13により逆の方向に偏向して静止させる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、走査型レーザー顕微鏡
に関し、特に、音響光学光偏向素子を用いた走査型レー
ザー顕微鏡に関するものである。
に関し、特に、音響光学光偏向素子を用いた走査型レー
ザー顕微鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】走査型レーザー顕微鏡は、レーザー光源
からの光束を対物レンズにより物体上の点に集束し、そ
の散乱光を光電変換装置で受けて物体の1点の状態を表
わす信号を得るようにした光電顕微鏡の一種であって、
物体と集束レーザー光束の相対位置を変えることによ
り、物体の面の状態に関する情報を得ることができるよ
うにしたものであり、広汎な応用が期待されているもの
である。
からの光束を対物レンズにより物体上の点に集束し、そ
の散乱光を光電変換装置で受けて物体の1点の状態を表
わす信号を得るようにした光電顕微鏡の一種であって、
物体と集束レーザー光束の相対位置を変えることによ
り、物体の面の状態に関する情報を得ることができるよ
うにしたものであり、広汎な応用が期待されているもの
である。
【0003】以下、走査型レーザー顕微鏡の特長につい
て、簡単に説明する。従来型の顕微鏡の光路図を模式的
に図2に示す。この顕微鏡においては、照射光は、タン
グステンランプ等の光源からコンデンサーレンズを経
て、試料に視野全域にわたって照射される。照射された
試料の像は、対物レンズによって像面に結像する。ここ
で、試料が光を透過しない物質で、光軸上に大きさ0の
孔が空いている物と仮定すると、この孔から出てきた光
は、対物レンズによって像面に結像され、回折現象がな
ければ、大きさ0の光点ができるはずである。ところ
が、実際には、光の波動性のため、ある大きさを持った
光点になってしまう。これをグラフにすると、図3のよ
うな円形開口によるフラウンホーファー回折光の強度分
布になる。図3から分るように、幾何光学的像に対する
回折像の中心(x=0)が最も明るくなり、x=3.8
32(単位は開口の半径、波長等により規格化されてい
る。)のところで光が全く来なくなるのである。それか
ら先は明と暗が交互に発生するが、その強度は微々たる
もので、ほとんど問題にはならないとし、半径x=3.
832の円盤を考え、これを無収差光学系が作る回折像
の大きさと定義する。これはエアリーの円盤と呼ばれる
が、これが解像度の限界を決める。
て、簡単に説明する。従来型の顕微鏡の光路図を模式的
に図2に示す。この顕微鏡においては、照射光は、タン
グステンランプ等の光源からコンデンサーレンズを経
て、試料に視野全域にわたって照射される。照射された
試料の像は、対物レンズによって像面に結像する。ここ
で、試料が光を透過しない物質で、光軸上に大きさ0の
孔が空いている物と仮定すると、この孔から出てきた光
は、対物レンズによって像面に結像され、回折現象がな
ければ、大きさ0の光点ができるはずである。ところ
が、実際には、光の波動性のため、ある大きさを持った
光点になってしまう。これをグラフにすると、図3のよ
うな円形開口によるフラウンホーファー回折光の強度分
布になる。図3から分るように、幾何光学的像に対する
回折像の中心(x=0)が最も明るくなり、x=3.8
32(単位は開口の半径、波長等により規格化されてい
る。)のところで光が全く来なくなるのである。それか
ら先は明と暗が交互に発生するが、その強度は微々たる
もので、ほとんど問題にはならないとし、半径x=3.
