JPH05160032A - Cvd装置 - Google Patents

Cvd装置

Info

Publication number
JPH05160032A
JPH05160032A JP34786591A JP34786591A JPH05160032A JP H05160032 A JPH05160032 A JP H05160032A JP 34786591 A JP34786591 A JP 34786591A JP 34786591 A JP34786591 A JP 34786591A JP H05160032 A JPH05160032 A JP H05160032A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exhaust
chamber
shutter
plasma
plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP34786591A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomohiko Takeda
智彦 竹田
Fumio Muramatsu
文雄 村松
Kiyoshi Takahashi
高橋  清
Masafumi Ono
雅史 小野
Ryoji Oritsuki
良二 折付
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Hitachi Ltd
Kokusai Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Kokusai Electric Corp filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP34786591A priority Critical patent/JPH05160032A/ja
Publication of JPH05160032A publication Critical patent/JPH05160032A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】CVD装置に於いて、プラズマの均一性を向上
させると共に合わせてCVD処理室の清掃作業の作業性
を向上させる。 【構成】プラズマ発生室25周辺にジグザグ状の排気路
18,39,39a,39b,39cを形成し、前記プ
ラズマ発生室に導入した反応ガスを前記ジグザグ状の排
気路を介して排気する様にし、ジグザグ状の排気路の流
路断面積を選択することにより流路抵抗を調整し、生成
物の捕獲は排気路の屈曲によって行い、成膜に適正な流
路抵抗を得と共にプラズマ発生室より生成物が流出する
のを防止する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造装置の1つ
である基板上に薄膜を形成するCVD装置に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】半導体製造の製造工程の1つにシリコン
基板表面に所要の成膜をし、或は液晶表示装置の製造の
工程の1つにガラス基板上に成膜を行う工程がある。
【0003】これは、気密な処理室に基板を装入し、該
処理室内に設けられた1対の電極間に高周波電力を印加
すると共に前記処理室内に反応ガスを供給してプラズマ
を発生させ、基板表面に薄膜を成膜させるものである
(Chemichal Vapor Depositi
on)。
【0004】従来のCVD装置では気密な処理室内の1
面に前記基板が設置される1方の電極があり、該電極に
対峙して気密な処理室内の他方の面に電極が設けられ、
これら1対の電極間にプラズマを発生させてCVD処理
を行っていた。
【0005】前記CVD処理は、気相のガス分子を分解
し、基板上に薄膜として堆積させるものである。ところ
が、薄膜は基板上だけでなく基板に対峙する電極、処理
室内壁にも成膜する。電極、処理室内壁に堆積した成膜
は、やがて剥離し、処理中の基板上に付着して基板を汚
染する。基板が前記堆積物で汚染されると基板の成膜に
重大な欠陥を生じさせる。この為、従来より処理室内は
定期的に清掃されていた。
【0006】従来、清掃作業は面倒であると共に時間を
要していた。従って、この清掃作業が装置の可動率を低
下させる原因となっていた。
【0007】又、プラズマの均一性は成膜状態に大きく
影響し、如何に均一なプラズマを発生させるかがCVD
装置の課題の1つとなっている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明は斯かる実情に
鑑み、プラズマの均一性を向上させると共に合わせてC
VD処理室の清掃作業の作業性を向上させようとするも
のである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、プラズマ発生
室周辺にジグザグ状の排気路を形成し、前記プラズマ発
生室に導入した反応ガスを前記ジグザグ状の排気路を介
して排気するよう構成したことを特徴とするものであ
る。
【0010】
【作用】基板の成膜に影響する流路抵抗は、ジグザグ状
の排気路の流路断面積を選択することにより、又排気中
の生成物の捕獲は排気路の屈曲によって行い、捕獲効果
は屈曲の回数等、流れ方向の形状を適宜選択して調整す
る。
【0011】
【実施例】以下、図面を参照しつつ本発明の一実施例を
説明する。
【0012】図1は、本発明に斯かるCVD装置の処理
室の断面を示すものであり、図5、図6は該装置に設け
られた排気路を示すものである。
【0013】本CVD装置は、特に2重室構造に係るも
のを示しており、該2重室構造に係るものはプラズマの
発生空間を限定しすることで、均一なプラズマを発生さ
せるに適しているとされている。
【0014】処理室1の上面に上電極ホルダ4を設け、
該上電極ホルダ4の中心に前記処理室1の上面を貫通す
るガイドパイプ5を設け、該ガイドパイプ5の下端に電
極上プレート6、電極下プレート7を設け、前記ガイド
パイプ5、電極上プレート6、電極下プレート7は絶縁
材8,9,10,11で絶縁する。
