JPH0519013A - バーイン方法およびその装置 - Google Patents

バーイン方法およびその装置

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JPH0519013A
JPH0519013A JP3171088A JP17108891A JPH0519013A JP H0519013 A JPH0519013 A JP H0519013A JP 3171088 A JP3171088 A JP 3171088A JP 17108891 A JP17108891 A JP 17108891A JP H0519013 A JPH0519013 A JP H0519013A
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JP
Japan
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socket
semiconductor integrated
integrated circuit
burn
film carrier
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JP3171088A
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English (en)
Inventor
Kunio Komuro
邦雄 古室
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DAINAMEESHIYON KK
Original Assignee
DAINAMEESHIYON KK
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays

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  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
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  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】この発明は、簡単な装置で正確かつ迅速にフィ
ルムキャリアに搭載された半導体集積回路素子をICソ
ケットにセットできる自動化の容易なバーイン方法およ
びその装置を提供することを目的としている。 【構成】長いテープ状フィルムキャリアに搭載された多
数の半導体集積回路素子を恒温槽内でバーインする方法
において、駆動信号入力用の回路基板を内部に取り付
け、螺旋状にレールを巻き付けた円筒状枠体のレールの
側面に開閉の容易なICソケットを配設し、円筒状枠体
を回転させながら、開放状態のICソケットに前記フィ
ルムキャリアに搭載された半導体集積回路素子を順次セ
ットしてICソケットを閉鎖し、この状態で恒温槽内に
おいて高温でバーインすることを特徴とするものであ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体集積回路素子
のバーイン方法および装置に関し、特に、長いテープ状
フィルムキャリアに搭載された多数の半導体集積回路素
子をバーインする方法および装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、既に、フィルムキャリアに搭載さ
れた半導体集積回路素子をテープ状で連続したままでバ
ーインすることは知られている(特開平2ー27537
6号公報)。すなわち、図4に示されるように、恒温槽
内に円筒状の支持体3’を設け、その表面に駆動信号入
力用の回路基板4’を巻き付け、その回路基板2上に螺
旋状にICソケット10を配置した装置を使用し、その
ICソケット10に、フィルムキャリア1に搭載した半
導体集積回路素子2をセットしながらテープ状で連続的
に円筒状の支持体1に螺旋状に巻き付けた状態とし、こ
の状態にて半導体集積回路素子2にICソケット10を
介して駆動信号を入力させ、かつ恒温槽内を高温に保っ
てバーインを行うものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
方法では、ICソケットにフィルムキャリアに搭載され
た半導体集積回路素子をセットしながら円筒状の支持体
に螺旋状に巻き付けるので正確かつ迅速な作業を要し、
これを自動化することは難しかった。すなわち、ガイド
のない回路基板上に半導体回路素子を搭載したフィルム
キャリアを巻き付けるのは、微妙な運動と確実な制御を
要し、装置に多額のコストを要し、しかも正確かつ迅速
に処理することが困難であった。
【0004】この発明は、簡単な装置で正確かつ迅速に
フィルムキャリアに搭載された半導体集積回路素子をI
Cソケットにセットできる自動化の容易なバーイン方法
およびその装置を提供することを目的としている。
【0005】上記目的を達成するために、方法の発明
は、長いテープ状フィルムキャリアに搭載された多数の
半導体集積回路素子を恒温槽内でバーインする方法にお
いて、駆動信号入力用の回路基板を内部に取り付け、螺
旋状にレールを巻き付けた円筒状枠体のレールの側面に
容易に開閉できるICソケットを配設し、円筒状枠体を
回転させながら、開放状態のICソケットに前記フィル
ムキャリアに搭載された半導体集積回路素子を順次セッ
トしてICソケットを閉鎖し、この状態で恒温槽内にお
いて高温でバーインするものである。
【0006】また、装置の発明は、長いテープ状フィル
ムキャリアに搭載された多数の半導体集積回路素子を恒
温槽内でバーインするためのバーイン装置において、回
転可能に支持され、駆動信号入力用の回路基板を内部に
取り付けた円筒状枠体と、この円筒状枠体に螺旋状に巻
き付けられたレールと、このレールの側面に所定の間隔
で配設された多数のICソケットと、このICソケット
に設けられた開閉の容易な開閉手段とからなり、円筒状
枠体を回転させながらICソケットに半導体集積回路素
子を正確かつ迅速にセットできるものである。
【0007】
【作用】回転可能に支持され、駆動信号入力用の回路基
板を内部に取り付けた円筒状枠体に、螺旋状に巻き付け
られたレールの側面に開閉の容易な開閉手段を有する多
数のICソケットを配設し、このICソケットを開放し
た状態で円筒状枠体を回転させながらフィルムキャリア
に搭載された多数の半導体集積回路素子をそのICソケ
ットにセットし、ICソケットを閉鎖するので、バーイ
ンするための半導体集積回路素子のセットが迅速かつ正
確に行われるばかりでなく、フィルムキャリアの供給速
度と円筒状枠体の回転速度とを同期させ、かつICソケ
ットの開閉を自動的に行い得るようにすることによっ
て、半導体集積回路素子のバーインのためのセットを自
動的に行うことができる。
【0008】
【実施例】以下、この発明の方法の実施例を図に示され
たバーイン装置を利用して行う場合について説明する。
なお、図中、同一符号は、同一または相当部分を表して
いる。
【0009】図1において、1は多数の半導体集積回路
素子2を搭載した長いテープ状フィルムキャリアであ
る。3は円筒状枠体で、軸5と、この軸5の両端部から
放射状に延びる各4本の放射軸6と、これらの放射軸6
の先端に設けられた円形枠7,7と、この円形枠7,7
に固着された桟枠8,8・・とからなり、軸受台9,9
にその軸5が回転可能に受けられている。この円筒状枠
体3の内部、すなわち軸5と放射軸6には半導体集積回
路素子2の性能をテストするための駆動信号入力用の回
路基板4が設けられている。
【0010】図2に示されるICソケット10は、円筒
状枠体3に螺旋状に巻き付けられて固着されたレールの
側面にねじ22,22(図3参照)所定間隔(半導体集
積回路素子2の搭載間隔)に固着されている。このIC
ソケット10は、取付部13を有する基板12と、この
基板に枢動可能に枢着される開閉板14と、基板12の
開閉板14の枢着部の反対端に枢着される係止部材15
とからなっている。
【0011】図2に示されるように、ICソケット10
は、ワンタッチで開閉できるように枢軸16および17
にばね18,19が設けられ、開閉板14と係止部材1
5とが図の停止位置にあるように付勢されている。ま
た、図示されていないが、基板12上には半導体集積回
路素子2に駆動信号を入力するための多数の端子が設け
られている。なお、20,20はフィルムキャリアの位
置決め用の突子であり、21,21は突子20,20の
嵌入する穴である。
【0012】図3には、ICソケット10に半導体集積
回路素子2を搭載したフィルムキャリア1がセットされ
る状態が、係止部材15を省略して示されている。図2
に示されるように、係止部材15の頂部15aは内側に
傾斜しており、基板12に向けて開閉板14をばね18
の付勢力に抗して押圧すると、開閉板14はワンタッチ
で容易に閉鎖位置に係止される。また、開放する場合に
は、係止部材15の下端15bをばね19の付勢力に抗
して内方に押圧すれば、開閉板14は(ワンタッチで)
ばね18の付勢力により容易に開放される。
【0013】ICソケット10にフィルムキャリア1に
搭載された半導体集積回路素子2をセットするには、フ
ィルムキャリア1を円筒状枠体3の回転速度と同期する
速度で供給し、半導体集積回路素子2のセットされたI
Cソケット10を同じ位置で順次閉鎖し、この状態で約
30〜70℃の温度の恒温槽(図示されていない)に入
れ、各半導体集積回路素子2に駆動信号を入力して、各
素子のテストを行う。
【0014】この発明の装置を用いることにより、半導
体集積回路素子を正確かつ迅速にICソケットにセット
することができ、従来の方法に比して作業効率を大幅に
向上させることができる。また、駆動信号入力用の回路
基板が円筒状枠体の内部に設けられているので、半導体
集積回路素子のICソケットへのセットに邪魔になるこ
ともない。
【0015】円筒状枠体は、内部の回路基板から多数の
配線を行うことのできる空間の多い構造のものが特に好
ましい。また、ICソケットの開閉手段は電磁石等を利
用して電気的に行うことができる。
【0016】
【発明の効果】この発明によれば、ICソケットを円筒
状枠体の回転により進行させ、同時にフイルムキャリア
に搭載された半導体集積回路素子供給しながら半導体集
積回路素子をICソケットにセットできるので、セット
を正確かつ迅速に行うことができる。また、バーインの
ための半導体集積回路素子のセットの自動化も容易にで
きるようになった。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1はこの発明の方法を実施するための装置の
斜視図である。
【図2】図1の装置に使用されるICソケットの斜視図
である。
【図3】図1の装置の要部拡大斜視図である。
【図4】従来のバーイン方法を実施する装置の斜視図で
ある。
【符号の説明】
1 フィルムキャリア 2 半導体集積回路素子 3 円筒状枠体 4 駆動用信号入力用回路基板 5 軸 9 軸受台 10 ICソケット 11 レール 12 基板 14 開閉板 15 係止部材

