JPH05165503A - 位置決め制御系の調整方法および位置決め制御装置 - Google Patents
位置決め制御系の調整方法および位置決め制御装置Info
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- JPH05165503A JPH05165503A JP33316291A JP33316291A JPH05165503A JP H05165503 A JPH05165503 A JP H05165503A JP 33316291 A JP33316291 A JP 33316291A JP 33316291 A JP33316291 A JP 33316291A JP H05165503 A JPH05165503 A JP H05165503A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 位置決め制御系において、アクチュエータ発
生推力の位置による分布値に基づいて制御系のループゲ
インを設定することによって、適切な制御性能を得るこ
とを可能とする。 【構成】 アクチュエータを予め定めた原点位置に移動
し（ステップ１）、その場所でのアクチュエータの推力
測定を行う（ステップ２）。次にアクチュエータを別の
位置にシークしてその位置でヘッド２を目標トラックへ
フォロイングさせて（ステップ３）、上記の推力測定を
行う。この動作をアクチュエータ３の可動範囲全体につ
いて行う（ステップ４）。次にゲイン調整を行うアクチ
ュエータの基準位置の演算を行い（ステップ５）、求め
た基準位置へシークしその位置でヘッド２を目標トラッ
クにフォロイングさせ（ステップ６）、可変ゲインアン
プ８でループゲインを調整する（ステップ７）。
生推力の位置による分布値に基づいて制御系のループゲ
インを設定することによって、適切な制御性能を得るこ
とを可能とする。 【構成】 アクチュエータを予め定めた原点位置に移動
し（ステップ１）、その場所でのアクチュエータの推力
測定を行う（ステップ２）。次にアクチュエータを別の
位置にシークしてその位置でヘッド２を目標トラックへ
フォロイングさせて（ステップ３）、上記の推力測定を
行う。この動作をアクチュエータ３の可動範囲全体につ
いて行う（ステップ４）。次にゲイン調整を行うアクチ
ュエータの基準位置の演算を行い（ステップ５）、求め
た基準位置へシークしその位置でヘッド２を目標トラッ
クにフォロイングさせ（ステップ６）、可変ゲインアン
プ８でループゲインを調整する（ステップ７）。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は磁気ディスク装置および
光ディスク装置等の情報記憶装置における記録・再生ヘ
ッドの位置決め制御系の調整方法および位置決め制御装
置に係わり、位置決め制御ループのループゲインの調整
方法およびそれを用いた装置に関する。
光ディスク装置等の情報記憶装置における記録・再生ヘ
ッドの位置決め制御系の調整方法および位置決め制御装
置に係わり、位置決め制御ループのループゲインの調整
方法およびそれを用いた装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ディスク装置の位置決め制御方法は、目
標トラックに向かって記録・再生ヘッドを高速に移動す
るシークモードと、それに引き続いて過渡的な位置決め
動作を行うセトリングモードと、目標トラックへの定常
的な追従動作を行うフォロイングモードに分けることが
できる。シークモードからセトリングモードへの切り換
えおよびセトリングモードからフォロイングモードへの
切り換えは、ヘッドと目標トラックとの残余距離もしく
はヘッドの記録ディスクに対する相対的な移動速度の少
なくともいずれかが予め定めたある基準値以下になった
時点で行う。
標トラックに向かって記録・再生ヘッドを高速に移動す
るシークモードと、それに引き続いて過渡的な位置決め
動作を行うセトリングモードと、目標トラックへの定常
的な追従動作を行うフォロイングモードに分けることが
できる。シークモードからセトリングモードへの切り換
