JPH05160878A - Loopback test system - Google Patents
Loopback test systemInfo
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- JPH05160878A JPH05160878A JP3320811A JP32081191A JPH05160878A JP H05160878 A JPH05160878 A JP H05160878A JP 3320811 A JP3320811 A JP 3320811A JP 32081191 A JP32081191 A JP 32081191A JP H05160878 A JPH05160878 A JP H05160878A
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- test
- transmission line
- test signal
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は伝送装置における折り返
し試験方式の改良に関するものである。この際、折り返
し試験開始時及び解除時に回線異常警報を発出すること
なく折り返し試験を行なえる折り返し試験方式が要望さ
れている。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an improvement of a loopback test method in a transmission device. At this time, there is a demand for a loopback test method capable of performing a loopback test without issuing a line abnormality alarm at the start and release of the loopback test.
【0002】[0002]
【従来の技術】図8は従来例の折り返し試験方式を説明
するための図である。図8(A)に示す上り及び下りの伝
送路に接続される伝送装置1の折り返し試験を対向する
伝送装置(図示しない)で行う時、対向する伝送装置
(図示しない)から例えば上りの伝送路に試験信号を送
出する。そして、伝送装置1に有する選択部(以下SE
Lと称する)2で上りの伝送路から入力した試験信号を
選択して下りの伝送路に送出し、対向する伝送装置(図
示しない)で送信した試験信号と折り返し試験信号とを
比較照合することにより、上りと下りの伝送路及び伝送
装置1の折り返し試験を行っていた。2. Description of the Related Art FIG. 8 is a view for explaining a conventional folding back test method. When the loopback test of the transmission device 1 connected to the upstream and downstream transmission lines shown in FIG. 8 (A) is performed by the opposite transmission device (not shown), for example, from the opposite transmission device (not shown) Send a test signal to. Then, the selection unit (hereinafter referred to as SE
(Referred to as L) 2, select the test signal input from the upstream transmission path, send it to the downstream transmission path, and compare and collate the test signal transmitted by the opposing transmission device (not shown) with the return test signal. Therefore, the loopback test of the upstream and downstream transmission lines and the transmission device 1 was performed.
【0003】この場合、試験信号としては、試験デー
タ、試験データの先頭を示すフレームパルス(FP)及
び試験データの有効範囲を示すイネーブルパルス(E
N)が用いられる。この時、図8(B) に示すように、対
向する伝送装置(図示しない)で受信する信号が下り方
向の通常の信号から試験信号に変わる時、また試験信号
から下り方向の通常の信号に変わる時、その位相が異な
るため状態が変化した瞬間REC警報(受信異常)が発
生してしまう。In this case, as the test signal, test data, a frame pulse (FP) indicating the beginning of the test data, and an enable pulse (E) indicating the effective range of the test data are used.
N) is used. At this time, as shown in FIG. 8 (B), when the signal received by the opposite transmission device (not shown) is changed from the normal signal in the downward direction to the test signal, or when the signal from the test signal is changed to the normal signal in the downward direction. When changing, the REC alarm (reception abnormality) will occur at the moment when the state changes because the phases are different.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上述したように従来の
折り返し試験方式においては、試験状態にした瞬間およ
び試験解除の瞬間REC警報(受信異常)が発生してし
まうという問題点があった。As described above, in the conventional turn-back test method, there is a problem that a REC alarm (reception abnormality) occurs at the moment of entering the test state and at the moment of canceling the test.
【0005】したがって本発明の目的は、折り返し試験
開始時及び解除時に回線異常警報を発出することなく折
り返し試験を行なえる折り返し試験方式を提供すること
にある。Therefore, an object of the present invention is to provide a loopback test method capable of performing a loopback test without issuing a line abnormality alarm at the start and cancellation of the loopback test.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記問題点は図1に示す
回路の構成によって解決される。即ち図1において、上
り及び下りの伝送路に接続され、一方の伝送路から入力
した試験信号を折り返して他方の伝送路に送出すること
により折り返し試験を行う伝送装置において、700 は、
一方の伝送路から入力した試験信号を制御部100 からの
制御信号により所定量だけ遅延して出力する遅延選択部
である。The above problems can be solved by the structure of the circuit shown in FIG. That is, in FIG. 1, 700 is a transmission device that is connected to upstream and downstream transmission lines, performs a loopback test by looping back a test signal input from one transmission line and sending out to the other transmission line.