832の円盤を考え、これを無収差光学系が作る回折像
の大きさと定義する。これはエアリーの円盤と呼ばれる
が、これが解像度の限界を決める。
【0004】一方、エアリーの円盤の外側には、全体の
光の強度の16.2%に相当する光が存在し、これはハ
ロと呼ばれる。このハロは通常は問題とならないが、明
るい輝点のそばの暗い像を観測するときは無視できなく
なる。
光の強度の16.2%に相当する光が存在し、これはハ
ロと呼ばれる。このハロは通常は問題とならないが、明
るい輝点のそばの暗い像を観測するときは無視できなく
なる。
【0005】そこで考え出されたのが、図4に示すよう
に、回折像側にピンホールを設置してこのハロを取る方
法である。このようにすることにより、コントラストの
低下に悩むことなく、解像力を向上させることができ
る。
に、回折像側にピンホールを設置してこのハロを取る方
法である。このようにすることにより、コントラストの
低下に悩むことなく、解像力を向上させることができ
る。
【0006】しかしながら、このことは2次元像を放棄
したことになるため、2次元像を得るためには「走査」
が必要となる。それが走査型顕微鏡である。走査型顕微
鏡には3タイプあり、それぞれをその研究の先駆者であ
るオックスフォード大学のシェパード博士にならって、
タイプ1a、タイプ1b、タイプ2と名付けると、それ
らは、図5、図6、図7のように模式的に光路図が表さ
れる。この中、タイプ1a、タイプ1bの顕微鏡は、光
源又は検出器を走査すると言うものである。これらは、
結像レンズが1個であるので、試料面上での回折関数は
図3と同じである。
したことになるため、2次元像を得るためには「走査」
が必要となる。それが走査型顕微鏡である。走査型顕微
鏡には3タイプあり、それぞれをその研究の先駆者であ
るオックスフォード大学のシェパード博士にならって、
タイプ1a、タイプ1b、タイプ2と名付けると、それ
らは、図5、図6、図7のように模式的に光路図が表さ
れる。この中、タイプ1a、タイプ1bの顕微鏡は、光
源又は検出器を走査すると言うものである。これらは、
結像レンズが1個であるので、試料面上での回折関数は
図3と同じである。
【0007】ところが、タイプ2と呼ばれている3番目
の走査顕微鏡は、光源と検出器の両方共走査するが、結
像レンズが2個あることになり、図3で示した回折関数
を2回乗じた関数(コンボリューション)に基づいて光
が検出され、かつ、ピンホールでハロをとった形となっ
ている。このことから、この形の顕微鏡は共焦点走査型
顕微鏡と呼ばれており、上に述べたコンボリューション
関数は、図8に実線で示した形となる。これから分るよ
うに、共焦点走査型顕微鏡は、通常の顕微鏡よりエアリ
ーの円盤の半径が小さく、解像度が向上することが分
る。
の走査顕微鏡は、光源と検出器の両方共走査するが、結
像レンズが2個あることになり、図3で示した回折関数
を2回乗じた関数(コンボリューション)に基づいて光
が検出され、かつ、ピンホールでハロをとった形となっ
ている。このことから、この形の顕微鏡は共焦点走査型
顕微鏡と呼ばれており、上に述べたコンボリューション
関数は、図8に実線で示した形となる。これから分るよ
うに、共焦点走査型顕微鏡は、通常の顕微鏡よりエアリ
ーの円盤の半径が小さく、解像度が向上することが分
る。
【0008】共焦点走査型顕微鏡において最も重要なこ
とは、ハロを取るために設置されたピンホールである。
このピンホールは、解像度の向上に役立っているが、そ
れ以外にも、大きな役目を果たしている。図9はその作
用を説明するための図であり、図示されたように、焦点
から外れた面からの光はピンホールを通過することがで
きないため、対物レンズで発生する不要散乱光(フレ
ア)の除去と、焦点深度を浅くする作用がある。特に、
浅い焦点深度は、コントラストの向上と3次元像の観察
を可能にする。これらのことから、通常の光学顕微鏡で
は見ることのできない像も見ることができるようにな
る。
とは、ハロを取るために設置されたピンホールである。
このピンホールは、解像度の向上に役立っているが、そ
れ以外にも、大きな役目を果たしている。図9はその作
用を説明するための図であり、図示されたように、焦点
から外れた面からの光はピンホールを通過することがで
きないため、対物レンズで発生する不要散乱光(フレ
ア)の除去と、焦点深度を浅くする作用がある。特に、
浅い焦点深度は、コントラストの向上と3次元像の観察
を可能にする。これらのことから、通常の光学顕微鏡で
は見ることのできない像も見ることができるようにな
る。
【0009】従来、この種の装置においては、光源とし
てレーザーを使用し、物体とレーザー光束の相対位置を
変えるのに、(1)物体を移動させる、又は、(2)レ
