JPH05192317A - X線透視装置 - Google Patents

X線透視装置

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JPH05192317A
JPH05192317A JP4008933A JP893392A JPH05192317A JP H05192317 A JPH05192317 A JP H05192317A JP 4008933 A JP4008933 A JP 4008933A JP 893392 A JP893392 A JP 893392A JP H05192317 A JPH05192317 A JP H05192317A
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JP
Japan
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liquid crystal
image
light
filter
output
Prior art date
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Application number
JP4008933A
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English (en)
Inventor
Kazuji Imamura
和司 今村
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Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
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Publication date
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  • Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 操作が簡単であるにも拘らず部分的なハレー
ションを抑え、全領域にわたって適正な明るさの画像を
得ることができる。 【構成】 被検体を透過したX線像を可視光像に変換す
るイメージインテンシファイア1と、このイメージイン
テンシファイアの可視光像を撮像するTVカメラ撮像装
置5とを備えたX線透視装置において、液晶素子をマト
リックス状に配置させてなり前記イメージインテンシフ
ァイアとTVカメラ撮像装置との間に介在させた液晶フ
ィルタ6と、前記TV撮像装置からの出力により該出力
に対応する前記液晶フィルタの液晶素子の光透過および
光遮断を制御する制御手段とからなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はX線透視装置に係り、特
に、光制御の可能なX線透視装置に関する。
【0002】
【従来の技術】X線透視装置は、X線像をイメージ・イ
ンテンシファイア(I.I.と称する場合もあり)で可
視光像に変換し、この可視光像をTVカメラで撮像し、
このTVカメラの出力信号を直接、またはディジタル画
像処理装置を介してTVモニタに表示する装置である。
【0003】そして、この種のX線透視装置において
は、画像濃度のダイナミックレンジがI.I.の二次螢
光面(出力面)については広いが、TVカメラ部におい
て狭くなることから、モニタ像が明る過ぎてハレーショ
ンが生じたり、あるいは暗すぎたりしやすい。
【0004】そこで、従来では、たとえばI.I.とT
Vカメラとの間に機械的な光学絞りを設置し、I.I.
の二次螢光面からの可視光像の濃度範囲を押さえるよう
にしたもの、あるいは、X線をI.I.入射以前に部分
的に減弱させることのできるX線補償フィルタを設置
し、I.I.入射前においてX線分布のダイナミックレ
ンジを抑えてI.I.出力面からの可視光像の濃度範囲
を抑えるようにしたものが知られている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者の
場合、画像全領域について均等に光量制御するもので、
部分的に光量制御することができないものであった。
【0006】また、後者の場合、このような問題はない
が、モニタ画面を逐次見ながら、適当な箇所におけるフ
ィルタのそれぞれを手動で挿入して調整しなければなら
ず、操作が極めて煩雑になるという問題点を残してい
た。
【0007】それ故、本発明は、このような事情に基づ
いてなされたものであり、その目的とするところのもの
は、操作が簡単であるにも拘らず、画像のハレーション
を抑えることができるようにしたX線透視装置を提供す
るものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、基本的には、被検体を透過したX
線像を可視光像に変換するイメージインテンシファイア
と、このイメージインテンシファイアの可視光像を撮像
するTVカメラ撮像装置とを備えたX線透視装置におい
て、液晶素子をマトリックス状に配置させてなり前記イ
メージインテンシファイアとTVカメラ撮像装置との間
に介在させた液晶フィルタと、前記TV撮像装置からの
出力により該出力に対応する前記液晶フィルタの液晶素
子の光透過および光遮断を制御する制御手段とからなる
ことを特徴とするものである。
【0009】また、このような技術を前提に、前記液晶
フィルタは、並設する複数の液晶素子毎に液晶ブロック