【0015】前記電極上プレート6と前記電極下プレー
ト7との間には間隙12が形成され、該間隙12と前記
ガイドパイプ5の内部とは連通している。又、前記電極
下プレート7には所要数の供給孔13が穿設されてい
る。
【0016】前記上電極ホルダ4の下面に上下方向に分
離可能に内室15を設け、該内室15の底部中心に前記
電極下プレート7に対峙する下電極16を設ける。
【0017】該下電極16の周囲に沿って排気板17を
設け、該排気板17の上面に石英製の排気蓋18を乗設
する。
【0018】前記排気板17には上面側より排気溝39
が形成され、該排気溝39は中央に向かう直進部39a
と、直進部先端に位置する吹溜まり部39bと、前記直
進部39aと接続する横行部39cとから形成されたジ
グザグ状をしており、該排気溝39の中央位置には前記
処理室1内に連通する通孔40が穿設されている。
【0019】前記排気蓋18は、前記排気溝39を覆い
ジグザグ状の排気路を形成するものであり、該排気蓋1
8の所要位置には排気口41が穿設され、該排気蓋18
の下面側に形成した導気溝42によって前記排気口41
と前記排気溝39とを連通する。
【0020】又、該排気蓋18と前記下電極16とに掛
亘って石英製の下電極カバー19を載置する。該下電極
カバー19は、前記下電極16に植設した石英製のピン
20で位置合わせされる。
【0021】前記内室15の内側に、石英製の側壁カバ
ー21を設け、該側壁カバー21と前記下電極カバー1
9とは1部が重合する様にする。該側壁カバー21の上
端段差部に上電極カバー22を落込み設け、該上電極カ
バー22と前記電極下プレート7とは間隙が形成される
様にする。
【0022】前記内室15の上内周縁に沿ってOリング
14を設け、該Oリング14を前記上電極ホルダ4、側
壁カバー21に同時に当接させることで、上電極ホルダ
4と内室15、内室15と側壁カバー21との間を気密
にシールする。
【0023】前記上電極カバー22には多数の分散孔2
3が穿設され、前記ガイドパイプ5に設けた、反応ガス
供給管24より反応ガスを供給することで、前記ガイド
パイプ5の中空部、前記間隙12、供給孔13を経て、
前記分散孔23より反応ガスがプラズマ発生室25に均
一に供給される。又、該プラズマ発生室25内のガスは
前記排気蓋18、排気板17を経て処理室1内に排出さ
れ、更に該処理室1から該処理室1の底板43に設けら
れた排気口34より排気される。
【0024】前記下電極16の下面に当接する下電極加
熱板26を昇降可能に設け、該下電極加熱板26は、該
下電極加熱板26は台座27にスプリング28を介して
設けられている。該下電極加熱板26の下方には熱反射
板38が多重に設けられ、該下電極加熱板26の下方側
に対して熱絶縁をしている。又、前記台座27には前記
内室15の下面に当接する押圧ピン29が設けられてい
る。
【0025】該台座27は特に図示しないが、昇降ユニ
ットに支持されており、該昇降ユニットは前記内室15
を前記押圧ピン29を介して前記上電極ホルダ4に押し
付けると共に前記下電極加熱板26を前記スプリング2
8を介して前記下電極16に押圧する。更に、排気蓋1
8、側壁カバー21、上電極カバー22を前記内室15
に保持させた状態で下電極加熱板26で支持して降下さ
せる様になっている。又、前記内室15には車輪35が
設けられ、該内室15は降下した状態でレール36に軌
乗する。
【0026】前記内室15、側壁カバー21の1側面に
は基板2を搬入、搬出する為の搬入出孔30が設けら
れ、該搬入出孔30は平行リンク31によって支持され
たシャッタ32によって開閉される様になっており、該
シャッタ32はシャッタ開閉装置33によって回動され
る。
【0027】該シャッタ開閉装置33を図2〜図4に於
いて説明する。
【0028】前記した様に、シャッタ32は平行リンク
31を介して前記内室15に設けており、該シャッタ3
2には水平方向に貫通する係合溝44が刻設され、更に
シャッタ32の下端はテーパ形状となっている。
【0029】前記底板43にシールブロック45が貫設
され、該底板43の上面には軸受ブロック48が固着さ
れ、該シールブロック45にリフトロッド46が気密且
摺動自在に設けられると共に該リフトロッド46は前記
軸受ブロック48を摺動自在に貫通する。該リフトロッ
ド46の下端にシャッタ開閉シリンダ47が連結され、
前記リフトロッド46の上端には押圧板49が固着され
る。又、該押圧板49には下方に延びるガイドロッド5
0が設けられ、該ガイドロッド50は前記軸受ブロック
48に摺動自在に嵌合している。
【0030】前記押圧板49の上面側にはスライドピン
51を介して係合子52が押圧板49に昇降自在に設け
られ、又該係合子52はスプリング55によって下方に
付勢されている。該係合子52には係合ピン53が左右
1対設けられており、該係合ピン53は前記係合溝44
に遊嵌する。
【0031】前記押圧板49には所要のピッチでシャッ
タ押圧ローラ54が設けられ(本実施例では4個)、該
シャッタ押圧ローラ54は前記シャッタ32下端のテー
パ部に当接可能となっている。
【0032】図2〜図4は、前記シャッタ32を閉じて
いる状態を示し、この閉鎖状態からシャッタ32を解放
するには、前記シャッタ開閉シリンダ47を駆動し、前
記リフトロッド46を介して前記押圧板49を降下させ
る。前記シャッタ32は前記内室15に密着しているこ
とがあるが、前記係合溝44に遊嵌した前記係合ピン5
3が前記シャッタ32を引下げる。この場合、該シャッ
タ32には係合ピン53を介して引下げ力が作用するの
で過度の力が作用して損傷することがない。
【0033】シャッタ32の閉塞は、前記シャッタ開閉
シリンダ47を駆動して前記押圧板49を上昇させれば
よい。前記シャッタ押圧ローラ54を介して前記シャッ
タ32は押上げられ、該シャッタ32は前記内室15の
搬入出孔30を密閉する。前記シャッタ32が搬入出孔
30を密閉した後も、前記シャッタ開閉シリンダ47が
所要の上昇力を発揮する様にし、前記シャッタ32を前
記シャッタ押圧ローラ54を介して複数箇所で内室15
に均等に押圧させ前記搬入出孔30の密閉を完全にす
る。