ーザー光源と対物レンズとの間にガルバノミラー、回転
多面体又はクォーツプレートを配置して、物体上におけ
る光束の集束位置を変化させる、又は、(3)上記
(2)で示した光偏向素子と異方ブラッグ回折を利用し
た音響光学光偏向素子を組み合わせて、物体上における
光束の集束位置を変化させる、と言う方法がとられてい
た。
てレーザーを使用し、物体とレーザー光束の相対位置を
変えるのに、(1)物体を移動させる、又は、(2)レ
ーザー光源と対物レンズとの間にガルバノミラー、回転
多面体又はクォーツプレートを配置して、物体上におけ
る光束の集束位置を変化させる、又は、(3)上記
(2)で示した光偏向素子と異方ブラッグ回折を利用し
た音響光学光偏向素子を組み合わせて、物体上における
光束の集束位置を変化させる、と言う方法がとられてい
た。
【0010】しかしながら、(1)の方法では、走査範
囲の大きさは任意に選ぶことができるが、物体を高速で
移動させることは到底不可能なので、所定の走査領域の
信号を得るのに極めて長い時間を要すると言う問題があ
った。また、(2)の方法では、走査速度はかなり速く
なるが、充分とは言い難く、例えば、TVモニター画面
上にリアルタイムで物体像を表示することはできないと
言う問題があった。
囲の大きさは任意に選ぶことができるが、物体を高速で
移動させることは到底不可能なので、所定の走査領域の
信号を得るのに極めて長い時間を要すると言う問題があ
った。また、(2)の方法では、走査速度はかなり速く
なるが、充分とは言い難く、例えば、TVモニター画面
上にリアルタイムで物体像を表示することはできないと
言う問題があった。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】さらに、(3)の方法
では、水平方向走査(主走査)に上記の音響光学光偏向
素子用い、垂直方向走査(副走査)にガルバノミラー等
を用いることにより、走査速度は表示のリアルタイム性
を保つには充分となったが、上記音響光学光偏向素子に
光路可逆性がないために、物体からの散乱光が上記音響
光学光偏向素子による偏向方向に移動してしまい、1点
に集めることができず、走査型レーザー顕微鏡の特長で
ある共焦点性が厳密には守れないという欠点があった。
このため、分解能の低下、ハロの発生等が生じていた。
では、水平方向走査(主走査)に上記の音響光学光偏向
素子用い、垂直方向走査(副走査)にガルバノミラー等
を用いることにより、走査速度は表示のリアルタイム性
を保つには充分となったが、上記音響光学光偏向素子に
光路可逆性がないために、物体からの散乱光が上記音響
光学光偏向素子による偏向方向に移動してしまい、1点
に集めることができず、走査型レーザー顕微鏡の特長で
ある共焦点性が厳密には守れないという欠点があった。
このため、分解能の低下、ハロの発生等が生じていた。
【0012】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
ものであり、その目的は、異方ブラッグ回折音響光学光
偏向素子とガルバノミラー等の光偏向素子とを組み合わ
せて集束レーザー光束を物体上で2次元的に走査する反
射型走査型レーザー顕微鏡において、物体の各走査点か
らの散乱光を所定の静止した1点に集めて検出できるよ
うにして、走査型レーザー顕微鏡の共焦点性を厳密に実
現して、分解能の向上、ハロ、フレアの除去、浅い焦点
深度の実現等を図ることである。
ものであり、その目的は、異方ブラッグ回折音響光学光
偏向素子とガルバノミラー等の光偏向素子とを組み合わ
せて集束レーザー光束を物体上で2次元的に走査する反
射型走査型レーザー顕微鏡において、物体の各走査点か
らの散乱光を所定の静止した1点に集めて検出できるよ
うにして、走査型レーザー顕微鏡の共焦点性を厳密に実
現して、分解能の向上、ハロ、フレアの除去、浅い焦点
深度の実現等を図ることである。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の走査型レーザー顕微鏡は、光源からの光が進む順
に、少なくとも、異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子
と第2の光偏向素子とを配置して、物体上で集束光束を
2次元的に走査し、物体から散乱された光を検出する走
査型レーザー顕微鏡において、物体からの散乱光を第2
の光偏向素子と異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子と
を介して検出するようにし、かつ、異方ブラッグ回折音
響光学光偏向素子を偏向通過した物体からの散乱光の光
路中に第3の光偏向素子を配置して、異方ブラッグ回折
音響光学光偏向素子により偏向された物体からの散乱光
