JPH05158022A - 液晶ディスプレイの製造方法、および画像表示装置 - Google Patents

液晶ディスプレイの製造方法、および画像表示装置

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JPH05158022A
JPH05158022A JP32460091A JP32460091A JPH05158022A JP H05158022 A JPH05158022 A JP H05158022A JP 32460091 A JP32460091 A JP 32460091A JP 32460091 A JP32460091 A JP 32460091A JP H05158022 A JPH05158022 A JP H05158022A
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JP
Japan
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silicon wafer
lcd
liquid crystal
crystal display
film
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Application number
JP32460091A
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English (en)
Inventor
正一郎 ▲高▼山
Shoichiro Takayama
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 小型で、見かけ上充分な大きさの画像を提供
する画像表示装置を実現する。 【構成】 シリコンウェハー18に複数枚のガラス基板
2を組み込み、LCDのパターン形成と周辺回路のパタ
ーン作成を統合し、さらにこの作業を同一のシリコンウ
ェハー18上のすべてのガラス基板2に対して同時に行
なうようにした。また、LCDモジュール33によって
形成された画像を、光源31、レンズ32等からなる光
学系を通して見るようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶ディスプレイ(以
下、LCDと略称する)表示装置に関し、特に、小型の
LCD上に形成された画像を拡大して表示する装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来、LCDは、陰極線管ディスプレイ
と比べて薄型、軽量であり、さらに防爆処理が不要であ
ること、フォーカスの問題が無いこと、消費電力が小さ
いことなどの利点により、腕時計や携帯用コンピュータ
をはじめとして、種々の用途に応用されており、近年の
市場の拡大と共に、これらLCDを表示装置として採用
した製品が急激に増加している。
【0003】これらの表示装置には、通常アクティブ・
マトリクス型のLCDが用いられ、中でも一般的なもの
は、薄膜トランジスタ(以下、単にTFTと略称する)
型と呼ばれるものである。このTFT型LCDの構成の
一例を、図10に示す。図において、1は下部偏光板、
2はガラス基板、3は画素電極、4は配向膜、5は対向
電極、6は上部偏光板、7はソースバスライン、8はゲ
ートバスラインである。
【0004】下部偏光板1と上部偏光板6は、偏光角が
相等しくなるように設けられている。画素電極3と対向
電極5の間には、図示しない液晶が封入されている。ソ
ースバスライン7およびゲートバスライン8は、マトリ
クス状に並んだ画素電極3に対応して複数本並んでい
る。
【0005】また、ソースバスライン7とゲートバスラ
イン8が交差する位置の近傍には、TFT9が設けられ
ており、このTFT9の端子は、ソース端子がソースバ
スライン7に、ゲート端子がゲートバスライン8に、ド
レイン端子が画素電極3にそれぞれ電気的に接続されて
いる。各々のソースバスライン7には、図示しないドラ
イバ回路から、パルス状の第1の駆動信号が入力されて
いる。この駆動信号は、一定の周期を持ち、かつ複数の