えおよびセトリングモードからフォロイングモードへの
切り換えは、ヘッドと目標トラックとの残余距離もしく
はヘッドの記録ディスクに対する相対的な移動速度の少
なくともいずれかが予め定めたある基準値以下になった
時点で行う。
【０００３】またディスク装置の位置決め制御方法にお
ける位置決め制御系は、そのループ特性を補償するため
に、位置決め制御系のループゲインを調節する比例項即
ちＰ項と、ループの安定性を確保するための微分項即ち
Ｄ項と、定常偏差を低減するための積分項即ちＩ項とか
ら構成されるＰＩＤ補償器を含む。ＰＩＤ補償器の実施
形態は、Ｐ項、Ｉ項、Ｄ項の各々を並列に設けるか、Ｐ
項とＩ項を並列に設けてその出力側にリードラグフィル
タなどの位相補償フィルタの形でＤ項を設けるなど様々
であるが、一般にＰＩＤ制御方式として知られている。
また、この位置決め制御系の動作点即ちループゲイン
は、フォロイングモードでの定常的なループ安定性を確
保するように設定される。
ける位置決め制御系は、そのループ特性を補償するため
に、位置決め制御系のループゲインを調節する比例項即
ちＰ項と、ループの安定性を確保するための微分項即ち
Ｄ項と、定常偏差を低減するための積分項即ちＩ項とか
ら構成されるＰＩＤ補償器を含む。ＰＩＤ補償器の実施
形態は、Ｐ項、Ｉ項、Ｄ項の各々を並列に設けるか、Ｐ
項とＩ項を並列に設けてその出力側にリードラグフィル
タなどの位相補償フィルタの形でＤ項を設けるなど様々
であるが、一般にＰＩＤ制御方式として知られている。
また、この位置決め制御系の動作点即ちループゲイン
は、フォロイングモードでの定常的なループ安定性を確
保するように設定される。
【０００４】図６は、従来の位置決め制御装置のブロッ
ク図であり、１はデータおよび位置サーボ信号をデータ
エリア９およびサーボエリア１０にそれぞれ記録するデ
ィスク、２はディスクに対してデータおよび位置サーボ
信号を読み書きするヘッド、３はヘッドをディスク１の
所望の場所へ移動させるアクチュエータ、４はアクチュ
エータ３に駆動電流を印加する電流ドライバ、５はヘッ
ド２から得られた信号に基づいて位置信号を検出する位
置検出手段、７は位置制御ループ６を安定化する位相補
償フィルタ、８は位置制御ループ６のループゲインを調
整するための可変ゲインアンプである。
ク図であり、１はデータおよび位置サーボ信号をデータ
エリア９およびサーボエリア１０にそれぞれ記録するデ
ィスク、２はディスクに対してデータおよび位置サーボ
信号を読み書きするヘッド、３はヘッドをディスク１の
所望の場所へ移動させるアクチュエータ、４はアクチュ
エータ３に駆動電流を印加する電流ドライバ、５はヘッ
ド２から得られた信号に基づいて位置信号を検出する位
置検出手段、７は位置制御ループ６を安定化する位相補
償フィルタ、８は位置制御ループ６のループゲインを調
整するための可変ゲインアンプである。
【０００５】図７は、アクチュエータ３の推力特性図で
あり、回転角の両端部では推力が低下している。曲線７
１、７２はアクチュエータの個体ばらつきによる推力特
性の違いを示している。
あり、回転角の両端部では推力が低下している。曲線７
１、７２はアクチュエータの個体ばらつきによる推力特
性の違いを示している。
【０００６】従来は、工場出荷時に位置制御系の動作点
が規定値となるようループゲインを調整する際に、アク
チュエータ３の回転角のある基準位置に対して可変ゲイ
ンアンプ８のゲインを調整していた。
が規定値となるようループゲインを調整する際に、アク
チュエータ３の回転角のある基準位置に対して可変ゲイ
ンアンプ８のゲインを調整していた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】基準位置として、例え
ば回転角ゼロでの推力、即ち点Ｋ、Ｌでの力定数に見合
うように可変ゲインアンプ８のゲインを調整したとす
る。ところが、この方法では、図７の曲線７１と曲線７
２で示されるように個体差によって推力特性がばらつい
た場合に、基準位置での推力の大きさが個体によって異
なってくる。このため、アクチュエータ３の回転角によ
って動作点のばらつきが大きくなる場合がでてくる。つ