素子を構成し、各液晶ブロック素子における光透過状態
の液晶素子の数を変化させることにより光透過率を可変
するようにしたことを特徴とするものである。
【0010】
【作用】このように構成したX線透視装置は、特に、イ
メージインテンシファイアとTV撮像装置との間に液晶
フィルタを介在させたものとなっている。そして、この
液晶フィルタは液晶素子をマトリックス状に配置させた
ものであり、かつ各液晶素子はそれぞれTV撮像装置か
らの出力に基づき該出力に対応する部分にて光透過およ
び光遮断が制御されるようになっている。
【0011】したがって、このように画像全領域に対応
する液晶フィルタの領域においてそれぞれ光透過時およ
び光遮断時の透過率制御をすることにより、画像全領域
にわたって均等な光量制御ができるようになる。
【0012】また、並設する複数の液晶素子毎に液晶ブ
ロック素子を構成し、これら各液晶ブロック素子におけ
る光透過状態の液晶素子の数を変化させるようにしてい
ることから、液晶ブロック素子毎の領域ごとに適正な光
透過率をもたせることができるようになる。
【0013】このことから、画像各部ごとに光量制御が
できるようになり、部分的なハレーションを抑えること
ができる。
【0014】また、このような制御は、TV撮像装置か
らの出力に基づいて自動的に行ない得ることから、操作
が極めて容易となる。
【0015】
【実施例】図1は、本発明によるX線透視装置の一実施
例を示した概略構成図である。
【0016】同図において、まず、イメージインテンシ
ファイア(I.I.)1があり、このI.I.1は図示
しない被検体を透過したX線像を可視光像に変換するも
のであり、該可視光像は二次螢光面2に結像するように
なっている。
【0017】そして、前記可視光像は、本実施例で特に
設置した液晶フィルタ6を、そしてたとえばタンデムレ
ンズからなる光学レンズ3、4を、それぞれ介してTV
カメラ撮像管5に結像されるようになっている。
【0018】ここで、前記液晶フィルタ6は、光の透過
あるいは遮断のいずれかの特性を示す液晶素子をマトリ
ックス(n×m)状に配設させて構成したものである。
【0019】そして、前記TVカメラ撮像管5からの出
力は、増幅器7を介してA/D変換器8に入力され、こ
のA/D変換器8によってディジタル化されるようにな
っている。
【0020】次に、A/D変換器8からの出力はマトリ
ックス変換回路9に入力されるようになっている。この
マトリックス変換回路9は、前記液晶フィルタ9の各液
晶素子に対応させた信号をサンプリングあるいは平均に
より形成する回路となっている。けだし、TVカメラ撮
像管5における画像マトリックスから順次出力される各
信号は液晶フィルタ6のそれよりも極めて多いことが通
常であることから、前記各信号において液晶フィルタ6
の各液晶素子に対応する信号群から一の信号をサンプリ
ングしたり、あるいは平均化して一の信号を形成するよ
うにしているものである。
【0021】しかし、この実施例では、特に、図2に示
すように、マトリックス状に配置された液晶素子6Aを
2×2個からなる4個を一ブロック素子として合計nm
/4個の液晶ブロック素子6Bを構成し、前記マトリッ
クス変換回路9によって、これら各液晶ブロック素子に
対応する各信号群から一の信号をサンプリングしたり、
あるいは平均化して一の信号を形成するようになってい
る。すなわち、図3(a)は、TVカメラ撮像管5から
の出力に対応する画像マトリックスに対して、図3
(b)は、液晶フィルタ6の液晶ブロック素子マトリッ
クスである。一の液晶ブロック素子に対応して配置され
るa×b個の画像信号はそれぞれ平均化され、あるいは
サンプリングされて該液晶ブロック素子に対応する処理
信号として形成されるようになっている。
【0022】なお、ここで、上述の液晶ブロック素子を
構成したのは、図4を用いて後に詳述するように、各液
晶ブロック素子毎にそれぞれ5通りの光透過状態(光遮
断の場合を含めて)を形成できるようにするためであ
る。
【0023】このようにして、液晶フィルタ6における
各ブロック素子に対応して得られた変換信号は、ルック
アップテーブル10に入力されるようになっている。こ
のルックアップテーブル10は、前記変換信号に対して
該変換信号に対応する液晶フィルタ6の液晶ブロック素
子におけるフィルタパターンを図4(a)ないし(e)
に示す5通りのうちいずれかにするかの情報がたとえば
ROM等によって記憶されている。ここで、図4(a)
は、液晶ブロック素子を構成する4個の液晶素子がそれ
ぞれ全て光透過状態となっているフィルタパターンであ
る。図4(b)は、3個の液晶素子が光透過状態となっ
ているフィルタパターンである。図4(c)は、2個の
液晶素子が光透過状態となっているフィルタパターンで
ある。図4(d)は、1個の液晶素子が光透過状態とな
っているフィルタパターンである。図4(e)は、液晶
ブロック素子を構成する4個の液晶素子がそれぞれ全て
光遮断状態となっているフィルタパターンである。
【0024】ルックアップテーブル10には、図5に示
すデータが格納されている。図中、曲線AないしEは、
それぞれ図4(a)ないし(e)の状態において用いる
データとなっている。すなわち、図1に示すように、ル
ックアップテーブル10からの出力はメモリ11に一旦
格納され、その出力が該ルックアップテーブル10に入
力されていることから、現時点における液晶ブロック素
子6Bの光透過状態が確認されており、この光透過状態
を前提として前記マトリックス変換回路9からの情報に
基づいて次の光透過状態を決定するようになっている。