This is a delay selection unit that delays a test signal input from one transmission line by a predetermined amount by a control signal from the control unit 100 and outputs the test signal.
【0007】800 は、遅延選択部700 の出力の試験信号
を入力して記憶し、他方の伝送路から入力した信号の制
御信号で決まるタイミングで読み出すエラスティックス
トアである。Reference numeral 800 is an elastic store for inputting and storing the test signal output from the delay selecting section 700 and reading it at a timing determined by the control signal of the signal input from the other transmission path.
【0008】100 は、一方の伝送路から入力し遅延選択
部700 で所定量だけ遅延して出力した試験信号のフレー
ムパルスと他方の伝送路から入力した信号の制御信号と
から、遅延選択部700 で試験信号を所定量だけ遅延して
出力するための制御信号を出力する制御部である。Reference numeral 100 denotes a delay selection unit 700 based on a frame pulse of a test signal input from one transmission line and delayed and output by a delay selection unit 700 by a predetermined amount and a control signal of a signal input from the other transmission line. Is a control unit that outputs a control signal for delaying and outputting the test signal by a predetermined amount.
【0009】130 は、通常は他方の伝送路から入力した
信号を選択し、折り返し試験時にはエラスティックスト
ア800 から読み出した試験信号を選択して出力する選択
部である。A selection unit 130 normally selects a signal input from the other transmission path and selects and outputs a test signal read from the elastic store 800 during a folding test.
【0010】[0010]
【作用】図1において、折り返し試験を行う時、遅延選
択部700 で、一方の伝送路(例えば上りの伝送路)から
入力した試験信号を制御部100 からの制御信号により所
定量だけ遅延した後、エラスティックストア800 に加え
記憶する。In FIG. 1, when performing a loopback test, the delay selector 700 delays a test signal input from one transmission path (for example, an upstream transmission path) by a predetermined amount by a control signal from the control section 100. , Store in addition to Elastic Store 800.
【0011】そして、他方の伝送路(例えば下りの伝送
路)から入力した信号の制御信号(例えば受信信号のイ
ネーブルパルス)で決まるタイミングにより、エラステ
ィックストア800 に記憶した試験信号を読み出して、選
択部130 を介して下りの伝送路に送出する。そして、例
えば対向する伝送装置(図示しない)において、上りの
伝送路に送出した試験信号と下りの伝送路から受信した
折り返し試験信号とを比較照合して、伝送路、伝送装置
等による信号の劣化を測定する。Then, the test signal stored in the elastic store 800 is read and selected at the timing determined by the control signal (for example, enable pulse of the received signal) of the signal input from the other transmission line (for example, the downstream transmission line). It is sent to the downstream transmission path via the unit 130. Then, for example, in the opposite transmission device (not shown), the test signal sent to the up transmission line and the return test signal received from the down transmission line are compared and collated, and the signal deterioration due to the transmission line, transmission device, etc. To measure.
【0012】この結果、一方の伝送路から入力した試験
信号の位相を所定量だけ遅延させて他方の伝送路から受
信した信号の位相と合わせるようにしているため、上り
及び下りの伝送路の信号がどんな位相でも折り返し試験
開始時及び解除時に回線異常警報を発出することなく折
り返し試験を行うことができる。As a result, the phase of the test signal input from one transmission line is delayed by a predetermined amount to match the phase of the signal received from the other transmission line. It is possible to perform a loopback test in any phase without issuing a line abnormality alarm at the start and release of the loopback test.