まり曲線７１の場合は、基準位置での推力（点Ｋ）と最
大推力（点Ｍ）との差がさほど大きくないので動作点の
ばらつきも大きくないが、曲線７２の場合は、基準位置
での推力（点Ｌ）と最大推力（点Ｎ）との差が前者に比
べて大きいので動作点のばらつきが大きくなる。
ば回転角ゼロでの推力、即ち点Ｋ、Ｌでの力定数に見合
うように可変ゲインアンプ８のゲインを調整したとす
る。ところが、この方法では、図７の曲線７１と曲線７
２で示されるように個体差によって推力特性がばらつい
た場合に、基準位置での推力の大きさが個体によって異
なってくる。このため、アクチュエータ３の回転角によ
って動作点のばらつきが大きくなる場合がでてくる。つ
まり曲線７１の場合は、基準位置での推力（点Ｋ）と最
大推力（点Ｍ）との差がさほど大きくないので動作点の
ばらつきも大きくないが、曲線７２の場合は、基準位置
での推力（点Ｌ）と最大推力（点Ｎ）との差が前者に比
べて大きいので動作点のばらつきが大きくなる。
【０００８】図８は、位置決め制御系の開ループ周波数
特性図であり、８１はある基準位置、例えば図７の点Ｋ
や点Ｌに対して調整された場合を示し、８２は基準位置
での推力よりも推力が大きい回転角にアクチュエータが
位置した場合、例えば点Ｍや点Ｎでの特性を示す。この
場合には、ループゲインが大きくなりすぎてアクチュエ
ータの機械共振周波数でのゲイン余裕がなくなってお
り、位置決め制御系が発振するという課題が生じる。
特性図であり、８１はある基準位置、例えば図７の点Ｋ
や点Ｌに対して調整された場合を示し、８２は基準位置
での推力よりも推力が大きい回転角にアクチュエータが
位置した場合、例えば点Ｍや点Ｎでの特性を示す。この
場合には、ループゲインが大きくなりすぎてアクチュエ
ータの機械共振周波数でのゲイン余裕がなくなってお
り、位置決め制御系が発振するという課題が生じる。
【０００９】また、図８の８３は、基準位置として図７
の曲線７２において回転角最大の位置、即ち点Ｓをとっ
た場合に、アクチュエータが回転角ゼロ、即ち点Ｌに位
置したときの特性を示す。この場合には、ループゲイン
が小さくなりすぎて、低域のゲインが充分とれなかった
り、応答性が悪くなったりする課題が生じる。
の曲線７２において回転角最大の位置、即ち点Ｓをとっ
た場合に、アクチュエータが回転角ゼロ、即ち点Ｌに位
置したときの特性を示す。この場合には、ループゲイン
が小さくなりすぎて、低域のゲインが充分とれなかった
り、応答性が悪くなったりする課題が生じる。
【００１０】本発明はこのような課題を解消するために
なされたものであって、その目的とするところは、ディ
スク装置の位置決め制御系において、アクチュエータ発
生推力の位置による分布値に基づいて制御系のループゲ
インを設定することによって、適切な制御性能を得るこ
とを可能とする位置決め制御方法を提供することであ
る。
なされたものであって、その目的とするところは、ディ
スク装置の位置決め制御系において、アクチュエータ発
生推力の位置による分布値に基づいて制御系のループゲ
インを設定することによって、適切な制御性能を得るこ
とを可能とする位置決め制御方法を提供することであ
る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明は以下のような方法を用いるか、あるいは以下
のような構成を備えている。即ち、アクチュエータを目
標位置に対して位置決めする位置決め制御系のループゲ
インを調整するために、前記アクチュエータの推力の位
置分布測定を行うステップ、求められた推力の位置分布
に基づいてゲイン調整の基準位置の演算を行うステッ
プ、該基準位置へ前記アクチュエータを移動して前記ル
ープゲインを調整するステップとを含むか、あるいは、
アクチュエータを目標位置に対して位置決めする位置決
め制御系のループゲインを調整するために、前記アクチ
ュエータの推力の位置分布を位置に関して分割するステ
ップ、前記目標位置における調整ゲインを前記推力の位
置分布に基づいて求めるステップ、該調整ゲインに基づ
いて前記ループゲインを調整するステップとを含むか、
あるいは、アクチュエータと、該アクチュエータに駆動