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 長いテープ状フィルムキャリアに搭載さ
    れた多数の半導体集積回路素子を恒温槽内でバーインす
    る方法において、駆動信号入力用の回路基板を内部に取
    り付け、螺旋状にレールを巻き付けた円筒状枠体のレー
    ルの側面に開閉の容易なICソケットを配設し、円筒状
    枠体を回転させながら、開放状態のICソケットに前記
    フィルムキャリアに搭載された半導体集積回路素子を順
    次セットしてICソケットを閉鎖し、この状態で恒温槽
    内において高温でバーインすることを特徴とするバーイ
    ン方法。
  2. 【請求項2】 長いテープ状フィルムキャリアに搭載さ
    れた多数の半導体集積回路素子を恒温槽内でバーインす
    るためのバーイン装置において、回転可能に支持され、
    駆動信号入力用の回路基板を内部に取り付けた円筒状枠
    体と、この円筒状枠体に螺旋状に巻き付けられたレール
    と、このレールの側面に所定の間隔で配設された多数の
    ICソケットと、このICソケットに設けられた開閉の
    容易な開閉手段とからなり、円筒状枠体を回転させなが
    らICソケットに半導体集積回路素子を正確かつ迅速に
    にセットできることを特徴とするバーイン装置。
JP3171088A 1991-07-11 1991-07-11 バーイン方法およびその装置 Pending JPH0519013A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0644579A2 (en) * 1993-09-17 1995-03-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device burn-in apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0644579A2 (en) * 1993-09-17 1995-03-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device burn-in apparatus
EP0644579A3 (en) * 1993-09-17 1996-03-06 Toshiba Kk Annealing apparatus for semiconductor devices.

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