を第3の光偏向素子により逆の方向に偏向して静止させ
るようにしたことを特徴とするものである。
明の走査型レーザー顕微鏡は、光源からの光が進む順
に、少なくとも、異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子
と第2の光偏向素子とを配置して、物体上で集束光束を
2次元的に走査し、物体から散乱された光を検出する走
査型レーザー顕微鏡において、物体からの散乱光を第2
の光偏向素子と異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子と
を介して検出するようにし、かつ、異方ブラッグ回折音
響光学光偏向素子を偏向通過した物体からの散乱光の光
路中に第3の光偏向素子を配置して、異方ブラッグ回折
音響光学光偏向素子により偏向された物体からの散乱光
を第3の光偏向素子により逆の方向に偏向して静止させ
るようにしたことを特徴とするものである。
【0014】
【作用】本発明においては、物体からの散乱光を第2の
光偏向素子と異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子とを
介して検出するようにし、かつ、異方ブラッグ回折音響
光学光偏向素子を偏向通過した物体からの散乱光の光路
中に第3の光偏向素子を配置して、異方ブラッグ回折音
響光学光偏向素子により偏向された物体からの散乱光を
第3の光偏向素子により逆の方向に偏向して静止させる
ようにしたので、異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子
に光路可逆性がなくとも、検出器には常に物体上の集光
点のみからの散乱光が入射し、走査型レーザー顕微鏡の
共焦点性が厳密に満足される。そのため、ハロ、フレア
がなく、高分解能で、焦点深度の浅い共焦点型の走査型
レーザー顕微鏡を実現することができる。
光偏向素子と異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子とを
介して検出するようにし、かつ、異方ブラッグ回折音響
光学光偏向素子を偏向通過した物体からの散乱光の光路
中に第3の光偏向素子を配置して、異方ブラッグ回折音
響光学光偏向素子により偏向された物体からの散乱光を
第3の光偏向素子により逆の方向に偏向して静止させる
ようにしたので、異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子
に光路可逆性がなくとも、検出器には常に物体上の集光
点のみからの散乱光が入射し、走査型レーザー顕微鏡の
共焦点性が厳密に満足される。そのため、ハロ、フレア
がなく、高分解能で、焦点深度の浅い共焦点型の走査型
レーザー顕微鏡を実現することができる。
【0015】
【実施例】以下、図示した1実施例に基づき本発明の走
査型レーザー顕微鏡を詳細に説明する。図1は本発明の
1実施例の光学系を示す図であり、1はレーザー光源、
2はレーザー光源1を発した光を平行光束にしビーム径
を拡げるビームエキスパンダーである。ビームエキスパ
ンダー2の後方には、ハーフミラー等のビームスプリッ
ター3と、第1の光偏向素子である異方ブラッグ回折音
響光学光偏向素子(以下、AODと言う。)4がその順
に配置されており、AOD4は図の紙面内に高速で出射
光を偏向する(主走査)。AOD4の後方には、その偏
向面を前側焦点に一致させて第1正レンズ5が配置され
ており、また、その後側焦点と共焦点に第2正レンズ6
が配置されており、第1正レンズ5と第2正レンズ6は
テレセントリックリレーレンズ系を構成しており、第2
正レンズ6の後側焦点に一致するように、第2の光偏向
素子であるガルバノミラー7が配置されており、その入
射光束を紙面に垂直に偏向する(副走査)。ガルバノミ
ラー9を出た紙面内及び紙面に垂直な2方向に偏向され
る光束は、第2のテレセントリックリレーレンズ系を構
成している共焦点な第3正レンズ8、第4正レンズ9を
経て、対物レンズ10に導かれるが、第3正レンズ8の
前側焦点はガルバノミラー7の回転軸に一致し、第4正
レンズ9の後側焦点は対物レンズ10の入射瞳に一致す
るように配置されている。ビームスプリッター3で反射
された物体Sからの散乱光は、AOD4の偏向面を前側
焦点に一致させて配置された第5正レンズ11と、その
後側焦点と共焦点に配置された第6正レンズ12からな
る第3のテレセントリックリレーレンズ系を経て、偏向
補償用のAOD4と同様なAOD13に達するようにな
っており、AOD13は第6正レンズ12の後側焦点に
配置されている。そして、偏向補償用AOD13の後方
には結像レンズ14が配置されており、その結像位置に