電流を付与する電流駆動手段と、前記対象物と前記目標
位置との位置偏差を検出する位置検出手段と、前記アク
チュエータを前記目標位置に対して位置決めする位置決
め制御系のループゲインを調整するゲイン調整手段と、
校正信号を発生する校正信号発生手段と、前記校正信号
を前記位置制御ループに印加した際の応答信号波形を分
析して前記アクチュエータの推力を求める波形分析手段
と、該波形分析手段を用いて得られた推力の位置分布を
記憶するメモリ手段と、ゲイン調整の基準位置を求める
基準位置演算手段とを含んで構成される。
に本発明は以下のような方法を用いるか、あるいは以下
のような構成を備えている。即ち、アクチュエータを目
標位置に対して位置決めする位置決め制御系のループゲ
インを調整するために、前記アクチュエータの推力の位
置分布測定を行うステップ、求められた推力の位置分布
に基づいてゲイン調整の基準位置の演算を行うステッ
プ、該基準位置へ前記アクチュエータを移動して前記ル
ープゲインを調整するステップとを含むか、あるいは、
アクチュエータを目標位置に対して位置決めする位置決
め制御系のループゲインを調整するために、前記アクチ
ュエータの推力の位置分布を位置に関して分割するステ
ップ、前記目標位置における調整ゲインを前記推力の位
置分布に基づいて求めるステップ、該調整ゲインに基づ
いて前記ループゲインを調整するステップとを含むか、
あるいは、アクチュエータと、該アクチュエータに駆動
電流を付与する電流駆動手段と、前記対象物と前記目標
位置との位置偏差を検出する位置検出手段と、前記アク
チュエータを前記目標位置に対して位置決めする位置決
め制御系のループゲインを調整するゲイン調整手段と、
校正信号を発生する校正信号発生手段と、前記校正信号
を前記位置制御ループに印加した際の応答信号波形を分
析して前記アクチュエータの推力を求める波形分析手段
と、該波形分析手段を用いて得られた推力の位置分布を
記憶するメモリ手段と、ゲイン調整の基準位置を求める
基準位置演算手段とを含んで構成される。
【００１２】
【作用】本発明は以上に記述したように、ディスク装置
の位置決め制御系において、アクチュエータ発生推力の
位置による分布値に基づいて制御系のループゲインを設
定することによって、適切な制御性能を得ることを可能
にする。
の位置決め制御系において、アクチュエータ発生推力の
位置による分布値に基づいて制御系のループゲインを設
定することによって、適切な制御性能を得ることを可能
にする。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面をもって
具体的に説明する。
具体的に説明する。
【００１４】図１は、本発明の一実施例の位置決め制御
装置のブロック図であり、１はデータおよび位置サーボ
信号をデータエリア９およびサーボエリア１０にそれぞ
れ記録するディスク、２はディスクに対してデータおよ
び位置サーボ信号を読み書きするヘッド、３はヘッド２
をディスク１の所望の場所へ移動させるアクチュエー
タ、４はアクチュエータ３に駆動電流を印加する電流ド
ライバ、５はヘッド２から得られた信号に基づいて位置
信号を検出する位置検出手段、７は位置制御ループ６を
安定化する位相補償フィルタ、８は位置制御ループ６の
ループゲインを調整するための可変ゲインアンプであ
る。
装置のブロック図であり、１はデータおよび位置サーボ
信号をデータエリア９およびサーボエリア１０にそれぞ
れ記録するディスク、２はディスクに対してデータおよ
び位置サーボ信号を読み書きするヘッド、３はヘッド２
をディスク１の所望の場所へ移動させるアクチュエー
タ、４はアクチュエータ３に駆動電流を印加する電流ド
ライバ、５はヘッド２から得られた信号に基づいて位置
信号を検出する位置検出手段、７は位置制御ループ６を
安定化する位相補償フィルタ、８は位置制御ループ６の
ループゲインを調整するための可変ゲインアンプであ
る。
【００１５】さらに、アクチュエータ３の推力特性の位
置による分布特性を測定するために以下のような構成を
含む。即ち、１１は加算点１８から位置制御ループ６内
に入力される校正用正弦波Ｘ0を発生する校正信号発生