【0013】この結果、警報発出による不要な保守作業
や予備切替えをなくすることが可能となる。又、折り返
し試験開始後の不要なデータエラーもなくすることがで
きる。As a result, it is possible to eliminate unnecessary maintenance work and preliminary switching due to the issuing of an alarm. Further, it is possible to eliminate unnecessary data error after the start of the loopback test.
【0014】[0014]
【実施例】図2は本発明の第1の実施例の装置の構成を
示すブロック図である。図3は実施例におけるデータの
飛び越しが起こる位相関係を示すタイムチャートであ
る。FIG. 2 is a block diagram showing the construction of the apparatus of the first embodiment of the present invention. FIG. 3 is a time chart showing a phase relationship in which data jump occurs in the embodiment.
【0015】図4は実施例におけるデータの飛び越しが
起こる分岐点の位相関係を示すタイムチャートである。
図5は第2の実施例の装置の構成を示すブロック図であ
る。FIG. 4 is a time chart showing the phase relationship of branch points at which data jump occurs in the embodiment.
FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of the apparatus of the second embodiment.
【0016】図6は第2の実施例の動作を説明するため
のタイムチャートである。図7は一例の各パルスの位相
関係を示すタイムチャートである。全図を通じて同一符
号は同一対象物を示す。FIG. 6 is a time chart for explaining the operation of the second embodiment. FIG. 7 is a time chart showing the phase relationship of each pulse as an example. The same reference numerals denote the same objects throughout the drawings.
【0017】図7において、Sデータ、Rデータはそれ
ぞれ送信側及び受信側データ、SFP、RFPはそれぞ
れ送信側及び受信側フレームパルス、又SEN、REN
はそれぞれ送信側及び受信側イネーブルパルス、の各位
相関係を示す。又、Sデータ、Rデータにおいて、有効
データ及び無効で示す領域はそれぞれデータの有効範囲
及びデータの無効範囲を表す。例えば送信側の信号を試
験信号とする時、Sデータ、SFP及びSENはそれぞ
れ送信側の試験データ、試験データのフレームパルス及
び試験データのイネーブルパルスを表す。In FIG. 7, S data and R data are transmission side and reception side data, SFP and RFP are transmission side and reception side frame pulses, respectively, and SEN and REN.
Indicates the phase relationship between the transmitting side enable pulse and the receiving side enable pulse, respectively. In the S data and R data, the areas indicated by valid data and invalid data respectively represent the valid range of data and the invalid range of data. For example, when a signal on the transmitting side is used as a test signal, S data, SFP and SEN respectively represent test data on the transmitting side, a frame pulse of test data and an enable pulse of test data.
【0018】今、図2に示す伝送装置に対して対向する
伝送装置(図示しない)から上り及び下りの伝送路を介
して折り返し試験を行う時、図2に示す伝送装置では、
同期部3で上りの伝送路を介して送られてきた試験信号
の同期をとって、試験信号からSデータ、SFP及びS
ENを分離する。そして、これらを直接遅延選択部7に
加えるとともに、遅延部4〜6を介して一定時間遅延さ
せた後遅延選択部7に加える。遅延選択部7で、後述す
るフリップフロップ回路(以下FFと称する)12の出力
信号により上記直接又は遅延部4〜6経由のどちらかを
選択して、エラスティックストア8に加え記憶する。エ
ラスティックストア8はデータの書き込みと読み出しが
独立に行なえるメモリである。Now, when a loopback test is performed from the transmission device (not shown) facing the transmission device shown in FIG. 2 through the upstream and downstream transmission lines, the transmission device shown in FIG.
The synchronizing unit 3 synchronizes the test signal sent via the upstream transmission line to obtain S data, SFP and S from the test signal.
Separate EN. Then, these are directly added to the delay selection unit 7, and after being delayed for a predetermined time through the delay units 4 to 6, added to the delay selection unit 7. The delay selection unit 7 selects either the direct or the delay units 4 to 6 according to the output signal of a flip-flop circuit (hereinafter referred to as FF) 12 to be described later, and stores it in the elastic store 8. The elastic store 8 is a memory that can write and read data independently.