ピンホール15が配置され、ピンホール15を通過した
光は、その後方に設けられた検出器16によって検出さ
れるようになっている。
査型レーザー顕微鏡を詳細に説明する。図1は本発明の
1実施例の光学系を示す図であり、1はレーザー光源、
2はレーザー光源1を発した光を平行光束にしビーム径
を拡げるビームエキスパンダーである。ビームエキスパ
ンダー2の後方には、ハーフミラー等のビームスプリッ
ター3と、第1の光偏向素子である異方ブラッグ回折音
響光学光偏向素子(以下、AODと言う。)4がその順
に配置されており、AOD4は図の紙面内に高速で出射
光を偏向する(主走査)。AOD4の後方には、その偏
向面を前側焦点に一致させて第1正レンズ5が配置され
ており、また、その後側焦点と共焦点に第2正レンズ6
が配置されており、第1正レンズ5と第2正レンズ6は
テレセントリックリレーレンズ系を構成しており、第2
正レンズ6の後側焦点に一致するように、第2の光偏向
素子であるガルバノミラー7が配置されており、その入
射光束を紙面に垂直に偏向する(副走査)。ガルバノミ
ラー9を出た紙面内及び紙面に垂直な2方向に偏向され
る光束は、第2のテレセントリックリレーレンズ系を構
成している共焦点な第3正レンズ8、第4正レンズ9を
経て、対物レンズ10に導かれるが、第3正レンズ8の
前側焦点はガルバノミラー7の回転軸に一致し、第4正
レンズ9の後側焦点は対物レンズ10の入射瞳に一致す
るように配置されている。ビームスプリッター3で反射
された物体Sからの散乱光は、AOD4の偏向面を前側
焦点に一致させて配置された第5正レンズ11と、その
後側焦点と共焦点に配置された第6正レンズ12からな
る第3のテレセントリックリレーレンズ系を経て、偏向
補償用のAOD4と同様なAOD13に達するようにな
っており、AOD13は第6正レンズ12の後側焦点に
配置されている。そして、偏向補償用AOD13の後方
には結像レンズ14が配置されており、その結像位置に
ピンホール15が配置され、ピンホール15を通過した
光は、その後方に設けられた検出器16によって検出さ
れるようになっている。
【0016】本発明の走査型レーザー顕微鏡は以上のよ
うな構成になっているので、レーザー光源1から出た光
束は、ビームエキスパンダー2により拡大したビーム径
の平行光束に変換され、ビームスプリッター3を通過し
て、AOD4により紙面内の主走査方向に印加超音波波
長に応じた角度偏向される。この偏向平行光束は、第1
正レンズ5により一旦集束され、第2正レンズ6により
再度平行光束に変換され、AOD4と共役な位置に配置
されたガルバノミラー7に入射し、これにより主走査方
向と直交する紙面に垂直な副走査方向に偏向される。こ
のようにして、紙面内の主走査方向及び紙面に垂直な副
走査方向に2次元的に偏向された光束は、第2のテレセ
ントリックリレーレンズ系を構成している第3正レンズ
8と第4正レンズ9により、対物レンズ10の入射瞳に
入射するが、この入射瞳はAOD4及びガルバノミラー
7と共役になっているので、入射瞳に入射する光束は、
偏向角に依存しない一定位置に入射する。この光束は、
対物レンズ10により物体S上で2次元走査する集光点
としてその面上に集束される。物体Sの集光点の情報を
含んだ散乱光束は、上記と逆の光路をたどってAOD4
に達する。
うな構成になっているので、レーザー光源1から出た光
束は、ビームエキスパンダー2により拡大したビーム径
の平行光束に変換され、ビームスプリッター3を通過し
て、AOD4により紙面内の主走査方向に印加超音波波
長に応じた角度偏向される。この偏向平行光束は、第1
正レンズ5により一旦集束され、第2正レンズ6により
再度平行光束に変換され、AOD4と共役な位置に配置
されたガルバノミラー7に入射し、これにより主走査方
向と直交する紙面に垂直な副走査方向に偏向される。こ
のようにして、紙面内の主走査方向及び紙面に垂直な副
走査方向に2次元的に偏向された光束は、第2のテレセ
ントリックリレーレンズ系を構成している第3正レンズ
8と第4正レンズ9により、対物レンズ10の入射瞳に
入射するが、この入射瞳はAOD4及びガルバノミラー
7と共役になっているので、入射瞳に入射する光束は、
偏向角に依存しない一定位置に入射する。この光束は、
対物レンズ10により物体S上で2次元走査する集光点
としてその面上に集束される。物体Sの集光点の情報を
含んだ散乱光束は、上記と逆の光路をたどってAOD4
に達する。
【0017】AOD4としては、例えば、二酸化テルル
の単結晶から<110>軸から傾けた方向に横波超音波
を伝搬させて音響光学効果によりレーザー光束を偏向さ
せるオフ<110>型異方ブラッグ回折音響光学光偏向
素子が用いられており、この素子4は、偏向角が大きい