器、１２は校正正弦波Ｘ0による位置制御ループ６の応
答信号Ｙを波形分析して振幅値を求める波形分析器であ
り、この波形分析器１２は、応答信号Ｙを記憶する波形
メモリ１３と、この波形メモリ１３の出力から校正正弦
波Ｘ0と同じ周波数の基本波Ｙ0を抽出するためのＤＦＴ
（Digital Fourier Transform）演算器と、基本波Ｙ0の
振幅を求めるための振幅検出器１５とから構成される。
１６は得られた推力分布を記憶する推力分布メモリであ
る。また、１７は得られた推力分布から位置制御ループ
６の動作点の調節基準位置を求める基準位置演算器であ
る。
置による分布特性を測定するために以下のような構成を
含む。即ち、１１は加算点１８から位置制御ループ６内
に入力される校正用正弦波Ｘ0を発生する校正信号発生
器、１２は校正正弦波Ｘ0による位置制御ループ６の応
答信号Ｙを波形分析して振幅値を求める波形分析器であ
り、この波形分析器１２は、応答信号Ｙを記憶する波形
メモリ１３と、この波形メモリ１３の出力から校正正弦
波Ｘ0と同じ周波数の基本波Ｙ0を抽出するためのＤＦＴ
（Digital Fourier Transform）演算器と、基本波Ｙ0の
振幅を求めるための振幅検出器１５とから構成される。
１６は得られた推力分布を記憶する推力分布メモリであ
る。また、１７は得られた推力分布から位置制御ループ
６の動作点の調節基準位置を求める基準位置演算器であ
る。
【００１６】図２は、本発明の一実施例の位置決め制御
系の調整方法における推力分布の測定方法と位置制御ル
ープのゲイン調節方法の手順を示すフローチャートであ
る。まず始めにアクチュエータ３を予め定めた原点位置
に移動し（ステップ１）、その場所でのアクチュエータ
３の推力測定を行う（ステップ２）。推力測定は、校正
信号発生器１１から校正信号Ｘ0（周波数ｆ0は例えば位
置制御ループ６の動作点周波数を選ぶ。）を位置制御ル
ープ６の加算点１８に入力し、その結果得られる応答信
号Ｙを波形分析器１２に入力して、校正信号Ｘ0と同じ
周波数の基本波Ｙ0の振幅検出を行い、校正信号Ｘ0の振
幅と応答信号の基本波Ｙ0の振幅との比を演算して、ル
ープゲインＧ0を得る。
系の調整方法における推力分布の測定方法と位置制御ル
ープのゲイン調節方法の手順を示すフローチャートであ
る。まず始めにアクチュエータ３を予め定めた原点位置
に移動し（ステップ１）、その場所でのアクチュエータ
３の推力測定を行う（ステップ２）。推力測定は、校正
信号発生器１１から校正信号Ｘ0（周波数ｆ0は例えば位
置制御ループ６の動作点周波数を選ぶ。）を位置制御ル
ープ６の加算点１８に入力し、その結果得られる応答信
号Ｙを波形分析器１２に入力して、校正信号Ｘ0と同じ
周波数の基本波Ｙ0の振幅検出を行い、校正信号Ｘ0の振
幅と応答信号の基本波Ｙ0の振幅との比を演算して、ル
ープゲインＧ0を得る。
【００１７】さらにその値から推力（力定数）の値を求
めて（位置制御ループ６に含まれる各要素の周波数ｆ0
でのゲインがわかれば計算できる）、得られた値をその
ときのアクチュエータ位置に対応したアドレスのメモリ
に入力する。次にアクチュエータ３を別の位置にシーク
してその位置でヘッド２を目標トラックへフォロイング
させて（ステップ３）、上記の推力測定を行う。この動
作をアクチュエータ３の可動範囲全体について行う（ス
テップ４）。以上のステップでアクチュエータ３の推力
分布の測定が完了したので、次にゲイン調整を行う基準
位置の演算を行い（ステップ５）、求めた基準位置へシ
ークしその位置でヘッド２を目標トラックにフォロイン
グさせ（ステップ６）、可変ゲインアンプ８でループゲ
インを調整する（ステップ７）。
めて（位置制御ループ６に含まれる各要素の周波数ｆ0
でのゲインがわかれば計算できる）、得られた値をその
ときのアクチュエータ位置に対応したアドレスのメモリ
に入力する。次にアクチュエータ３を別の位置にシーク
してその位置でヘッド２を目標トラックへフォロイング
させて（ステップ３）、上記の推力測定を行う。この動
作をアクチュエータ３の可動範囲全体について行う（ス
テップ４）。以上のステップでアクチュエータ３の推力