【0019】一方、同期部9で下りの伝送路から入力し
た受信側の信号の同期をとって受信信号からフレームパ
ルス(RFP)とイネーブルパルス(REN)を分離
し、エラスティックストア8に加え、図7に示すRFP
とREN("1")の開始点のタイミングで、前述した上り
の伝送路から入力した記憶データを読み出す。そして、
折り返し試験を行うか否かを示すループ信号(LP信
号)により受信信号側から試験信号側に切り替え設定し
たSEL13を介して、試験信号を下りの伝送路に送出す
る。そして、対向する伝送装置(図示しない)で、上り
の伝送路に送出した試験信号と下りの伝送路から送られ
てきた折り返し信号とを比較照合して伝送路、伝送装置
等による試験信号の劣化を測定する。On the other hand, the synchronizing section 9 synchronizes the signal on the receiving side input from the downstream transmission line to separate the frame pulse (RFP) and the enable pulse (REN) from the received signal and adds them to the elastic store 8. RFP shown in FIG.
At the timing of the start points of REN and "REN (" 1 "), the stored data input from the above-mentioned upstream transmission path is read. And
The test signal is sent to the downstream transmission path through the SEL 13 which is set to switch from the reception signal side to the test signal side by the loop signal (LP signal) indicating whether or not the loopback test is performed. Then, in the opposite transmission device (not shown), the test signal sent to the up transmission line and the return signal sent from the down transmission line are compared and collated to deteriorate the test signal due to the transmission line, transmission device, etc. To measure.
【0020】今、図2に示す遅延部4〜6の遅延量が妥
当な値でない時には、図3に矢印a、bの範囲で示すよ
うにまだ書き込んでいないメモリ領域を読み出すことに
なり(いわゆるデータの飛び越しが起こり)、これを対
向する伝送装置(図示しない)で受信するとデータエラ
ーと判定される。Now, when the delay amounts of the delay units 4 to 6 shown in FIG. 2 are not appropriate values, the unwritten memory area is read out as shown by the range of arrows a and b in FIG. 3 (so-called). (Data jump occurs), and when this is received by the opposite transmission device (not shown), it is determined to be a data error.
【0021】このため、下りの伝送路から入力した受信
側の信号のフレームパルス(RFP)とイネーブルパル
ス(REN)を図2に示すパルス発生器(以下PGと称
する)10に加え、PG10で、前述したデータの飛び越し
を起こらないようにするための位相比較パルス(以下P
C(R)と称する)を生成して出力する。Therefore, the frame pulse (RFP) and the enable pulse (REN) of the signal on the receiving side input from the downstream transmission path are added to the pulse generator (hereinafter referred to as PG) 10 shown in FIG. The phase comparison pulse (hereinafter P
C (R)) is generated and output.
【0022】このPC(R)を論理積回路(以下AND
回路と称する)11の一方の入力端子に加え、他方の入力
端子には遅延選択部7の出力のSFPを加えて、AND
回路11でこれら2入力の論理積を求めて"1" 又は"0" パ
ルスを出力する。図4(A) 及び(B) はデータの飛び越し
が起こる分岐点を位相関係を示しており、具体的には上
記PC(R)のパルスの"1" の範囲を決めるための図で
ある。(図4(A) 、(B) に示すPC(R)は簡単のため
データの位相変動量は考えていない。実際は同図に点線
で示すように少し幅の広いパルスとなる。)図4(A) は
1周期前のSデータの有効データをRデータとして読み
出す時の、データの飛び越しの分岐点(限界)を示して
おり、Sデータの位相がRデータの位相に比べ進みすぎ
の場合を示している。又、同図(B) は同図(A) とは逆に
Sデータの位相が遅れすぎの場合のデータの飛び越しの
分岐点(限界)を示しており、もう少しSデータが右方
向にずれていると、矢印cによりまだ書き込んでいない
領域を読み出すことになる。This PC (R) is connected to a logical product circuit (hereinafter referred to as AND
(Referred to as a circuit) 11 to one input terminal, and to the other input terminal, the SFP of the output of the delay selection unit 7 is added, and AND
The circuit 11 calculates the logical product of these two inputs and outputs a "1" or "0" pulse. FIGS. 4 (A) and 4 (B) show the phase relationship of the branch points at which data jump occurs, and more specifically, they are diagrams for determining the "1" range of the pulse of the PC (R). (PC (R) shown in FIGS. 4 (A) and 4 (B) does not consider the amount of data phase fluctuation for simplicity. In reality, the pulse is a little wider as indicated by the dotted line in FIG. 4). (A) shows the jump point (limit) of data jump when the valid data of S data one cycle before is read as R data, and the phase of S data is too advanced compared to the phase of R data. Is shown. Contrary to the figure (A), the figure (B) shows the jump point (limit) of the data jump when the phase of the S data is too late, and the S data is slightly shifted to the right. If so, the unwritten area is read by the arrow c.