ので、実用上充分な走査範囲と走査速度を有する走査型
レーザー顕微鏡を実現することができるが、異方性のた
め、光路を逆にたどることができる光路可逆性がないた
め、物体Sからの散乱光はAOD4を逆に通過すると、
主走査方向に偏向してしまい、1点に固定して集めるこ
とはできない。しかし、この移動はAOD4の偏向角と
関連しているので、AOD4を逆に通過した物体Sから
の散乱光を、ビームスプリッター3により光源1とは別
の方向に反射させて、第5正レンズ11と第6正レンズ
12からなる第3のテレセントリックリレーレンズ系を
経て偏向補償用AOD13の一定位置に入射させ、この
AOD13によりこの偏向を補償するようにする。こう
すると、AOD13から出射する光束は、AOD4の偏
向角に係わらず常に静止するので、結像レンズ14によ
りピンホール15に集光してハロを取り除き、通過した
光のみを検出器16により検出するようにすることによ
り、図7で説明した共焦点性を満足させることができ
る。そのためには、偏向補償用AOD13に印加する駆
動信号をAOD4に印加する駆動信号と予め関連付けて
おき、AOD4の偏向角に応じた角度に偏向補償用AO
D13で偏向させるようにすればよい。このようにし
て、ハロ、フレアがなく、高分解能で、焦点深度の浅い
共焦点型の走査型レーザー顕微鏡を実現することができ
る。なお、偏向補償用AOD13としては、必ずしも異
方ブラッグ回折を利用したものを用いる必要はなく、等
方ブラッグ回折を利用する音響光学光偏向素子、電気光
学光偏向素子等を用いてもよい。
の単結晶から<110>軸から傾けた方向に横波超音波
を伝搬させて音響光学効果によりレーザー光束を偏向さ
せるオフ<110>型異方ブラッグ回折音響光学光偏向
素子が用いられており、この素子4は、偏向角が大きい
ので、実用上充分な走査範囲と走査速度を有する走査型
レーザー顕微鏡を実現することができるが、異方性のた
め、光路を逆にたどることができる光路可逆性がないた
め、物体Sからの散乱光はAOD4を逆に通過すると、
主走査方向に偏向してしまい、1点に固定して集めるこ
とはできない。しかし、この移動はAOD4の偏向角と
関連しているので、AOD4を逆に通過した物体Sから
の散乱光を、ビームスプリッター3により光源1とは別
の方向に反射させて、第5正レンズ11と第6正レンズ
12からなる第3のテレセントリックリレーレンズ系を
経て偏向補償用AOD13の一定位置に入射させ、この
AOD13によりこの偏向を補償するようにする。こう
すると、AOD13から出射する光束は、AOD4の偏
向角に係わらず常に静止するので、結像レンズ14によ
りピンホール15に集光してハロを取り除き、通過した
光のみを検出器16により検出するようにすることによ
り、図7で説明した共焦点性を満足させることができ
る。そのためには、偏向補償用AOD13に印加する駆
動信号をAOD4に印加する駆動信号と予め関連付けて
おき、AOD4の偏向角に応じた角度に偏向補償用AO
D13で偏向させるようにすればよい。このようにし
て、ハロ、フレアがなく、高分解能で、焦点深度の浅い
共焦点型の走査型レーザー顕微鏡を実現することができ
る。なお、偏向補償用AOD13としては、必ずしも異
方ブラッグ回折を利用したものを用いる必要はなく、等
方ブラッグ回折を利用する音響光学光偏向素子、電気光
学光偏向素子等を用いてもよい。
【0018】次に、各光偏向素子の駆動及び検出信号の
処理について簡単に説明する。AOD4及びガルバノミ
ラー7による偏向角を同期して連続的、アナログ的に変
え、集光点をラスター走査して物体Sの表面像を得るこ
とも有効であるが、照射する位置を特定することが困難
であり、また、照射位置とそこから得られる情報の対応
がとり難い等の問題もある。そこで、これらの光偏向素
子4、7の偏向角を相互に同期して所定間隔でデジタル
的に変え、検出面を直交する2方向に所定間隔で碁盤の
目状に区切り、各画素からその位置の情報をデジタル情
報として検出すうようにする。図1にこのための構成も
示してある。すなわち、AOD4のドライバ21、ガル
バノミラー7の駆動コイル22のドライバ23はCPU
20により制御されるようになっており、図に偏向角を
示すように、AOD4は画面の主走査方向を一定間隔で
飛び飛びに偏向するように制御される。また、ガルバノ
ミラー7は、AOD4が画面の主走査方向1辺を走査す
る毎に副走査方向に一定間隔分だけ偏向角を増加するよ
うに制御される。そして、偏向補償用AOD13用のド
ライバ24に加える信号とAOD4のドライバ21に加
える信号の対応テーブルが予めROM26に記憶されて
おり、このテーブルを参照にして、AOD4の駆動と同
期してドライバ24を介して偏向補償用AOD16が動