【0034】而して、前記シャッタ開閉装置33による
前記搬入出孔30の開閉によって、前記プラズマ発生室
25での基板2の処理に必要な該基板2の搬入搬出が可
能となる。
【0035】前記内室15が降下して前記レール36に
軌乗することは前述したが、該内室15は更に清掃作業
の為、前記レール36に沿って前記基板2の搬入搬出方
向と直角方向に引出し得る様になっており、前記内室1
5の水平方向の移動に際し、前記係合ピン53は前記係
合溝44内を移動し、前記シャッタ32と前記シャッタ
開閉装置33との係合は容易に解除され、又同様に清掃
後に前記内室15が装入される場合も確実にシャッタ3
2とシャッタ開閉装置33との係合がなされる。
【0036】前記処理室1の搬入出孔30に対向する位
置には、他のユニットと結合する為の連絡孔37が設け
られており、該連絡孔37を通して搬送機のロボットア
ーム(図示せず)が出入りする。該連絡孔37は図示し
ないゲートバルブによって開閉される。
【0037】而して、前記シャッタ32が開状態で、基
板2がプラズマ発生室25に搬入され、前記下電極16
に載置され、更に、シャッタ32が前記搬入出孔30を
閉塞した図1の状態で、反応ガス供給管24より反応ガ
スをプラズマ発生室25に供給しつつ、前記電極下プレ
ート7と下電極16との間にプラズマを発生させ、前記
基板2上に成膜する。
【0038】成膜が完了すると、前記シャッタ開閉装置
33により前記搬入出孔30を開口し、図示ない搬送機
によって本CVD装置より基板2を搬出する。
【0039】前記した様に、反応ガスは前記ガイドパイ
プ5より供給され、前記処理室1の排気口34より排気
される。この排気の過程で、反応ガスは前記上電極カバ
ー22より分散して均一に前記プラズマ発生室25内に
導入され、更にプラズマ発生室25底部の周辺に分散し
た排気口41より吸引され、前記排気蓋18と前記排気
板17によって形成された排気路を流通し、前記通孔4
0を経て処理室1内に流出する。
【0040】前記排気路の流路抵抗は、前記プラズマ発
生室25内の反応ガスの流れに大きく影響する。従っ
て、該排気路の適正な流路抵抗を選択することが要求さ
れる。
【0041】而して、該排気路の適正な流路抵抗は流路
断面積を調整すれば良く、前記排気溝39の溝幅と溝の
深さを適宜選択することで得られる。
【0042】次に、CVD処理によって発生する生成物
は、前記プラズマ発生室25の内壁に堆積すると共に排
気ガスに浮遊する。CVD装置を2重構造にした利点の
1つは、CVD処理によって汚染される部分を前記プラ
ズマ発生室25に限定できることであり、斯かる限定に
より清掃を前記プラズマ発生室25に限って行えばよい
ということである。
【0043】前述した様に排気溝39によって形状が決
定される排気路は、ジグザグ状であり、前記排気口41
から流入した排気は排気溝39内で壁面と衝突を繰返し
ながら前記通孔40より流出する。従って、排気ガスに
浮遊する生成物は衝突の度に、排気溝39の壁に付着堆
積して排気ガスから除去される。この、生成物の捕獲効
果は、排気路の屈曲回数の選択等、排気の流れ方向の形
状を選択すればよい。
【0044】而して、前記通孔40から流出する排気は
生成物を含まないものであり、前記処理室1を汚染する
ことはない。清掃作業は、前記プラズマ発生室25内壁
面と前記排気板17及び排気蓋18について行えばよ
い。
【0045】尚、上記実施例は2重室構造のCVD装置
について説明したが、通常の単室構造のCVD装置にも
実施可能であることは勿論である。又、排気路の形状は
前記したものに限定されるものではなく、流れの方向が
適宜回数変更されるものであればよい。
【0046】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、プラズ
マ分布の均一化を図れ、成膜品質の向上を図れると共
に、清掃作業性を向上させ、装置の稼働率の向上を図る
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係るCVD装置の断面図で
ある。
【図2】本CVD装置に於けるシャッタ開閉装置の正面
図である。
【図3】同前シャッタ開閉装置の平面図である。
【図4】同前シャッタ開閉装置側面図である。
【図5】本CVD装置に於ける内室に設けられる排気構
造を示す断面図である。
【図6】同前排気構造を示す平面図である。
【符号の説明】
17 排気板 18 排気蓋 25 プラズマ発生室 39 排気溝 40 通孔 41 排気口
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 清 東京都港区虎ノ門二丁目3番13号 国際電 気株式会社内 (72)発明者 小野 雅史 東京都港区虎ノ門二丁目3番13号 国際電 気株式会社内 (72)発明者 折付 良二 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社日立 製作所茂原工場内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プラズマ発生室周辺にジグザグ状の排気
    路を形成し、前記プラズマ発生室に導入した反応ガスを
    前記ジグザグ状の排気路を介して排気するよう構成した
    ことを特徴とするCVD装置。
JP34786591A 1991-12-03 1991-12-03 Cvd装置 Pending JPH05160032A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34786591A JPH05160032A (ja) 1991-12-03 1991-12-03 Cvd装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34786591A JPH05160032A (ja) 1991-12-03 1991-12-03 Cvd装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05160032A true JPH05160032A (ja) 1993-06-25