【0023】このため図4の場合には、AND回路11
で、図4に示すSFPの"1" とPC(R)の"1" との論
理積を求めて得られる"1" のパルスをFF12のクロック
端子(C)に加え、Q端子から、それまで例えば"0" 出
力であった時には"1" のパルスを出力して遅延選択部7
に加える。遅延選択部7では、それまで同期部3から直
接入力した試験信号のSデータ、SFP及びSENを選
択して出力していたのを、遅延部4〜6により一定量遅
延させた試験信号のSデータ、SFP及びSENを選択
して出力し、エラスティックストア8に加えて記憶す
る。Therefore, in the case of FIG. 4, the AND circuit 11
Then, the pulse of "1" obtained by calculating the logical product of "1" of SFP and "1" of PC (R) shown in FIG. 4 is applied to the clock terminal (C) of FF12, For example, when the output is "0", a pulse of "1" is output and the delay selection unit 7
Add to. The delay selection unit 7 selects and outputs S data, SFP and SEN of the test signal directly input from the synchronization unit 3 until then, but outputs the S data of the test signal delayed by a certain amount by the delay units 4 to 6. Data, SFP and SEN are selected and output, and stored in addition to the elastic store 8.
【0024】尚、FF12のI端子はQ端子とは逆位相の
値を出力してD端子に加える構成にしてあり、AND回
路11から"1" のパルスをC端子に加えるごとにQ端子か
ら"1" と"0" を交互に出力して遅延選択部7に加える。The I terminal of the FF12 outputs a value in phase opposite to that of the Q terminal and adds it to the D terminal. Every time the AND circuit 11 adds a "1" pulse to the C terminal, the I terminal of the FF12 is output from the Q terminal. "1" and "0" are alternately output and added to the delay selection unit 7.
【0025】そして、前述したように下りの伝送路から
入力した受信信号のRFP、RENで決められるタイミ
ングパルスにより、上記エラスティックストア8に記憶
した(一定量遅延された)Sデータ、SFP及びSEN
を読み出して、LP信号により試験信号側に切り替え設
定したSEL13を介して下りの伝送路に送出する。そし
て、対向する伝送装置(図示しない)で、伝送路、伝送
装置等による試験信号の劣化を測定する。Then, as described above, the S data, SFP and SEN stored in the elastic store 8 (delayed by a certain amount) by the timing pulse determined by RFP and REN of the received signal input from the downstream transmission path.
Is read out and sent out to the downstream transmission line via SEL13 which is set to be switched to the test signal side by the LP signal. Then, the opposite transmission device (not shown) measures the deterioration of the test signal due to the transmission path, the transmission device, and the like.