作され、検出器16により物体Sの照射点からの散乱光
の強度が検出される。検出器16からの検出信号は、A
/D変換器25により所定数の諧調、例えば256諧調
(8ビット諧調)のデジタル濃度情報に変換され、CP
U20を経てフレームメモリ27に各画素の番地と対応
して記憶される。そして、このフレームメモリ27に記
憶された物体Sの形態情報又はCPU20により所定の
画像処理された情報がTVモニタ26に表示されるよう
になっている。
処理について簡単に説明する。AOD4及びガルバノミ
ラー7による偏向角を同期して連続的、アナログ的に変
え、集光点をラスター走査して物体Sの表面像を得るこ
とも有効であるが、照射する位置を特定することが困難
であり、また、照射位置とそこから得られる情報の対応
がとり難い等の問題もある。そこで、これらの光偏向素
子4、7の偏向角を相互に同期して所定間隔でデジタル
的に変え、検出面を直交する2方向に所定間隔で碁盤の
目状に区切り、各画素からその位置の情報をデジタル情
報として検出すうようにする。図1にこのための構成も
示してある。すなわち、AOD4のドライバ21、ガル
バノミラー7の駆動コイル22のドライバ23はCPU
20により制御されるようになっており、図に偏向角を
示すように、AOD4は画面の主走査方向を一定間隔で
飛び飛びに偏向するように制御される。また、ガルバノ
ミラー7は、AOD4が画面の主走査方向1辺を走査す
る毎に副走査方向に一定間隔分だけ偏向角を増加するよ
うに制御される。そして、偏向補償用AOD13用のド
ライバ24に加える信号とAOD4のドライバ21に加
える信号の対応テーブルが予めROM26に記憶されて
おり、このテーブルを参照にして、AOD4の駆動と同
期してドライバ24を介して偏向補償用AOD16が動
作され、検出器16により物体Sの照射点からの散乱光
の強度が検出される。検出器16からの検出信号は、A
/D変換器25により所定数の諧調、例えば256諧調
(8ビット諧調)のデジタル濃度情報に変換され、CP
U20を経てフレームメモリ27に各画素の番地と対応
して記憶される。そして、このフレームメモリ27に記
憶された物体Sの形態情報又はCPU20により所定の
画像処理された情報がTVモニタ26に表示されるよう
になっている。
【0019】このように、走査型レーザー顕微鏡の2次
元走査を所定間隔でデジタル化し、また、検出情報を所
定の諧調数にデジタル化することにより、視野が自由に
選択でき、レーザー光の照射位置とそこからの情報の対
応を簡単に行うことができ、物体の測長、測積等が容易
になると共に、得られた形態情報に簡単に画像処理を行
うことができるようになる。
元走査を所定間隔でデジタル化し、また、検出情報を所
定の諧調数にデジタル化することにより、視野が自由に
選択でき、レーザー光の照射位置とそこからの情報の対
応を簡単に行うことができ、物体の測長、測積等が容易
になると共に、得られた形態情報に簡単に画像処理を行
うことができるようになる。
【0020】以上、本発明の走査型レーザー顕微鏡を実
施例に基づいて説明してきたが、本発明はこれら実施例
に限定されず種々の変形が可能である。
施例に基づいて説明してきたが、本発明はこれら実施例
に限定されず種々の変形が可能である。
【0021】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の走査型レーザー顕微鏡によると、物体からの散乱光を
第2の光偏向素子と異方ブラッグ回折音響光学光偏向素
子とを介して検出するようにし、かつ、異方ブラッグ回
折音響光学光偏向素子を偏向通過した物体からの散乱光
の光路中に第3の光偏向素子を配置して、異方ブラッグ
回折音響光学光偏向素子により偏向された物体からの散
乱光を第3の光偏向素子により逆の方向に偏向して静止
させるようにしたので、異方ブラッグ回折音響光学光偏
向素子に光路可逆性がなくとも、検出器には常に物体上
の集光点のみからの散乱光が入射し、走査型レーザー顕
微鏡の共焦点性が厳密に満足される。そのため、ハロ、
フレアがなく、高分解能で、焦点深度の浅い共焦点型の
走査型レーザー顕微鏡を実現することができる。
の走査型レーザー顕微鏡によると、物体からの散乱光を
第2の光偏向素子と異方ブラッグ回折音響光学光偏向素
子とを介して検出するようにし、かつ、異方ブラッグ回
折音響光学光偏向素子を偏向通過した物体からの散乱光
の光路中に第3の光偏向素子を配置して、異方ブラッグ
回折音響光学光偏向素子により偏向された物体からの散
乱光を第3の光偏向素子により逆の方向に偏向して静止
させるようにしたので、異方ブラッグ回折音響光学光偏
向素子に光路可逆性がなくとも、検出器には常に物体上
の集光点のみからの散乱光が入射し、走査型レーザー顕