Family

ID=18393123

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34786591A Pending JPH05160032A (ja) 1991-12-03 1991-12-03 Cvd装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05160032A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5772770A (en) * 1995-01-27 1998-06-30 Kokusai Electric Co, Ltd. Substrate processing apparatus
US5891350A (en) * 1994-12-15 1999-04-06 Applied Materials, Inc. Adjusting DC bias voltage in plasma chambers
US6863835B1 (en) 2000-04-25 2005-03-08 James D. Carducci Magnetic barrier for plasma in chamber exhaust

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5891350A (en) * 1994-12-15 1999-04-06 Applied Materials, Inc. Adjusting DC bias voltage in plasma chambers
US6221782B1 (en) 1994-12-15 2001-04-24 Applied Materials, Inc. Adjusting DC bias voltage in plasma chamber
US6513452B2 (en) 1994-12-15 2003-02-04 Applied Materials Inc. Adjusting DC bias voltage in plasma chamber
US5772770A (en) * 1995-01-27 1998-06-30 Kokusai Electric Co, Ltd. Substrate processing apparatus
US6863835B1 (en) 2000-04-25 2005-03-08 James D. Carducci Magnetic barrier for plasma in chamber exhaust

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI641066B (zh) 允許低壓汰換工具之薄膜封裝處理系統及製程套組
CN112962084B (zh) 基板处理装置
KR101236108B1 (ko) 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법
JP3002448B1 (ja) 基板処理装置
KR20150045012A (ko) 기판 처리장치
KR100902330B1 (ko) 반도체공정장치
JPH0249424A (ja) エッチング方法
US20050255244A1 (en) Lifting glass substrate without center lift pins
JP3035735B2 (ja) 基板処理装置および基板処理方法
JPH05160032A (ja) Cvd装置
KR101356537B1 (ko) 기판 처리 장치
JPH07230956A (ja) プラズマcvd装置
KR20040103714A (ko) 기판의 로딩 장치 및 이를 이용한 기판의 로딩 방법
JPH05160031A (ja) Cvd装置
TWI658164B (zh) 薄膜封裝處理系統和處理套組
JP2011035189A (ja) 基板処理装置
JP2008235393A (ja) 成膜装置及び成膜方法
JPH05160033A (ja) Cvd装置
JPH05160036A (ja) プラズマ発生装置
JP3792473B2 (ja) 半導体薄膜の形成方法
JPH11144891A (ja) プラズマ処理装置
JPH0869969A (ja) プラズマcvd装置
JP2001217194A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2006083406A (ja) 基板処理装置、基板載置台および基板処理方法
KR20230035835A (ko) 기판처리방법