【0026】この結果、上りの伝送路から入力した試験
信号の位相を所定量だけ遅延させて下りの伝送路から受
信した信号の位相と合わせるようにしているため、上り
及び下りの伝送路の信号がどんな位相でも折り返し試験
開始時及び解除時に回線異常警報を発出することなく折
り返し試験を行うことができる。この結果、警報発出に
よる不要な保守作業や予備切替えをなくすることがで可
能となる。As a result, the phase of the test signal input from the upstream transmission line is delayed by a predetermined amount to match the phase of the signal received from the downstream transmission line. It is possible to perform a loopback test in any phase without issuing a line abnormality alarm at the start and release of the loopback test. As a result, it is possible to eliminate unnecessary maintenance work and preliminary switching due to the issuing of an alarm.
【0027】次に、第2の実施例について図5及び図6
を用いて説明する。第2の実施例は折り返し試験をして
いるか否かでPC(R)のパルス幅を変えるようにした
ものであり、折り返し試験開始時にPC(R)とSFP
の位相が近い場合に、試験中に僅かのデータの位相変動
により選択される遅延量が変わりデータエラーとなって
しまうことがないようにしたものである。Next, FIG. 5 and FIG. 6 for the second embodiment.
Will be explained. In the second embodiment, the pulse width of PC (R) is changed depending on whether or not the turn-back test is performed.
When the phases are close to each other, the delay amount selected is prevented from changing due to a slight phase fluctuation of data during the test, resulting in no data error.
【0028】即ち、図5において、下りの伝送路から入
力した受信側の信号のフレームパルス(RFP)とイネ
ーブルパルス(REN)を図5に示すPG10’に加え
る。そして、折り返し試験をしていない時はPG10’か
ら図6にPC1で示すパルスを出力し、折り返し試験を
開始した時点で図6にPC2で示すパルス出力に切り替
えて位相変動量の制御を行う。上述した以外の動作は第
1の実施例の場合と同じであるため、その説明を省略す
る。That is, in FIG. 5, the frame pulse (RFP) and the enable pulse (REN) of the signal on the receiving side input from the downstream transmission path are added to PG10 'shown in FIG. When the turn-back test is not performed, the pulse indicated by PC1 in FIG. 6 is output from PG10 ', and when the turn-back test is started, the pulse output is switched to that indicated by PC2 in FIG. 6 to control the amount of phase fluctuation. The operation other than that described above is the same as that of the first embodiment, and therefore its explanation is omitted.
【0029】この結果、PC1を位相変動量の分まで見
込んだパルス幅(PC2よりも少し広いパルス幅)に設
定することにより、試験開始後はデータの位相変動量の
制御をやらなくてすませることが出来る。As a result, by setting PC1 to a pulse width (a pulse width slightly wider than PC2) that allows for the amount of phase fluctuation, it is not necessary to control the amount of phase fluctuation of data after the start of the test. Can be done.
【0030】この結果、上り及び下りの伝送路の信号が
どんな位相でも折り返し試験開始時及び解除時に回線異
常警報を発出することなく折り返し試験を行うことがで
き、警報発出による不要な保守作業や予備切替えをなく
することが可能となる。As a result, a loopback test can be performed without issuing a line abnormality alarm at the start and cancellation of the loopback test in any phase of the signals of the upstream and downstream transmission lines, and unnecessary maintenance work or standby due to the alarm issuance can be performed. It is possible to eliminate switching.
【0031】更に、折り返し試験開始後の不要なデータ
エラーもなくすることができる。Furthermore, it is possible to eliminate unnecessary data errors after the start of the loopback test.
【0032】[0032]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、上
り及び下りの伝送路の信号がどんな位相でも折り返し試
験開始時及び解除時に回線異常警報を発出することなく
折り返し試験を行うことができ、警報発出による不要な
保守作業や予備切替えをなくすることがで可能となる。As described above, according to the present invention, it is possible to perform a loopback test without issuing a line abnormality alarm at the start and release of the loopback test at any phase of the signals on the upstream and downstream transmission lines. It is possible to eliminate unnecessary maintenance work and pre-switching due to an alarm being issued.
【0033】更に、折り返し試験開始後の不要なデータ
エラーもなくすることができる。Further, it is possible to eliminate unnecessary data error after the start of the loopback test.