すなわち、現時点の液晶透過状態がたとえば図4(a)
に示すようになっている場合、図5のグラフに示す曲線
Aによって、画像データ値(マトリックス変換回路9か
らの出力値)に対するフィルタパターンを決定するよう
になっている。この曲線Aの特性から明らかなように、
現在の画像データが適当な明るさであればフィルタパタ
ーンは現在のままとし、明かる過ぎればより光透過率の
低いフィルタパターンに設定できるようになっている。
【0025】そして、このようにルックアップテーブル
10によって得られた出力情報は、一旦メモリ11に格
納され、フィルタ制御回路12に出力されるようになっ
ている。なお、上述したように、メモリ11からの出力
としては前記ルックアップメモリ10にも入力されるよ
うになって次のフィルタパターンを決めるための前提情
報となるようになっている。
【0026】フィルタ制御回路12は、前記液晶フィル
タ9の各液晶素子における光透過あるいは光遮断を制御
するものであるが、この際、各液晶ブロック素子毎に図
4(a)ないし(e)に示すフィルタパターンが選択さ
れて制御されるようになっている。
【0027】なお、ここで、前記液晶フィルタ9は、後
段における光学レンズ3、4の焦点からずらして配置さ
せることが好適となる。けだし、液晶フィルタ9は光遮
断領域を形成することによりその機能を持たせているこ
とから、該光遮断領域をぼけさせることにより画像観察
における問題点を回避させるためである。
【0028】そして、さらに、前記フィルタ制御回路1
2には積算回路13からの出力が入力され、前記液晶フ
ィルタ6にいわゆる絞り機能をもたせるようになってい
る。
【0029】前記積算回路13の詳細な回路図を図6に
示している。同図において、A/D変換器8からの出力
は加算器14に入力されるようになっている。この加算
器14では1TVフィールドの全部の画素値を加算する
ようになっている。ここで、TVフィールド開始時、ラ
ッチ15はゼロクリアされており、ラッチ15の保持す
る値と画像データ値を加算器14で加算し再びラッチ1
5に保持させるようにしている。したがってこのような
操作を全画素について行えば、1TVフィールド終了時
にラッチ15に保持されている値が1フィールドの全画
素を加算した値となる。
【0030】この値を画素数で除算すれば平均画素値と
なる。画素数は定数なので、特に画素数で除算しなくて
も、加算値そのもの、あるいは加算値を適当な定数で除
算した値は該フィールドの平均的明るさと見做すことが
できる。
【0031】そして、ルックアップテーブル16には、
画素の平均明るさに対して液晶フィルタにどの程度のオ
フセット電圧を加えればよいかがテーブルとして書き込
まれている。このため、ラッチ15に平均明るさがラッ
チされれば、ルックアップテーブル16からはオフセッ
ト電圧データが出力されてラッチ17に保持されるよう
になっている。
【0032】そして、オフセット電圧データはD/A変
換器18によりアナログ電圧に変換せられ、フィルタ制
御回路12において液晶フィルタ6への印加電圧に加え
られるようになっている。
【0033】ここで、ルックアップテーブル16では、
次のフィールドのオフセット電圧データを決定する場
合、現在のオフセット電圧データをラッチ17よりフィ
ードバックし、このオフセット電圧データと入力される
平均明るさのデータとに基づいて決定するようになって
いる。
【0034】以上説明した実施例によるX線透視装置に
よれば、特に、イメージインテンシファイア1とTV撮
像管5との間に液晶フィルタ6を介在させたものとなっ
ている。そして、この液晶フィルタ6は液晶素子をマト
リックス状に配置させたものであり、かつ各液晶素子は
それぞれTV撮像管5からの出力に基づき該出力に対応
する部分にて光透過および光遮断が制御されるようにな
っている。
【0035】したがって、このように画像全領域に対応
する液晶フィルタの領域においてそれぞれ光透過および
光遮断制御ができることから、部分的なハレーションを
抑え、かつ全領域にわたって適正な明るさの画像を得る
ことができるようになる。
【0036】また、このような制御は、TV撮像管5か
らの出力に基づいて自動的に行ない得ることから、操作
が極めて容易となる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明によるX線透視装置によれば、操作が簡単である
にも拘らず、部分的なハレーションを抑え、全領域にわ
たって適正な明るさの画像を得ることができるようにな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるX線透視装置の一実施例を示す概
略構成図である。
【図2】本発明によるX線透視装置に用いられる液晶フ
ィルタにおいて液晶ブロック素子を構成する場合を説明
した説明図である。
【図3】本発明によるX線透視装置におけるマトリック
ス変換回路の動作を説明するための説明図である。
【図4】本発明によるX線透視装置における液晶フィル
タの液晶ブロック素子の光透過率変化を説明するための
説明図である。
【図5】本発明によるX線透視装置におけるルックアッ
プテーブルに格納されている情報を示す説明図である。
【図6】本発明によるX線透視装置における積算回路の
詳細な一実施例を示す回路ブロック図である。
【符号の説明】
1 イメージインテンシファイア 5 TVカメラ撮像管 6 液晶フィルタ 6A 液晶素子 6B 液晶ブロック素子 9 マトリックス変換回路 10 ルックアップテーブル