分布の測定が完了したので、次にゲイン調整を行う基準
位置の演算を行い（ステップ５）、求めた基準位置へシ
ークしその位置でヘッド２を目標トラックにフォロイン
グさせ（ステップ６）、可変ゲインアンプ８でループゲ
インを調整する（ステップ７）。
【００１８】ゲイン調整は、推力測定の場合と同様に、
動作点周波数ｆ0の校正正弦波信号Ｘ0を校正信号発生器
１１から位置制御ループ６に入力し、応答波形Ｙを波形
分析器１２に入力して得られた基本波Ｙ0の振幅と入力
正弦波Ｘ0の振幅の比、即ちループゲインが１となるよ
うに行う。なお、上記の手順は位置決め制御装置の電源
投入時に行ってもよいし、電源投入後にある一定周期毎
もしくは不定周期毎に行ってもよい。あるいは、温度検
出器を位置決め制御装置内部もしくは外部に設置して温
度変化を感知した場合にのみ行ってもよい。あるいはま
たこれらの方法を適宜組み合わせて行ってもよい。
動作点周波数ｆ0の校正正弦波信号Ｘ0を校正信号発生器
１１から位置制御ループ６に入力し、応答波形Ｙを波形
分析器１２に入力して得られた基本波Ｙ0の振幅と入力
正弦波Ｘ0の振幅の比、即ちループゲインが１となるよ
うに行う。なお、上記の手順は位置決め制御装置の電源
投入時に行ってもよいし、電源投入後にある一定周期毎
もしくは不定周期毎に行ってもよい。あるいは、温度検
出器を位置決め制御装置内部もしくは外部に設置して温
度変化を感知した場合にのみ行ってもよい。あるいはま
たこれらの方法を適宜組み合わせて行ってもよい。
【００１９】次に本発明の一実施例の位置決め制御系の
調整方法におけるゲイン調整の基準位置の決め方につい
て説明する。図３は、アクチュエータ３の推力特性図で
あり、曲線３１はアクチュエータの推力特性の位置によ
る分布を示し、直線３２はアクチュエータ推力の回転角
全体にわたる平均値、直線３３は推力の最大値（点Ｎ）
と最小値（点Ｌ）との平均値をそれぞれ示す。図２のス
テップ５に示したゲイン調節の基準位置は、このように
して求めた平均値の直線３２または３３と推力特性３１
との交点ＰまたはＱの位置とする。
調整方法におけるゲイン調整の基準位置の決め方につい
て説明する。図３は、アクチュエータ３の推力特性図で
あり、曲線３１はアクチュエータの推力特性の位置によ
る分布を示し、直線３２はアクチュエータ推力の回転角
全体にわたる平均値、直線３３は推力の最大値（点Ｎ）
と最小値（点Ｌ）との平均値をそれぞれ示す。図２のス
テップ５に示したゲイン調節の基準位置は、このように
して求めた平均値の直線３２または３３と推力特性３１
との交点ＰまたはＱの位置とする。
【００２０】次に本発明の一実施例の位置決め制御系の
調整方法におけるゲイン調整の方法について説明する。
図４は、アクチュエータ３の推力特性図であり、アクチ
ュエータの回転角の全範囲を４つの区間Ｚ1、Ｚ2、Ｚ
3、Ｚ4に分割して、それぞれの区間で上述のゲイン調整
の基準位置Ｖ1、Ｖ2、Ｖ3、Ｖ4を決める。
調整方法におけるゲイン調整の方法について説明する。
図４は、アクチュエータ３の推力特性図であり、アクチ
ュエータの回転角の全範囲を４つの区間Ｚ1、Ｚ2、Ｚ
3、Ｚ4に分割して、それぞれの区間で上述のゲイン調整
の基準位置Ｖ1、Ｖ2、Ｖ3、Ｖ4を決める。
【００２１】図５は、本発明の一実施例の位置決め制御
系の調整方法におけるゲイン調整の手順を示すフローチ
ャートである。外部装置からのシーク指令を受け取ると
（ステップａ）、目標トラックの含まれる区間Ｚiの基
準位置Ｖi（i=1,2,3,4）でのアクチュエータの推力を推
力分布メモリ１６から参照して調整ゲインＡdを演算に
より求める（ステップｂ）。次に目標トラックへのシー
クを行い（ステップｃ）、位置決め制御に移行する前に
可変ゲインアンプ８のゲインＡに調整ゲインＡdを設定
して（ステップｄ）、フォロイングに移行し（ステップ
ｅ）、次のシーク指令を待つ（ステップｆ）。
系の調整方法におけるゲイン調整の手順を示すフローチ
ャートである。外部装置からのシーク指令を受け取ると
（ステップａ）、目標トラックの含まれる区間Ｚiの基
準位置Ｖi（i=1,2,3,4）でのアクチュエータの推力を推
力分布メモリ１６から参照して調整ゲインＡdを演算に