【図1】は本発明の原理図、FIG. 1 is a principle diagram of the present invention,
【図2】は本発明の第1の実施例の装置の構成を示すブ
ロック図、FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of an apparatus according to a first embodiment of the present invention,
【図3】は実施例におけるデータの飛び越しが起こる位
相関係を示すタイムチャート、FIG. 3 is a time chart showing a phase relationship in which interlacing of data occurs in an embodiment,
【図4】は実施例におけるデータの飛び越しが起こる分
岐点の位相関係を示すタイムチャート、FIG. 4 is a time chart showing a phase relationship of branch points at which data jump occurs in the embodiment,
【図5】は第2の実施例の装置の構成を示すブロック
図、FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of an apparatus according to a second embodiment,
【図6】は第2の実施例の動作を説明するためのタイム
チャート、FIG. 6 is a time chart for explaining the operation of the second embodiment,
【図7】は一例の各パルスの位相関係を示すタイムチャ
ート、FIG. 7 is a time chart showing a phase relationship of each pulse of an example,
【図8】は従来例の折り返し試験方式を説明するための
図である。FIG. 8 is a diagram for explaining a folding back test method of a conventional example.
100 は制御部、130 は選択部、700 は遅延選択部、800
はエラスティックストアを示す。100 is a control unit, 130 is a selection unit, 700 is a delay selection unit, 800
Indicates an elastic store.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 余越 紀之 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 寒川 重厚 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Noriyuki Yogoshi 1015 Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Within Fujitsu Limited (72) Inventor Shigeta Samukawa, 1015, Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki, Kanagawa Within Fujitsu Limited
Claims (1)
の伝送路から入力した試験信号を折り返して他方の伝送
路に送出することにより折り返し試験を行う伝送装置に
おいて、 該一方の伝送路から入力した試験信号を制御部(100) か
らの制御信号により所定量だけ遅延して出力する遅延選
択部(700) と、 該遅延選択部(700) の出力の試験信号を入力して記憶
し、該他方の伝送路から入力した信号の制御信号で決ま
るタイミングで読み出すエラスティックストア(800)
と、 該一方の伝送路から入力し該遅延選択部(700) で所定量
だけ遅延して出力した試験信号のフレームパルスと他方
の伝送路から入力した信号の制御信号とから、該遅延選
択部(700) で試験信号を所定量だけ遅延して出力するた
めの制御信号を出力する制御部(100) と、 通常は他方の伝送路から入力した信号を選択し、折り返
し試験時には該エラスティックストア(800) から読み出
した試験信号を選択して出力する選択部(130)とを設け
たことを特徴とする折り返し試験方式。1. A transmission device, which is connected to an upstream transmission line and a downstream transmission line, performs a loopback test by looping back a test signal input from one transmission line and sending the test signal to the other transmission line. The input test signal is delayed by a predetermined amount by the control signal from the control unit (100) and output, and the test signal output from the delay selection unit (700) is input and stored, Elastic store (800) that reads at the timing determined by the control signal of the signal input from the other transmission path
From the frame pulse of the test signal input from the one transmission path and delayed by a predetermined amount in the delay selection section (700) and the control signal of the signal input from the other transmission path. At (700), select the control unit (100) that outputs a control signal to delay the test signal by a predetermined amount, and select the signal that is normally input from the other transmission line. A loopback test method comprising: a selection unit (130) for selecting and outputting a test signal read from the (800).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3320811A JPH05160878A (en) | 1991-12-05 | 1991-12-05 | Loopback test system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3320811A JPH05160878A (en) | 1991-12-05 | 1991-12-05 | Loopback test system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05160878A true JPH05160878A (en) | 1993-06-25 |
Family
ID=18125501
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3320811A Withdrawn JPH05160878A (en) | 1991-12-05 | 1991-12-05 | Loopback test system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05160878A (en) |
-
1991
- 1991-12-05 JP JP3320811A patent/JPH05160878A/en not_active Withdrawn
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Legal Events
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---|---|---|---|
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