ソースバスライン7に同時に入力されることはない。ま
た、ゲートバスライン8には、やはり図示しないドライ
バ回路から、第2の駆動信号が入力される。この第2の
駆動信号は、第1の駆動信号と異なり、一定の周期を持
つものではなく、表示すべき画像に応じてドライバ回路
によって切り替えられるものである。具体的には、特定
のソースバスライン7とゲートバスライン8に同時に駆
動信号が入力されると、これらに接続されたTFT9の
スイッチング作用により、接続されたTFT9につなが
る画素電極3と対向電極5の間に電流が流れる。
【0006】このとき、ソースバスライン7およびゲー
トバスライン8の各々一本のみに駆動信号が入力される
と、電流が流れる画素電極3は必ずひとつである。この
ようにして、画素電極3が選択され、通電される。実際
には、第1の駆動信号を流すべきソースバスライン7を
高速で切り替え、これに対応して第2の駆動信号を流す
べきゲートバスライン8をも切り替えることにより、二
次元的に並んだ画素電極3の中から、任意のものを選択
し、肉眼には、あたかも複数の画素電極が同時に選択さ
れているかのような視覚的効果を、発生させることがで
きる。
【0007】画素電極3に通電すると、液晶の配列が変
化し、偏光角が変わる。通電前には、液晶の偏光角は、
下部偏光板1および上部偏光板6と平行であるが、画素
電極3に通電することによって、液晶の偏光角が下部偏
光板1および上部偏光板6とは平行でなくなる。このた
め、画素電極3に通電した部分においては、光線が透過
不可能となる。このため、たとえばLCDの一側面に図
示しない光源を設ければ、光源の反対側からは、画素電
極3に通電していない部分のみ、明るく光って見えるこ
とになる。また、光源に代えて、やはり図示しない反射
鏡を設ければ、やはり同様の効果を得ることができる。
【0008】ところで、このLCDにおいては、現在多
結晶シリコン型と呼ばれるものが主流を占めている。こ
れは、主としてテレビや携帯用コンピュータの分野で画
面を大きくしたいとする要請に応えようとするものであ
る。
【0009】図11に、多結晶シリコン型LCDのパタ
ーンの製法の一例を示す。図において、10は多結晶シ
リコン膜、11はゲート絶縁膜、12はゲート電極、1
3はソース領域、14はドレイン領域、15は層間絶縁
膜15、16はコンタクトホールである。その他の符号
は、図10と同じものを示す。
【0010】図11(a)に示すごとく、まず気相化学
析出法によって、ガラス基板2上に多結晶シリコン膜1
0をデポジットし、フォトリソグラフィによって、所定
のパターンを形成する。続いて熱酸化法により、多結晶
シリコン膜10上にゲート絶縁膜11を形成する。次い
で、図11(b)に示すごとく、再度気相化学析出法と
フォトリソグラフィによって、ゲート絶縁膜11上に多
結晶シリコンのゲート電極12を形成し、さらにゲート
絶縁膜11の内部に燐イオンを打ち込んで、多結晶シリ
コン膜10内の所定の位置に、ソース領域13およびド
レイン領域14を形成する。
【0011】その後、図11(c)に示すごとく、再度
気相化学析出法によって、二酸化硅素の層間絶縁膜15
をデポジットし、フォトリソグラフィによってコンタク
トホール16を開口させ、ソース領域13およびドレイ
ン領域14を一部露出させる。パターン形成の最後の工
程として、図11(d)に示すごとく、スパッタリング
によって透明膜電極を形成し、フォトリソグラフィによ
って画素電極3とビデオ信号線17を形成する。
【0012】このようにしてパターンおよびTFTをガ
ラス基板上に形成した後に、基盤を洗浄し、ポリイミド
の配向膜を塗布し、配向膜にラビングを行なって液晶の
配向に必要な特定の方向の擦り傷をつけ、偏光板を圧着
し、液晶を封入して、最後にドライバICを実装する。
また、最近では、パターン形成時に、ドライバICを同
一のガラス基板上に同時に形成することも行なわれてい
る。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の多結晶
シリコン型LCDは、対角線長が5インチ程度と大きい
ものが多く、たとえばパターン形成の工程で、通常のI