より求める（ステップｂ）。次に目標トラックへのシー
クを行い（ステップｃ）、位置決め制御に移行する前に
可変ゲインアンプ８のゲインＡに調整ゲインＡdを設定
して（ステップｄ）、フォロイングに移行し（ステップ
ｅ）、次のシーク指令を待つ（ステップｆ）。
【００２２】
【発明の効果】本発明は以上に記述したような構成によ
り以下に示すような効果を得ることができる。アクチュ
エータ発生推力の位置による分布値に基づいて制御系の
ループゲインを設定することによって、適切な制御性能
を得ることが可能になる。
り以下に示すような効果を得ることができる。アクチュ
エータ発生推力の位置による分布値に基づいて制御系の
ループゲインを設定することによって、適切な制御性能
を得ることが可能になる。
【００２３】なお上記実施例では、磁気ディスク装置を
例にとり説明したが、本発明は光ディスク装置等にも適
用可能である。
例にとり説明したが、本発明は光ディスク装置等にも適
用可能である。
【図１】本発明の一実施例の位置決め制御装置のブロッ
ク図
ク図
【図２】本発明の一実施例の位置決め制御系の調整方法
における推力分布の測定方法と位置制御ループのゲイン
調節方法の手順を示すフローチャート
における推力分布の測定方法と位置制御ループのゲイン
調節方法の手順を示すフローチャート
【図３】アクチュエータの推力特性図
【図４】アクチュエータの推力特性図
【図５】本発明の一実施例の位置決め制御系の調整方法
におけるゲイン調整の手順を示すフローチャート
におけるゲイン調整の手順を示すフローチャート
【図６】従来の位置決め制御装置のブロック図
【図７】アクチュエータ３の推力特性図
【図８】位置決め制御系の開ループ周波数特性図
１ ディスク ２ ヘッド ３ アクチュエータ ４ 電流ドライバ ５ 位置検出手段 ６ 位置制御ループ ７ 位相補償フィルタ ８ 可変ゲインアンプ ９ データエリア １０ サーボエリア １１ 校正信号発生器 １２ 波形分析器 １３ 波形メモリ １４ ＤＦＴ演算器 １５ 振幅検出器 １６ 推力分布メモリ １７ 基準位置演算器 １８ 加算点
Claims (8)
- 【請求項１】 アクチュエータを目標位置に対して位置
決めする位置決め制御系のループゲインを調整するため
に、前記アクチュエータの推力の位置分布測定を行うス
テップ、求められた推力の位置分布に基づいてゲイン調
整の基準位置の演算を行うステップ、この基準位置へ前
記アクチュエータを移動して前記ループゲインを調整す
るステップとを含むことを特徴とする位置決め制御系の
調整方法。 - 【請求項２】 推力の位置分布測定は、アクチュエータ
を予め定めた位置に移動するステップ、前記アクチュエ
ータの推力測定を行うステップとを含むことを特徴とす
る請求項１記載の位置決め制御系の調整方法。 - 【請求項３】 推力測定は、校正信号を発生するステッ
プ、該校正信号を入力した位置決め制御系の応答信号の
振幅を検出するステップ、前記校正信号の振幅と前記応
答信号の振幅からループゲインを求めるステップ、該ル
ープゲインからアクチュエータの推力を求めるステップ
とを含むことを特徴とする請求項２記載の位置決め制御
系の調整方法。 - 【請求項４】 ゲイン調整の基準位置の演算は、推力の
位置分布の平均値を求めるステップを含むことを特徴と
する請求項１記載の位置決め制御系の調整方法。 - 【請求項５】 ゲイン調整の基準位置の演算は、推力の
位置分布の最大値と最小値の平均値を求めるステップを
含むことを特徴とする請求項１記載の位置決め制御系の
調整方法。 - 【請求項６】 アクチュエータを目標位置に対して位置
決めする位置決め制御系のループゲインを調整するため
に、前記アクチュエータの推力の位置分布を位置に関し
て分割するステップ、前記目標位置における調整ゲイン
を前記推力の位置分布に基づいて求めるステップ、該調
整ゲインに基づいて前記ループゲインを調整するステッ
プとを含むことを特徴とする位置決め制御系の調整方
法。 - 【請求項７】 アクチュエータと、このアクチュエータ
に駆動電流を付与する電流駆動手段と、前記対象物と前
記目標位置との位置偏差を検出する位置検出手段と、前