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検体を透過したX線像を可視光像に変
    換するイメージインテンシファイアと、このイメージイ
    ンテンシファイアの可視光像を撮像するTVカメラ撮像
    装置とを備えたX線透視装置において、液晶素子をマト
    リックス状に配置させてなり前記イメージインテンシフ
    ァイアとTVカメラ撮像装置との間に介在させた液晶フ
    ィルタと、前記TV撮像装置からの出力により該出力に
    対応する前記液晶フィルタの液晶素子の光透過および光
    遮断を制御する制御手段とからなることを特徴とするX
    線透視装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の発明において、前記液晶
    フィルタは、並設する複数の液晶素子毎に液晶ブロック
    素子を構成し、各液晶ブロック素子における光透過状態
    の液晶素子の数を変化させることにより光透過率を可変
    するようにしたことを特徴とするX線透視装置。
JP4008933A 1992-01-22 1992-01-22 X線透視装置 Pending JPH05192317A (ja)

Priority Applications (1)

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JP4008933A JPH05192317A (ja) 1992-01-22 1992-01-22 X線透視装置

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JP4008933A JPH05192317A (ja) 1992-01-22 1992-01-22 X線透視装置

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JPH05192317A true JPH05192317A (ja) 1993-08-03

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JP4008933A Pending JPH05192317A (ja) 1992-01-22 1992-01-22 X線透視装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100435108B1 (ko) * 2000-02-16 2004-06-09 삼성전자주식회사 방사선 검사시스템 및 검사방법
KR100676696B1 (ko) * 2000-02-16 2007-01-31 삼성전자주식회사 방사선 검사시스템 및 검사방법
US8131037B2 (en) 2007-08-14 2012-03-06 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging apparatus and method of controlling the same

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KR100435108B1 (ko) * 2000-02-16 2004-06-09 삼성전자주식회사 방사선 검사시스템 및 검사방법
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