Cなどと異なり、一枚ずつパターンを形成することを余
儀なくされ、生産スループットの向上が困難であり、生
産設備そのものも大規模になりがちであった。このこと
は、LCDのコストを削減するうえでの大きな障害のひ
とつであった。本発明は、以上に述べた課題を解決し、
低コストのLCDを提供すると共に、従来のごとくサイ
ズの大きなLCDに頼ることなく、大画面化の要請に応
えられる高速のLCD表示装置を提供することを目的と
する。
【0014】
【課題を解決するための手段】このため、本発明のLC
D製造方法においては、シリコンウェハー上にガラス基
板を挿入するための孔を設ける工程と、この孔にガラス
基板を挿入する工程と、シリコンウェハー上に電子回路
を構成する工程と、ガラス基板上にLCDを形成する工
程と、シリコンウェハー上の電子回路とLCDとの間で
配線を行なう工程とを設けた。また、本発明のLCD表
示装置においては、LCDによって作られた虚像を光学
的に拡大して見るための光学系を設けた。
【0015】
【作用】通常のIC製造に用いられるシリコンウェハー
に複数枚のガラス基板を組み込み、LCDのパターン形
成と周辺回路のパターン作成を統合し、さらにこの作業
を同一のシリコンウェハー上のすべてのガラス基板に対
して同時に行なうようにした。また、小型のLCDによ
って大画面化の要請に応えるために、LCDの画像を光
学的に拡大して見るようにした。
【0016】
【実施例】以下、適宜図面を参照しつつ、本発明の一実
施例について説明を行う。図2は、シリコンウェハーの
下加工を示す説明図である。図において、18はシリコ
ンウェハー、19はシリコンウェハー18に開けられた
LCD保持用の孔である。孔19の大きさは、後述する
透明ガラス基板よりもわずかに大きいものが望ましい。
その理由は、透明ガラス基板の寸法公差などを吸収する
必要があるからである。また、孔19の開け方として
は、要求される大きさよりもやや小さめの下穴を切削な
どの方法によって開けておき、エッチングによって所定
の大きさにするなどの方法がある。
【0017】図3ないし図6は、シリコンウェハー18
上の素子分離工程の概略を示す断面図である。各図にお
いて、20は熱酸化膜、21は窒化硅素膜、22はフォ
トレジストである。また、図2に既出の参照符号につい
ては、図2と同じ意味に用いるものとして、その説明を
省略する。以下についても、既出の図面に用いられた参
照符号については、同様に扱うものとする。
【0018】熱酸化法により、図3に示すように、シリ
コンウェハー18の表面上に、二酸化硅素の熱酸化膜2
0を形成する。次いで、この熱酸化膜20の上に窒化硅
素膜21を気相化学成長法により形成する。続いて、熱
酸化膜20上の全面にスピンコータなどにより均一にフ
ォトレジスト22をかけ、この上に所定の電子回路パタ
ーンを印刷したガラスマスク23を重ね、図示しない光
源を用いて、ガラスマスク23を通してフォトレジスト
22に紫外線を照射する。
【0019】この後、エッチングを行なう。即ち、紫外
線照射後のシリコンウェハー18を現像液に浸すと、紫
外線に感光した部分のフォトレジスト22が溶解し、熱
酸化膜20が露出する。ここで、シリコンウエハー18
を酸化硅素の腐食性溶液に漬けると、露出した部分の窒
化硅素膜21および熱酸化膜20が除去される。こうし
て、シリコンウェハー18上には、ガラスマスク23上
に印刷されたパターンに対応する形状に、熱酸化膜20
が残留する。
【0020】また、酸化硅素の腐食性溶液を用いる代わ
りに、プラズマ状態の反応性ガス雰囲気の中に、電界を
シリコンウエハー18に垂直に形成し、この電解の作用
によってイオンをシリコンウエハー18の表面に垂直に
ぶつけることによって、熱酸化膜20を除去する方法も
知られている。これは反応性イオンエッチングと呼ばれ
るもので、エッチング中にパターンが腐食しないという
長所を持つため、超LSIなどの高密度パターンを作成
するときに多用される。
【0021】次いで、図4に示すごとくに、矢印Aの向
きにチャネルストップイオン注入を行なう。これは、図
6に示されるトランジスタのソース領域13及びドレイ