記アクチュエータを前記目標位置に対して位置決めする
位置決め制御系のループゲインを調整するゲイン調整手
段と、校正信号を発生する校正信号発生手段と、前記校
正信号を前記位置制御ループに印加した際の応答信号波
形を分析して前記アクチュエータの推力を求める波形分
析手段と、該波形分析手段を用いて得られた推力の位置
分布を記憶するメモリ手段と、ゲイン調整の基準位置を
求める基準位置演算手段とを含むことを特徴とする位置
決め制御装置。 - 【請求項８】 波形分析手段は、応答信号波形を記憶す
るメモリ手段と、該メモリ手段の出力信号を周波数解析
する周波数解析演算手段と、該演算手段の出力信号の振
幅を検出する振幅検出手段とを少なくとも含むことを特
徴とする請求項７記載の位置決め制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33316291A JPH05165503A (ja) | 1991-12-17 | 1991-12-17 | 位置決め制御系の調整方法および位置決め制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33316291A JPH05165503A (ja) | 1991-12-17 | 1991-12-17 | 位置決め制御系の調整方法および位置決め制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05165503A true JPH05165503A (ja) | 1993-07-02 |
Family
ID=18262986
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33316291A Pending JPH05165503A (ja) | 1991-12-17 | 1991-12-17 | 位置決め制御系の調整方法および位置決め制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05165503A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007241699A (ja) * | 2006-03-09 | 2007-09-20 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 位置決め制御装置および位置決め制御方法 |
Citations (5)
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| JPS63300472A (ja) * | 1987-05-29 | 1988-12-07 | Nec Corp | ヘッドの位置決め方式 |
| JPH01169603A (ja) * | 1987-12-25 | 1989-07-04 | Oki Electric Ind Co Ltd | 自動ループゲイン制御回路 |
| JPH0317875A (ja) * | 1989-06-14 | 1991-01-25 | Nec Corp | 磁気ディスク装置のヘッド位置決め回路 |
| JPH04255972A (ja) * | 1991-02-08 | 1992-09-10 | Hitachi Ltd | ヘッド位置決め適応制御装置及び制御方法 |
| JPH05144204A (ja) * | 1991-11-20 | 1993-06-11 | Tokico Ltd | 磁気デイスク装置 |
-
1991
- 1991-12-17 JP JP33316291A patent/JPH05165503A/ja active Pending
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| JP4592622B2 (ja) * | 2006-03-09 | 2010-12-01 | 富士機械製造株式会社 | 位置決め制御装置および位置決め制御方法 |
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