微鏡の共焦点性が厳密に満足される。そのため、ハロ、
フレアがなく、高分解能で、焦点深度の浅い共焦点型の
走査型レーザー顕微鏡を実現することができる。
【図1】本発明の走査型レーザー顕微鏡の1実施例の光
学系を示す図である。
学系を示す図である。
【図2】従来型の顕微鏡の光路図を模式的に示す図であ
る。
る。
【図3】円形開口によるフラウンホーファー回折光の強
度分布を示す図である。
度分布を示す図である。
【図4】ピンホールによりハロを取る方法を説明するた
めの図である。
めの図である。
【図5】走査型顕微鏡の第1のタイプの光路図を模式的
に示す図である。
に示す図である。
【図6】走査型顕微鏡の第2のタイプの光路図を模式的
に示す図である。
に示す図である。
【図7】共焦点型の走査型顕微鏡の光路図を模式的に示
す図である。
す図である。
【図8】共焦点型の場合の円形開口による回折光の強度
分布を示す図である。
分布を示す図である。
【図9】共焦点走査型顕微鏡におけるピンホールの作用
を説明するための図である。
を説明するための図である。
S…物体(試料) 1…レーザー光源 2…ビームエキスパンダー 3…ビームスプリッター 4…異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子(AOD) 5…第1正レンズ 6…第2正レンズ 7…ガルバノミラー 8…第3正レンズ 9…第4正レンズ 10…対物レンズ 11…第5正レンズ 12…第6正レンズ 13…偏向補償用AOD 14…結像レンズ 15…ピンホール 16…検出器 20…CPU 21…AODドライバ 22…駆動コイル 23…ガルバノミラードライバ 24…偏向補償用AODドライバ 25…A/D変換器 26…ROM 27…フレームメモリ 28…TVモニタ
Claims (1)
- 【請求項1】 光源からの光が進む順に、少なくとも、
異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子と第2の光偏向素
子とを配置して、物体上で集束光束を2次元的に走査
し、物体から散乱された光を検出する走査型レーザー顕
微鏡において、物体からの散乱光を第2の光偏向素子と
異方ブラッグ回折音響光学光偏向素子とを介して検出す
るようにし、かつ、異方ブラッグ回折音響光学光偏向素
子を偏向通過した物体からの散乱光の光路中に第3の光
偏向素子を配置して、異方ブラッグ回折音響光学光偏向
素子により偏向された物体からの散乱光を第3の光偏向
素子により逆の方向に偏向して静止させるようにしたこ
とを特徴とする走査型レーザー顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP987592A JPH05196872A (ja) | 1992-01-23 | 1992-01-23 | 走査型レーザー顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP987592A JPH05196872A (ja) | 1992-01-23 | 1992-01-23 | 走査型レーザー顕微鏡 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05196872A true JPH05196872A (ja) | 1993-08-06 |
Family
ID=11732330
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP987592A Withdrawn JPH05196872A (ja) | 1992-01-23 | 1992-01-23 | 走査型レーザー顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05196872A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11409199B2 (en) * | 2017-10-25 | 2022-08-09 | Nikon Corporation | Pattern drawing device |
-
1992
- 1992-01-23 JP JP987592A patent/JPH05196872A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11409199B2 (en) * | 2017-10-25 | 2022-08-09 | Nikon Corporation | Pattern drawing device |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990408 |