ン領域14をシリコンウェハー18上に形成する工程で
ある。この時点で、フォトレジスト22は不要となるの
で、酸素プラズマを用いてアッシング処理を行ない、フ
ォトレジスト22を完全に取り除く。この後、シリコン
ウェハー18を高温の水蒸気雰囲気中で酸化し、窒化硅
素膜21で覆われていない部分に熱酸化膜24を成長さ
せる。その後、図5に示すように、窒化硅素膜21、お
よび窒化硅素膜21の下の熱酸化膜24を除去する。
【0022】次に、再び表面に熱酸化膜20を形成す
る。この熱酸化膜20は、ゲート酸化膜20aとして、
後述するゲート電極12をシリコンウェハー18上のソ
ース領域13及びドレイン領域14から絶縁する働きを
持つ。次いで、再びスピンコータによって図示しないフ
ォトレジストをかけて、フォトリソグラフィにより、窒
化硅素膜21を除去した領域のフォトレジストに穴を開
け、チャネルイオン注入を行なう。この後、フォトレジ
ストを完全に除去し、シリコンウェハー18の全面を洗
浄してから、気相化学成長法により、全面に多結晶シリ
コンを堆積させる。 また、この多結晶シリコンに代え
て、電気抵抗を低減するために、シリサイドをスパッタ
リングによって堆積させることもある。
【0023】次に、前述の工程と同様に表面にフォトレ
ジストをかけて紫外線を照射し、さらに表面に堆積した
多結晶シリコンあるいはシリサイドにエッチングを施し
て、図6に示すごとく、ゲート電極12を形成する。そ
の後、ソース領域13及びドレイン領域14にイオン注
入を行なう。その後、化学気相成長法により、酸化硅素
に燐を追加した材質の層間絶縁膜15を形成する。層間
絶縁膜15の形成後、高温のリフロー処理を行なって絶
縁膜の表面を平滑化する。
【0024】この後、フォトリソグラフィにより、配線
の取り出し口にコンタクトホールを形成し、さらに全面
にアルミ合金をスパッタリングし、エッチングによって
アルミ合金の配線パターンを形成する。最後に、窒化硅
素膜を気相化学成長法により形成するなどの方法によ
り、表面にパシベーション膜25を形成する。
【0025】図7は、パシベーション膜25を形成した
後の、シリコンウェハー18上の半導体素子の一例を示
す断面図である。図において、20aはゲート酸化膜、
20bはフィールド酸化膜であり、これらはいずれも前
述の熱酸化法により最初に形成された熱酸化膜20の一
部である。
【0026】パシベーション膜25の形成後、LCDを
形成するための透明ガラス基板2を、シリコンウエハー
18上の孔19に挿入し、固定する。この固定のために
は、孔19の周囲と透明ガラス基板2との間に、エポキ
シ系樹脂などの耐熱性のポリマーを注入して固めるのが
良い。また、本実施例においてシリコンウェハー18上
にパシベーション膜を形成してから透明ガラス基板を挿
入するのは、シリコンウェハー18上の電子回路パター
ンをパシベーション膜25によって保護するためであ
る。従って、パシベーション膜25以外の手段によっ
て、シリコンウェハー18上の電子回路パターンあるい
はシリコンウェハー18そのものを有効に保護すること
が可能であれば、この順序を入れ替えても差しつかえな
い。
【0027】次に、この透明ガラス基板2上にTFT9
及び画素電極3を形成し、同時にマトリクス状にゲート
バスライン8及びソースバスライン7を配線する。この
時、シリコンウェハー18に複数の透明ガラス基板2が
挿入されていれば、これらのすべてについて同時に作業
を行なうことが望ましい。また、従来の技術の項におい
て述べたごとく、透明ガラス基板2上にTFT9を形成
するプロセスは、基本的にシリコンウェハー18上に電
子回路パターンを形成するプロセスと同様のものである
ので、これらの作業を同一の生産ライン上において行な
っても、何ら問題を生じない。また、TFT9は、高精
細のLCDにおいてもなお、通常のICに比べて低い集
積度および精度で構わないので、TFT9の製造に際し
ては、シリコンウェハー18上に電子回路パターンを形
成する生産ラインと同程度の加工性能を持つものであれ
ばよく、精度あるいは集積度の点で、とくに配慮を要す
るものではない。
【0028】現在では、LCDの歩留まり向上の目的
で、ひとつの画素電極に対して複数のTFT9を形成
し、完成後に生産ライン内部で動作試験を行ない、正常
なTFT9のみを残して、不良のTFT9を動作させな
いように配線を切断するという技術が用いられている
が、このような技術の採用の如何にかかわらず、TFT
9の製造に要求される精度あるいは集積度が、通常のI
Cに比べて低いレベルで構わないことは変わりない。
【0029】次いで、透明ガラス基板2の裏側に、下部
偏光板1を接着する。さらにTFT9の上に保護膜2
7、および下部配向膜28を塗布する。このうち下部配
向膜28は、後述する液晶分子の向きを特定方向に強制
的に揃え、半固定状態にするものである。下部配向膜2
8としては、ポリイミドを用い、また塗布後に下部配向
膜28に上記の作用を持たせるために、特定の材料を用
いてラビングを行なう。このラビング工程においては、
シリコンウェハー18の保護のために、特に孔19の周
囲を適切な材質でマスキングすることが望ましい。この
マスキングの目的に前述のパシベーション膜25を充て
ても特に問題は無いが、この場合には、シリコンウェハ
ー18上の電子回路パターンへの影響の有無を充分に評
価することが必要である。
【0030】次に、透明ガラス基板2と同一寸法の上部
ガラス基板29の表面に、対向電極5を形成し、さらに
その上に上部配向膜30を塗布する。この上部配向膜3
0に対しても、同様にラビングを行なうが、このラビン
グによって付けられる擦り傷の向きは、LCDが完成し
た時点において、下部偏光板1と下部配向膜28、およ
び後述する上部偏光板37と上部配向膜30の間で、そ
れぞれ平行でなければならない。また、下部偏光板1と
上部偏光板6との間では、偏光角はツイスティッド・ネ
マティック型であれば90度、スーパー・ツイスティッ
ド・ネマティック型であればそれ以上となる。
【0031】次に、上部ガラス基板29の表面上、上部
配向膜30の反対側に、上部偏光板6を接着する。この
時、偏光角は、上述の条件を満足しなければならない。
次に、上部ガラス基板29を孔19に挿入する。この
時、上部配向膜30と下部配向膜28の間に、図示しな
い棒状、あるいは球状のグラスファイバやプラスティッ
クボールなどのギャップ材を撒いて、一定の間隔と平行
度を確保する。この時、上部配向膜30と下部配向膜2
8の間隔は、通常1μm程度である。
【0032】この後、上部配向膜30と下部配向膜28
との間に、液晶を封入し、ソースバスライン、ゲートバ
スライン、および対向電極5と、シリコンウェハー18
上の所定の位置との間で、ワイヤボンディングを行な
う。この後、シリコンウェハー18を所定の位置で切断
して、LCDモジュールが完成する。
【0033】次に、このようにして形成された小型のL
CDモジュールを用いたLCD表示装置の構成について
説明する。図1は、前述のLCDモジュールを用いたL
CD表示装置の光学系の構成の概略を示す断面図であ
る。図において、31は光源、32はレンズ、33は透
過式のLCDモジュール、34はレンズ群、35はカラ
ー・フィルタ、36はダイクロイック・ミラー、37は
接眼部である。光源31は白色光源とする。また、カラ
ー・フィルタ35a、35b、および35cは、それぞ
れ赤、緑、青の光線を選択的に透過する働きを持つ。
【0034】光源31は、LCD表示装置の使用中常時
点灯しており、レンズ32を介して、LCDモジュール
33a、33b、および33cをそれぞれ照らす。この
LCDモジュール33a、33b、および33cは、そ
れぞれ赤、緑、青の画像成分を生成する。このLCDモ
ジュール33a、33b、および33c、次いでレンズ
群34を透過した段階では、光線は可視領域の総ての波
長成分を含む白色光であるが、次にカラー・フィルタ3
5a、35b、および35cを透過する際に、それぞ
赤、緑、青の波長成分のみが取り出される。
【0035】カラー・フィルタ35aを透過した赤色光
は、ダイクロイック・ミラー36aを、向きを変えない
まま透過する。これに対し、カラー・フィルタ35bを
透過した緑色光は、ダイクロイック・ミラー36aによ
って90度向きを変えられ、ダイクロイック・ミラー3
6aの透過後、赤色光と重なって、平行に進む。同様
に、赤色光および緑色光は、ダイクロイック・ミラー3
6cを、向きを変えないまま透過するが、カラー・フィ
ルタ35cを透過した青色光は、ダイクロイック・ミラ
ー36bによって90度向きを変えられ、ダイクロイッ
ク・ミラー36bの透過後、赤色光および緑色光と重な
って、平行に進み、接眼部37に到達する。こうして、
赤、緑、青それぞれの波長成分が合成され、カラーの可
視画像ができる。ここで、接眼部37を覗くと、カラー
の可視画像が見える。
【0036】次に、本発明のいまひとつの実施例とし
て、反射型のLCDの製造プロセスと、この反射型LC
Dを用いたLCD表示装置の構成について、簡単に説明
する。図8は、反射型LCDの構造の一例を示す断面図
である。図において、38はアルミドット電極である。
かかる反射型LCDが先に述べた透過型LCDと最も大
きく異なる点は、アルミドット電極38が光線を反射す
る働きを兼ねていることである。この反射型LCDにお
いては、図においてアルミドット電極38より下には、
光線が透過する必要が無いため、図に示すごとく、LC
D全体がシリコンウェハー18の上に重なる形を採って
いる。このような構成にすれば、先に第1の実施例にお
いて述べた孔19を設ける機械加工は、当然不要にな
る。このようなLCDを製造するためには、図12に示
すように、アルミドット電極38を貫通するように高さ
3ミクロン程度の二酸化硅素の突起39を設けるように
する方法を採ることが考えられる。
【0037】図9は、図8に示された反射型LCDを用
いた画像表示装置の概要を示す断面図である。基本的に
は、図1に示した透過型LCDを用いた画像表示装置
と、大きく変わるところはない。図において、31は光
源、32はレンズ、33は透過式のLCDモジュール、
34はレンズ群、35はカラー・フィルタ、36はダイ
クロイック・ミラー、37は接眼部である。光源31は
白色光源とする。また、カラー・フィルタ35a、35
b、および35cは、それぞれ赤、緑、青の光線を選択
的に透過する働きを持つ。
【0038】光源31は、LCD表示装置の使用中常時
点灯しており、レンズ32を介して、LCDモジュール
33a、33b、および33cをそれぞれ照らす。この
LCDモジュール33a、33b、および33cは、そ
れぞれ赤、緑、青の画像成分を生成する。このLCDモ
ジュール33a、33b、および33c、次いでレンズ
群34を透過した段階では、光線は可視領域の総ての波
長成分を含む白色光であるが、次にカラー・フィルタ3
5a、35b、および35cを透過する際に、それぞれ
赤、緑、青の波長成分のみが取り出される。
【0039】カラー・フィルタ35aを透過した赤色光
は、ダイクロイック・ミラー36aを、向きを変えない
まま透過する。これに対し、カラー・フィルタ35bを
透過した緑色光は、ダイクロイック・ミラー36aによ
って90度向きを変えられ、ダイクロイック・ミラー3
6aの透過後、赤色光と重なって、平行に進む。同様
に、赤色光および緑色光は、ダイクロイック・ミラー3
6cを、向きを変えないまま透過するが、カラー・フィ
ルタ35cを透過した青色光は、ダイクロイック・ミラ
ー36bによって90度向きを変えられ、ダイクロイッ
ク・ミラー36bの透過後、赤色光および緑色光と重な
って、平行に進み、接眼部37に到達する。 こうし
て、赤、緑、青それぞれの波長成分が合成され、カラー
の可視画像ができる。ここで、接眼部37を覗くと、カ
ラーの可視画像が見える。また、カラー・フィルタ35
の位置は、これに制限されるものではなく、たとえば図
13に示すように、レンズ群34の中間に設けられるよ
うにしてもよい。また、透過型のLCDを製造する場
合、図14に示すように、LCD駆動回路をシリコンウ
ェハー18上に一括して製造し、シリコンウェハー18
を図示の形状に切削し、凹部40にガラス基板2を挿入
して、シリコンウェハー18とガラス基板2との間に低
温融解性のガラスを注入して隙間を埋め、ガラス基板2
上にTFT9をはじめとする素子をポリシリコンによっ
て形成することも考えられる。 また、本願発明は上記
の実施例に限定されるものではなく、発明の本旨を逸脱
しない範囲内で、種々の変形が可能である。上記の実施
例は、これらの変形例を本願の範囲から排除するもので
はない。
【0040】
【発明の効果】以上に詳細に説明したように、本発明に
よれば、反射型、あるいは透過型のLCDを多数、一枚
のシリコンウェハー上に一度に形成し、しかもこのシリ
コンウェハー上に、LCD駆動回路などの周辺回路をも
同時に形成し、配線まで行なうことができ、通常の半導
体集積回路を製造するのと同様の装置で、LCDを多数
製造することができ、LCDの生産コストを低下させる
ことができる。
【0041】また、小型のLCDを用いて、小型であり
ながら視覚的に充分に迫力のある画像を提供できる、優
れた画像表示装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】光学系の構成の概略を示す断面図
【図2】シリコンウェハーの下加工を示す説明図
【図3】素子分離工程の概略を示す断面図
【図4】素子分離工程の概略を示す断面図
【図5】素子分離工程の概略を示す断面図
【図6】素子分離工程の概略を示す断面図
【図7】シリコンウェハー上の半導体素子を示す断面図
【図8】反射型LCDの構成を示す断面図
【図9】反射型LCDを用いた装置を示す断面図
【図10】TFT型LCDの構成の一例を示す説明図
【図11】多結晶シリコン型LCDの製法の一例を示す
説明図
【図12】二酸化硅素の突起を示す説明図
【図13】カラー・フィルタの位置を示す説明図
【図14】透過型LCD用のウェハーを示す説明図
【符号の説明】
1 下部偏光板 2 ガラス基板 3 画素電極 5 対向電極 6 上部偏光板 9 TFT 10 多結晶シリコン膜 11 ゲート絶縁膜 12 ゲート電極 13 ソース領域 14 ドレイン領域 15 層間絶縁膜 18 シリコンウェハー 19 孔 20 熱酸化膜 20a ゲート酸化膜 20b フィールド酸化膜 21 窒化硅素膜 22 フォトレジスト 23 ガラスマスク 24 熱酸化膜 26 透明ガラス基板 28 下部配向膜 29 上部ガラス基板 30 上部配向膜 33 LCDモジュール 38 アルミドット電極 39 二酸化硅素の突起 40 凹部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】単一のシリコンウェハーに固定された液晶
    ディスプレイと、前記シリコンウェハー上に形成され、
    前記液晶ディスプレイと電気的に接続された、前記液晶
    ディスプレイを駆動するための駆動回路とから成る、液
    晶ディスプレイ装置。
  2. 【請求項2】単一のシリコンウェハー上に複数の基板を
    固定し、該基板上に液晶ディスプレイを形成し、前記シ
    リコンウェハー上に、前記液晶ディスプレイに接続すべ
    き電気回路を形成し、配線した後に、前記シリコンウェ
    ハーを切断して、液晶ディスプレイをひとつずつに切り
    離すことを特徴とする、液晶ディスプレイの製造方法。
  3. 【請求項3】請求項1に記載の液晶ディスプレイと、光
    源と、光源から出て前記液晶ディスプレイを透過もしく
    は反射した光線を屈折させる少なくとも一枚のレンズ
    と、該レンズを透過した光を集める接眼部とを有するこ
    とを特徴とする、画像表示装置。
JP32460091A 1991-12-09 1991-12-09 液晶ディスプレイの製造方法、および画像表示装置 Pending JPH05158022A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7538849B2 (en) 1995-02-15 2009-05-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Active matrix display and forming method thereof

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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